锻件焊缝超声波探伤报告
铸件和锻件的超声波探伤方法应用

• 白点是因钢中含氢量较高时由锻造过程中 残余应力热加工后的相变应力和热应力等 原因产生,是一种细微的氢裂纹,在白点 纵向断口上呈银白色的园点或椭圆形斑点, 故称白点。
• 热处理缺陷:裂纹。由热处理工艺参数 不良引起。
• 二、探伤方法概述 • 轴类锻件探伤
①纵波(直探头)可在轴的园周方向和轴端部探 测。
• Δ也可用二次底波B1和B2调。工件只有一 个厚度,如某饼型锻件厚300mm,直径很 大,可利用始波T和B1调(但不太准)因T 对零,B1对某刻度,如8格,此时忽略了探
头中引起混响和保护膜引起的延迟,严格 说调好后始波不在零位,而是略后左移。
• 双晶直探头:
• 可在JB/T4730-2005双晶直探头标准试块 上调节,使始波对零,深45mm平底孔在第 8格以内。
• 疏松是由钢锭凝固时形成的不致密和孔穴, 锻造时锻压比不够未全熔合造成,主要存 在于钢锭中心及头部。铸造引起裂纹主要 是指锻钢件表面上出现的较浅的龟状表面 缺陷也称龟裂,是由于原材料成份不当, 表面状况不好,加热温度和加热时间不合 适等原因产生。
• 锻造缺陷:折叠、白点、裂纹等。
• 锻造裂纹可出现在工件中不同位置,可由缩孔残 余在锻造时扩大产生,表面下气泡锻造产生,柱 状晶粗大引起,轴芯晶间裂纹锻造时引起,非金 属夹杂物引起,锻造加热不当引起,锻造变形不
• 测:当量、位置。如分散性夹层、夹杂等。
• 3. 密集缺陷□--可能是疏松、非金属夹杂、 白点或成群小裂纹。
• 定义:JB/T4730-2005标准术语和定义第 3.16条规定。
• 在荧光屏扫描线上相当于50mm声程范围内 有5个或5个以上缺陷反射信号,或在 50mm×50mm检测面上发现在同一深度范 围内有5个或5个以上缺陷反射信号。其反
锻件超声波探伤报告记录(大平底)47013-汉威

锻件超声波探伤报告记录 (参考版)准考证号:XXXXXXXXXX 试件编号 实际编号试件名称 锻件试件材质 #45试件规格 1207070⨯⨯探头规格 14P 5φ探头类型 单晶直探头 仪器型号 HS620扫描比例深度1:1探测灵敏度灵敏度2φ探伤结果 内容:一·对锻件T=120mm 进行锻件超声波检测,如何利用该锻件120mm 大平底处调节锻件2φ灵敏度。
二·步骤:(1)扫描比例调节:将纵波直探头放置锻件120mm 处大平底找出一次(1B )和二次(2B )底面反射波分别将两波对准深度刻度120和240处,此时深度1:1比例调好。
(2)计算试块120mm 大平底与120/2φ回波dB 差27414.312018.12lg 20D X 2lg20dB 2=⨯⨯⨯=⨯π⨯λ=∆ (3)灵敏度调节:将探头对准120mm 大平底,使大平底回波达到最高,调至基准高度80%处,然后增益27dB 。
此时120/2φ灵敏度调好。
(4)锻件检测:将探头放置在T=120mm 锻件上进行全面扫查,在示波屏上深度刻度90处发现一个缺陷回波,波高比120/2φ灵敏度基准波高低10dB 。
同时在示波屏幕上深度刻度80处发现一个缺陷回波,波高比120/2φ灵敏度基准波高低5dB ,求缺陷当量。
已知:10dB ,120X ,2,90X 221-=∆==φ=,求X φ902120X lg40X .X .lg4010dB 221x ⨯⨯=φφ=-=∆84.0X =已知:5dB ,120X ,2,80X 221-=∆==φ=,求X φ802120X lg40X .X .lg 405dB 221x ⨯⨯=φφ=-=∆ 1X =三·结论:对该锻件垂直方面进行超声波全面检测发现距锻件表面90mm 和80mm 处各有一个缺陷,缺陷当量非别为0.84mm 和1.0mm报告日期 年 月 日(以最终一次性规定为准,此版本为参考)。
浅析锻件超声波探伤中缺陷波和伪缺陷波的识别

浅析锻件超声波探伤中缺陷波和伪缺陷波的识别摘要:锻件经常用于承受应力复杂、冲击震动、重负荷载等类型的零部件中,其一旦出现问题,将造成严重后果。
基于此,文章介绍了锻件超声波探伤中关于缺陷波和伪缺陷波的识别方法,希望能够为锻件生产提供一定的指导,达到对锻件探伤的目的。
关键词:锻件超声波探伤;缺陷波;伪缺陷波;识别引言近年来,锻件在石油化工、兵器、航天、能源、机械、冶金等行业获得广泛应用,逐渐成为这些行业生产过程中的重要设备。
如果锻件质量出现问题,会严重影响这些行业的发展。
因此,应用超声波探伤并找出反射波的规律,识别其中的缺陷波和伪缺陷波显得尤为必要。
1识别锻件缺陷波和伪缺陷波的重要性锻件常应用于承受重负载荷、冲击振动以及复杂应力等类型零部件中。
这些零件损坏或者是失效以后会引发严重后果,轻则影响到系统功能,重则可能会危及到工作人员的生命安全,并给相关产业带来巨大的经济损失。
因此,保证锻件质量需要正确识别锻件超声波探伤中的缺陷波以及伪缺波,以此来指导锻件的生产。
超声波探伤是一种检查接焊缝内部缺陷的方法,具有灵敏度高、检测速度快并且使用方便等优点,可以有效检测出锻件的质量问题。
2缺陷波识别方法2.1根据缺陷特征分析缺陷性质对于平面状缺陷,可以从不同方向进行探测,根据缺陷回波高度的差异识别缺陷波。
在垂直于缺陷方向探测,缺陷回波高,在平行于缺陷方向探测,缺陷回波低,甚至无缺陷回波。
一般来说裂纹、夹层、折叠等属于这种缺陷。
对于点状缺陷从不同方向探测,缺陷回波无明显变化。
一般包括点状夹渣和密集气孔以及单个气孔。
点状夹渣和气孔的缺陷回波波形稳定,高度较低,从任何方向探测,反射波的高度差别不大,但稍一移动探头就消失。
但两者也有所不同,其原因主要是其内含物声阻抗的不同。
白点、气孔等内含气体,声阻抗小,反射率更高,波形陡直尖锐,而金属夹渣或非金属夹渣声阻抗较大,反射回波低。
另外,不同类型缺陷的反射波形状也存在一定差异,夹渣界面反射率较低,表面粗糙,波形宽大带锯齿;气孔界面反射率较高,波形尖锐、陡直,两者反射波形的对比图如图1所示。
锻件焊缝超声波探伤报告(二)

锻件焊缝超声波探伤报告(二)引言概述:本文是针对锻件焊缝超声波探伤的报告,主要针对锻件焊缝的超声波探伤方法、设备和结果进行详细的分析与总结。
通过对焊缝超声波探伤的技术与实际应用的研究,报告将给读者带来有关锻件焊缝超声波探伤的全面认识。
1. 超声波探伤方法1.1 传统超声波探伤方法1.2 直接记录法1.3 影像记录法1.4 焊缝体积扫描法1.5 其他超声波探伤方法2. 超声波探伤设备2.1 超声波探伤仪器的选择2.2 超声波发射器和接收器的特点2.3 超声波探头的分类与应用2.4 超声波传感器的定位方法2.5 超声波仪器的运行与维护3. 焊缝超声波探伤结果的分析3.1 基本缺陷的检测3.2 焊接接头的完整性检测3.3 焊缝内部结构的评估3.4 焊缝缺陷的定位与评估3.5 焊缝强度与可靠性的评定4. 焊缝超声波探伤实例分析4.1 实例一:焊缝内部结构的扫描与评估4.2 实例二:焊接接头的强度评定4.3 实例三:焊缝缺陷的定位与评估4.4 实例四:焊缝体积扫描的实际应用4.5 实例五:超声波探伤在焊缝质量控制中的作用5. 结果与讨论5.1 锻件焊缝超声波探伤的优点与局限性5.2 锻件焊缝超声波探伤技术的发展方向5.3 锻件焊缝超声波探伤在实际工程中的意义5.4 锻件焊缝超声波探伤在质量控制中的应用前景5.5 锻件焊缝超声波探伤的展望与挑战总结:通过对锻件焊缝超声波探伤的详细介绍与分析,可以得出锻件焊缝超声波探伤技术是一种有效且可靠的质量评估方法。
本报告回顾了焊缝超声波探测方法、设备和结果的关键要点,并给出了相关实例分析。
最后,对锻件焊缝超声波探伤的优点、局限性以及未来的发展方向进行了总结和展望,显示其在质量控制中的重要性和应用前景。
关于锻件超声波探伤的标准及规程

关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.2探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.3探伤器材探伤仪应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz~5Mhz内. 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.探头探头的公称频率主要为,频率误差为±10%.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.探头主声束应无双峰,无偏斜.耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.4探伤时机及准备工作探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.准备工作探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.5探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.纵波探伤扫查方法锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.扫查复盖应为探头直径的15%以上.当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.探伤灵敏度的校验原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.缺陷当量的确定采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为式中 T----声程,m.AVG曲线图见附录C.灵敏度的重新校验除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.6记录记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.应按表2要求记底波降低量衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.7等级分类单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 >Φ4+(>5~8dB) Φ4+(>8~12dB) Φ4+(>12~16dB) >Φ4+16dB)底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 >8~14 >14~20 >20~26 >26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 >0~5% >5~10% >10~20% >20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理. 按、、节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.8探伤报告探伤报告不应少于以下内容.工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.缺陷等级及其他.探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.探头探头公称频率主要为,也可用2MHz.探头晶片面积为140-400mm2.原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.参考反射体为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).探伤方法扫查方法扫查方向见图B1.探头移动速度不应超过150mm/s.扫查复盖应为探头宽度的15%以上.灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)AVG曲线参考图例如下:AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.。
锻件超声波探伤标准

锻件超声波探伤标准锻件超声波探伤标准1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t 为公称厚度.1.1.2 环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t 为公称厚度.1.1.3 饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t 为公称厚度.1.1.4 碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.1.1.5 方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.1.2 底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.1.3 密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.1.4 缺陷当量直径用A VG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.1.5 A VG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.2探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任. 3探伤器材3.1 探伤仪3.1.1 应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz~5Mhz内.3.1.2 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.3.1.3 仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.3.1.4 衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.3.2 探头3.2.1 探头的公称频率主要为2.5Mhz,频率误差为±10%.3.2.2 主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.3.2.3 必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.3.2.4 探头主声束应无双峰,无偏斜.3.3 耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.4探伤时机及准备工作4.1 探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.4.2 准备工作4.2.1 探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.4.2.2 探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.4.2.3 锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.4.3 重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.5探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.5.1 横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.5.2 纵波探伤5.2.1 扫查方法5.2.1.1 锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.5.2.1.2 扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.5.2.1.3 扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.5.2.1.4 扫查复盖应为探头直径的15%以上.5.2.1.5 当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.5.2.2 探伤灵敏度的校验5.2.2.1 原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).5.2.2.2 用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.5.2.2.3 曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近(0.7-1.1倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.5.2.2.4 探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.5.2.3 缺陷当量的确定5.2.3.1 采用A VG曲线及计算法确定缺陷当量.5.2.3.2 计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.5.2.3.3 材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为式中T----声程,m.5.2.3.4 A VG曲线图见附录C.5.3 灵敏度的重新校验5.3.1 除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.5.3.2 当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.6记录6.1 记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.6.2 密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.6.2.1 饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.6.2.2 其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.6.2.3 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.6.3 应按表2要求记底波降低量6.4 衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.7等级分类7.1 单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 >Φ4+(>5~8dB)Φ4+(>8~12dB)Φ4+(>12~16dB)>Φ4+16dB)7.2 底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 >8~14 >14~20 >20~26 >26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.7.3 密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 >0~5% >5~10% >10~20% >20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.7.4 如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.7.5 按7.1、7.2、7.3节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.8探伤报告探伤报告不应少于以下内容.8.1 工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.8.2 探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.8.3 探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.8.3.2 缺陷等级及其他.8.4 探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)A.1 远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.A.2 近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.A.3 探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)B.1 横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.B.2 探头B.2.1 探头公称频率主要为2.5MHz,也可用2MHz.B.2.2 探头晶片面积为140-400mm2.B.2.3 原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.B.3 参考反射体B.3.1为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).B.4 探伤方法B.4.1 扫查方法B.4.1.1 扫查方向见图B1.B.4.1.2 探头移动速度不应超过150mm/s.B.4.1.3 扫查复盖应为探头宽度的15%以上.B.4.2 灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.B.5 记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CA VG 曲线图(参考件)C.1 A VG曲线参考图例如下:C.2 A VG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.文章链接:中国化工仪器网/Tech_news/Detail/110051.html。
锻件与铸件超声波探伤详细教程(附实例解析)重点讲义资料

第六章锻件与铸件超声波探伤第六章锻件与铸件超声波探伤锻件和铸件是各种机械设备及锅炉压力容器的重要毛坯件。
它们在生产加工过程中常会产生一些缺陷,影响设备的安全使用。
一些标准规定对某些锻件和铸件必须进行超声波探伤。
由于铸件晶粒粗大、透声性差,信噪比低,探伤困难大,因此本章重点计论锻件探伤问题,对铸件探伤只做简单介绍。
第一节锻件超声波探伤一、锻件加工及常见缺陷锻件是由热态钢锭经锻压变形而成。
锻压过程包括加热、形变和冷却。
锻件的方式大致分为镦粗、拔长和滚压。
镦粗是锻压力施加于坯料的两端,形变发生在横截面上。
拔长是锻压力施加于坯料的外圆,形变发生在长度方向。
滚压是先镦粗坯料,然后冲孔再插入芯棒并在外圆施加锻压力。
滚压既有纵向形变,又有横向形变。
其中镦粗主要用于饼类锻件。
拔长主要用于轴类锻件,而简类锻件一般先镦粗,后冲孔,再镦压。
为了改善锻件的绍织性能,锻后还要进行正火、退火或调质等热处理。
锻件缺陷可分为铸造缺陷、锻造缺陷和热处理缺陷。
铸造缺陷主要有:缩孔残余、疏松、夹杂、裂纹等。
锻造缺陷主要有:折叠、白点、裂纹等。
热处理缺陷主要有:裂纹等。
缩孔残余是铸锭中的缩孔在锻造时切头量不足残留下来的,多见于锻件的端部。
疏松是钢锭在凝固收缩时形成的不致密和孔穴,锻造时因锻造比不足而末全焊合,主要存在于钢锭中心及头部。
夹杂有内在夹杂、外来菲金属夹杂栩金属夹杂。
内在夹杂主要集中于钢锭中心及头部。
裂纹有铸造裂纹、锻造裂纹和热处理裂纹等。
奥氏体钢轴心晶间裂纹就是铸造引起的裂纹。
锻造和热处理不当,会在锻件表面或心部形成裂纹。
白点是锻件含氢最较高,锻后冷却过快,钢中溶解的氢来不及逸出,造成应力过大引起的开裂,白点主要集中于锻件大截面中心。
合金总量超过3.5~4.0%和Cr、Ni、Mn的合金钢大型锻件容易产生白点。
白点在钢中总是成群出现。
二、探伤方法概述按探伤时间分类,锻件探伤可分为原材料探伤和制造过程中的探伤,产品检验及在役检验。
锻件超声波探伤记录和报告(试块)47013-友联

△=9=40 lg
Φ X X2 φ 2 X1
Φ X ×225
= 40 lg
=40 lg0.5625Φ X
2×200
0=3 (mm)
三.结论; 对该锻件垂直方向进行超声全面扫查,发现距锻件表面 200mm 处有一缺陷,缺陷当 量为 3mm. 根据 JB/T4730.3-2005 标准,该钢板评为Ⅰ级,合格
报告日期
年月日
探伤结果
一. 检测内容:对锻件 T=225mm 进行超声检测,如何利用锻件 T=175mm 调节锻件φ 2 灵敏 度.
二. 检测步骤:(1) 扫描比例调节; 将纵波直探头放置锻件 T=175mm 上,找出一次(B1)和二 次(B2)底面反射波,分别将两波对准水平刻度 175 和 350 处, 此时, 深度 1:1 比例调好. (2).计算试块 150/φ 3 与锻件 225/φ 2 回波分贝差;
△=40 lg
φ 1 X2 φ 2 X1
= 40 lg
3×225 2×150
=14(dB)
(3).灵敏度调节;探头对准 150/φ 3 平底孔试块的平底孔,使φ 3 平底孔回波达到最高,调至 基准高度(80%),然后增益 14dB,此时 225/φ 2 灵敏度调好.
(4).锻件检测;将探头放置 225mm 锻件上进行全面扫查,距锻件表面 200mm 发现一缺陷 波,波高比 225/φ 2 灵敏度基准波高高 9dB.求缺陷当量. 已知 X1=200 φ 2=2 X2=225 △=9 求; φ X
锻件超声波探伤记录和报告(南通友联专用)
准考号: 试件编号 试件规格 仪器型号 探测灵敏度
X
试件名称
φ 70×225 探头规格
PXUT-350C 型 扫查比例
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2、焊接方法:坡口型式:
3、仪器型号:探头规格:
4、入射点测定:(1)(2)(3)平均
5、K值测定:(1)(2)(3)平均
6、时基扫描线调整方法与比例:
7、标准试块:对比试块:
8、声能损失修正:
9、工件探伤灵敏度:
10、距离——波幅曲线绘制:
测试点记录表
距离mm
仪器dB余量
注:距离波幅实测值不少于5点
表4锻件超声波探伤报告
试件材质
锻件厚度(mm)
试件编号
仪器型号
探头型号
参考试块
耦合剂
表面补偿
灵敏度
探伤标准
验收级别
缺陷序号
X
(mm)
Y
(mm)
M
(mF/S
(%)
BG/BF
(dB)
Amax
(&4±dB)
评定级别
备注
示意图
结论
探伤员
日期
焊缝超声波探伤报告记录
考核日期:监考人签字:成绩:
距离波幅曲线(已修正过):
11、缺陷位置示意图:
12、缺陷检测记录:
序号
S1
(mm)
S2
(mm)
长度L
缺陷距焊缝中心距离(mm)
缺陷距焊缝表面深度(mm)d
S3
(mm)
高于定量线dB数
波高区域
A
B
注:S1:缺陷起始点距试板左端基准线距离
S2:缺陷终点距试板左端基准线距离
S3:缺陷波幅最高点距试板左端基准线距离