(8)透明矿物薄片鉴定
矿物薄片鉴定报告
矿物薄片鉴定报告
矿物薄片鉴定报告
本次鉴定的矿物薄片来自于一块未知矿石样品。
经过显微镜观察和化
学反应测试，得出以下结论：
1. 样品为石英石
在显微镜下观察，样品呈现出典型的石英石的形态特征，包括六方晶
系的六角柱状晶体、平行排列的双折射和强烈的偏光反射。
此外，经
过酸碱反应测试，样品对酸和碱均无反应，进一步证实了其为石英石。
2. 样品中含有少量的云母
在显微镜下观察，样品中还出现了少量的云母。
云母呈现出片状晶体，具有典型的双折射和偏光反射特征。
经过化学反应测试，云母对酸有
反应，进一步证实了其为云母。
3. 样品中含有少量的钠长石
在显微镜下观察，样品中还出现了少量的钠长石。
钠长石呈现出典型
的三方晶系的六角柱状晶体，具有双折射和偏光反射特征。
经过化学反应测试，钠长石对酸有反应，进一步证实了其为钠长石。
综上所述，本次鉴定的矿物薄片样品为石英石，同时含有少量的云母和钠长石。
这些矿物在地质勘探和矿产资源开发中具有重要的意义，对于进一步的研究和开发具有重要的参考价值。
(8)透明矿物薄片鉴定
消光位
左转45º位
右转45º位
P
PP
P
Ne∥横丝，Ne=浅黄绿N色o∥横丝，No=褐绿色
❖二轴晶定向切面干涉图的特点及应用 • 垂直一个光轴切面干涉图光性符号测定
45º
(A) 0º位置
Nm (B) 45º位置
Nm
(+)
(C) 加入检板
Nm
(-)
(D) 加入检板
❖二轴晶定向切面干涉图的特点及应用
• 二轴晶垂直一个光轴切面2V目估法 及No颜色测定示意图
• 解理等级的划分 • 解理夹角的测定
（1）切片方向的选择
选择同时垂直两组解理面的切片. 特征是两组解理缝最细最清楚, 当 解理缝平行目镜十字丝时, 微微升 降镜筒, 两组解理缝不左右移动.
B
=60
D
C
E
＞60
H
F
[标本] 薄片切片、目的及采样方法
![[标本] 薄片切片、目的及采样方法](https://img.taocdn.com/s3/m/33101e25af45b307e8719779.png)
(1)切片方式薄片要把岩石切至0.3mm以下，用树胶贴在载薄片下盖上盖玻片，便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。
(2)实验仪器薄片：主要用透射光显微镜(3)磨片目的薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。
但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。
(4)采样规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。
(5)采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。
③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样。
④矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。
对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。
在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。
当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品，同位素地质年龄测定样品时，应同时采集岩矿鉴定样品。
应注意采集反映构造特征的标本，若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构造时，可根据需要采集大型标本；若采集定向标本，则应注明产状方位；采集极疏松和多孔样品时，可先用丙酮胶（废胶卷溶于丙酮制成）浸透岩石、矿石，待胶结干涸后再采集样品。
1[1].8透明矿物薄片系统鉴定步骤
![1[1].8透明矿物薄片系统鉴定步骤](https://img.taocdn.com/s3/m/9346260652ea551810a68765.png)
①有色矿物不显多色性； ②全消光； ③锥光下显一轴晶或二轴晶垂直光轴切面干涉图
⑵平行光轴或平行光轴面切面特征：
①多色性； 最明显； ②干涉级序最高；
③锥光下显平行光轴或光轴面切面干涉图
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1.8.3偏光显微镜下材料的系统研究
• 陶瓷材料通常是由晶相、玻璃相和 气孔等组成的复合体。 • 在偏光显微镜中，陶瓷材料系统研 究的主要内容是物相的定性、定量 分析及材料的显微结构研究。
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图 单偏光镜下砂岩
图 单偏光镜下云母片岩
图 单偏光镜下大理岩
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①完全解理：解理缝细、密、长，往往贯穿整 个晶体，如图黑云母和方解石的解理。 ②中等解理：解理缝清楚，但较稀，一条缝不 完全连贯，如角闪石和图辉石的解理。 ③不完全解理：解理缝断断续续，勉强能看出 一个大致方向，如图萤石、图橄榄石的解理。
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4．用油浸法测定矿物的主折射率
• 均 质 体 测 定 N值 ， 一 轴 晶 测 定 Ne、 No值，二轴晶测定Ng、Nm、Np值。
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1.8.2系统鉴定透明矿物的程序
• 未知矿物的鉴定一般需按下列程序进 行
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化学成分－显微结构－材料性能的三角图形
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• 对显微结构的研究，不仅有利于探讨 瓷料配方中各组分在成瓷过程中的变 化及反应机理，而且有助于检查配方 及工艺设计的科学性，从而为材料改 性及制备预见性能的新材料提供依据。
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集光片和薄片的区别如下：1、切片方式不同薄片要把岩石切至0.3mm以下，用树胶贴在载薄片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。
光片不需要载薄片或是盖玻片，只需要把岩石表面抛光。
2、实验仪器不同薄片：主要用透射光显微镜光片：用反射光显微镜。
不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。
3、磨片目的不同薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。
但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。
光片：适用于矿石中矿石矿物（方铅矿、黄铜矿等）的判别。
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集样品, 薄片, 标本, 鉴定, 采集1.样品规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。
2.采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。
③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样。
④矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。
对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。
在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。
岩矿鉴定培训讲义
单偏光下鉴定内容
1. 形态：
矿物某个方向的切面形态或集合体形态
2014年11月9日
4
岗位培训
2. 解理、裂理:
沿一定方向排列的细缝线，即解理。
裂理一般不平直，多数弯曲，定向性不明显
2014年11月9日
5
岗位培训
3. 颜色和多色性、吸收性：
在单偏光镜下，随着光波的振动方向的不同
（旋转物台），而使矿片颜色发生改变的现象称为 多色性。（常见有电气石、黑云母、角闪……）
黄、红，相邻颜色间没有截然界线，而成过度状态。
2014年11月9日
11
岗位培训
四级以上的干涉色相互混合，呈现出稍带
玫瑰色的白色，称为高级白。
2014年11月9日
12
岗位培训
2. 消光类型： ①全消光： 旋转物台一周, 均质体或非均质体垂直光轴切片
的消光现象不改变。
②平行消光： 晶体消光时，解理缝、双晶缝或晶棱与目镜十字 丝平行。如黑云母。 ③ 对称消光：
8
岗位培训
5. 突起和闪突起：
在薄片中，各种不同的矿物表面好像高低不相同，某
些矿物显得表面高一些，某些矿物则显得低平一些，这种 现象称为突起。 旋转物台，非均质体矿片的边缘、糙面及突起高低 发生明显改变的现象称为闪突起。
区别矿物突起的正负，必须借助于贝克线或色散效
应。当矿物与加拿大树胶接触时，提升镜筒，贝克线向矿 物内移动时属于正突起；贝克线向加拿大树胶移动属于负 突起；
双晶缝或晶棱之间的夹角 称为消光角，也就是晶体
切片在消光时，其解理缝、
双晶缝或晶棱与目镜十字 丝的夹角。
b1
45°
2014年11月9日
15
第八讲透明矿物鉴定(一)
(2) 单斜辉石亚族（普通辉石,透辉石,霓辉石,霓石等）
共同光学特征： 多为短柱状、横截面多为四边形和八边形，可见两组近正交完全解 理，纵切面长方形, 多见一组完全解理，正高突起，横截面多对称 消光, 2V角中等。
四、透明矿物及其薄片鉴定
（一） 常见造岩矿物
2、辉石类
辉石主要变种的光学特征
(2).锰橄榄石-铁橄榄石系列（Mn、Fe） (3).钙铁橄榄石-钙镁橄榄石系列（CaFe、CaMg） 橄榄石（贵橄榄石）主要光学特征: (1#) 粒状、无色、正高突起、解理不发育、裂开发育，最高干涉色二级
末到三级初，平行消光,二轴晶, ()2V角近90°.
图7—2 镁橄榄石(Fo)
图7—3铁橄榄石(Fa)
No.3 单斜角闪石特征
普通角闪石单偏光镜下特征
普通角闪石正交偏光镜下特征
普通角闪石单偏光镜下特征
普通角闪石正交偏光镜7普通角闪石(Hb)
实习四橄榄石、辉石、角闪石
• 一、实习目的要求 • 全面掌握橄榄石、辉石、角闪石的单偏 光镜下、正交偏光镜下的光学特点。 • 二、实习内容 • 通过纯橄榄岩、橄榄辉长岩、橄榄苏长 岩、角闪片岩、角闪岩岩石薄片，分别 鉴定橄榄石、辉石、角闪石三种矿物的 镜下特征。
透明矿物系统鉴定的程序
不透明 矿物 单 偏 光 镜 （如磁铁矿、钛 铁矿、石墨等） 有色 矿物
非均质 体矿物
单偏光：晶形、解理、解理夹角、 突起等级、闪突起及包裹体等特征。 正交偏光：消光类型、延性符号、 双晶类型、干涉色级序等。 锥光镜：轴性、光性符号、光轴 角的大小（二轴晶）、（定向切片）
矿 片
No.2 辉石类镜下特征
透辉石单偏光镜下特征
透辉石正交偏光镜下特征
薄片系统鉴定
透明矿物薄片的系统鉴定一、透明矿物薄片的系统鉴定的内容1、单偏光镜下的观察单偏光镜的装置是指只用一个下偏光镜。
利用这种装置可以研究矿物的主要光学性质有：（1）矿物的外表特征，如形态、解理；取决于晶体结构；A、矿物的形态化学成分；生成环境；自形（矿物边界全为晶面）由于矿物形成空间、结晶顺序的不同半自形（矿物边界部分为晶面）他形（无完整晶面）B、矿物的解理解理的等级解理是指矿物晶体在外力作用下，沿着一定方向裂成光滑平面的性质解理角的测定（两组解理的夹角称解理角）（2）矿物对光波吸收强弱的性质，如颜色、多色性；偏光显微镜下的颜色是指单偏光显微镜下薄片的颜色，是矿物对白光中各色选择性吸收的结果。
均质体矿物都不具有多色性。
非均质体矿物对光波的选择吸收和吸收强度总是随方向而异的。
因此，在单偏光镜下旋转物台时，矿物颜色发生变化的现象，称为多色性，它系由不同方向对不同波长光的选择吸收所决定。
而颜色深浅发生改变的现象，称为吸收性。
它是指不同方向对光的吸收强度上的差异。
（3）与矿物折射率相对大小有关的光学性质，如突起、糙面、边缘、贝克线及贝克线色散效应突起等级折射率代表性矿物负高突起<1.48 萤石蛋白石负低突起 1.48~ 1.54 正长石微斜长石正低突起 1.54 ~1.60 石英中长石绿柱石选择两组解理缝最细最清晰、升降镜筒解理缝都不左右移动的切面；旋转物台使一组解理缝平行或重合于目镜十字丝的纵丝，并记下物台上读数a；旋转物台使另一组解理缝平行于目镜纵丝，记下物台读数b；两个读数的差值即为所测解理角。
极完全解理：解理缝细密长，贯穿整个晶体；完全解理：解理缝清楚稀疏，但不完全连贯；不完全解理：解理缝断断续续、不平直，解理缝之间间距较宽。
正中突起 1.60 ~1.66 透闪石磷灰石电气石正高突起 1.66 ~1.78 橄榄石辉石尖晶石正极高突起>1.78 锆石榍石金刚石二、正交偏光镜下的观察干涉色同一点光源发出的光，分成两束光，再使这两束光经过不同路程后，在空间某一点相交，如果能满足三个条件：1 频率相同；2 振动方向相同3 位相相同或位相差固定，便在交点上产生干涉，形成相长增强，或相消减弱的明暗相间干涉条纹。
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★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
1.矿物的外表特征--形态
a.矿物自形程度：自形晶、半自形晶、它形晶。 b.矿物单体形态：粒状、针状、板（条）状、柱状、片状。 c.矿物集合体形态：纤维状、放射状、球粒状、雏晶状等。
综 合 观 察
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
2.矿物的外表特征—解理
A
• 解理在薄片中的表现形式
★★★锥光正交偏光系统下晶体的光学性质
• 锥光系统的构成 在正交偏光系统的基础上，加入聚光镜并将其提升到最高 位置，换用高倍物镜，推入勃氏镜或去掉目镜，便构成了 锥光系统。
• 锥光系统下产生的光学现象---干涉图
在锥光镜下观察到的是锥形偏光束中, 各个不同方向的入射 光波，通过晶体到达上偏光镜后产生的消光和干涉现象的 总和,它们构成一种特殊的图形, 称为干涉图 (干涉象).
转物台45° P
P
率
体
椭
圆
A
半
径
名
P
P称
测
定
A
图
加入试板干涉色升高 同名平行
加入试板干涉色降低
示
异名平行
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
5、最高干涉色级序的测定
（1）.楔形边目估法
（2）.石英楔测定法
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
平行消光
对称消光
斜消光
(1) 斜方辉石亚族（紫苏辉石,顽火辉石等） (2) 单斜辉石亚族（普通辉石,透辉石,霓辉石,霓石等） ➢ 共同光学特征： 多为短柱状、横截面多为四边形和八边形，可见两组近 正交完全解理，纵切面长方形, 多见一组完全解理，正 高突起，横截面多对称消光, 2V角中等。
2、辉石类
➢ 辉石主要变种的光学特征 • 紫苏辉石：具有弱多色性,平行消光,最高干涉色 一级顶部,负光性, • 单斜辉石：一般无色,斜消光,C∧Ng大于30°,最 高干涉色二级初, 一般正光性.
偏
无色 锥光：轴性、光性符号、光轴角的大
矿物
光
矿物 小（二轴晶）、（定向切片）。
镜
均质体 矿物
单偏光：晶形、解理、颜色、突起等 级及包裹体特征、次生变化等特征。
四、透明矿物及其薄片鉴定
（一） 常见造岩矿物 （二） 特征变质矿物 （三） 其它常见矿物（自选）
（一） 常见造岩矿物
• 暗色矿物：
橄榄石类、辉石类、角闪石类、云母类
• 同名半径平行,干 涉色级序升高
R总 = R1+ R2
R总 = │R1- R2│
• 异名半径平行,干 涉色级序降低.
• 消色：R1=R2, R总=0 此时视域内变黑暗。
• 几种常用补色器
Np2 Ng2
同名半径 平行
Np1 Ng1
Np2 Ng2
异名半径 平行
Np1 Ng1
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
❖ 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用 • 一轴晶垂直光轴切面特点及光性符号测定
Ne′ No No Ne′
Ne′ No
No Ne′
A.Ne’和No的方位
Ne′降
Ne′
升
No
No
No
升
Ne′
No
降
Ne′
B（+）
升
降
No Ne′ Ne′ No
No Ne′
降
No 升 Ne′
C（-）
❖ 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用
3.与吸收性有关的光学性质— 颜色、多色性和吸收性
• 多色性和吸收性的现象解释 • 多色性和吸收性的表达方式:
• 多色性公式 A
Ne= 浅紫色 No=深蓝色；Ng= Nm= Np=
• 吸收性公式 B
Ne No(正吸收) ；Ng Nm Np(正吸收).
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
4.与矿物折射率有关的光学性质—
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
45°a消光位ຫໍສະໝຸດ b145°b2
定轴名
c1
d
c2
Ng∥纵丝（α1）
解理缝∥纵 丝
（α2）
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
干涉色 降低
干涉色 升高
A 消光位
B 正延性
C 负延性
晶体延性符号测定步骤示意图
• 一轴晶近于垂直光轴切面（小角度斜交光 轴切片）特点及光性符号测定
Ne′ No
Ne′ No
A.（+）
B.（-）
❖ 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用 • 一轴晶平行光轴切面干涉图光性符号测定
45º
光轴
光轴
P
PP
P
(-)
(+)
❖ 一轴晶定向切面干涉图的特点及应用 • 一轴晶平行光轴切面多色性公式测定方法
90° 60° 45° 30° 15° 0°
黑带弯曲程度与2V大小关系
单偏光镜下(Nm)=蓝绿色
❖二轴晶定向切面干涉图的特点及应用
• 二轴晶平行光轴面切 Bxo
Bxa
面干涉图及应用
P
P
45º Bxo (+)
Bxa
二轴晶平行光轴面切面光性符 P
P
号测定示意图方法
❖ 二轴晶平行光轴面切面多色性的测定
➢ 角闪石共同特征： 绝大多数角闪石属单斜晶系, 形态多为沿 c 轴呈长柱 状, 针状或纤维状.横断面呈菱形或六边形，具有两组 完全斜交解理（54.5°- 56°），一般为正中突起.
3、角闪石类
➢ 单斜闪石特征： • 普通角闪石: 薄片中常具有较深的绿色. 黄褐色,棕色等.碱性种属 常带有蓝、紫的特征色调，正吸收性.斜消光, 消光角 C∧Ng小于30°, 二轴晶,一般为负光性 ,2V角比较大.
• 解理等级的划分 • 解理夹角的测定
（1）切片方向的选择
选择同时垂直两组解理面的切片. 特征是两组解理缝最细最清楚, 当 解理缝平行目镜十字丝时, 微微升 降镜筒, 两组解理缝不左右移动.
B
=60
D
C
E
＞60
H
F
＜60
G
K 不同方向解理夹角变化示意图
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
2.矿物的外表特征—解理
P
P
P
A
AA
AA
A
消光位
P
右转45º位
P
解理∥纵丝
P
A
AA
AA
A
左转45º位
Ng∥横丝，Ng=深绿色 Np∥横丝，Np=浅蓝绿色
❖ 常用定向切片特点及可测光学常数简表
切片 类型
单偏光
无色
有 色
垂 直 光 轴 切 片
当该矿物 具有闪突 起时，该 矿片不显 闪突起
多 色 性 不 明 显
平行 当该矿物 多 光轴 具有闪突 色 或光 起时，该 性 轴面 矿片闪突 明 切片 起最明显 显
正交偏光
锥光
可测常数
全消光.
转动物台 其明暗变 化不明显
一轴晶干涉图由黑十字和干 涉色圈组成,转动物台360° 图像不变。
二轴晶干涉图由一条黑臂与 干涉色圈组成，转动物台黑 臂弯曲（当2V=90°时黑臂 不弯曲）
No或Nm的颜色及折 射率值、轴性、光 性符号、二轴晶光 轴角及色散
干涉色 最高
闪图
Ne,No或Ng,Np的颜 色及折射率值，最 高干涉色、最大双 折射率, C∧Ng （单斜辉石及闪石。 Nm∥b）
矿物
有色
双晶类型、干涉色级序等。 锥光镜：轴性、光性符号、光轴
矿物 角的大小（二轴晶）、（定向切片） 单
矿
偏
单
片
光
非均质
偏
单偏光：晶形、解理、测定解理夹角
镜
体矿物
正
光 镜
突起等级、闪突起及包裹体等 特征，多色性、吸收性（定向切片） 正交偏光：消光类型、延性符号、
交
双晶类型、干涉色级序等（定向切片）
透明
A A
• 四次消光 旋转物台一周, 非均质体晶体非垂直 光轴切片出现四次消光现象.
晶体切片
• 消光位
•非均质体非垂直光轴切片在正交偏光
P
P
镜间处于消光现象时的位置.
注意:矿片处于消光位时的意义
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
2、干涉色及干涉色色谱表 • 干涉色：
在正交偏光系统下，非均质体在消光位以外的位置，两 束偏光将发生干涉作用，结果将产生一系列复杂彩色条 带的组合。即称为干涉色.
干涉色高低取决与光程差 R=d·△
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
2、干涉色及干涉色色谱表 • 干涉色色谱表
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
3、 补色法则和补色器
在正交偏光镜间的450位置,放置两个互相重迭的非均质体矿片(垂 直光轴方向切片除外), 光通过这两个矿片后,它们总的光程差增 减的法则.
• 典型特征鉴定法：
抓住矿物突出的组合特征来确定矿物种类及名称。
二、透明矿物薄片鉴定的基本内容
• 单偏光系统鉴定的主要内容
矿物的形态、解理、颜色、多色性、吸收性、突起等
• 正交偏光系统鉴定的主要内容
消光现象、消光类型、消光角、干涉色级序、延性等
• 锥光系统鉴定的主要内容
轴性、光性符号、光轴角、切面类型等
• 解理夹角的测定
图A
（2）解理夹角的测定步骤
1）选择颗粒,置于视域心.
2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 (图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a.
3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字