电子衍射分析及晶体生长方向判定电子衍射基础
(整理)选区电子衍射与晶体取向分析

实验四选区电子衍射与晶体取向分析一、实验目的与任务1)通过选区电子衍射的实际操作演示,加深对选区电子衍射原理的了解。
2)选择合适的薄晶体样品,利用双倾台进行样品取向的调整,利用电子衍射花样测定晶体取向的基本方法。
二、选区电子衍射的原理和操作1.选区电子衍射的原理使学生掌握简单地说,选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区光栏,可以对产生衍射的样品区域进行选择,并对选区范围的大小加以限制,从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。
选区电子衍射的基本原理见图10—16。
选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束,只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过,使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样仅来自于选区范围内晶体的贡献。
实际上,选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应,也就是说选区衍射存在一定误差,选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。
选区范围不宜太小,否则将带来太大的误差。
对于100kV的透射电镜,最小的选区衍射范围约0.5m;加速电压为1000kV时,最小的选区范围可达0.1m。
2.选区电子衍射的操作1) 在成像的操作方式下,使物镜精确聚焦,获得清晰的形貌像。
2) 插入并选用尺寸合适的选区光栏围住被选择的视场。
3) 减小中间镜电流,使其物平面与物镜背焦面重合,转入衍射操作方式。
对于近代的电镜,此步操作可按“衍射”按钮自动完成。
4) 移出物镜光栏,在荧光屏上显示电子衍射花样可供观察。
5) 需要拍照记录时,可适当减小第二聚光镜电流,获得更趋近平行的电子束,使衍射斑点尺寸变小。
三、选区电子衍射的应用单晶电子衍射花样可以直观地反映晶体二维倒易平面上阵点的排列,而且选区衍射和形貌观察在微区上具有对应性,因此选区电子衍射一般有以下几个方面的应用:1) 根据电子衍射花样斑点分布的几何特征,可以确定衍射物质的晶体结构;再利用电子衍射基本公式Rd=L,可以进行物相鉴定。
2) 确定晶体相对于入射束的取向。
3) 在某些情况下,利用两相的电子衍射花样可以直接确定两相的取向关系。
实验四选区电子衍射及晶体取向分析

实验四选区电子衍射与晶体取向分析一、实验内容及实验目的1.通过选区电子衍射的实际操作演示,加深对选区电子衍射原理的了解。
2.选择合适的薄晶体样品,利用双倾台进行样品取向的调整,使学生掌握利用电子衍射花样测定晶体取向的基本方法。
二、选区电子衍射的原理和操作1.选区电子衍射的原理简单地说,选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区光栏,可以对产生衍射的样品区域进行选择,并对选区范围的大小加以限制,从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。
选区电子衍射的基本原理见图4-1。
选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束,只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过。
使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样,它仅来自于选区范围内晶体的贡献。
实际上,选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应,也就是说选区衍射存在一定误差,所选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。
选区范围不宜太小,否则将带来太大的误差。
对于100kV的透射电镜,最小的选区衍射范围约0.5μm;加速电压为1000kV时,最小的选区范围可达0.1μm。
图-1 选区电子衍射原理示意图1-物镜2-背焦面3-选区光栏4-中间镜5-中间镜像平面6-物镜像平面2.选区衍射电子的操作为了确保得到的衍射花样来自所选的区域,应当遵循如下操作步骤:(1) 在成像的操作方式下,使物镜精确聚焦,获得清晰的形貌像。
(2) 插人并选用尺寸合适的选区光栏围住被选择的视场。
(3) 减小中间镜电流,使其物平面与物镜背焦面重合,转入衍射操作方式。
近代的电镜此步操作可按“衍射”按钮自动完成。
(4) 移出物镜光栏,在荧光屏显示电子衍射花样可供观察。
(5) 需要拍照记录时,可适当减小第二聚光镜电流,获得更趋近平行的电子束,使衍射斑点尺寸变小。
三、选区电子衍射的应用单晶电子衍射花样可以直观地反映晶体二维倒易平面上阵点的排列,而且选区衍射和形貌观察在微区上具有对应性,因此选区电子衍射一般有以下几个方面的应用。
第112章电子衍射图的标定

-111γ 000
1 1 1 1 11
0 2 20 2 2 0 -2 2
复合斑点
[011]γ
[001- ]α
022γ
011 // 001
-111γ
111γ
110α
000
020α
1-10α
011 // 001
111
//
110
三. 多晶电子衍射图的标定
多晶体是由随机任意排列的微晶或纳米晶组成.
磁转角的大小
若显微镜像相对于样品的磁转角为Φi 衍射斑点相对于样品的磁转角为Φd
• 则 Φ=Φi - Φd
• 用电子衍射确定相结构时,不需要效正磁转角. • 对样品微区进行显微组织和衍射图对应分析时(惯习 面,孪晶面,确定位向关系) 需要效正磁转角. • 效正方法,用外形特征反应晶体位向的MoO3做标样.
2g(hkl)=g(2h,2k,2l). 3g(hkl)=g(3h,3k,3l). g (h1,k1,l1)- g(h2,k2,l2) = g(h1-h2, k1-k2, l1-l1) g (h1,k1,l1)+g(h2,k2,l2) =g(h1+h2, k1+k2, l1+l1)
011
020
031
若s=3 3
3 6 不满足面心立方规律
Bcc 2, 4, 6, 8, 10, 12…… Fcc 3, 4, 8, 11, 12,16 …
α-Fe四方斑点的标定
[001- ]α
110α
000 020α
1- 10α
0 2 0 0 20
1 1 0 1 10 0 0 -2
应用例-菱方斑点奥氏体
菱方斑点
电子衍射分析及晶体生长方向判定

v = l1 h1 ,
l2 h2
w = h1 k1
h2 k2
由以上可以看出,正空间的一个晶面族(hkl)可用倒空间的一个倒易点 hkl 来 表示,正空间的一个晶带[uvw]可用倒空间的一个倒易面(uvw)*来表示,对应关系 如图 4 所示,这大大地方便了电子衍射谱的分析。
[uvw]
正空间
-2
o
g为垂直于晶面(hkl)的倒易矢量,|g| = OG =1/ d
AO=2/λ ,∠OAG= θ 以中心点O1为中心,1/λ Ewald球如图2。
hkl
为半径作球,则A,O,G都在球面上,这个球称为
AO表示电子入射方向,它照射到位于O1处的晶体上,一部分透射过去,一部 分使晶面(hkl)在O1G方向上发生衍射。Ewald球是布拉格定律的图解,能直观地 显示晶体产生衍射的几何关系。
b
(110) (101)
图 6 某金属氧化物的高分辨图像及电子衍射图
3.2 多晶电子衍射花样的标定 一般情况下多晶电子衍射花分析,较单晶简单,可以由d 值与标准库比较法 去标定,也可以由衍射环R2的比值来确定:若R2比为简单整数比则可初步确定为 立方晶系,若R2比不为整数比,可基本确定为非立方晶系,初步确定后,再按六 方及四方及其它晶系的R2比的规律逐一排除最后确定分析样品中有关相的晶结 构。各晶系R2的比值规律如下: 三种立方晶系可能为: 简单立方为:1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16…, 没有7, 15, 23… 体心立方为:2, 4, 6, 8, 10, 12…没有奇数,h + k + l = 偶数
a
b
c b
d c b
晶体单晶的晶向标定与分析

晶体单晶的晶向标定与分析
晶体的晶向标定和分析是材料学和晶体学中的重要课题。
下面是一般的晶向标定和分析方法:
晶向的标定:
1. 初步确定晶向。
使用显微镜或X射线衍射仪观察晶体,确定晶体中的某个区域。
2. 用比色法标定晶体定向。
将金属板或玻璃板放置在待测的晶向上,用酸或者盐溶液自下而上浸泡,由于不同的晶向会使得其表面在所反射的光的波长或者颜色不同。
在标定时,可以通过比较反射光下表面的颜色来确定晶体的晶向。
3. X射线晶体衍射法。
这是晶向标定的最常用方法之一。
将待测晶体放置于X射线衍射仪中,在不同的角度下,观察晶体的衍射图样,以此来确定晶体的晶向。
晶向的分析:
1. X射线衍射方法。
使用X射线衍射仪分析晶体的结构。
2. 电子衍射方法。
使用电子衍射仪或透射电子显微镜分析晶体的结构。
3. 晶体缺陷分析。
在图像中观察到的缺陷可以告诉我们关于晶体的晶向和结构的信息。
以上是晶体单晶的晶向标定与分析的一些基本方法和步骤,当然,在实际操作中可能还会有其他方法和技术。
电子衍射分析及晶体生长方向判定电子衍射基础

Kg
K0
g
G
O
图 2 . Ewald 作图法 图 3 电子衍射的几何关系
在透射电镜中,我们在离样品L处的荧光屏记录相应的衍射斑点G”,O”是 荧光屏上的透射斑点, 照相底片或CCD相机上中心斑点到某衍射斑(G’’)的距离
R为: R=L tan 2θ
考虑到能满足布拉格定律的角度θ很小,故tan 2θ = 2θ,再由布拉格定律2d sinθ = λ, 可得: Rd = Lλ 式中,d是满足布拉格定律的晶面面间距。入射电子束的波长λ和样品到照 相底片的距离L是由衍射条件确定的,在恒定实验条件下,Lλ是一个常数,称为 相机常数(camera length)。此式是利用电子衍射谱进行结构分析的基础,在分析
注意由晶面指数到生长方向的转换实际是倒空间指数和正注意由晶面指数到生长方向的转换实际是倒空间指数和正空间的指数转换需要乘以转换矩阵各晶系的转换矩阵见附表对于立方晶空间的指数转换需要乘以转换矩阵各晶系的转换矩阵见附表对于立方晶系来说晶面指数即是生长方向指数而对于其他晶系则不是需要进行计算系来说晶面指数即是生长方向指数而对于其他晶系则不是需要进行计算即即
k2 l2
v = l1 h1 ,
l2 h2
w = h1 k1
h2 k2
由以上可以看出,正空间的一个晶面族(hkl)可用倒空间的一个倒易点 hkl 来 表示,正空间的一个晶带[uvw]可用倒空间的一个倒易面(uvw)*来表示,对应关系 如图 4 所示,这大大地方便了电子衍射谱的分析。
[uvw]
正空间
-2
o
g为垂直于晶面(hkl)的倒易矢量,|g| = OG =1/ d
AO=2/λ ,∠OAG= θ 以中心点O1为中心,1/λ Ewald球如图2。
电子衍射——精选推荐

电⼦衍射电⼦衍射 2.1 概述电⼦衍射与X-射线衍射的基本原理是完全⼀样的,两种技能所得到的晶体衍射花样在⼏何特征上也⼤致相似,都遵循劳厄⽅程或布拉格⽅程所规定的衍射条件和⼏何关系。
电⼦衍射与X-射线衍射的主要区别在于:(1)电⼦波的波长短,则受物质散射强(原⼦对电⼦的散射能⽐X-射线约⾼⼀万倍)。
电⼦波长短,决定了电⼦衍射的⼏何特点,使单晶的电⼦衍射谱和晶体的倒易点阵的⼆维截⾯完全相似,从⽽使晶体集合关系的研究变得简单多了。
(2)衍射束强度有时⼏乎与透射束相当,因此就有必要考虑它们之间的相互作⽤,使电⼦衍射花样分析,特别是强度分析变得复杂,不能像X-射线那样从测量强度来⼴泛地测定晶体结构。
(3)由于散射强度⾼导致电⼦穿透能⼒有限,因⽽⽐较适⽤研究微晶、表⾯和薄膜晶体。
(4)许多材料和矿物中得晶粒只有⼏微⽶⼤⼩,有时⼩到⼏千埃,不能⽤X-射线进⾏单个晶体的衍射,但却可以⽤电⼦显微镜在放⼤⼏万倍下,有⽬的地选择这些晶体,⽤选区电⼦衍射和微束电⼦衍射来确定其物相或其结构。
2.2 预备知识 2.2.1 布拉格定律⼊射波⽮量:k ;衍射波⽮量:k ¢;对于弹性碰撞:1/k k l ¢==**1;;2sin K k k r r K k dq ¢=-===当波长为l 的单⾊平⾯电⼦波以掠射⾓q (⼊射⾓⽅向与晶⾯的夹⾓)照射到晶⾯间距为hkl d 的平⾏晶⾯组(hkl )时,若满⾜:2sin hkl d n q l =为了简便起见,把式改为:2()sin hkld nq l =考虑到,可以把任意晶⾯组的n 级衍射都看成是与之平⾏但晶⾯间距⼩于n 倍的(nh nk nl )晶⾯组的⼀级衍射,使布拉格定律表达为:2sin d q l = 2.2.2倒易点阵和Ewald 球作图法(1)倒易点阵所谓倒易点阵,是指量纲为[L]-1的倒易空间内的另⼀个点阵,它与正空间内某⼀点特定的点阵相对应。
如果正点阵晶胞的单位⽮量(简称基失)为:,,a b c则相对应的倒易点阵基失为:***,,c c cb c c a a ba b c V V V 创 ===V c 为正点阵晶胞体积:()()()c V a b c b c a c a b =状=状=状可以证明,正、倒点阵的晶胞基失之间满⾜:1a ab bc c a b a c b c b a c a c b *********在倒易点阵内,有原点0*(即阵点(000))指向任⼀坐标为(hkl )的阵点的⽮量:1/hkl hkl hkl g ha kb lc d ***=++= 且g这就是说,所定义的倒易⽮量:hkl g或其断点---hkl 到⼀阵点,代表着正点阵中的晶⾯组(hkl )。
电子衍射(材料分析方法)

第十章 电子衍射一、概述透射电镜的主要特点是可以进行组织形貌与晶体结构同位分析。
若中间镜物平面与物镜像平面重合(成像操作) ,在观察屏上得到的是反映样品组织形态的形貌图像;而若使中间镜的物平面与物镜背焦面重合 (衍射操作),在观察屏上得到的则是反映样品晶体结构的衍射斑点。
本章介绍电子衍射基本原理与方法,下章将介绍衍衬成像原理与应用。
电子衍射的原理和 X 射线衍射相似,是以满足(或基本满足)布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。
多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环,单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成。
而非晶态物质得衍射花样只有一个漫散得中心斑点(图 1,书上图10-1)。
由于电子波与 X 射线相比有其本身的特性,因此,电子衍射和 X 射线衍射相比较时具有下列不同之处:(1)电子波的波长比 X 射线短的多,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ很小,约 10-2;而X 射线产生衍射时,其衍射角最大可接近°。
rad 90(2)在进行电子衍射操作时采用薄晶样品, 薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状,因此,增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会,结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
(3)因为电子波的波长短,采用爱瓦尔德球图解时,反射球德半径很大,在衍射角 θ 较小德范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面,从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观的反映晶体内各晶面的位向,给分析带来不少方便。
(4)原子对电子的散射能力远高于它对 X 射线的散射能力(约高出四个数量级) ,这使得二者要求试样尺寸大小不同, X 射线样品线性大小位 10-3cm ,电子衍射样品则为10-6~10- 5cm ,且电子衍射束的强度较大,摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟,而X 射线以小时计。
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图 7 某金属氧化物一维纳米线的透射电镜及电子衍射图
主要参考文献:
1. 刘文西,黄孝瑛,陈玉如,材料结构的电子显微分析,天津大学出版社,1989.
晶体衍射花样时, 一般Lλ是已知的, 从衍射谱上可量出R值, 然后算出晶面间距d, 同时可以结合衍射谱算出的晶面夹角,确定晶体的结构。 电镜中使用的电子波长很短, 即Ewald球的半径1/λ 很大, Ewald球面与晶体 的倒易点阵的相截面可视为一平面,成反射面,所以电子衍射花样实际上是晶体 的倒易点阵与Ewald球面相截部分在荧光屏上的投影,即晶体的电子衍射谱是一 个二维倒易平面的放大,相机常数Lλ相当于放大倍数。 1.3 晶带定律及晶带轴 晶带定义:许多晶面族同时与一个晶体学方向[uvw]平行时,这些晶面族总 称为一个晶带,而这个晶体学方向[uvw]称为晶带轴。 因为属于同一晶带的晶面族都平行于晶带轴方向, 故其倒易矢量均垂直于晶 带轴,构成一个与晶带轴方向正交的二维倒易点阵平面(uvw)*。若晶带轴用正空 间矢量 r = ua+vb+wc 表示,晶面(hkl)用倒易矢量 Ghkl =ha*+kb*+lc*表示,由晶带 定义 r⊥G 及 r•G =0 得: hu+kv+lw = 0 该式即为电子衍射谱分析中常用的晶带定律(Weiss zone law) 。 (uvw)*为与正空间中[uvw]方向正交的倒易面。(uvw)*⊥[uvw],属于[uvw]晶 带的晶面族的倒易点 hkl 均在一个过倒易原点的二维倒易点阵平面(uvw)*上。如 (h1,k1,l1),(h2,k2,l2)是[uvw]晶带的两个晶面族,则由晶带定律可得: h1u+k1v+l1w = 0, h2u+k2v+l2w = 0 可解出晶带轴方向[uvw]如下: u = k1 l1 ,
a
b
c b
d c b
d b
e b
图 5. 不同晶型晶体的电子衍射图
3. 电子衍射的标定方法 3.1 单晶电子衍射花样的标定 对于电子衍射的标定主要是确定晶面指数及晶带轴,标定方法有多种,如平 行四边形法、R2 比值法、标准图谱对比法、a/d 及夹角查表法等,有普适性的是 平行四边形法和标准谱图对比法, 具体步骤如下: 平行四边形法 1.选择衍射斑 A, B,使 OA 和 OB 为最短和次短 长度(可通过量 BC 或者更多的 R 求平均值以减小 误差),并测量 OA 与 OB 的夹角; 2. 求 A、B 衍射斑对应的面间距 d1 和 d2 , 与物样标准数据(PDF 卡片或有机晶 体数据库)比较,找出与 d1, d2 相吻合的面指数系列{hkl}1 和{hkl}2; 3.在{hkl}1 中, 任选(h1k1l1)为 A 点指数, 从{hkl}2 中试探计算确定 B 点指数(h2k2l2) , 根据晶型查询公式,计算夹角值与实测值相符; 4.按矢量叠加原理,标定其它衍射斑指数,并求出晶带轴指数[uvw]= (h1k1l1) × (h2k2l2),右手螺旋法则判定方向;
面心立方为:3, 4, 8, 11, 12, 16, 19, 20…, h, k, l为全奇全偶数 对四方点阵可能为: 1, 2, 4, 5, 8, 9, 10, 13, 16, 17 对六角(三角晶系)可能为: 1, 3, 4, 7, 9, 12, 13, 16, 19, … 其中, 3, 7 是六角晶系的低指特征,当出现 3 时,又不属于立方晶系,可以 按六角晶系求解。 以上电子衍射标定方法是对于简单电子衍射谱的标定,是基本的标定方法, 复杂的如孪晶、高阶劳厄带的标定要在基本方法的基础上进行更为复杂的计算。 3. 晶体生长方向的判定 在研究晶体结构时,很多情况下需要判断其生长方向,尤其是纳米线、纳米 带等, 由于晶体的电子衍射谱是一个二维倒易平面的放大,而透射电镜又能拍摄 形貌, 分别相当于倒易空间像与正空间像,所以根据倒易空间与正空间的关系可 以判断晶体的生长方向,这是电子衍射一个特别的应用。具体的方法是: 首先拍摄形貌像, 再在同一位置做电子衍射并进行标定,将形貌像与电子衍 射花样对照,找出沿着一维长轴方向的晶面,此晶面为优势生长面,根据晶面指 数标定生长方向。注意,由晶面指数到生长方向的转换,实际是倒空间指数和正 空间的指数转换,需要乘以转换矩阵,各晶系的转换矩阵见附表,对于立方晶 系来说,晶面指数即是生长方向指数,而对于其他晶系则不是,需要进行计算, 即:
图 7 是对一维纳米线的生长方向进行的判断, 首先标出与纳米线平行的晶面 的指数,确定优势生长面是(0-11)面,由于该物质是四方晶系,查附表四方晶系 的转换矩阵,将(0-11)面转换为生长方向[0-12]。
[0-12]
(110)
(101) (0-11)
附表
七大晶系正/倒空间和倒/正空间指数转换矩阵
-2
o
g为垂直于晶面(hkl)的倒易矢量,|g| = OG =1/ d
AO=2/λ ,∠OAG= θ 以中心点O1为中心,1/λ Ewald球如图2。
hkl
为半径作球,则A,O,G都在球面上,这个球称为
AO表示电子入射方向,它照射到位于O1处的晶体上,一部分透射过去,一部 分使晶面(hkl)在O1G方向上发生衍射。Ewald球是布拉格定律的图解,能直观地 显示晶体产生衍射的几何关系。
b
(110) (101)
图 6 某金属氧化物的高分辨图像及电子衍射图
3.2 多晶电子衍射花样的标定 一般情况下多晶电子衍射花分析,较单晶简单,可以由d 值与标准库比较法 去标定,也可以由衍射环R2的比值来确定:若R2比为简单整数比则可初步确定为 立方晶系,若R2比不为整数比,可基本确定为非立方晶系,初步确定后,再按六 方及四方及其它晶系的R2比的规律逐一排除最后确定分析样品中有关相的晶结 构。各晶系R2的比值规律如下: 三种立方晶系可能为: 简单立方为:1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16…, 没有7, 15, 23… 体心立方为:2, 4, 6, 8, 10, 12…没有奇数,h + k + l = 偶数
k2 l2
v = l1 h1 ,
l2 h2
w = h1 k1
h2 k2
由以上可以看出,正空间的一个晶面族(hkl)可用倒空间的一个倒易点 hkl 来 表示,正空间的一个晶带[uvw]可用倒空间的一个倒易面(uvw)*来表示,对应关系 如图 4 所示,这大大地方便了电子衍射谱的分析。
[uvw]
正空间
级,由上式可得衍射角θ = 10 rad<10 , 这表明能产生布拉格衍射的晶面几乎 平行于入射电子束。 1.2 Ewald作图法及电子衍射的几何关系 将布拉格定律改为sinθ = (1/d) / (1/λ ),这样电子束(λ )、晶体(d)及 其取向关系可用一个三角形AGO表示,如图2所示,其中,
(h3 k3l3 )
(h2 k 2l2 )
(h1k1l1 )
倒空间
(h2 k 2l2 )
(h1k1l1 )
(h3 k3l3 )
(uvw)*
图 4 晶带正空间与倒空间对应关系图
2. 不同类型的晶体的电子衍射花样 根据晶体的类型及结构不同,可产生不同的电子衍射花样,常见的有以下 几种: 单晶:单晶的、电子衍射谱的特点是具有一定对称性的衍射斑点,中心的亮 点是透射斑点,对应 000 衍射,越靠近 000 斑点的衍射斑点的 hkl 指数越小,越 远离 000 斑点的衍射斑点的 hkl 指数越大,如图 5a 所示。 多晶:完全无序的多晶可以看成是一个单晶围绕一点在三维空间作 4π 球面 角旋转,因此多晶体的 hkl 倒易点是以倒易原点为中心,(hkl)晶面间距的倒数为 半径的倒易球面。 此球面与 Ewald 球相截于一个圆, 所以能产生衍射的斑点扩展 成圆环,因此多晶的典型衍射谱是一个个的同心环,如图 5b 所示。环越细,表 示多晶体的晶粒越大,环越粗,多晶体的晶粒越小。 微晶/纳晶:当晶体的晶粒在微米/纳米级时,用选区光阑套住一部分晶粒得 到的衍射图如图 5c 所示,由于各晶粒的取向不同,所以会出现类似单晶的一系 列衍射斑点,同时,由于各晶粒含有相同晶面间距的晶面,所以这些衍射斑点呈 同心圆分布。 孪晶:孪晶从晶体学上可以看成是以某一晶面(孪生面)为对称面的两个或 多个晶体, 由于几何学的对称性,电子衍射谱上同时出现基体和孪晶部分的两套 电子衍射花样, 其特征是衍射斑有两套, 有伴生点存在, 而且一些斑点分数位置, 就很可能是孪晶关系的存在。如图5d所示,为孪晶的高分辨及电子衍射图。 非晶:非晶的电子衍射谱一般由几个同心的晕环(diffused ring)组成,每个晕 环的边界很模糊,如图5e所示。
B O A
C
5.若有高分辨照片,可选取晶面量取 d 值,尽量取多一些晶面层以减少误差,与 标准数据对应得到晶面指数,与电子衍射花样标定结果可进一步确认。 标准谱图法: 若已知样品的晶型,通过衍射谱计算 OA 与 OB 的比值及其夹角,与“常见 晶体的标准电子衍射花样”对比,即可标定出各晶面指数。 图 6 是用平行四边形法标定的样品的电子衍射花样, 可以看出与高分辨结果 相符,进一步确认了标定无误。注意,现代的电镜一般都装有 CCD 相机,电子 衍射谱也已经经过标定,标尺是 1/nm,计算晶面间距时,测量并根据标尺计算 出“R”值,直接取倒数即使晶面间距 d。
电子衍射分析及晶体生长方向判定 电子衍射基础 1.1 布拉格定律 晶体内部的质点是有规则的排列,由于这 种组织结构的规则性,电子的弹性散射波可在 一定方向相互加强,除此以外的方向则减弱,
S R O T
图 1 晶体对电子的散射
Байду номын сангаас
这样就产生一束或几束电子衍射波。晶体内包含着许多族晶面的堆垛,在每一族 晶面的每一个晶面上, 质点都按同样的规律排列且这族晶面的堆垛间距是一个恒 定的距离,称之为晶面间距dhkl。 当一束平面单色波照射到晶体上时,各族晶面与电子束成不同的角度,电子 束在晶面上的衍射角为θ, 将上述特征入射束标记为A、 B, 其散射束标记A1、 B1, 当第一层晶面的反射束OA1与透射束在第二层晶面反射束RB1间的光程差δ = SR + RT ,晶面间距为d,则δ = 2d sinθ 按波的理论证明,两支散射束相干加强的条 件为波程差是波长的整数倍,即: 2d sinθ = nλ 这就是布拉格定律(Bragg’s Law),其中n 为整数,晶面间距d 代表晶体的特 征,λ 为电子波长,代表入射电子束的特征,θ 为衍射角,代表入射束与d 代表 的晶面间的几何关系。 布拉格定律规定了一个晶体产生衍射的几何条件,它是分 析电子衍射谱的几何关系的基础。只要晶面间距dhkl 和它对入束的取向θ 满足布 拉格定律,可以同时产生衍射: 2 (d/ n)sinθ = λ 据晶面指数的定义,晶面间距小了n 倍就相当于晶面指数大了n 倍: 2 d nh,nk,nl sinθ = λ n 为晶面的(hkl)衍射级数,因此,以上公式是把晶面(hkl)的n 级衍射换成晶 面(nh,nk,nl)的一级衍射,nh,nk,nl 是干涉面的指数。因此,经简化后的布拉格定 律公式可以不写n,即: 2d sinθ = λ 由以上公式可以估算产生布拉格衍射的衍射角θ , 通常透射电镜的加速电压 为100~200kV,即电子束的波长为10-3nm量级,常见晶体的晶面间距为10-1nm数量