检具能力指数 - 360文档中心

Cg cgk技术资料

精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。

为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。

即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。

采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。

2.评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S(1)C g K=Cg-｜XE-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。

若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。

(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。

(5)对一般检具进行C g值计算，对关键检具进行C g K值计算。

(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。

检具能力指数CgCgk

此主题相关图片如下：
Cgk是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。

进行Cgk 分析的方法是：
1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；
2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；
3：确定被测产品的公差X围；
4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。

下面是一个计算的图示：
此主题相关图片如下：
上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题
此主题相关图片如下：。

Cgcgk技术资料

、弓丨言检具（读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等）的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。

为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍1. 评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值（即极差值）作为误差评定指标。

即n次等精度测量值分别为L i、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n 次测量值的极差值W=L max-L min。

采用极差法进行评定时，一般取n = 10,W/< T/10（T为工件被检项目公差）。

2. 评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为C g=KT/6S ⑴GK=G | X& | /3S （2）式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S――实际达到的测量结果分布宽度T――工件被检项目公差X E――样件的实际尺寸•――平均测量值S――标准偏差，X ――第i次测量值n――测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1) 进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2) 进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。

若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3) 检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算e g值或C g K值。

(4) 在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。

(5) 对一般检具进行e g值计算，对关键检具进行GK值计算。

⑹按式⑴、(2)计算得到测量能力指数，通常当e g> 1.33或C g K W2时可视为该检具合格。

cg cgk介绍

有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复(2014-09-14 18:03:40)转载▼分类：质量工具与方法标签：cg——量具重复精度能力系数cgk——量检具准确精度能力系数Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。

进行Cgk分析的方法是：1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。

cgcgkmsa测量系统分析有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题，现将相应答复分享给感兴趣同仁，以供参考。

问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？我的答复：我对你的困惑表示理解。

我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。

有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。

MSA 的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，以此来评估测量系统的质量。

如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。

问题二：有人说，Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究，经过分析，我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了，我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司，因为我的理解不够深入，所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢？我的答复：目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受，只有Cg/Cgk 满足要求（如：Cg>=1.33、Cgk>=1.33）时才进一步通过测量生产件进行GRR（测量系统重复性和再现性）研究。

MSA_方法在功能测试平台稳定性分析中的应用

根据 25 次测量数据的平均值X 与基准真值 Xm 的差值绝对值计算偏倚 Bi。通过图 1 可以看出，预期功能测试平台测定的 25 次值的平均值相对于真值 Xm 的 Bi 越小，代表功能
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工业技术
公差T，预期其金样测定是满足6倍Sigma的制程能力 20%T
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根据 25 次测试的数据和平均值计算标准差和 6 倍的标准差，如公式（3）所示 [3]。
Sg
¦ n i1
xi X
2
n 1
（3）
式中：xi 表示测试值 1~ 测试值 25 ；X 表示所有平均值。 6 个标准差即 6Sg=6×Sg。根据规格全距 T、标准差 Sg 计算量具能力 Cg，0.2 为公
就需要通过计算 Cg 度量来比较变异（量具测量值的散布范围）与公差百分比 T，选择 20% 的公差带。Cg 值＞ 1.33 说明对公差范围而言，该量具测量值的散布范围非常窄，测量设
备受控时，检测的特性预期为正太分布，规格公差带 0.2×T
是固定值。检具稳定性通过标准差 Sg 进行衡量，标准差 Sg 越小，Cg 值越大，表明检具越稳定，重复性越好，即检具能力越强。Cg 评估量具测量值的散布范围如图 1 所示。
工业技术
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MSA方法在功能测试平台稳定性
分析中的应用
余强曹杰赵辉（卡斯柯信号有限公司，上海 200040）
摘要：功能测试平台是公司自主开发用来测试电路板功能输出参数的一种半自动化测试系统，测试平台的
稳定性决定了电路板测试结果的信赖度。本文利用 MSA 理论方法对功能测试平台每个输出参数的检具能力和

CGK CMK PPK CPK能力指数说明

Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CpkCgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价等级要求值状态处理方案A级 1.33≤Cp 稳定可考量缩小规格B级 1.0＜Cp ≤1.33 一般必须加以注意，维持C 级0.83＜Cp ≤1.0 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤0.83 极差停机，重新调整后生产Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s注：Cp 值越大，分布数据接近，但也有可能偏于中心值的分布规格U-L 中心值M密度高-----低u 密集命中密度高分散命中密度低密集命中密度高，但偏离大规格宽松，须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值，缩小规格范围Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍结束语：1. 通过以上各种能力指数的分析，可以针对工作需要选用或并用多种工具，了解4M等因素或制程能力，确保生产品质是否在掌握范围？2. 任何一种统计工具都要灵活运用，不可极端采纳。

3. 目前管制线一般采用+3s～-3s，直通率为99.73%作为基准线，来做SPC管制线以上报告，仅供参考。

Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算

Ppk、Cpk，还有Cmk三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。

即：Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同。

目录编辑本段概念CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK 一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；CPK：至少1.33CMK：至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本CMK相关知识对Cmk，我们关心的是机器设备本身的能力，在取样过程中要尽量消除其他因素的影响，因此，在尽量短的时间内（减少环境影响），相同的操作者（减少人的因素影响），采用标准的作业方法（法），针对相同的加工材料（同一批原材料），只考核机器设备本身的变差。