XRD衍射方向和强度.
xrd衍射原理
xrd衍射原理
X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）是一种通过散射X射
线来研究物质的结构和性质的技术。
它基于X射线与晶体中
的原子发生散射的现象，可以获取关于晶体内原子排列的信息。
X射线是高能量的电磁波，具有很短的波长。
当X射线通过
晶体时，它们被晶体中的原子吸收，并随后重新散射出来。
由于晶体中原子的周期性排列，散射出的X射线将呈现出干涉
的现象，类似于光波通过光栅时的衍射效应。
X射线衍射的主要原理是布拉格方程，它描述了在晶体内发生衍射的条件：
nλ = 2dsinθ
其中n为正整数，λ为X射线的波长，d为晶面间的距离，θ
为入射角。
当满足布拉格方程时，散射出的X射线将会相长
干涉，产生强度峰。
X射线衍射实验通常使用粉末衍射法，将晶体粉末散布在衍射仪器上。
入射的X射线会与晶粉中的各个晶面发生散射，形
成一系列衍射峰。
通过测量和分析这些衍射峰的位置和强度，可以推断晶体的晶胞参数以及晶格结构。
通过X射线衍射技术，可以确定晶体的晶胞结构、晶格常数、晶体的对称性以及晶体内原子的相对位置。
这对于材料科学、固态物理、化学以及生物学等领域的研究都具有重要意义。
XRD实验条件和数据处理方法对衍射峰位、强度和半高宽的影响
２ ．１ ８４ ２ ２ ．２ ８４ ０ ２ ．１ ８４ ２
２ ．１ ８４ ４
００ ０ ．３ ００ ２ ．２ ．３ ００ ０ ００ ７ ．２
１３ ８４
１８ ３６ １７ １９ ８５ ９
００ ９ ．７
００ ５ ．８ ００ ０ ．８
１， ３０ １． ６０
７１ ７１
６９ ０８
５ Ｋ双线效应 ． ．
在使用金属元素靶进行 ＸＤ工作时 ，其光源均包括 Ｋ 、Ｋ， 。三种特征辐射，当 Ｒ 。 。 、Ｋ２
Ｋ ： Ｋ： 。和 。不能分辨时，引入 Ｋ ，其人 ＝ 。
号 奋， 铜 、 、” “ 二 ２于
２ ３ ４ １， ６
７
０ ０ ０
０
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０
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２０ ２５ ３Ｑ ３５
以
１１１
１０２
１５
４０
４５
５５
６０
６５
７０
Ｚｔｅａ（ ｈｔ “ ）
峰面积
１３ ４ ９２２
０５ ．
００ １ ．２
００ ４ ．２ ００ ４ ．２ ００ ４ ．２ ００ ７ ．２
．３ ４ ．０ ４ 一７１ ００ １ ７３ ２ ７２
１ ． ０ ２０ ．
４０ ．
４ ．７ ００ ０ ７２ ２ ．３ ４ ，７ ００ ０ ７２ ２ ．３
４ ２ ． ７ ７ ６ ００ ５ ，３
材料课堂——XRD常见问题详解（二），超实用！！
材料课堂——XRD常见问题详解（二），超实用！！展开全文衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。
XRD 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？样品中晶粒越小，衍射峰的峰高强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用X 射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer 公式）。
晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。
一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起 , 二次聚集, 成为颗粒。
颗粒不是衍射的基本单位, 但是微小的颗粒能产生散射。
你磨的越细, 散射就越强.。
对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。
磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，最终会变成1 个或几个'鼓包'。
一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些，因为 d 值大的晶面容易被破坏。
衍射强度变弱本质的原因是由于晶体颗粒变小，还是样品颗粒变小？强度除了和晶粒度有关外,还和晶粒的表面状态有关。
一般颗粒越细,其表面积越大，表面层结构的缺陷总是比较严重的。
结构缺陷将导致衍射强度降低和衍射峰宽化。
XRD 研究的应该是晶粒、晶体的问题，与晶体结构关联的问题，不是样品颗粒的大小问题，谢乐公式算的应该也是晶粒的大小。
样品颗粒的大小要用别的方法测定.，例如光散射、X 射线散射、电镜等。
细针状微晶粉末样品做 XRD 重复性很差。
（制作粉末衍射样品片）怎么可以避免择优取向？择优取向是很难避免的，只能尽力减少他的影响。
首先，你要讲样品磨得尽量细（但要适度，要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏）；不要在光滑的玻璃板上大力压紧（压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张），样品成形尽可能松一些；制样过程中也可以掺一些玻璃粉，或加一些胶钝化一下样品的棱角。
XRD衍射方向和强度
材料研究方法
x 射线衍射分析
特征X射线的波长
莫塞莱 (H. G. Moseley) 发现，特征 X 射线的波长与 原子序数 Z 的平方成反比关 系。
特征X射线的波长与管电 压无关，但其强度则与管电 压有关：
= I 标 K 3i (U − U K ) n
K3 均为常数。特征X射线的 UK 为临界激发电压，n、
二、布拉格方程的讨论
将衍射看成反射是布拉格方程的基础。但衍射是本质， 反射仅是为了使用方便的描述方式。 X射线只有在满足布拉格方程的θ角上才能发生反 射，亦称选择反射。 布拉格方程在解决衍射方向时是极其简单而明确的。 波长为λ的X射线，以角θ投射到晶体中间距为d的晶面 时，有可能在晶面的反射方向上产生反射（衍射）线， 其条件是相邻晶面的反射线的程差为波长的整数倍。但 是布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 布拉格方程联系了晶面间距d、掠射角θ 、反射级 数n和X射线波长λ四个量。
1 1 1 − 2 )( Z − σ ) 2 n2 n1
λ
=
R(
强度：相对强度决定于电子在不同能级间的跃迁几率； 绝对强度随管电流和管电压的增大而增大。
= I 标 K 3i (U − U K ) n
用途：X射线衍射分析的主要光源；元素成分分析。
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线滤波片
在X射线衍射分析中常常要采用单色X光，因Kα 的强度较高，故一般是选择 Kα 作光源。但在 X 射线 管发出的X射线中有Kα时，必定伴有Kβ和连续X射线。 这对衍射分析是不利的。必须设法把 Kβ 和连续 X 射 线除去或将其减弱到最小程度。通常是用滤波片来 实现这一目的。
X射线衍射仪(XRD)
X 射线衍射仪（XRD ）1、X 射线衍射仪（XRD ）原理当一束单色 X 射线照射到晶体上时，晶体中原子周围的电子受X 射线周期变化的电场作用而振动，从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。
所发射球面波的频率与入射的X 射线相一致。
基于晶体结构的周期性，晶体中各个原子（原子上的电子）的散射波可相互干涉而叠加，称之为相干散射或衍射。
X 射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量原子散射波相互干涉的结果。
每种晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。
根据上述原理，某晶体的衍射花样的特征最主要的是两个：（1）衍射线在空间的分布规律；（2）衍射线束的强度。
其中，衍射线的分布规律由晶胞大小，形状和位向决定，衍射线强度则取决于原子的品种和它们在晶胞的位置，因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。
在混合物中，一种物质成分的衍射图谱与其他物质成分的存在与否无关，这就是利用X 射线衍射做物相分析的基础。
X 射线衍射是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等)，结构参数不同则X 射线衍射线位置与强度也就各不相同，所以通过比较X射线衍射线位置与强度可区分出不同的物质成分。
布拉格方程，其中n 为衍射级数图1.1 布拉格衍射示意图布拉格方程反映的是衍射线方向和晶体结构之间的关系。
对于某一特定的晶体而言，只有满足布拉格方程的入射线角度才能够产生干涉增强，才会出现衍射条纹，这就是XRD 谱图的根本意义所在。
对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在X 射线衍射（XRD ）图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。
对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的X 射线衍射（XRD ）图谱为一些漫散射馒头峰。
n λ=2dsin θ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料中查出试样中所含的元素。
XRD衍射分析
• 原子结构壳层理论
高能电子撞击阳极靶时，会将阳极物质原子中 K 层电子 撞出电子壳层，在K壳层中形成空位，原子系统能量升高，
使体系处于不稳定的激发态，按能量最低原理，L、M 、 N
一层中的电子会跃人K层的空位，为保持体系能量平衡，在 跃迁的同时，这些电子会将多余的能量以特征X射线光量子 的形式释放。
◆K系激发机理
• K层电子被击出时，原子系统能量由基态升到K激发态，高能
级电子向 K 层空位填充时产生 K 系辐射。 L 层电子填充空位时， 产生Kα 辐射；M层电子填充空位时产生Kβ 辐射。
• K 系标识 X射线：对于从 L ， M， N„ 壳层中的电子跃入 K 壳层
空位时所释放的 X 射线，分别称之为 K 、 K 、 K„谱线，
X射线与物质的相互作用示意图
◆ X射线与物质相互作用时，产生如上所示的各种 不同的和复杂的过程。就其能量转换而言，一束X 射线通过物质时，可分为三部分：
●一部分被散射 ●一部分被吸收 ●一部分透过物质继续沿原来的方向传播
X射线的吸收
1.光电效应
• 以 X 光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被击出的电
• 同步辐射是洁净的光源
它是在10-11托的超高真空环境中产生的，没有灯丝、隔离物质 等带来的污染。这一性质对于表面科学、计量学等应用特别重要。
• 有特定的时间结构
电子在储存环中是以束团的形式运动的，因此放出的同步辐射 具有特定的脉冲结构。脉冲宽度（ 对应着电子束团的长度）约为ps 量级，脉冲间隔（ 对应电子束团之间的距离）约为ms量级
长时期运行，于是在每一个弯转磁铁处都会产生同步辐射，同
步辐射才开始走向实用。
同步辐射具有连续分布的宽广频谱，其分布范围从远红外
01-XRD-基础与原理(3-衍射原理)
2dsinθ=λ
B、已知d 的晶体，测角，结合布拉格方程得到特征 辐射波长 ，再利用莫色莱定律，从而计算物质
的原子序数来确定元素及元素组成——X-ray荧光 分析基础
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29
3、衍射矢量方程和厄尔瓦德图解
在描述X射线的衍射几何原理时，主要是解决两个 问题： ①产生衍射的条件，即满足布拉格方程或劳厄方程； ②衍射方向，即根据布拉格方程或劳厄方程确定的衍 射角2。
例：一组晶面间距从大到
小的顺序：2.02Å ，1.43Å ， 1.17Å，1.01 Å，0.90 Å， 0.83 Å，0.76 Å……当用
波长为λkα = 1.94Å的铁 靶照射时，因λkα/2 = 0.97Å ，只有四个d大于它，
故产生衍射的晶面组有四
个。如用铜靶进行照射，
因λkα/2 = 0.77Å， 故
0
2,2,0
3,1,0
2,2,2
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
105
110
115
120
图3（1） X射线衍射花样与晶胞形状及大小之间的关系
21
Intensity (%)
1,0,1 100
90
80
70
60
50
1,1,0
40
30
20
10
0
35
40
45
50
0,0,2
2,0,0
§3 X射线衍射原理
衍射的本质：晶体中各原子相干散射波叠加 （合成）的结果。
衍射波的两个基本特征 ① 衍射方向：衍射线在空间分布的方位 ② 衍射强度：它们与晶体结构密切相关。
XRD分析方法介绍
1.3.1 连续谱
连续谱是从某个最短波长（λmin）开始，强度随 波长连续变化的线谱。产生连续谱的机理是：当高速 运动的电子击靶时，电子穿过靶材原子核附近的强电 场时被减速。电子减少的能量（ΔE）转化为所发射x 射线光子能量（hυ），即hυ= ΔE。这种过程是一种量 子过程。 在连续谱中，峰值对应的波长约为1.5λmin。当x射 线管电流不变时，随管电压提高，λmin向短波方向移 动，且连续谱强度也随之增加。 连续x射线谱只有在x射线的劳厄照相法中才用， 在其他方法中均用单色x射线作为光源，连续谱的存 在只能造成不希望有的背景，通常用滤波片或晶体单 色器将其去除。
如图所示，设一束波长为λ的 平行Ｘ射线以角度θ照射到晶 体中晶面指数为（hkl）的各原 子面上，各原子面产生反射。
布拉格方程的导出 任选两相邻面，反射线光程差 δ＝ＭＬ＋ＬＮ＝ 2dsinθ； 干涉一致加强的条件为： δ＝nλ 即 2dsinθ＝nλ —布拉格方程Bragg’slaw 式中：n——任意正整数，称反射级数。
为简便起见，用衍射指数hkl代替面网符合（nh、nk、nl）， 则得到简化布拉格方程，即 2dsinθ＝λ
2.2.1 衍射方向 衍射方向可用布拉格角θ、衍射角2θ、衍射面间距 dhkl及衍射指数hkl来表征。 衍射角2θ对应于所使用的x射线波长，波长不同， 2θ也不同，它可以由实验直接测得。 dhkl用于表明衍 射是由面间距为dhkl的衍射面产生的，对于不同波长的 x射线， dhkl值是确定的，故在标准物相的衍射数据中 用这一表示法。但当晶体结构因故产生形变时，其面 间距dhkl将偏离原值，但衍射指数hkl不变，故用衍射 指数hkl表示衍射方向比较精确，特别是在比较不同样 品同一衍射面的衍射数据时，常用衍射指数hkl表达