图像分析仪的使用
扫描电镜图像分析仪在矿物鉴定中的应用
扫描电镜图像分析仪在矿物鉴定中的应用郭 嘉（山东省第一地质矿产勘查院，山东 济南 ２５００１３）摘 要：在传统的矿物鉴定中，难以立体地描述矿石样本中的矿物类型及所在区域，因此将扫描电镜图像分析仪应用于矿物鉴定中。
论述扫描电镜图像分析技术原理，归纳总结电子束击打在矿石样本表面后形成的分散电子类型，并分别描述其性质，分析该技术的优势，包括分辨率高、具备三维立体结构等。
论述扫描电镜图像分析仪在矿物鉴定中的应用方法，通过矿石自身的导电性能，区分所需扫描电镜种类及参数，分析不同矿石中的元素组成含量，推断矿石具体成分，寻找页岩结构中的微小孔隙。
关键词：扫描电镜图像分析仪；矿物鉴定；岩石矿物鉴定；扫描电镜；电镜图像分析中图分类号：Ｐ５７５．４ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００２－５０６５（２０２１）１７－０２０９－２Application of Scanning Electron Microscope Image Analyzer in Mineral IdentificationGUO Jia（Ｓｈａｎｄｏｎｇ Ｆｉｒｓｔ Ｇｅｏｌｏｇｉｃａｌ ａｎｄ Ｍｉｎｅｒａｌ Ｅｘｐｌｏｒａｔｉｏｎ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ， Ｊｉ’ｎａｎ ２５００１３，Ｃｈｉｎａ）Abstract: Ｉｎ ｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌ ｍｉｎｅｒａｌ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ， ｉｔ ｉｓ ｄｉｆｆｉｃｕｌｔ ｔｏ ｔｈｒｅｅ－ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌｌｙ ｄｅｓｃｒｉｂｅ ｔｈｅ ｔｙｐｅｓ ａｎｄ ａｒｅａｓ ｏｆ ｍｉｎｅｒａｌｓ ｉｎ ｏｒｅ ｓａｍｐｌｅｓ． Ｔｈｅｒｅｆｏｒｅ， ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｉｍａｇｅ ａｎａｌｙｚｅｒｓ ａｒｅ ｕｓｅｄ ｉｎ ｍｉｎｅｒａｌ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ． Ｄｉｓｃｕｓｓ ｔｈｅ ｐｒｉｎｃｉｐｌｅ ｏｆ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｉｍａｇｅ ａｎａｌｙｓｉｓ ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ， ｓｕｍｍａｒｉｚｅ ａｎｄ ｓｕｍｍａｒｉｚｅ ｔｈｅ ｔｙｐｅｓ ｏｆ ｓｃａｔｔｅｒｅｄ ｅｌｅｃｔｒｏｎｓ ｆｏｒｍｅｄ ａｆｔｅｒ ｔｈｅ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｂｅａｍ ｈｉｔｓ ｔｈｅ ｓｕｒｆａｃｅ ｏｆ ｔｈｅ ｏｒｅ ｓａｍｐｌｅ， ａｎｄ ｄｅｓｃｒｉｂｅ ｔｈｅｉｒ ｐｒｏｐｅｒｔｉｅｓ ｒｅｓｐｅｃｔｉｖｅｌｙ， ａｎｄ ａｎａｌｙｚｅ ｔｈｅ ａｄｖａｎｔａｇｅｓ ｏｆ ｔｈｉｓ ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ， ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ ｈｉｇｈ ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ ａｎｄ ｔｈｒｅｅ－ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌ ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ． Ｄｉｓｃｕｓｓ ｔｈｅ ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄ ｏｆ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｉｍａｇｅ ａｎａｌｙｚｅｒ ｉｎ ｍｉｎｅｒａｌ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ． Ｔｈｒｏｕｇｈ ｔｈｅ ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｉｔｙ ｏｆ ｔｈｅ ｏｒｅ ｉｔｓｅｌｆ， ｄｉｓｔｉｎｇｕｉｓｈ ｔｈｅ ｒｅｑｕｉｒｅｄ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｔｙｐｅｓ ａｎｄ ｐａｒａｍｅｔｅｒｓ， ａｎａｌｙｚｅ ｔｈｅ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎ ｃｏｎｔｅｎｔ ｏｆ ｄｉｆｆｅｒｅｎｔ ｏｒｅ， ｉｎｆｅｒ ｔｈｅ ｓｐｅｃｉｆｉｃ ｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎ ｏｆ ｔｈｅ ｏｒｅ， ａｎｄ ｌｏｏｋ ｆｏｒ ｔｈｅ ｓｈａｌｅ ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ． Ｔｉｎｙ ｐｏｒｅｓ．Keywords: ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｉｍａｇｅ ａｎａｌｙｚｅｒ； ｍｉｎｅｒａｌ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ； ｒｏｃｋ ｍｉｎｅｒａｌ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ； ｓｃａｎｎｉｎｇ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ； ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ｉｍａｇｅ ａｎａｌｙｓｉｓ我国的工业发展对矿石有极大的需求，因此合理并及时地大范围开采矿物资源是满足人们生产和生活的前提。
SuperImage影像分析仪使用手册 第四章 分析区域处理
第四章分析区域处理
分析区域选取完成后，还可以对其作进一步处理。
系统提供了多种分析区域处理方法，下面逐一介绍：
图4.1分析区域处理菜单
4.1分析区域反选
分析区域选取完成后，可以对其作反选操作，即将分析区域转换成非分析区域，将非分析区域转换成分析区域。
具体操作如下，打开编辑菜单，选其中的分析区域反选项，便可完成操作（见图4.2）。
4.2分析区域消除
选用编辑菜单中的分析区域消除操作，可以将已选中的分析区域全部删除掉。
4.3分析区域边界圆滑
当分析区域边界毛刺比较多，需要圆滑时，可选用编辑菜单中的分析区域边界圆滑操作，将边界毛刺删除掉。
4.4分析区域自由变换
利用分析区域自由变换功能，用户可以通过鼠标对分析区域的几何形状作任意调整。
方法如下：选用编辑菜单中的分析区域自由变换选项，这时会出现一个分析区域的外接矩形框，在矩形框上有八个调整控制点，利用鼠标可随意调整其位置，这时分析区域的形状会相应地改变（见图4.3）。
分析区域自由变换功能还可以通过点击工具箱中的图标得到。
4.5非分析区域裁剪
非分析区域裁剪功能用于消除分析区域以外的图像（见图4.4）。
裁剪背底颜色可用主工具条中的落射光分析和透射光分析来设置。
选用落射光时，剪裁的背底为黑色，选用透射光时，剪裁的背底为白色。
（a）
（b）
图4.2 分析区域反选
（a）分析区域（b）反选后的分析区域
图4.3分析区域自由变换
图4.4非分析区域裁剪。
LA-S全能型植物图像分析仪
杭州万深检测科技有限公司植物图像分析仪系统用于植物年轮分析、根系分析、叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、叶片叶色分析、作物冠层分析、瓜果剖切面分析等。
LA-S全能型植物图像分析仪由成像装置、拍摄仪、扫描仪及附件、分析软件和电脑组成，电脑自己配置即可。
它的主要性能指标如下：1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。
扫描年轮、叶面积、根系的反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），正片为30 cm ×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm；配自动对焦的大景深800万像素拍摄仪（能微距拍摄）、10000mAH的12V移动电源的辅助背光源板，可野外辅助照明3小时。
该野外成像背景板最大测量面积A4纸幅面，具有自动图像校正与自动测量标定特性。
2、植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。
可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年杭州万深检测科技有限公司表。
可直接分析达2亿像素高精度扫描的超大幅面年轮图像。
具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。
可计算树盘总面积，分析木材的边材面积。
3、可一键化拍照和分析测量野外活体叶面积。
可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。
可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm2的叶片。
可分析多片叶叶面积、病斑面积、虫损叶面积（含分析2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积）、测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”，分析叶片叶色（具有按英国皇家园林协会RHS比色卡的比色特性）、可分析作物冠层。
可交互进行植物相关的各种尺寸、角度测量。
4、植物根系测量分析：（1）根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数、根尖段长分布，杭州万深检测科技有限公司（2）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数；能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。
影像仪操作规程
影像仪操作规程《影像仪操作规程》一、引言影像仪是一种高精度的测量仪器，广泛应用于机械制造、电子、汽车、航空航天等领域。
它可以通过光学成像系统将被测物体的图像传输到计算机中，然后通过软件进行处理和分析，从而得到被测物体的各种尺寸和形状参数。
为了确保影像仪的正常运行和测量精度，特制定本操作规程。
二、影像仪的基本结构和工作原理基本结构 影像仪主要由主机、光学成像系统、计算机、软件等组成。
主机是影像仪的核心部分，它包括工作台、立柱、横梁、Z 轴等部件。
光学成像系统由物镜、目镜、CCD 相机等组成，它可以将被测物体的图像传输到计算机中。
计算机是影像仪的控制中心，它通过软件对影像仪进行控制和数据处理。
软件是影像仪的重要组成部分，它可以对被测物体的图像进行处理和分析，从而得到被测物体的各种尺寸和形状参数。
工作原理 影像仪的工作原理是通过光学成像系统将被测物体的图像传输到计算机中，然后通过软件进行处理和分析，从而得到被测物体的各种尺寸和形状参数。
具体来说，影像仪的工作过程如下：将被测物体放置在工作台上，并调整好位置和方向。
打开影像仪的电源开关，启动计算机和软件。
通过软件对影像仪进行设置和校准，包括设置测量参数、选择测量工具、校准光学系统等。
通过软件控制影像仪的光学成像系统，对被测物体进行拍照和成像。
将拍摄到的图像传输到计算机中，并通过软件进行处理和分析，得到被测物体的各种尺寸和形状参数。
将测量结果输出到计算机屏幕上或打印出来，以便进行后续的分析和处理。
三、影像仪的操作规程开机前的准备工作检查影像仪的各个部件是否完好无损，如有损坏或松动应及时修复或更换。
检查影像仪的工作环境是否符合要求，如有灰尘、油污等应及时清理。
检查影像仪的电源是否正常，如有异常应及时排除。
检查影像仪的光学系统是否清洁，如有灰尘、油污等应及时清理。
检查影像仪的计算机和软件是否正常，如有异常应及时排除。
开机操作打开影像仪的电源开关，等待影像仪启动完成。
影像仪使用说明
Z轴手轮
Y轴手轮
X轴手轮
电源开关下光源
上光源
第一：打开电脑，打开影像仪电源开关，打开软件。
第二：打开光源（上光源或下光源，一般用下光源，非穿透件用上光源）调节X ，Y 手轮找
到要测量工件。
如：
第三：调节Z 轴手轮，使影像区中的图像达到最清晰状态，调节光源旋扭达到最佳光暗状态 如：
成像区
影像区
参数区
元素数
点输入区
第四：选择功能区测量途径。
如要测量圆，在红色区域中选择圆：
圆
选择是否需要多点拟和（默认时如圆为三点构成，选择多点拟和时可以无数点拟和而成）
多点拟和
选择点构成样式（一般为自动构成，自动选择光暗边缘点）
自动构成
选择取点样式（一般选择手动取点）：
手动取点
第五：选点。
将鼠标靠近所要测量的轮廓，红色十字会自动找到光暗边缘点，均匀选取轮廓点构。
红色十字光
标自动找到
光暗边缘
选取默认点数后会自动成像（圆为三点）。
此时可以选择确定（点ESC退出当前元素取点）也可以继续取点（第四步选择了多点拟合）修正当前的圆。
注：1：有需要删除点时，从点输入区中选择需删除的点，鼠标右键选择删除。
2：选取元素轮廓点时，成像区不一定显示全部轮廓，此时取调节X，Y手轮将所需轮廓点调到成像区。
第六：测量。
选择红色区中的测量标注，如圆的直径：
选择成像区中测量的元素，此时元素成红色，点击鼠标左键，将标注线放到合适位置。
注：在参数区中也有此元素相关参数。
元素区中的
相关参数
第七：关软件，关影像仪电源开关，关电脑。
GXY-A根系分析仪使用介绍
GXY-A根系分析仪又名根系分析系统、根系图像分析仪、根系图像分析系统、植物根系图像监测分析系统等，按成像方式不同可分为对原位根系图像的分析仪，以及对洗根后的根系图像分析仪。
一般都要求可分析根系的长度、直径、面积、体积、根尖数、分叉数、根交叉数等。
专业些的根系分析系统，还可分析植物根系的主侧根拓扑形态关系、连接关系，以及根尖部位的色彩变化，以便进行根系形态和构造研究。
最新的根系分析系统应具备大批量图像的全自动分析特性，用户可对自动分析结果进行局部的交互编辑修正，以确保数据的科学性。
对原位根系图像，因根系与土壤的颜色可能非常接近，故国内外均采用图像中根系目标的自动增强后，以交互引导的方式进行标记分析的。
另外，还有引入分形维数，以及直方图投影来进行根系整体生物量分析的。
根系分析的最新技术还可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体的贡献量。
托普云农研发的根系分析仪以及配套的根系分析系统自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数。
是目前国内市场计数热销产品。
一、根系分析仪功能特点：1、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察。
2、统计效果监视：监视和修正植物对象分析的精度。
3、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
4、辅助测量功能：尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正。
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量。
数据导出：分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。
二、根系分析仪技术参数：1、植物根系可分析测量：根总长；根平均直径；根总面积；根总体积；根尖计数；分叉数；交叉数；根直径等级。
2、可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数；根尖段长分布；3、能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；4、能进行根系的分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；5、可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改）；6、能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。
SuperImage影像分析仪使用手册第十章几何参数测量(精)
第十章几何参数测量SuperImage系统为用户提供了多种几何测量工具，可以完成对图像中的点、线、圆、矩形、平行线等几何参数进行测量。
测量参数可以在参数表中实时显示(见图10。
4），存盘或打印输出。
图10.1 几何测量工具10.1点位置测量工具10。
1.1点测量选取几何参数测量工具中的点测量工具，在图像中要测量的点处点击左键，系统将在该点处加注点测量标记，同时完成点测量工作.重复上述操作,可完成多个点的测量。
10。
1.2点间的位置测量选取几何参数测量工具中点间几何参数测量工具，在图像中已存在的两个点测量标记处点击左键，系统将在这两点之间加注连线，并完成点间参数的测量。
10.1。
3点位置调整选取点位置调整工具，将鼠标移动到要移动的点标记处按住左键移动鼠标，便可调整测量点的位置。
要删除这一测量数据，可按Delete键。
10。
2 直线参数测量工具10.2.1直线参数测量直线参数测量工具可用于两平行直线之间参数的测量,测量时选择测量位置,按住鼠标左键拖动鼠标，松开后便可完成测量，测量标记会自动加注在图像上。
10.2.2直线参数测量位置调整直线参数测量位置调整工具用于对直线测量标记的位置进行调整。
激活该工具，点住要调整位置的直线标记，按住鼠标左键拖动鼠标,便可完成调整工作。
点住直线标记的端点，可调整直线的长度和角度，点住直线中部，可平移调整直线的位置。
要删除这一测量数据，可按Delete键。
10。
3圆形几何参数测量工具圆形参数测量有两种方法，一种是通过圆心直径测量，另一种是三点测量。
10。
3。
1圆心直径测量选取几何参数测量工具中的圆心直径测量工具，将鼠标移动到要测量圆心处，按住鼠标左键拖动鼠标,便可完成圆的测量工作,松开鼠标后,圆形测量标记会自动加注在图像上.10。
3。
2三点测量选取几何参数测量工具中的三点测量工具，在要测圆边缘上选三个点,系统便会自动完成测量工作。
10.3。
3测量圆调整选中测量圆调整工具,将鼠标移动到圆形测量标记的圆心控制点处，按住鼠标左键便可拖动圆形测量标记。
SuperImage影像分析仪使用手册第三章分析区域选取
第三章剖析地区选用第三章剖析地区选用剖析地区指图像顶用户感兴趣的地区，它能够是整个图像，也能够是图像中的局部地区。
系统供给了六种地区选用工具，下边分别介绍其使用方法。
3． 1 魔杖地区选用工具图 3.1 地区选用工具用鼠标点击浮动工具箱中的魔杖图标，这时鼠标会变为魔杖光标，用魔杖点击要分析的图像部位，魔杖工具会依据图像的特色，自动搜寻一块地区，作为剖析地区。
改变浮动工具参数栏（图 3.2）中工具容差的大小，能够控制魔杖工具的搜寻范围，容差越大，搜寻的范围越大。
工具参数栏中工具尺寸表示目前工具的尺寸大小，变化范围从1-17。
X ， Y 表示鼠标目前的地点坐标， R、G、B 、K 分别表示鼠标目前地点图像的红、绿、蓝和亮度值。
选定的地区由流动蚂蚁线表示，见图 3.3。
要撤消目前操作，可采用编写菜单中的悔步操作，或点击图标或。
3.2 椭圆形地区选用工具图 3.2 工具参数栏用鼠标点击浮动工具箱中的椭圆工具图标，这时鼠标会变为一个小十字，左下角为一个小加号（＋）。
按下 Ctrl 键，加号会变为减号（－）。
当鼠标为加号时，按住鼠标左键拖动鼠标，会画出一个圆形地区。
加号表示这个地区是增添到剖析地区中的。
假如按住Ctrl 键作上述操作，剖析地区会被删除去，减号表示这个地区要从剖析地区中减去。
3.3 矩形地区选用工具矩形地区选用工具与椭圆形地区选用工具操作方法同样，不过选用的地区是矩形的。
3.4 随意形（套索）地区选用工具用鼠标点击浮动工具箱上的套索图标，这时鼠标会变为一个套索，用套索能够圈出151 / 21 / 2第三章剖析地区选用随意形状的地区。
双击鼠标右键，达成地区选用操作。
假如按住 Ctrl 键作上述操作，剖析地区会被删除去。
3.5 圆形地区修正工具圆形地区修正工具可用来选用较小的圆形地区。
按住鼠标左键，挪动鼠标，便能够达成地区选用工作，在操作时同时按下 Ctrl 键，能够除去已选的地区。
工具的大小能够经过按上下箭头键（，）来改变。
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显微图像分析仪的使用
一、实验目的
二、显微图像分析仪的基本结构和工作原理
图像分析仪是一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，其拥有完美的粒度分析软件及精准的硬件设备，该系统包括光学显微镜、数字CCD摄像机、电脑、打印机等部分组成。
它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术的完美结合。
（1）图像分辨率
分辨率是指能区分图像上两个像元的最小距离。
点距是指像素点与点之间的距离，像素数越多，其分辨率就越高。
因此，分辨率通常是以象素数来计量的，如：640×480，表示该图像共有480条水平线线，每一条水平线上包含有640个像素点，（即640为水平象素数，480为垂直象素数）总共像素点数为307200。
（2）像素
2.1 DS-5M 显微图像分析仪
【基本原理】通过CCD将图像信号转换并输入到图像分析仪，利用图像分析，利用图像分析仪中心计算机对图像进行处理，并测量同级图像中颗粒个数、面积、周长、直径、长短轴、形状因子等参数。
【主要用途】
1、粉体颗粒粒径分布及颗粒形态参数定量测定：针状长径比、片状颗粒的径厚比测定；
2、微孔的大小、分布和形状测量；
3、多成分百分比测量；
4、定量金相：晶粒度测量、灰铸铁、球墨铸铁的石墨含量等含量分析。
2.2 Mastersizer 2000型粒度分析仪
【简介】英国马尔文公司全新Mastersizer 2000型激光粒度分析仪，是当今科技发展的结晶。
它博采众长，有效地保证了0.5微米以下颗粒检测的分辨率，是目前各种激光粒度仪中对分辨率难题最有效地解决方案，已成为行业内最受欢迎的分析仪器之一。
应用理论：全量程完全的米氏理论，考虑了反射光、投射光及介质的折射率影响。
因此，可在水相、有机相、气相介质中进行颗粒分布测定，包括透明或不透明的，带色或无色的固体、油珠或乳化液。
适用于陶瓷、水泥、粉体、涂料、石化、制药、军工等各个领域。
【基本原理】有代表性的样品，以适当的浓度在合适的液体或气体中分散后，让一束单色光束（通常是激光）通过其间。
光被颗粒散射后，分布在不同的角度上，有规律的多元探测器在许多角度上接收到的有关散射图的数值，并记录这些数值供以后分析。
使用适当的光学模型和数学程序，对散射数值进行计算，得到各粒度级别的颗粒体积占总体积的比值，从而得到粒度的体积分布。
【主要用途】粒度分布、累计体积百分数；比表面分布；长度分布；原始信号数据图；直方图；线形化数据报告；与其它粒度分析相关结果的对比曲线；参数设置报告；结果统计报告。
三、样品制备方法
四、仪器与材料
DS-5M图像分析仪
DS-5M图像分析仪的操作规程：
1）打开总电源、光学显微镜电源、计算机系统电源、打印机电源；
2）将分散好的颗粒样品的载玻片或固体样品放在显微镜下，选择适当的放大倍数，并准焦清楚；
3）打开CCD控制器开关；
4）启动图像分析系统：在计算机显示屏开始桌面上，双击相应的快捷方式启动系统，进入图像分析窗口；
5）采图：点击摄像机图案栏，将显微镜视域中的图像采集到计算机屏幕上；
6）定标：根据所选择地不同放大倍数的物镜，选择不同的定标尺度，确定像素点长度；
7）存图：点击右键；
8）分割处理：选择分割处理标题栏，执行图像分割处理程序；
9）测量：执行数据册来那个程序；
10）打印；
11）分析过程中如发生停电等事故，立即关断电源，带来电后重新开始分析；
12）关机时，先关掉CCD控制器，再按和开机步骤相反的顺序关各个电源。
五、测试
六、结果分析
6.1 试样现象分析
6.2 影响因素分析
1）样品的前期烘干分析；
2）样品量；
3）分散剂的使用；分散时间；
4）选取的视域；
5）显微镜的物镜的放大倍数；
6）软件门限的选取；
7）灯光的亮度；
8）手动、自动，手动自动相结合。