粉体表征与测量
粉体表征方法.
沉降法粒度测定
• 颗粒在液体中的沉降状态示意图
沉降法测定颗粒粒度的条件：
• 颗粒形状应当接近于球形，并且完全被液 体润湿
• 颗粒在悬浮体系的沉降速度是缓慢而恒定 的，而且达到恒定速度的时间较短
• 颗粒在悬浮体系中的的布朗运动不会干扰 其沉降速度
• 颗粒间的相互作用不影响沉降过程
沉降法粒度测定
优点
质谱法
沉降法粒度测定
• 沉降法是根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度 不同测量粒度分布的一种方法。它的基本过程是把样品 放到某种液体中制成一定浓度的悬浮液，悬浮液中的颗 粒在 重力或离心力作用下将发生沉降。不同粒径颗粒的 沉降速度是不同的，大颗粒的沉降速度较快，小颗粒的 沉降速度较慢。
• 重力沉降 10—300μm • 离心沉降 0.01—10μm
• 测量原理：光在行进过程中，遇到粉体颗粒（障碍 物）时，将偏离原来的传播方向继续传播，这种现象中叫 光散射； • 当颗粒尺寸愈小，散射角愈大，颗粒尺寸愈大，散 射角愈小，即利用激光照射到不同大小的颗粒上时产生的 散射光空间分布不同的原理进行测量。
激光法粒度测定
• 图为激光粒度仪的原理结构
筛分法
子真密度，dvs体积面积平均数径。比表面积是 表征粉体中粒子粗细的一种量度，也是表示固体 吸附能力的重要参数。可用于计算无孔粒子和高 度分散粉末的平均粒径。
比表面积的测定方法
• 直接测定粉体的比表面积常用方法有 ：
• 气体吸附法 • 气体透过法气体透过法只能测粒子外部
比表面积，粒子内部空隙的比表面积不能 测，因此不适合用于多孔形粒子的比表面 积的测定。还有溶液吸附、浸润热、消光 、热传导、阳极氧化原理等方法。
• 3、松密度（bulk density) ρb。是指粉体质量除以该 粉体所占容器的体积V求得的密度，亦称堆密度。
粉体的表征ppt课件
特征 范围
AABiblioteka ICP-AE 原子吸收 XRF
光谱石墨
炉
金属和非 金属和非 金属和非 Z＞8 金属元素 金属元素 金属元素
XRD 晶体材料
样品通常 液态 的状体
液态
液态
固态
固态
检测极限 10-3-10-1 10-3-10-1 10-5-10-2 ＞10 a（ppm）
103-104
精确度b 0.2-1
0.5-2
1-2
（%）
准确度c 1-2
2-5
5-10
（%）
0.1-0.5 0.2-0.5
0.1-1
0.5-5
备注：AA=原子吸收；ICP-AE=电感耦合等离子 体发射；XRF=X射线荧光；XRD=X射线衍射； Z=原子序数
9
3. 晶体结构和相成分表征
晶体结构和相成分的分析与表征主要采用X射线衍射（XRD）这种方法。 XRD方法的主要依据是布拉格方程：2dsinθ = nλ 。
物理特性 颗粒尺寸和分布
颗粒形状 团聚度 表面积 密度和气孔率
化学成分 主要元素 次要元素 微量元素
相 结构（晶体或非晶体）
晶体结构 相成分
表面特性 表面结构 表面成分
3
1. 物理特性表征
1.1粉体分类
粉体按颗粒类型可以分为以下几类：
（1）一次颗粒：粉体中的最小单元；
（2）团聚体：颗粒聚集；
多个多晶一次颗粒组成的团聚体示意图
10
4. 表面形貌表征
比表面积的增大会对粉体各种 性能产生较大影响；
右图列出了电子束与固态样品 的相互作用示意图。 表面形貌表征技术基于微观粒
子（原子、离子、中子、电子等） 之间的反应以及辐射现象（X射 线衍射、紫外线辐射等）。这些 相互作用会产生不同的射线，通 过这些射线我们可以得到关于样 品的许多信息。
球形粉体材料的表征方法与分析
球形粉体材料的表征方法与分析引言：球形粉体材料广泛应用于许多行业，如电子、化工、医疗和能源等。
了解和掌握球形粉体材料的特性对于优化工艺和改进产品品质至关重要。
本文将介绍球形粉体材料的表征方法与分析，包括粒径分布、形状分析、表面特性和结构分析等方面。
一、粒径分布分析粒径是球形粉体材料的重要特性之一，它会直接影响材料的流动性、堆积密度和孔隙率等性能。
常用的粒径分布分析方法包括激光粒度仪、电子显微镜和动态光散射等技术。
其中，激光粒度仪可以快速、准确地测量材料的粒径分布，并提供粒径的平均值、标准差和累积百分比等信息。
电子显微镜可以观察并测量粒径的形状和分布情况。
动态光散射则可以研究粒子在溶液中的运动行为，进而得出粒径信息。
二、形状分析除了粒径，球形粉体材料的形状也是需要关注的重要指标。
形状特征会直接影响材料的流动性、储存性和加工性能。
常用的形状分析方法有显微照片分析、电子显微镜和成像软件等。
显微照片分析可以直观地观察和比较不同样品的形状特征。
电子显微镜可以提供更高分辨率的形状图像，并通过成像软件对形状进行进一步分析，如圆度、椭圆度、角度和面积等参数。
三、表面特性分析球形粉体材料的表面特性对于与其他物质的相互作用具有重要影响。
主要的表面特性包括比表面积、孔隙率、吸附性能和表面形貌等。
比表面积可以通过比表面积分析仪进行测量，它能够提供样品的比表面积和孔隙体积等参数。
吸附性能可以通过比色法、质谱分析和化学吸附等方法进行评估，以确定材料与其他物质的亲和性。
表面形貌可以通过扫描电子显微镜进行观察和分析，以了解样品表面的纹理和形貌特征。
四、结构分析球形粉体材料的结构信息对于了解其物理、化学性质以及相变行为具有重要意义。
常用的结构分析方法包括X射线衍射、核磁共振和透射电子显微镜等技术。
X 射线衍射可以提供材料晶体结构的信息，以确定晶体的型号和晶格常数。
核磁共振可以研究材料分子之间的相互作用，了解其结构和动力学性质。
透射电子显微镜可以提供更高分辨率的结构图像，帮助研究者观察和分析材料的微观结构。
陶瓷粉体基础表征
高温陶瓷材料在高温环境下表现出良 好的抗氧化性、抗蠕变性和高温强度， 使其成为高温环境下应用的理想材料。
高温陶瓷材料的制备通常需要经过复 杂的合成和烧结过程，以确保其具有 优良的力学性能、化学稳定性和高温 稳定性。
电子陶瓷材料
电子陶瓷材料是指具有优良电性 能的陶瓷材料，广泛应用于电子 元器件、集成电路、传感器等领
针对不同应用领域，研究具有 特定性能需求的陶瓷粉体，拓 展其在能源、环境、生物医学 等领域的应用。
加强跨学科合作，将陶瓷粉体 科学与材料科学、物理学、化 学等学科进行有机结合，推动 陶瓷粉体科学的发展。
感谢您的观看
THANKS
多孔陶瓷材料的孔径、孔隙率、比表面积等参数对其性能和应用具有重要影响，需 要根据具体应用需求进行优化设计。
06 结论与展望
研究结论
陶瓷粉体的形貌、粒径、化学 组成等基础性质对陶瓷材料的
性能具有重要影响。
通过先进的表征技术，如X射线 衍射、扫描电子显微镜、透射 电子显微镜等，可以深入了解 陶瓷粉体的结构和性质。
总结词
液相法是一种通过溶液中的化学反应来制备陶瓷粉体的方法。
详细描述
液相法通常是将原料溶解在溶剂中，然后通过控制溶液的浓度、温度和pH值等参数，使原料在溶液中 发生化学反应并析出晶体，最终得到所需的陶瓷粉体。该方法制备的粉体具有较窄的粒度分布和较好 的形貌控制，但制备过程中需要去除溶剂并进行高温煅烧，成本较高且易引入杂质。
详细描述
扫描电子显微镜利用电子束扫描陶瓷 粉体表面，通过收集和分析二次电子、 背散射电子等信号，形成高分辨率的 图像，能够观察陶瓷粉体的形貌和粒 度分布。
透射电子显微镜观察
总结词
透射电子显微镜观察可以观察陶瓷粉体的内 部结构和晶体生长情况。
【精品文章】粉体的物理和化学特性 如何全面表征？
粉体的物理和化学特性如何全面表征？
粉体通常是指由大量的固体颗粒及颗粒间的空隙所构成的集合体。
组成粉体的最小单位或个体称为粉体颗粒。
粉体的重要特性可以分为四类：（1）物理特性，（2）化学成分，（3）相成分，（4）表面特性。
粉体的这些特性对坯体的颗粒堆积均匀性和烧结过程中的微观结构变化有很大的影响，下面就粉体特性的表征方法做简要概述。
一、粉体粒度、粒度分布分析
1、粉体颗粒粒度定义
粉体一般由不同尺寸的颗粒组成，这些尺寸分布在某一范围内。
对不规则形状颗粒的尺寸定义有很多种，我们关注的一般是平均颗粒尺寸，根据定义不同有三种：线性平均粒径、表面平均粒径和体积平均粒径。
颗粒形状对流动性和粉末堆积程度有一定影响，一般倾向于球形和等轴状粉末的使用，因为它们能提升固体的堆积同质性。
表1不同颗粒尺寸名称及定义
2、粉体粒度及粒度分布表征方法
粉体粒度及粒度分布表征方法主要有：筛分法、显微分析法、沉积法、激光法、电子传感技术、X射线衍射法。
目前最常用的粒度分析方法是采用激光粒度分析仪。
激光粒度分析仪
粉体粒度测试方法对比表：
二、粉体形貌分析
表面形貌表征技术基于微观粒子（原子、离子、中子、电子等）之间的。
经典：粉末的性能与表征
37
粒度分布的函数表示
正态分布的分布函数可用下述数学式表示：
f(D P )2 1e x ( D P p 2 D 2 P ) 2 2 1e x ( D P p 2 D 2 5) 2 0
• 式中， D P为平均粒径，为分布的标准偏差
21
组数h的选取
• 当组数h取值过小，则数据的准确性降低； • h的取值过大，则数据的处理过程又过于冗
长）。
22
颗粒大小的频率分布
h
DP/m
nP
di/m f(DP)/%
1
1.0-2.0
5
1.5
1.67
2
2.0-3.0
9
2.5
3.00
3
3.0-4.0
11
3.5
3.67
4
4.0-5.0
28
4.5
9.33
得
D＝∑(nd)/∑n
33
实例2（自学）
若面颗积粒的群定的义质函量数为求m平1均, m粒2径, m？3, …, mn，试由比表
设每颗种粒颗群粒由的粒个径数为为d1n, 1d,2,nd2,3,n…3, ,…dn,的n集n，合密体度组为成，， 则n1=m1/(d13), n2=m2/(d23), n3=m3/(d33), …, nn=mn/(dn3)
34
测定量和定义函数相对应的平均粒径
测定量
定义函数
个长
(nd)
平均粒径
(nd ) n
全表面积
(6nd 2 )
(nd 2 ) n
颗粒数
n
全体积（全质量）
(nd 3 ), (nd 3 )
《粉体科学与工程基础》粉末的性能与表征
《粉体科学与工程基础》粉末的性能与表征一、研究背景粉末的性能对粉体的各种现象、材料的性能、以及相关的应用都有着很大的影响。
而粉末的性能包括：几何性能(粒度、比表面、孔径和形状等)；化学性能(化学成分、纯度、氧含量等)；粉体的力学特性(松装密度、流动性、成形性、压缩性、堆积角和剪切角等)；粉末的物理性能和表面特性(真密度、光泽、吸波性、表面活性;电位和磁性等)。
其中气力输送也是对粉末性能的重要应用之一。
气力输送过程中物料性能是确定输送特性的重要因素,因此,粉料气力输送技术的实现要以对粉料的性能研究为基础。
对影响气力输送的粉体基本性能及其相关参数做了较全面分析,其中粒子尺寸、粒径分布、形状是影响粉料是否可适用于气力输送的关键参数,其它特性都与这三种特性相关联。
因此通过对粉体基本性能的研究及其在气力输送中所表现出来的流动特性,建立粉体性能与气力输送特性参数的关系,对气力输送技术的进一步发展,更好地发挥该技术的优越性,具有十分重要的意义。
二、研究现状粒体性能包括粒子的尺寸、粒度分布、密度、形状、硬度、孔隙率、透气性等,其中粒子尺寸、粒径分布、形状是影响粉料是否可适用于浓相气力输送的关键参数。
2.1 粒子尺寸粒径又称为粒度,是用来表示粉体颗粒尺寸大小的几何参数,它是粉体诸性质中最重要和最基本的。
粒径的定义和表示方法由于颗粒的形状、大小和组成的不同而不同,同时又与颗粒的形成过程、测试方法和工业用途有密切联系[3]。
通常将粒径分为单个颗粒的单一粒径和颗粒群体的平均粒径。
如果粒子是球形的可直接使用其直径作粒径,但实际颗粒的形状都是不规则的,所以要引入当量直径,即把颗粒看成一个相当的球,将该球体的直径作为颗粒的粒径,由于相当的物理量不同,就有不同的粒径,一般可分为:等体积球当量径d v、等表面积球当量径d s、等比表面积球当量径d sv、等投影周长圆当量径d L、等投影面积球当量径d a、等沉降速度球当量径,又称为斯托克斯径d St。
超细粉体表征
超微粉体的表征超微粉体表征主要包括以下几个方面：超微粉体的粒度分析（粒径、粒度分布）,超微粉体的化学成分，形貌/结构分析（形状、表面、晶体结构等）等。
超微粉体的测试技术有以下几种：（1 ）定性分析。
对粉体组成的定性分析，包括材料是由哪些元素组成、每种元素含量。
（2 ）颗粒分析。
对粉体颗粒的分析包括颗粒形状、粒度、粒分布、颗粒结晶结构等（3 ）结构分析。
对粉体结构分析包括晶态结构、物相组成、组分之间的界面、物相形态等。
（4 ）性能分析。
物理性能分析包括纳米材料电、磁、声、光和其他新性能的分析，化学性能分析包括化学反应性、反应能力、在气体和其他介质中的化学性质等。
3.1粒度的测试方法及仪器粉体颗粒大小称粒度。
由于颗粒形状通常很复杂难以用一个尺度来表示，所以常用等效度的概念不同原理的粒度仪器依据不同颗粒的特性做等效对比。
目前粒度分析主要有几种典型的方法分别为：电镜统计观测法、高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。
常用于测量纳米颗粒的方法有以下几种。
3.1.1电镜观察一次颗粒的粒度分析主要采用电镜观测法，可以采用扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）两种方式进行观测。
可以直接观测颗粒的大小和形状，但又可能有统计误差。
由于电镜法是对样品局部区域的观测，所以在进行粒度分布分析时需要多幅照片的观测，通过软件分析得到统计的粒度分布。
电镜法得到的一次粒度分布结构一般很难代表实际样品颗粒的分布状态，对一些强电子束轰击下不稳定甚至分解的超微粉体样品很难得到准确的结构，因此，电镜法一次颗粒检测结果通常作为其他分析方法的对比。
3.1.2激光粒度分析目前，在颗粒粒度测量仪器中，激光衍射式粒度测量仪得到广泛应用。
其特点是测量精度高、测量速度快、重复性好、可测粒径范围广、可进行非接触测量等，可用于测量超微粉体的粒径等。
还可以结合BET法测定超微粉体的比表面积和团聚颗粒的尺寸及团聚度等，并进行对比、分析。
激光粒度分析原理：激光是一种电磁波，它可以绕过障碍物，并形成新的光场分布，称为衍射现象。
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l +b+h 3
三轴调和平均径：
与颗粒外接长方体比表面积相等的球的 直径或立方体的一边长
3
1 l
+ 1b + 1 h
3
三轴几何平均径： 三轴几何平均径：
与颗粒外接长方体体积相等的立方体的棱长
lbh
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
定向径
沿一定方向的颗粒的一维尺度。 沿一定方向的颗粒的一维尺度。定向径包括三种
最短直径 最长直径 等效重量直径
等效体积直径
等效沉降速率直径 筛分直径
等效表面积直径
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
以上各种粒径是纯粹的几何表征量，描述 了颗粒在三维空间中的线性尺度。在实际粉 末颗粒测量中，还有依据物理测量原理，例 如运动阻力，介质中的运动速度等获得的颗 粒粒径，这时的粒径已经失去了通常的几何 学大小的概念，而转化为材料物理性能的描 述。因此，除球体以外的任何形状的颗粒并 没有一个绝对的粒径值，描述它的大小必须 要同时说明依据的规则和测量的方法。
粉体的特性表征 粉体的平均粒径
① 体积平均径 ② 体面积平均径 ③ 质量平均径
dV = 3
nd 3 ∑
∑n
dVS = ∑ nd 3
nd 2 ∑
d w = ∑ nd 4
nd 3 ∑
d a < d l < d s < d v < d vs < d w
粉体的特性表征
粒度分布
粒度分布依据的统计基准： ① ② ③ ④ 个数基准分布(又称频度分布) 以每一粒径间隔内 的颗粒数占颗粒总数 ∑ n 的比例。 长度基准分布 面积基准分布 重量基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总长度 以每一粒径间隔内的颗粒总表面
σ
粒度测定
1．筛分析法 （>40μm） μm）
国际标准筛制：Tyler(泰勒) 国际标准筛制：Tyler(泰勒)标准 泰勒
单位： 单位：目
目数为筛网上1 目数为筛网上1英（25.4mm）寸长度内的网孔数 25. mm）25Βιβλιοθήκη 4 m= a+da d
(a，d单位mm)
25.4
标准规则: 以200目的筛孔尺寸0.074mm为 基准，乘或除模 ( 2 )（或） 2 ，则得到
累计百分数 3.9 11.0 19.8 34.0 51.3 73.1 88.2 96.0 99.2 100
频度%
粒度
频度%
粒度
正态分布： 正态分布
f (d ) = (d − d 0 ) 1 exp − 2 2σ 2π σ
2
（–∞<d<+∞）
d0
——中位径，统计学中的数学期望值 ——标准偏差
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
形状系数
•表面形状因子
S φ Sj = 2 dj
(j表示征对于该种粒径的规定)
φ 与π的差别表示颗粒形状对于球形的偏离
φ球 = π ψ 立方体 = 6
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
形状系数
•体积形状因子
V φV j = 3 dj
φV
与 j
π
6
的差别表示颗粒形状对于球形的偏离
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
φS
φV
π/6 π/12 π/4 π/8 π/20 π/40 1 1 0.5 0.2 0.1
φ SV
6 9.7 6 8 14 24 6 6 8 14 24
圆锥形 (l=b=h=d) 圆(l=b) h=d l=b h=0.5d l=b h=0.2d l=b h=0.1d 立方体 l=b=h 方柱体 l=b h=b l=b h=0.5b l=b h=0.2b l=b h=0.1b
粉体工程
绪论 • 粉末的表征与测量 • 粉末制取 • 粉末成形 • 粉末固结
绪论
粉体工程学科的形成 粉体工程的应用范围
绪
论
颗粒
粉体
绪
论
Fine particle
颗粒
从个体颗粒出发， 从个体颗粒出发，称为颗粒学 Powder 粉体
从集合粉体出发， 从集合粉体出发，称为粉体工程学
绪
论
粉体工程所涉及的行业
粒 径 名 称
定
义
定 方 向 径 沿一定方向测得颗粒投影的两平行线的距离。 （Feret 径） 定方向等分径 沿一定方向将颗粒投影像面积等分的线段长度 （Martin 径） 沿一定方向测定颗粒投影像所得最大宽度的线 定向最大径 段长度
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
定向最大径 S1 Martin径 径 S2 Feret径 径
ψ w =1 ψ w =0.877 ψ w =0.806 ψ w =0.671 ψ w =0.580 ψ w =0.472
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
扁平度m与延伸度n
一个任意形状的颗粒，测得该颗粒的长、 一个任意形状的颗粒，测得该颗粒的长、宽、高为l、b、h， 高为 、 、 ， 定义方法与前面讨论颗粒大小的三轴径规定相同， 定义方法与前面讨论颗粒大小的三轴径规定相同，则：
φV 球 = π 6 φV 立方体 = 1
j j
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
形状系数
•比表面积形状系数
φ Sj
φ SV
φ SVj =
φVj
表面形状因子与体积形状因子的比值
一些规则几何体的形状因子
几何形状 球形 (d) π 0.81π 3π/2 π 7π/10 3π/5 6 6 4 2.8 2.4
2
占全部颗粒的长度总和 ∑ nd 的比例。 积占全部颗粒的总表面积 ∑ nd 的比例。 以每一粒径间隔内的颗粒总重量
3
占全部颗粒的总重量 ∑ nd 的比例。
例：以显微镜观察测量粉体的Feret径（测量总数为1000个） 以显微镜观察测量粉体的Feret径 测量总数为1000个 Feret 1000
2.显微镜
采用定向径方法测量
光学显微镜 电子显微镜
0.25——250μm 0.001——5μm
显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数：
粒度范围宽的粉末———10000 粒度范围宽的粉末———10000以上 10000以上 粒度范围窄的粉末———1000 粒度范围窄的粉末———1000 左右
对于一个颗粒，随方向而异，定向径可取其所有方向的平 均值；对取向随机的颗粒群，可沿一个方向测定。
当量径
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
颗粒与球或投影圆有某种等量关系的球或投影圆的直径
等效圆球体积直径
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
等体积球当量径 与颗粒同体积球的直径
dv = 3
6v
π
等表面积球当量径 与颗粒等表面积球的直径
颗粒的大小
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
直径D
直径D、高度H
？
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
人为规定了一些所谓尺寸的表征方法
t 三轴径 t 定向径 t 当量径
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
三轴径
设，图中颗粒处于一水小平面上，其正视和俯视 投影图如图所示。这样在两个投影图中，就能定 义一组描述颗粒大小的几何量：高、宽、长，定 义规则如下
扁平度
颗粒的宽度 b m= = 颗粒的高度 n
颗粒的长度 l n= = 颗粒的宽度 b
延伸度
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
形状系数
若以Q表示颗粒的几何特征，如面积、体积，则Q与颗粒粒径 d的关系可表示为：
Q = kd
p
式中， 即为形状系数 即为形状系数。 式中，k即为形状系数。对于颗粒的面积和体积 描述，k有两种主要形式，分别为： 描述， 有两种主要形式，分别为： 有两种主要形式
绪
论
行
化 食 颜 能 电 建
业
工 品 料 源 子 材
用
途
涂料、油漆、催化剂、原料处理 粮食加工、调味料、保健食品、食品添加剂 偶氮颜料、氧化铁系列颜料、氧化铬系列 煤粉燃烧、固体火箭推进剂、水煤浆 电子浆料、集成电路基片、电子涂料、荧光粉 水泥、建筑陶瓷生产、复合材料、木粉 梯度材料、金属与陶瓷复合材料、颗粒表面改性 脱硫用超细碳酸钙、固体废弃物的再生利用、粉状污水处理剂 粒度砂、微粉磨料、超硬材料、固体润滑剂、铸造型砂
粒径间隔 （μm） 1～ 1～2 2～3 3～4 4～5 5～6 6～7 7～8 8～9 9～10 10～ 10～11
级别 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
颗粒数 39 71 88 142 173 218 151 78 32 8
频度（f%） 频度（f%） 3.9 7.1 8.8 14.2 17.3 21.8 15.1 7.8 3.2 0.8
§1.2 粉体的特性表征 1 粉体的平均粒径 2 粒度分布 3 粒度测定 4 粉体的比表面积与测量原理
粉体的特性表征 粉体的平均粒径
粉体的平均粒径 粉体平均粒径计算公式
① 算术平均径 ② 长度平均径 ③ 面积平均径
d a = ∑ nd
∑n
d l = ∑ nd 2
ds = nd 2 ∑
∑ nd
∑n
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
球形度
与颗粒等体积的球的表面积与颗粒的表面积之比
dV ψw = d S
2
可以看出： 1. ψ w ≤ 1 ；
ψ 2. 颗粒为球形时， w 达最大值。
颗粒大小和形状表征 颗粒形状
一些规则形状体的球形度：
球体 圆柱体（d=h） 立方体 正四面体 圆柱(d：h=1：10) 圆板(d：h=10：1)
ds =
π
s
颗粒大小和形状表征 颗粒大小
比表面积球当量径 与颗粒具有相同的表面积对体积之 比，即具有相同的体积比表面的球的直径