第二部分-XRD衍射方向和强度
X射线粉末衍射(二)

导言z晶体学基础z X-射线粉末衍射的基本原理z X-射线粉末衍射仪的构造和组成z X-射线粉末衍射技术z X-射线粉末衍射在催化中的应用物相分析晶粒大小的计算¾物质的性质、材料的性能决定于它们的组成和微观结构。
¾如果你有一双X-射线的眼睛,就能把物质的微观结构看个清清楚楚明明白白!¾X-射线衍射将会有助于你探究为何成份相同的材料,其性能有时会差异极大.¾X-射线衍射将会有助于你找到获得预想性能的途径。
晶体与非晶体的区别¾均匀性-相同的密度、化学组成等¾各向异性-电导率、热膨胀系数、折光率等¾多面体外形¾有确定的熔点¾晶体具有对称性¾晶体对X-射线的衍射晶体:晶体是由原子(离子或分子)在三维空间中周期性排列而构成的。
理想的晶体结构是具有一定对称性关系的、周期的、无限的三维点阵结构。
晶体学基础z230种空间群X-射线粉末衍射的基本原理X-射线是1895年由德国物理学家伦琴(Röntgen)发现,因此也叫伦琴射线。
X-射线是一种波长很短的电磁波(1—10,000pm),能量高,穿透力强,不折射不反射。
而用于测定晶体结构的X-射线,波长为50—250pm,此数值正好与晶体中原子间的数量级相当,因而晶体可作为X-射线的天然光栅。
光波遇到障碍物会或多或少地偏离几何光学传播定律的现象。
包括:单缝衍射、圆孔衍射、圆板衍射及泊松亮斑光在传播过程中,遇到障碍物或小孔(窄缝)时,它有离开直线路径绕道障碍物阴影里去的现象。
这种现象叫光的衍射。
衍射时产生的明暗条纹或光环,叫衍射图样。
衍射是一切波所共有的传播行为。
日常生活中声波的衍射、水波的衍射、广播段无线电波的衍射是随时随地发生的,易为人觉察。
但是,光的衍射现象却不易为人们所觉察,这是因为可见光的波长很短,以及普通光源是非相干的面光源。
当用一束强光照明小孔、圆屏、狭缝、细丝、刀口、直边等障碍物时,在足够远的屏幕上会出现一幅幅不同的衍射图样。
材料分析方法-2(XRD)

诺贝尔奖之最
❖ 第一个诺贝尔奖获得者:伦琴1901年获物理奖 ❖ 最年轻的诺贝尔奖获得者:小布拉格1915年获
奖时仅25岁,是剑桥大学的学生 ❖ 唯一的父子同时获奖:布拉格父子共同荣获
3. X射线衍射的基本原理
衍射(Diffraction):波遇到障碍物或小孔后通过散射 继续传播的现象
光的衍射:光在传播路径中,遇到不透 明或透明的障碍物或者小孔(窄缝), 绕过障碍物,产生偏离直线传播的现象 称为光的衍射。如果采用单色平行光, 则衍射后将产生干涉结果。
衍射图样:衍射时产生的明暗条纹或光 环。
4. X射线衍射的实验方法
❖ 50年代以前的X射线衍射分析,绝大多数是利用 底片来记录衍射线的(即照相法)
❖ 近几十年来,用各种辐射探测器(即计数器)来 记录已日趋普遍。目前专用的X射线衍射已在各 个主要领域中取代了照相法。颜色已具有方便, 快速,准确等优点,它是近代以来晶体结构分析 的主要设备。
小晶体(晶粒)
由亚晶块组成
由N个晶胞组成
使得晶体中稍有位相 差的各个亚晶块有机 会满足衍射条件,在 θ±Δθ范围内发生衍 射,从而使衍射强度 并不集中于布拉格角θ 处,而是有一定的角 分布。
(2)实际X射线也并非严格单色(具有一个狭长 的波长范围),也不严格平行(或多或少有一定 发散度)。
因此,衡量晶体衍射强度 要用积分强度的概念。
多晶X射线的衍射强度
I = I0·K·|F|2
I0-单位截面积上入射的单色X射线功率 |F|-结构因子,取决于晶体的结构以及晶体所含原子的性质
K是一个综合因子,它与实验时的衍射几何条件,试样的形状、吸收性质,温 度以及一些物理常数有关。对于粉末衍射仪而言:
[自然科学]第5章 X射线衍射原理第二节
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f [1 e
i( h k )
]
(h+k)一定是整数,分两种情况:
(1)如果h和k均为偶数或均为奇数,则和为偶数
F = 2f F2 = 4f2 (2)如果h和k一奇一偶,则和为奇数, F = 0 F2 = 0 不论哪种情况,l值对F均无影响。111,112,113或021,022,023的F 值均为2f。011,012,013或101,102,103的F值均为0。
F2=0的现象。
实际晶体中,位于阵点上的结构基元若非由一个
原子组成,则结构基元内各原子散射波间相互干
涉也可能产生F2=0的现象,此种在点阵消光的
基础上,因结构基元内原子位置不同而进一步产
生的附加消光现象,称为结构消光。
例如: 金刚石结构
金刚石虽然是面心点阵结构, 但每个点 阵点代表两个碳原子, 故金刚石结构中, 每个 晶胞中有8个碳原子, 其分数坐标分别为
Ea<ZEe
若原子序数为Z,核外有Z个电子,将其视为点 电荷,其电量为-Z· e
衍射角为0时: I a Z I e 其它情况下: I f 2 I a e
2
一个原子散射波的振幅(Aa) f= 一个自由电子散射波振幅 (Ae) 原子散射因子f-sinθ/λ曲线
三种晶体可能出现衍射的晶面
简单点阵:什么晶面都能产生衍 射
体心点阵:指数和为偶数的晶面
面心点阵:指数为全奇或全偶的 晶面 由上可见满足布拉格方程只是必 要条件,衍射强度不为0是充分条 件,即F不为0
底心晶胞:两个原子,
(0,0,0)(½,½,0)
F fe
2 i (0)
fe
2 i ( h / 2 k / 2)
XRD实验条件和数据处理方法对衍射峰位、强度和半高宽的影响

2 .1 84 2 2 .2 84 0 2 .1 84 2
2 .1 84 4
00 0 .3 00 2 .2 .3 00 0 00 7 .2
13 84
18 36 17 19 85 9
00 9 .7
00 5 .8 00 0 .8
1, 30 1. 60
71 71
69 08
5 K双线效应 . .
在使用金属元素靶进行 XD工作时 ,其光源均包括 K 、K, 。三种特征辐射,当 R 。 。 、K2
K : K: 。和 。不能分辨时,引入 K ,其人 = 。
号 奋, 铜 、 、” “ 二 2于
2 3 4 1, 6
7
0 0 0
0
L
0
卜
0
0 0 0 0 0 0
1
0 0
0
r t
0
‘n “
卜 认
从 〔
衅
A^B aly ol o BN ( : i OH)
1 10 .
0
0
0
n U
,, 尸} 、
.
20 25 3Q 35
以
111
102
15
40
45
55
60
65
70
Ztea( ht “ )
峰面积
13 4 922
05 .
00 1 .2
00 4 .2 00 4 .2 00 4 .2 00 7 .2
.3 4 .0 4 一71 00 1 73 2 72
1 . 0 20 .
40 .
4 .7 00 0 72 2 .3 4 ,7 00 0 72 2 .3
4 2 . 7 7 6 00 5 ,3
XRD

点阵常数的精确测定
X射线测定点阵常数是一种间接方法,它直接测量的是某一衍射线
条对应的θ角,然后通过晶面间距公式、布拉格方程计算出点阵常数。以 立方晶体为例,其晶面间距公式为:
根据布拉格方程2dsinθ=λ,则有:
在式中,λ是入射特征X射线的波长,是经过精确测定的,有效数字
可达7位数,对于一般分析测定工作精度已经足够了。干涉指数是整数无 所谓误差。所以影响点阵常数精度的关键因素是sinθ。
干涉的波程差
=
k
明纹 K为整数 暗纹
1 2
X射线衍射波的形成模型
原子或离子中的电 子——受迫振动。 入射X射线
振动着的电
子成为次生X 射线的波源,
向外辐射与
入射 X 射线 同频率的电 磁波,称为 散射波。
1.2 X射线衍射基本特征
X射线学是以X射线在晶体中的衍射现象为基础的,衍射波具有两个 基本特征:衍射方向和衍射强度。 衍射方向、强度、线型包含了大量的物质结构信息。 衍射方向—— 决定于晶体的点阵类型、点阵常数、晶面指数和X射 线 波长。 衍射强度—— 与上述因素有关外还决定于构成晶体各元素的性质和 原子在晶胞中的位置。 衍射线型—— 反映了晶体内部的缺陷。
1.3 X射线衍射方向基本方程
1. Laue方程
入射线单位基矢S0 前提条件: • X射线源、观测 A C O CO= -Rl ·S0 衍射加强条件: 有:ko=(2/ ) S0 Rl D OD= Rl ·S Rl · ( S-S0 )= k=(2/ ) S 点与晶体的距离 都比晶体的线度 衍射线单位基矢S 大的多, • 入射线和衍射线 可看成平行光线; • 散射前后的波长 不变,且为单色。
1.4 Bragg 方程的讨论
材料研究分析方法(研究生)-XRD1.

式中为入射线的发散角,这种关系可由DuMond图示意表 示(图4)
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
图4 Si(111)晶体衍射DuMond图
图5 Si(111)晶体及限束狭缝获得 分辨率为的DuMond图
图18 InAs/Ga超晶格的X射线(002)双晶衍射谱线
图18给出了一个分子束外延生长在GaSb(001)衬底上,140周 期的InAs/GaSb超晶格的X射线(002)双轴晶衍射谱线。 InAs和GaSb的设计厚度分别为78.7A和79.2A。两者之间的晶 格失配仅约为0.6%。衍射仪所用单色器为Ge(220),转靶X射 线光源,X射线波长=1.5405A。由于扫描范围较大,采用 /2q扫描。 从图18可看到,除衬底峰之外,还观测到了一组10个左右的
( 8)
式中,q(s)为实空间中超晶格卫星峰的间距。
图17 分子束外延生长的Al0.32Ga0.68As/GaAs(011)
薄膜的X射线高分辨(004)衍射谱
图17给出了一个分子束外延生长在GaAs(011) 衬底上的
Al0.32Ga0.68As薄膜的高分辨(004)衍射谱。由于薄膜与衬 底之间的晶格失配仅约为0.05%,薄膜的完美性很高。实验 采用Philips X′Pert 衍射仪,X射线波长=1.5404A。 从图17可以看到,除衬底峰和薄膜峰外,还可以看到清楚的 干涉峰,如箭头所示,薄膜的名义厚度为2000A。测量得到 的干涉峰间距为 =100.1″=4.8510-4rad。由式(4),采 用GaAs(004)的布拉格角qB=34.56,得到的薄膜实际厚度 为1928.5A。
XRD衍射方向和强度

材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线的波长
莫塞莱 (H. G. Moseley) 发现,特征 X 射线的波长与 原子序数 Z 的平方成反比关 系。
特征X射线的波长与管电 压无关,但其强度则与管电 压有关:
= I 标 K 3i (U − U K ) n
K3 均为常数。特征X射线的 UK 为临界激发电压,n、
二、布拉格方程的讨论
将衍射看成反射是布拉格方程的基础。但衍射是本质, 反射仅是为了使用方便的描述方式。 X射线只有在满足布拉格方程的θ角上才能发生反 射,亦称选择反射。 布拉格方程在解决衍射方向时是极其简单而明确的。 波长为λ的X射线,以角θ投射到晶体中间距为d的晶面 时,有可能在晶面的反射方向上产生反射(衍射)线, 其条件是相邻晶面的反射线的程差为波长的整数倍。但 是布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 布拉格方程联系了晶面间距d、掠射角θ 、反射级 数n和X射线波长λ四个量。
1 1 1 − 2 )( Z − σ ) 2 n2 n1
λ
=
R(
强度:相对强度决定于电子在不同能级间的跃迁几率; 绝对强度随管电流和管电压的增大而增大。
= I 标 K 3i (U − U K ) n
用途:X射线衍射分析的主要光源;元素成分分析。
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线滤波片
在X射线衍射分析中常常要采用单色X光,因Kα 的强度较高,故一般是选择 Kα 作光源。但在 X 射线 管发出的X射线中有Kα时,必定伴有Kβ和连续X射线。 这对衍射分析是不利的。必须设法把 Kβ 和连续 X 射 线除去或将其减弱到最小程度。通常是用滤波片来 实现这一目的。
第5章 X射线衍射原理第二节

e4 1 + cos2 2θ Ie = I0 2 4 2 mc R 2
1、散射X射线的强度很弱。 散射X射线的强度很弱。
偏振因子 或极化因子
假定R=1cm,2θ=0处 假定R=1cm,2θ=0处 Ie/I0=7.94×10-23 =7.94× 2、散射X射线的强度与电子到观测点之间的距离R的 散射X射线的强度与电子到观测点之间的距离R 平方成反比。 平方成反比。 3、不同方向上(2θ不同),散射强度不同。平行 不同方向上(2θ不同),散射强度不同 不同),散射强度不同。 入射X射线方向(2θ=0 180° 散射线强度最大。 入射X射线方向(2θ=0 或180°)散射线强度最大。 垂直入射X射线方向(2θ=90或270° 垂直入射X射线方向(2θ=90或270°)时,散射的 强度最弱,为平行方向的1/2。 强度最弱,为平行方向的1/2。
结构振幅的计算
3、面心点阵 、
单胞中有四种位置的原子, 单胞中有四种位置的原子,它们的坐标分别是 )、(1/2,0,1/2)、 (0,0,0)、 (0,1/2,1/2)、( , , )、 )、( 、 (1/2,1/2,0) )
FHKL = [ f1 cos 2π (0) + f 2 cos 2π (
下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、 下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个 晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散射 射线的散射, 晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对 射线的散射, 讨论散射波的合成振幅与强度。 讨论散射波的合成振幅与强度。
1.一个电子的散射强度 1.一个电子的散射强度
假设:原子中的所有电子都集中在一点上。 假设 : 原子中的所有电子都集中在一点上 。 这时 所有电子散射波的位相都是相同的, 所有电子散射波的位相都是相同的 , 整个原子散射 波的强度就是各个电子散射强迭加。 波的强度就是各个电子散射强迭加。 一个电子的散射波的振幅为E 一个电子的散射波的振幅为 e , 若该原子的核 电荷数为Z, 原子的散射波的振幅为 a=ZEe , 原子 电荷数为 , 原子的散射波的振幅为E 的散射强度I 的散射强度 a=Ea2
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材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线的成因
K α1 L3 L2 L1 1s K K α2 自由电子 2s 2p
空间点阵可由单胞重复排列而得
单胞的表示方法
正点阵和倒易点阵的几何对应关系
可以看出,如果正点阵的 晶轴相互垂直,则倒易轴亦 将相互垂直且平行晶轴,如 立方和正方晶系。其它晶系 则没有这一关系。 通过以上对倒易点阵性质 的介绍得知:倒易矢量ghkl的 方向可以表征正点阵(hkl)晶 面的法线方向,而ghkl的长度 为(hkl)晶面间距的倒数。
材料研究方法
x 射线衍射分析
问题
X射线是怎样产生的? 特征X射线的成因及特点?
X射线的产生
X射线管包括阴极、高压、靶材
X射线管的结构示意图 特征X射线特点:特定波长、不连续、尖锐 X射线谱
材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线的成因
产生特征X射线的根本原因是原子的内层电子被激发引起 的电子跃迁。
康普顿效应是量子理论最重要的实验依据 之一,康普顿也因此获得1927年的诺贝尔 物理学奖!
与X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单
内 容 X射线的发现 晶体的X射线衍射 晶体结构的X射线分析 元素的特征X射线 X射线光谱学 电子衍射 化学键的本质 蛋白质的结构测定 脱氧核糖核酸DNA测定 青霉素、B12生物晶体测定 直接法解析结构 电子显微镜 扫描隧道显微镜 中子谱学 中子衍射
材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线的波长
莫塞莱 (H. G. Moseley) 发现,特征 X 射线的波长与 原子序数 Z 的平方成反比关 系。
特征X射线的波长与管电 压无关,但其强度则与管电 压有关:
= I 标 K 3i (U − U K ) n
K3 均为常数。特征X射线的 UK 为临界激发电压,n、
1
λ
=
1 1 R( 2 − 2 )( Z − σ ) n2 n1
绝对强度随X射线管的电流和 电压的增加而增大。 适宜的管电压选用激发电 压的3-5倍,这时特征射线和 连续射线的强度比最大,峰 背比最高,对于利用特征射 线最为有利。
特征 X 射线的波长与阳极 材料的原子种类有关,与外 界条件无关。
材料研究方法
年 份 学 科 1901 物理 1914 物理 1915 1917 1924 1937 1954 1962 1962 1964 1985 1986 1994
得奖者 伦琴Wilhelm Conral Rontgen 劳埃Max von Laue 亨利.布拉格Henry Bragg 物理 劳伦斯.布拉格Lawrence Bragg. 物理 巴克拉Charles Glover Barkla 物理 卡尔.西格班Karl Manne Georg Siegbahn 戴维森Clinton Joseph Davisson 物理 汤姆孙George Paget Thomson 化学 鲍林Linus Carl Panling 肯德鲁John Charles Kendrew 化学 帕鲁兹Max Ferdinand Perutz Francis H.C.Crick、JAMES d.Watson、 生理医学 Maurice h.f.Wilkins 化学 Dorothy Crowfoot Hodgkin 霍普特曼Herbert Hauptman 化学 卡尔Jerome Karle 鲁斯卡E.Ruska 物理 宾尼希G.Binnig 罗雷尔H.Rohrer 布罗克豪斯 B.N.Brockhouse 物理 沙尔 C.G.Shull
(b) 体心立方 W a=b=c=0.3165 nm
衍射方向和衍射强度
第二章 X射线的衍射原理/方向
倒易点阵简介 布拉格定律
第一节 倒易点阵简介
晶体中的原子在三维空间周期性排列,每一周期以原 子(或离子、分子或原子集团等)为阵点组成单位晶胞, 它们重复排列成空间点阵,共有7大晶系,14种类型, 并用[uvw]表示空间点阵中的某一晶向,用(hkl)表示空 间点阵中的某一晶面簇的晶面。这种点阵称为正点阵或 真点阵。
第二节 布拉格定律
波的合成示意图
当振动方向相同、波长相同的两列波叠加时,将造成 某些固定区域的加强或减弱,称为波的干涉。 两个波的波程不一样就会产生位相差;随着位相差变 化,其合成振幅也变化。
X射线在与晶体中束 缚较紧的电子相遇时, 电子会发生受迫振动并 发射与X射线波长相同 的相干散射波。 这些波相互干涉,电 子散射波干涉的总结果 被称为衍射。
衍射现象示意图
附图2表示,从各原子散射出来的球面波,在特定的 方向上被加强的情形。可以看到,在0级、1级、2级方 向上出现衍射束。
一、布拉格方程的导出
布拉格方程将晶体的衍射看成晶面簇在特定方向对X射 线的反射,使衍射方向的确定变得十分简单明确,而成 为现代衍射分析的基本公式。
2d sin θ = nλ
x 射线衍射分析
特征X射线的相对强度
特征 X 射线的相对强度决定于电子在各能级间 的跃迁几率。由于 L 层电子比 M 层电子跃入 K 层 的几率大,所以Kα线比Kβ线强。因为L3子壳层 上的电子数比L2子壳层上的电子数多1倍。L3子 壳层比 L2 子壳层的电子跃入 K 层的几率大,所 以Kα1线比Kα2线强。
特征X射线的用途
X射线衍射分析的光源 ; 元素分析:每种化学元素都有其固定不变的 特征X射线。利用这一点可以进行元素成分分 析,这是X射线光谱分析的基本原理。
材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线(小结)
成因:原子的内层电子被激发造成电子跃迁。 特点:由若干条特定波长的X射线构成,波长不连续。 种类:K系特征X射线——由于K层电子被激发造成电子跃迁 L系特征X射线——由于L层电子被激发造成电子跃迁 M系特征X射线——由于M层电子被激发造成电子跃迁 波长:只与阳极材料的原子种类有关,与外界条件无关
1 1 1 − 2 )( Z − σ ) 2 n2 n1
λ
=
R(
强度:相对强度决定于电子在不同能级间的跃迁几率; 绝对强度随管电流和管电压的增大而增大。
= I 标 K 3i (U − U K ) n
用途:X射线衍射分析的主要光源;元素成分分析。
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40
1914年获诺贝尔物理学奖
劳厄法X射线 衍射实验的基 本装置与所拍 的照片
爱因期坦称,劳厄的实验“ 物理学最美的实验”。它一 箭双雕地解决了X射线的波动性和晶体的结构的周期性。
1912年,英国 物理学家布喇 格父子提出 X 射线在晶体上 衍射的一种简 明的理论解释 布喇格定律, 又称布喇格条 件。
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线滤波片
在X射线衍射分析中常常要采用单色X光,因Kα 的强度较高,故一般是选择 Kα 作光源。但在 X 射线 管发出的X射线中有Kα时,必定伴有Kβ和连续X射线。 这对衍射分析是不利的。必须设法把 Kβ 和连续 X 射 线除去或将其减弱到最小程度。通常是用滤波片来 实现这一目的。
倒易点阵的概念,使许多晶体几何学问题的解决变得 简易。 在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则 这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。
晶带轴矢量 = ua + vb + wc
g hkl = ha* + kb* + lc*
如果两矢量垂 直,则有: (ha* + kb* + lc* ) = 0
材料研究方法
x 射线衍射分析
滤波原理
选取合适的材料作滤波片, 使滤波片的 k 吸收限λk 正好位 于阳极材料的 kα 和 kβ 之间, 用这种材料做成的滤波片就能 把阳极材料产生的 kβ 和连续 X 射线大部分吸收掉,而kα却很 少被吸收。经过滤波片的“过 滤”作用,就可得到基本上是 单色的X光。
95
100
105
110
115
120
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 2,0,0 2,2,0 2,1,1 3,1,0 2,2,2 2 θ (ϒ) 120 1,1,0
1,1,0 (44.68,100.0)
(a) 体心立方 α−Fe a=b=c=0.2866 nm
2,1,1 (82.35,28.1) 2,2,0 (98.96,9.3)
2,0,0 (65.03,14.9)
3,1,0 (116.40,16.6) 2 θ (ϒ)
45
50
90
= δ PM 2 + QM 2 两束X射线到达NN2处的程差为:
δ = d sin θ + d sin θ = 2d sin θ
晶体对X射线 的衍射
布拉格方程:
2d sin θ = nλ
式中的θ为入射线(或反射线)与晶面的夹角,称 为掠射角或布拉格角。入射线与衍射线之间的夹角为 2θ ,称为衍射角。n为整数,称反射的级。
材料研究方法
x 射线衍射分析
问题
X射线衍射分析能用来做什么?
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线衍射分析可以用于
研究晶体结构
晶体的对称性 测定晶胞参数 C 石墨?金刚石? TiO2 金红石?锐钛矿?板钛矿?
鉴别同质异像的物质
了解材料中的结晶相(定性物相分析) 查明材料中各种结晶相的含量(定量物相分析) 微晶粒径测定 宏观应力分析 晶体的取向