种主流射频半导体制造工艺

种主流射频半导体制造工艺
种主流射频半导体制造工艺

种主流射频半导体制造

工艺

集团文件版本号:(M928-T898-M248-WU2669-I2896-DQ586-M1988)

5种主流射频半导体制造工艺

嘉兆科技

1、GaAs

半导体材料可以分为元素半导体和化合物半导体两大类,元素半导体指硅、锗单一元素形成的半导体,化合物指砷化镓、磷化铟等化合物形成的半导体。砷化镓的电子迁移速率比硅高5.7 倍,非常适合用于高频电路。砷化镓组件在高频、高功率、高效率、低噪声指数的电气特性均远超过硅组件,空乏型砷化镓场效晶体管(MESFET)或高电子迁移率晶体管(HEMT/PHEMT),在3 V 电压操作下可以有80 %的功率增加效率(PAE: power addedefficiency),非常的适用于高层(high tier)的无线通讯中长距离、长通信时间的需求。

砷化镓元件因电子迁移率比硅高很多,因此采用特殊的工艺,早期为MESFET 金属半导体场效应晶体管,后演变为HEMT ( 高速电子迁移率晶体管),pHEMT( 介面应变式高电子迁移电晶体)目前则为HBT ( 异质接面双载子晶体管)。异质双极晶体管(HBT)是无需负电源的砷化镓组件,其功率密度(power density)、电流推动能力(current drive capability)与线性度(linearity)均超过FET,适合设计高功率、高效率、高线性度的微波放大器,HBT 为最佳组件的选择。而HBT 组件在相位噪声,高gm、高功率密度、崩溃电压与线性度上占优势,另外它可以单电源操作,因而简化电路设计及次系统实现的难度,十分适合于射频及中频收发模块的研制,特别是微波信号源与高线性放大器等电路。

砷化镓生产方式和传统的硅晶圆生产方式大不相同,砷化镓需要采用磊晶技术制造,这种磊晶圆的直径通常为4-6 英寸,比硅晶圆的12 英寸要小得多。磊晶圆需要特殊的机

台,同时砷化镓原材料成本高出硅很多,最终导致砷化镓成品IC 成本比较高。磊晶目

前有两种,一种是化学的MOCVD,一种是物理的MBE。

2、SiGe

1980 年代IBM 为改进Si 材料而加入Ge,以便增加电子流的速度,减少耗能及改进功能,却意外成功的结合了Si 与Ge。而自98 年IBM 宣布SiGe 迈入量产化阶段后,近两、三年来,SiGe 已成了最被重视的IC 制程技术之一。

依特性来看,SiGe 高频特性良好,材料安全性佳,导热性好,而且制程成熟、整合度高,具成本较低之优势,换言之,SiGe 不但可以直接利用半导体现有200mm晶圆制程,达到高集成度,据以创造经济规模,还有媲美GaAs 的高速特性。随着近来IDM 大厂的投入,SiGe 技术已逐步在截止频率(fT)与击穿电压(Breakdown voltage)过低等问题获得改善而日趋实用。

目前,这项由IBM 所开发出来的制程技术已整合了高效能的SiGe HBT(Heterojunction Bipolar Transistor)3.3V 及0.5μm 的CMOS 技术,可以利用主动或被动组件,从事模拟、RF 及混合信号方面的配置应用。

SiGe 既拥有硅工艺的集成度、良率和成本优势,又具备第3 到第5 类半导体(如砷化镓(GaAs)和磷化铟(InP))在速度方面的优点。只要增加金属和介质叠层来降低寄生电容和电感,就可以采用SiGe 半导体技术集成高质量无源部件。此外,通过控制锗掺杂还可

设计器件随温度的行为变化。SiGe BiCMOS 工艺技术几乎与硅半导体超大规模集成电路(VLSI)行业中的所有新技术兼容,包括绝缘体硅(SOI)技术和沟道隔离技术。

不过硅锗要想取代砷化镓的地位还需要继续在击穿电压、截止频率、功率消耗方面努力。

3、RF CMOS

RF CMOS 工艺可分为两大类:体硅工艺和SOI(绝缘体上硅)工艺。由于体硅CMOS 在源和漏至衬底间存在二极管效应,造成种种弊端,多数专家认为采用这种工艺不可能制作高功率高线性度开关。与体硅不同,采用SOI 工艺制作的RF 开关,可将多个FET 串联来对付高电压,就象GAAS 开关一样。

尽管纯硅的CMOS 制程被认为仅适用于数字功能需求较多的设计,而不适用于以模拟电路为主的IC 设计,不过历经十几年的努力后,随着CMOS 性能的提升、晶圆代工厂在0.25mm以下制程技术的配合、以及无线通信芯片整合趋势的引领下,RF CMOS 制程不仅是学界研究的热门课题,也引起了业界的关注。采用RF CMOS 制程最大的好处,当然是可以将射频、基频与存储器等组件合而为一的高整合度,并同时降低组件成本。但是症结点仍在于RF CMOS 是否能解决高噪声、低绝缘度与Q 值、与降低改善性能所增加制程成本等问题,才能满足无线通信射频电路严格的要求。

目前已采用RF CMOS 制作射频IC 的产品多以对射频规格要求较为宽松的Bluetooth 与WLAN 射频IC,例如CSR、Oki、Broadcom 等Bluetooth 芯片厂商皆已推出使用CMOS 制造的Bluetooth 传送器;英特尔公司宣布已开发出能够支持当前所有Wi-Fi 标准(802.11a、b和g)并符合802.11n 预期要求的全CMOS 工艺直接转换双频无线收发信机原型,包括了5GHz 的PA,并轻松实现了发送器与接收器功能的分离。而Atheros、Envara 等WLAN 芯片厂商也在最近推出全CMOS 制程的多模WLAN(.11b/g/a)射频芯片组。

手机用射频IC 规格非常严格,但是坚冰已经被打破。Silicon Labs 最先以数字技术来强化低中频至基频滤波器及数字频道选择滤波器功能,以降低CMOS 噪声过高的问题所生产的Aero 低中频GSM/GPRS 芯片组,英飞凌立刻跟进,也大量推出RF CMOS 工艺的

产品,而高通在收购Berkana 后,也大力采用RF CMOS 工艺,一批新进射频厂家无一例外都采用RF CMOS 工艺,甚至是最先进的65 纳米RF CMOS 工艺。老牌的飞利浦、FREESCALE、意法半导体和瑞萨仍然坚持用传统工艺,主要是SiGe BiCMOS 工艺,诺基亚仍然大量使用意法半导体的射频收发器。而欧美厂家对新产品一向保守,对RF CMOS 缺乏信任,但是韩国大厂三星和LG 还有中国厂家夏新和联想,在成本压力下,大量采用RF CMOS 工艺的收发器。目前来看,缺点可能是故障率稍高和耗电稍大,并且需要多块芯片,增加设计复杂程度。但仍在可忍受的范围内。

其他应用领域还包括汽车的安全雷达系统,包括用于探测盲区的24GHz 雷达以及用于提供碰撞警告或先进巡航控制的77GHz 雷达;IBM 在此领域具备领导地位,2005 年推出的第四代SIGE 线宽有0.13 微米。

4、Ultra CMOS

SOI 的一个特殊子集是蓝宝石上硅工艺,在该行业中通常称为Ultra CMOS。蓝宝石本质上是一种理想的绝缘体,衬底下的寄生电容的插入损耗高、隔离度低。Ultra CMOS 能制作很大的RF FET,对厚度为150~225μm 的正常衬底,几乎不存在寄生电容。晶体管采用介质隔离来提高抗闩锁能力和隔离度。为了达到完全的耗尽工作,硅层极薄至

1000A。硅层如此之薄,以致消除了器件的体端,使它成为真正的三端器件。目前,Ultra CMOS 是在标准6 寸工艺设备上生产的,8 寸生产线亦已试制成功。示范成品率可与其它CMOS 工艺相媲美。

尽管单个开关器件的BVDSS 相对低些,但将多个FET 串联堆叠仍能承爱高电压。为了确保电压在器件堆上的合理分压,FET 至衬底间的寄生电容与FET 的源与漏间寄生电容相比应忽略不计。当器件外围达到毫米级使总电阻较低时,要保证电压的合理分压,真正的绝缘衬底是必不可少的。

Peregrine 公司拥有此领域的主要专利,采用Ultra CMOS 工艺将高Q 值电感和电容器集成在一起也很容易。线卷Q 值在频率下能达到50。超快速数字电路也能直接集成到同一个RF 芯片上。该公司推出PE4272 和PE4273 宽带开关例证了UltraCMOS 的用处(见图)。这两个75Ω器件设计用于数字电视、PC TV、卫星直播电视机顶盒和其它一些精心挑选的基础设施开关。采用单极双掷格式,它们是PIN 二极管开关的很好的替代品,它们可在改善整体性能的同时大大减少了元器件的数量。

两个器件1GHz 时的插入耗损仅为0.5dB、P1dB 压缩率为32dBm、绝缘度在1GHz 时高达44dB。两种器件在3V 时静态电流仅为8μA、ESD 高达2kV。PE4273 采用6 脚SC-70 封装,绝缘值为35dB。PE4272 采用8 脚MSOP 封装,绝缘值为44dB。10K 订购量时,PE4272 和PE4273 的价格分别为0.45 和0.30 美元。

和Peregrine 公司有合作关系的日本冲电气也开发了类似产品,冲电气称之为SOS 技术,SOS技术是以“UTSi”为基础开发的技术。“UTSi”技术是由在2003 年1 月与冲电气建立合作关系的美国派更半导体公司(Peregrine Semiconductor Corp.)开发的。在蓝宝石底板上形成单晶硅薄膜,然后再利用CMOS 工艺形成电路。作为采用具有良好绝缘性的蓝宝石的SOS 底板,与硅底板和SOI(绝缘体上硅)底板相比,能够降低在底板上形成的电路耗电量。冲电气开发的RF 开关的耗电电流仅为15μA(电源电压为

2.5~3V),与使用GaAs 材料的现有RF 开关相比,耗电量降到了约1/5。

5、Si BiCMOS

以硅为基材的集成电路共有Si BJT(Si-Bipolar Junction Transistor)、Si CMOS、与结合Bipolar与CMOS 特性的Si BiCMOS(Si Bipolar Complementary Metal Oxide Semiconductor)等类。由于硅是当前半导体产业应用最为成熟的材料,因此,不论在产量或价格方面都极具优势。传统上以硅来制作的晶体管多采用BJT 或CMOS,不过,由于

硅材料没有半绝缘基板,再加上组件本身的增益较低,若要应用在高频段操作的无线通信IC 制造,则需进一步提升其高频电性,除了要改善材料结构来提高组件的fT,还必须藉助沟槽隔离等制程以提高电路间的隔离度与Q 值,如此一来,其制程将会更为复杂,且不良率与成本也将大幅提高。

因此,目前多以具有低噪声、电子移动速度快、且集成度高的Si BiCMOS 制程为主。而主要的应用则以中频模块或低层的射频模块为主,至于对于低噪声放大器、功率放大器与开关器等射频前端组件的制造仍力有未逮。

半导体工艺及芯片制造技术问题答案(全)

常用术语翻译 active region 有源区 2.active ponent有源器件 3.Anneal退火 4.atmospheric pressure CVD (APCVD) 常压化学气相淀积 5.BEOL(生产线)后端工序 6.BiCMOS双极CMOS 7.bonding wire 焊线,引线 8.BPSG 硼磷硅玻璃 9.channel length沟道长度 10.chemical vapor deposition (CVD) 化学气相淀积 11.chemical mechanical planarization (CMP)化学机械平坦化 12.damascene 大马士革工艺 13.deposition淀积 14.diffusion 扩散 15.dopant concentration掺杂浓度 16.dry oxidation 干法氧化 17.epitaxial layer 外延层 18.etch rate 刻蚀速率 19.fabrication制造 20.gate oxide 栅氧化硅 21.IC reliability 集成电路可靠性 22.interlayer dielectric 层间介质(ILD) 23.ion implanter 离子注入机 24.magnetron sputtering 磁控溅射 25.metalorganic CVD(MOCVD)金属有机化学气相淀积 26.pc board 印刷电路板 27.plasma enhanced CVD(PECVD) 等离子体增强CVD 28.polish 抛光 29.RF sputtering 射频溅射 30.silicon on insulator绝缘体上硅(SOI)

《半导体制造工艺及设备》课程教学大纲

《半导体制造工艺及设备》课程教学大纲 课程类别:技术基础必修课课程代码:BT1410_2 总学时:总学时48 (双语讲授48) 适用专业:微电子制造工程 先修课程:大学物理、半导体物理、微电子制造基础 一、课程的地位、性质和任务 本课程是微电子制造工程专业的一门必修的专业技术基础课。其作用与任务是:使学生对集成电路制造工艺及其设备有一个比较系统、全面的了解和认识,初步掌握硅材料制备、氧化、淀积、光刻、刻蚀、离子注入、金属化、化学机械平坦化等工艺及其设备,工艺集成以及CMOS工艺的基础理论。 二、课程教学的基本要求 1.初步掌握半导体工艺流程的基本理论与方法; 2.掌握半导体制造技术的基本工艺(硅材料制备、氧化、淀积、光刻、刻蚀、离子注 入、金属化、化学机械平坦化)及其设备; 3.初步掌握工艺集成与当前最新的CMOS工艺流程。 三、课程主要内容与学时分配 1、半导体制造概述3学 时 半导体制造在电子制造工程中的地位与概述、基本概念、基本内容 2、硅材料制备3学 时 直拉法、区熔法 3、氧化4学时 氧化物作用、氧化原理、氧化方法、氧化工艺、氧化炉 4、淀积5学 时 物理淀积与化学气相淀积(CVD)、淀积工艺、CVD淀积系统 5、光刻8学 时 光刻胶、光刻原理、光刻工艺、光刻设备、先进光刻技术、光学光刻与软光刻。 6、刻蚀4学 时 刻蚀方法、干法刻蚀、湿法刻蚀、等离子刻蚀、刻蚀反应器 7、离子注入3学 时 扩散、离子注入原理、离子注入工艺、离子注入机 8、金属化4学时 金属类型、金属化方案、金属淀积系统、铜的双大马士革金属化工艺 9、化学机械平坦化(CMP)2学时 传统平坦化技术、化学机械平坦化CMP工艺、CMP应用

半导体工艺流程

1清洗 集成电路芯片生产的清洗包括硅片的清洗和工器具的清洗。由 于半导体生产污染要求非常严格,清洗工艺需要消耗大量的高纯水; 且为进行特殊过滤和纯化广泛使用化学试剂和有机溶剂。 在硅片的加工工艺中,硅片先按各自的要求放入各种药液槽进行表面化学处理,再送入清洗槽,将其表面粘附的药液清洗干净后进入下一道工序。常用的清洗方式是将硅片沉浸在液体槽内或使用液体喷雾清洗,同时为有更好的清洗效果,通常使用超声波激励和擦片措施,一般在有机溶剂清洗后立即米用无机酸将其氧化去除,最后用超纯水进行清洗,如图1-6所示。 图1-6硅片清洗工艺示意图 工具的清洗基本米用硅片清洗同样的方法。 2、热氧化 热氧化是在800~1250C高温的氧气氛围和惰性携带气体(N2)下使硅片表面的硅氧化生成二氧化硅膜的过程,产生的二氧化硅用以作为扩散、离子注入的阻挡层,或介质隔离层。典型的热氧化化学反应为: Si + O2 T SiO2

3、扩散 扩散是在硅表面掺入纯杂质原子的过程。通常是使用乙硼烷(B2H6)作为N —源和磷烷(PH3)作为P+源。工艺生产过程中通常 分为沉积源和驱赶两步,典型的化学反应为: 2PH3 —2P+3H2 4、离子注入 离子注入也是一种给硅片掺杂的过程。它的基本原理是把掺杂物质(原子)离子化后,在数千到数百万伏特电压的电场下得到加速,以较高的能量注入到硅片表面或其它薄膜中。经高温退火后,注入离子活化,起施主或受主的作用。 5、光刻 光刻包括涂胶、曝光、显影等过程。涂胶是通过硅片高速旋转在硅片表面均匀涂上光刻胶的过程;曝光是使用光刻机,并透过光掩膜版对涂胶的硅片进行光照,使部分光刻胶得到光照,另外,部分光刻胶得不到光照,从而改变光刻胶性质;显影是对曝光后的光刻胶进行去除,由于光照后的光刻胶 和未被光照的光刻胶将分别溶于显影液和不溶于显影液,这样就使光刻胶上 形成了沟槽。 6、湿法腐蚀和等离子刻蚀 通过光刻显影后,光刻胶下面的材料要被选择性地去除,使用的方法就

半导体制造工艺流程

半导体制造工艺流程 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(FrontEnd)制程 晶圆处理制程(WaferFabrication;简称WaferFab)、 晶圆针测制程(WaferProbe); 後段(BackEnd) 构装(Packaging)、 测试制程(InitialTestandFinalTest) 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 二、晶圆针测制程 经过WaferFab之制程後,晶圆上即形成一格格的小格,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,而不合格的的晶粒将会被标上记号(InkDot),此程序即称之为晶圆针测制程(WaferProbe)。然後晶圆将依晶粒为单位分割成一粒粒独立的晶粒 三、IC构装制程 IC構裝製程(Packaging):利用塑膠或陶瓷包裝晶粒與配線以成積體電路目的:是為了製造出所生產的電路的保護層,避免電路受到機械性刮傷或是高溫破壞。 半导体制造工艺分类 半导体制造工艺分类 一双极型IC的基本制造工艺: A在元器件间要做电隔离区(PN结隔离、全介质隔离及PN结介质混合隔离)ECL(不掺金)(非饱和型)、TTL/DTL(饱和型)、STTL(饱和型)B在元器件间自然隔离 I2L(饱和型) 半导体制造工艺分类 二MOSIC的基本制造工艺: 根据栅工艺分类 A铝栅工艺 B硅栅工艺

半导体的生产工艺流程

半导体的生产工艺流程 微机电制作技术,尤其是最大宗以硅半导体为基础的微细加工技术 (silicon-basedmicromachining),原本就肇源于半导体组件的制程技术,所以必须先介绍清楚这类制程,以免沦于夏虫语冰的窘态。 一、洁净室 一般的机械加工是不需要洁净室(cleanroom)的,因为加工分辨率在数十微米以上,远比日常环境的微尘颗粒为大。但进入半导体组件或微细加工的世界,空间单位都是以微米计算,因此微尘颗粒沾附在制作半导体组件的晶圆上,便有可能影响到其上精密导线布局的样式,造成电性短路或断路的严重后果。为此,所有半导体制程设备,都必须安置在隔绝粉尘进入的密闭空间中,这就是洁净室的来由。洁净室的洁净等级,有一公认的标准,以class10为例,意谓在单位立方英呎的洁净室空间内,平均只有粒径0.5微米以上的粉尘10粒。所以class后头数字越小,洁净度越佳,当然其造价也越昂贵。为营造洁净室的环境,有专业的建造厂家,及其相关的技术与使用管理办法如下: 1、内部要保持大于一大气压的环境,以确保粉尘只出不进。所以需要大型 鼓风机,将经滤网的空气源源不绝地打入洁净室中。 2、为保持温度与湿度的恒定,大型空调设备须搭配于前述之鼓风加压系统 中。换言之,鼓风机加压多久,冷气空调也开多久。 3、所有气流方向均由上往下为主,尽量减少突兀之室内空间设计或机台摆 放调配,使粉尘在洁净室内回旋停滞的机会与时间减至最低程度。 4、所有建材均以不易产生静电吸附的材质为主。 5、所有人事物进出,都必须经过空气吹浴(airshower)的程序,将表面粉尘 先行去除。 6、人体及衣物的毛屑是一项主要粉尘来源,为此务必严格要求进出使用人 员穿戴无尘衣,除了眼睛部位外,均需与外界隔绝接触(在次微米制程技术的工厂内,工作人员几乎穿戴得像航天员一样。)当然,化妆是在禁绝之内,铅笔等也禁止使用。 7、除了空气外,水的使用也只能限用去离子水(DIwater,de-ionizedwater)。 一则防止水中粉粒污染晶圆,二则防止水中重金属离子,如钾、钠离子污染金氧半(MOS)晶体管结构之带电载子信道(carrierchannel),影响半导体组件的工作特性。去离子水以电阻率(resistivity)来定义好坏,一般要求至 17.5MΩ-cm以上才算合格;为此需动用多重离子交换树脂、RO逆渗透、与 UV紫外线杀菌等重重关卡,才能放行使用。由于去离子水是最佳的溶剂与清洁剂,其在半导体工业之使用量极为惊人! 8、洁净室所有用得到的气源,包括吹干晶圆及机台空压所需要的,都得使 用氮气(98%),吹干晶圆的氮气甚至要求99.8%以上的高纯氮!以上八点说明是最基本的要求,另还有污水处理、废气排放的环保问题,再再需要大笔

半导体器件设备制作工艺的制作流程

本技术属于建筑材料领域,尤其是一种半导体器件制备工艺,针对现有只是将晶粒利用包装盒进行包装,这样的包装方式容易导致晶粒损坏的问题,现提出如下方案,其包括S1:首先将成卷的碳纤维复合膜放置在支撑架上,然后进行开卷,S2:将碳纤维复合膜放置在工作台上,支撑台上设有导向机构,以此可以防止碳纤维复合膜出现走偏的问题,S3:在支撑台的一侧卡装有夹紧机构,将碳纤维复合膜的一侧放置在夹紧机构上,并由夹紧机构对碳纤维复合膜进行夹紧。本技术通过将圆晶棒经过切割、打磨、过筛、抽真空以及密封包装,以此可以实现对圆晶粒进行真空包装的目的,可有效避免圆晶粒上附着水汽,所以便不会造成圆晶粒损坏。 权利要求书 1.一种半导体器件制备工艺,其特征在于,包括以下步骤: S1:首先将圆晶棒放入干燥剂中,将晶粒上所含有的水汽进行吸附; S2:将干燥完后的圆晶棒放入振荡筛中,以此可以将圆晶棒与干燥剂进行分离; S3:将放置于在Fab中,利用Fab可对晶圆棒完成切割; S4:在对圆晶棒进行切割后,将圆晶粒放入打磨箱内,并利用搅拌器对圆晶粒进行搅拌,以此可以实现对圆晶粒的外表面进行打磨; S5:在打磨之后,利用筛网对圆晶粒进行过筛,以此可以得到大小均匀的圆晶粒; S6:将圆晶粒放入漏斗内,并且漏斗上设有关门装置,使得圆晶粒通过漏斗投放寨包装袋内; S7:利用抽风机将包装袋内进行抽真空处理,之后利用热封机对包装袋进行封口处理;

S8:将软质填充入放入包装箱内,之后将经过真空处理后的圆晶粒放入包装箱内; S9:将干燥剂放入包装箱,之后将包装箱封装一层保护膜,在利用热风枪对保护膜,使得保护膜受热处于紧绷状态。 2.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S1中,干燥剂的成分是无水氯化钙,且无水氯化钙与圆晶棒的比例为 3.5:100。 3.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S2中,振荡筛的工作频率为10Hz,且振荡筛的孔径为5目。 4.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S3中,Fab设定尺寸为3微米,切割频率为1Hz。 5.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S4中,打磨箱内设有打磨球,利用打磨球对圆晶粒进行打磨,且搅拌器的转速为20r/min。 6.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S5中,筛网的孔径为15目,并且筛网由振动电机进行驱动。 7.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S6中,漏斗上设有推杆马达,且推杆马达与关门装置进行连接,以此利用推杆马达带动关门装置对漏斗进行开启或者关闭,漏斗上设有颗粒计数器,且颗粒计数器与推杆马达电性连接,利用颗粒技术器可以对圆晶粒进行计数,且数量在49-51之间,以此可以保证包装袋内的圆晶粒的数量基本一致。 8.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S7中,热封机的温度设置为180摄氏度,热风机的工作时长为30s。 9.根据权利要求1所述的一种半导体器件制备工艺,其特征在于,所述S8中,软质填充物为

半导体工艺半导体制造工艺试题库1 答案

一、填空题(每空1分,计31分) 1、工艺上用于四氯化硅的提纯方法有 吸附法 和 精馏法 。 2、在晶片表面图形形成过程中,一般通过腐蚀的方法将抗蚀膜图形转移到晶片上,腐蚀的方法有 湿法腐蚀 和 干法腐蚀 。 3、直拉法制备单晶硅的过程是:清洁处理——装炉——加热融化——拉晶,其中拉晶是最主要的工序,拉晶包括 下种 、 缩颈 、放肩、 等径生长 和收尾拉光等过程。 3、抛光是晶片表面主要的精细加工过程,抛光的主要方式有 化学抛光 、 机械抛光 和 化学机械抛光 。 4、掺杂技术包括有 热扩散 、 离子注入 、合金和中子嬗变等多种方法。 5、晶片中的锂、钠、钾等碱金属杂质,通常以 间隙式 (空位式或间隙式)扩散方式在晶片内部扩散,并且这类杂质通常称为 快扩散 (快扩散或慢扩散)杂质。 6、在有限表面源扩散中,其扩散后的杂质浓度分布函数符合 高斯分布函数 ; 而在恒定表面源扩散中,其扩散后的杂质浓度分布函数符合 余误差分布函数 。 7、在离子注入法的掺杂过程中,注入离子在非晶靶中的浓度分布函数满足对称的高斯分布,其浓度最大位于 R P 处。 8、在离子注入后,通常采用退火措施,可以消除由注入所产生的晶格损伤,常用的退火方式有 电子束退火 、 离子束退火 、 激光退火 。 9、根据分凝现象,若K 0>1,则分凝后杂质集中在 尾部 (头部或尾部);若K 0<1,则杂质分凝后集中在 头部 (同上)。 10、把硅片置于氯化氢和氧气的混合气体中进行的氧化,称为 掺氯氧化 。 11、在二氧化硅的热氧化方法中,氧化速度最快的是 干氧氧化 方法。 12、氢氧合成氧化设备中,两个重要的保险装置是 氢气流量保险装置 和 温度保险装置 。 13、工艺中常用的测量二氧化硅厚度的方法有 比色法 和 椭圆偏振光法 。 14、固态源硼扩散中常用的硼源是 氮化硼 ,常用的液态磷源是 三氯氧磷 。 15、箱法扩散在工艺中重要用来进行TTL 电路 隐埋层 的锑扩散。 二、选择题(每题2分,单项多项均有,计12分) 1、 在SiO 2网络中,如果掺入了磷元素,能使网络结构变得更( A ) (A )疏松 (B )紧密 (C )视磷元素剂量而言 2、 在微电子加工环境中,进入洁净区的工作人员必须注意以下事项(A 、B 、C 、D ) (A ) 进入洁净区要先穿戴好专用净化工作服、鞋、帽。 (B ) 进入洁净区前先在风淋室风淋30秒,然后才能进入。 (C ) 每周洗工作服,洗澡、理发、剪指甲,不用化妆品。 (D ) 与工作无关的纸张、书报等杂物不得带入。 3、离子注入设备的组成部分有(A 、B 、C 、D ) (A )离子源 (B )质量分析器 (C )扫描器 (D )电子蔟射器 4、CVD 淀积法的特点有(A 、C 、D ) (A )淀积温度比较低 (B )吸附不会影响淀积速度 (C )淀积材料可以直接淀积在单晶基片上 (D )样品本身不参与化学反应 5、 工艺中消除沟道效应的措施有(A 、B 、C 、D ) (A )增大注入剂量 (B )增大注入速度 (C )增加靶温 (D )通过淀积膜注入 6、液态源硼扩散所选用的硼源有(A 、B 、C ) (A )硼酸三甲脂 (B )硼酸三丙脂 (C )三溴化硼 (D )三氯氧磷 三、判断(每题1分,计10分) 1、Ⅰ号液是碱性过氧化氢清洗液。 ( R ) 2、筛选器是用来去除杂质离子的设备。 ( R ) 3、石墨基座的清洁处理,首先用王水煮沸,再用去离子水冲洗。 ( R ) 4、注入窗口中淀积的二氧化硅薄层是起退沟道的作用。 ( R ) 5、以一般能量注入的重离子,在进入靶片中,以电子阻挡为主。 ( F ) 6、硅烷热分解法淀积中,一旦源变成黄色就不能使用。 ( R ) 7、在二氧化硅氧化膜中,可动钠离子含量要求越高越好。 ( F ) 8、二氧化硅中的宏观缺陷是指用肉眼可以直接观察到的缺陷。 ( R ) 9、氮化硼(BN )是常用的固态硼杂质扩散源。 ( R ) 10、用四探针法可以测试扩散后的结深。 ( R ) 四、名词解释(每题5分,计20分) 1、杂质分凝 答:杂质在晶体中有一定分布,在固态中和液态中的分布又不一样,在晶体提纯时,利用杂质在晶体固态和液态的分布不一样,进行提纯,将杂质集中在晶体的头部或尾部,达到提纯的 装 订 班级 姓名 学号 成绩 - 学年第 学期 半导 第 学期 半导体制造工艺 半 导体制造工艺

集成电路制造工艺原理

集成电路制造工艺原理 课程总体介绍: 1.课程性质及开课时间:本课程为电子科学与技术专业(微电子技术方向和光电子技术方向)的专业选修课。本课程是半导体集成电路、晶体管原理与设计和光集成电路等课程的前修课程。本课程开课时间暂定在第五学期。 2.参考教材:《半导体器件工艺原理》国防工业出版社 华中工学院、西北电讯工程学院合编《半导体器件工艺原理》(上、下册) 国防工业出版社成都电讯工程学院编著 《半导体器件工艺原理》上海科技出版社 《半导体器件制造工艺》上海科技出版社 《集成电路制造技术-原理与实践》 电子工业出版社 《超大规模集成电路技术基础》电子工业出版社 《超大规模集成电路工艺原理-硅和砷化镓》 电子工业出版社 3.目前实际教学学时数:课内课时54学时 4.教学内容简介:本课程主要介绍了以硅外延平面工艺为基础的,与微电子技术相关的器件(硅器件)、集成电路(硅集成电路)的制造工艺原理和技术;介绍了与光电子技术相关的器件(发光器件和激光器件)、集成电路(光集成电路)的制造工艺原理,主要介绍了最典型的化合物半导体砷化镓材料以及与光器件和光集成电路制造相关的工艺原理和技术。 5.教学课时安排:(按54学时) 课程介绍及绪论2学时第一章衬底材料及衬底制备6学时 第二章外延工艺8学时第三章氧化工艺7学时第四章掺杂工艺12学时第五章光刻工艺3学时第六章制版工艺3学时第七章隔离工艺3学时 第八章表面钝化工艺5学时 第九章表面内电极与互连3学时 第十章器件组装2学

课程教案: 课程介绍及序论(2学时) 内容: 课程介绍: 1 教学内容 1.1与微电子技术相关的器件、集成电路的制造工艺原理 1.2 与光电子技术相关的器件、集成电路的制造 1.3 参考教材 2教学课时安排 3学习要求 序论: 课程内容: 1半导体技术概况 1.1 半导体器件制造技术 1.1.1 半导体器件制造的工艺设计 1.1.2 工艺制造 1.1.3 工艺分析 1.1.4 质量控制 1.2 半导体器件制造的关键问题 1.2.1 工艺改革和新工艺的应用 1.2.2 环境条件改革和工艺条件优化 1.2.3 注重情报和产品结构的及时调整 1.2.4 工业化生产 2典型硅外延平面器件管芯制造工艺流程及讨论 2.1 常规npn外延平面管管芯制造工艺流程 2.2 典型pn隔离集成电路管芯制造工艺流程 2.3 两工艺流程的讨论 2.3.1 有关说明 2.3.2 两工艺流程的区别及原因 课程重点:介绍了与电子科学与技术中的两个专业方向(微电子技术方向和光电子技术方向)相关的制造业,指明该制造业是社会的基础工业、是现代化的基础工业,是国家远景规划中置于首位发展的工业。介绍了与微电子技术方向相关的分离器件(硅器件)、集成电路(硅集成电路)的制造工艺原理的内容,指明微电子技术从某种意义上是指大规模集成电路和超大规模集成电路的制造技术。由于集成电路的制造技术是由分离器件的制造技术发展起来的,则从制造工艺上看,两种工艺流程中绝大多数制造工艺是相通的,但集成电路制造技术中包含了分离器件制造所没有的特殊工艺。介绍了与光电子技术方向相关的分离器件、集成电路的制造工艺原理的内容。指明这些器件(发光器件和激光器件)和集成电路(光集成电路)多是由化合物半导体为基础材料的,最常用和最典型的是砷化镓材料,本课程简单介绍了砷化镓材料及其制造器件时相关的工艺技术与原理。在课程介绍中,指出了集成电路制造工艺原理的内容是随着半导体器件制造工艺技术发展而发展的、是随着电子行业对半导体器件性能不断提高的要求(小型化、微型化、集成化、以及高频特性、功率特性、放大特性的提高)而不断充实的。综观其发展历程,由四十年代末的合金工艺原理到五十年代初的合金

半导体制造工艺期末考试重点复习资料

1、三种重要的微波器件:转移型电子晶体管、碰撞电离雪崩渡越时间二极管、MESFET。 2、晶锭获得均匀的掺杂分布:较高拉晶速率和较低旋转速率、不断向熔融液中加高纯 度多晶硅,维持熔融液初始掺杂浓度不变。 3、砷化镓单晶:p型半导体掺杂材料镉和锌,n型是硒、硅和锑 硅:p型掺杂材料是硼,n型是磷。 4、切割决定晶片参数:晶面结晶方向、晶片厚度(晶片直径决定)、晶面倾斜度(从 晶片一端到另一端厚度差异)、晶片弯曲度(晶片中心到晶片边缘的弯曲程度)。5、晶体缺陷:点缺陷(替位杂质、填隙杂质、空位、Frenkel,研究杂质扩散和氧化 工艺)、线缺陷或位错(刃型位错和螺位错,金属易在线缺陷处析出)、面缺陷(孪晶、晶粒间界和堆垛层错,晶格大面积不连续,出现在晶体生长时)、体缺陷(杂质和掺杂原子淀积形成,由于晶体固有杂质溶解度造成)。 6、最大面为主磨面,与<110>晶向垂直,其次为次磨面,指示晶向和导电类型。 7、半导体氧化方法:热氧化法、电化学阳极氧化法、等离子化学汽相淀积法。 8、晶体区别于非晶体结构:晶体结构是周期性结构,在许多分子间延展,非晶体结构 完全不是周期性结构。 9、平衡浓度与在氧化物表面附近的氧化剂分压值成正比。在1000℃和1个大气压下, 干氧的浓度C0是5.2x10^16分子数/cm^3,湿氧的C0是3x10^19分子数/cm^3。

10、当表面反应时限制生长速率的主要因素时,氧化层厚度随时间呈线性变化 X=B(t+)/A线性区(干氧氧化与湿氧氧化激活能为2eV,);氧化层变厚时,氧化剂必须通过氧化层扩散,在二氧化硅界面与硅发生反应,并受扩散过程影响,氧化层厚度与氧化时间的平方根成正比,生长速率为抛物线X^2=B(t+)抛物线区(干氧氧化激活能是1.24Ev,湿氧氧化是0.71eV)。 11、线性速率常数与晶体取向有关,因为速率常数与氧原子进入硅中的结合速率和 硅原子表面化学键有关;抛物线速率常数与晶体取向无关,因为它量度的是氧化剂穿过一层无序的非晶二氧化硅的过程。 12、较薄的氧化层MOSFET栅氧化层用干氧氧化,较厚的用湿氧氧化,如MOS集成 电路中的场氧化层和双极型器件,以获得适当隔离和保护,20nm为界限。 13、给定氧化条件下,在<111>晶面衬底上生成的氧化层厚度大于<100>晶面衬底, 因为<111>方向线性速率常数更大。值得注意的是温度和时间相同时,湿氧氧化厚度是干氧的5~10倍。 14、氧化掩膜厚度一般用实验测量方法获得,主要取决于特定温度和时间下,不能 使低掺杂硅衬底发生反型,典型厚度为0.5um~1.0um。 15、二氧化硅中各掺杂杂质扩散常数依赖氧的密度、性能和结构。 16、MOS器件受氧化层中的电荷和位于二氧化硅-硅界面处势阱影响。 17、势阱和电荷的基本类别:界面势阱电荷Qit(由于二氧化硅-硅界面特性产生, 取决于这个界面的化学组分,势阱位于二氧化硅-硅界面处,能态在硅禁带中,界

半导体制造工艺流程

半导体制造工艺流程

半导体元件制造过程可分为 ?前段(Front End)制程 晶圆处理制程(Wafer Fabrication;简称Wafer Fab)、 晶圆针测制程(Wafer Probe); ?後段(Back End) 构装(Packaging)、 测试制程(Initial Test and Final Test)

一、晶圆处理制程 ?晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。

二、晶圆针测制程 ?经过Wafer Fab之制程後,晶圆上即形成一格格的小格,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,而不合格的的晶粒将会被标上记号(Ink Dot),此程序即称之为晶圆针测制程(Wafer Probe)。然後晶圆将依晶粒为单位分割成一粒粒独立的晶粒

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半导体制造工艺流程 半导体相关知识 本征材料:纯硅9-10个 250000Ω.cm3 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(Front End)制程 晶圆处理制程(Wafer Fabrication;简称Wafer Fab)、 晶圆针测制程(Wafer Probe); 后段(Back End) 构装(Packaging)、 测试制程(Initial Test and Final Test) 晶圆边缘检测系统 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件,为各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,有时可达数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之后,接著进行氧化(Oxidation)及沉积,最后进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 晶圆与晶片的区别 制造半导体前,必须将硅转换为晶圆片。这要从硅锭的生长开始。单晶硅是原子以三维空间模式周期形成的固体,这种模式贯穿整个材料。多晶硅是很多具有不同晶向的小单晶体单独形成的,不能用来做半导体电路。多晶硅必须融化成单晶体,才能加工成半导体应用中使用的晶圆片。晶片由晶圆切割成,直径和晶圆相同,厚度为300μm 由于硅很硬,要用金刚石锯来准确切割晶圆片,以得到比要求尺寸要厚一些的晶片。激光锯也有助于减少对晶圆片的损伤、厚度不均、弯曲以及翘曲缺陷。      切割晶圆片后,开始进入研磨工艺。研磨晶圆片以减少正面和背面的锯痕和表面损伤。同时打薄晶圆片并帮助释放切割过程中积累的硬力。研磨后,进入刻蚀和清洗工艺,使用氢氧化钠、乙酸和硝酸的混合物以减轻磨片过程中产生的损伤和裂纹。关键的倒角工艺是要将晶圆片的边缘磨圆,彻底消除将来电路制作过程中破损的可能性。倒角后,要按照最终用户的要求,经常需要对边缘进行抛光,提高整体清洁度以进一步减少破损。

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半导体制造工艺流程集团文件发布号:(9816-UATWW-MWUB-WUNN-INNUL-DQQTY-

半导体制造工艺流程 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(FrontEnd)制程 晶圆处理制程(WaferFabrication;简称WaferFab)、 晶圆针测制程(WaferProbe); 後段(BackEnd) 构装(Packaging)、 测试制程(InitialTestandFinalTest) 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随着产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之後,接着进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 二、晶圆针测制程

经过WaferFab之制程後,晶圆上即形成一格格的小格,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,而不合格的的晶粒将会被标上记号(InkDot),此程序即称之为晶圆针测制程(WaferProbe)。然後晶圆将依晶粒为单位分割成一粒粒独立的晶粒 三、IC构装制程 IC构装制程(Packaging):利用塑胶或陶瓷包装晶粒与配线以成积体电路 目的:是为了制造出所生产的电路的保护层,避免电路受到机械性刮伤或是高温破坏。 半导体制造工艺分类 半导体制造工艺分类 一双极型IC的基本制造工艺: A在元器件间要做电隔离区(PN结隔离、全介质隔离及PN结介质混合隔离) ECL(不掺金)(非饱和型)、TTL/DTL(饱和型)、STTL(饱和型)B在元器件间自然隔离 I2L(饱和型) 半导体制造工艺分类 二MOSIC的基本制造工艺:

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半导体制造工艺流程 Document number:NOCG-YUNOO-BUYTT-UU986-1986UT

半导体制造工艺流程 半导体相关知识 本征材料:纯硅9-10个 250000Ω.cm3 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(FrontEnd)制程 晶圆处理制程(WaferFabrication;简称WaferFab)、 晶圆针测制程(WaferProbe); 后段(BackEnd) 构装(Packaging)、 测试制程(InitialTestandFinalTest) 晶圆边缘检测系统 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件,为各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,有时可达数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随着产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之后,接着进行氧化(Oxidation)及沉积,最后进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 晶圆与晶片的区别 制造半导体前,必须将硅转换为晶圆片。这要从硅锭的生长开始。单晶硅是原子以三维空间模式周期形成的固体,这种模式贯穿整个材料。多晶硅是很多具有不同晶向的小单晶体单独形成的,不能用来做半导体电路。多晶硅必须融化成单晶体,才能加工成半导体应用中使用的晶圆片。晶片由晶圆切割成,直径和晶圆相同,厚度为300μm 由于硅很硬,要用金刚石锯来准确切割晶圆片,以得到比要求尺寸要厚一些的晶片。激光锯也有助于减少对晶圆片的损伤、厚度不均、弯曲以及翘曲缺陷。      切割晶圆片后,开始进入研磨工艺。研磨晶圆片以减少正面和背面的锯痕和表面损伤。同时打薄晶圆片并帮助释放切割过程中积累的硬力。研磨后,进入刻蚀和清洗工艺,使用氢氧化钠、乙酸和硝酸的混合物以减轻磨片过程中产生的损伤和裂纹。关键的倒角工艺是要将晶圆片的边缘磨圆,彻底消除将来电路制作过程中破损的可能性。倒角后,要按照最终用户的要求,经常需要对边缘进行抛光,提高整体清洁度以进一步减少破损。

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半导体制造工艺流程 Revised by Petrel at 2021

半导体制造工艺流程 半导体相关知识 本征材料:纯硅9-10个 250000Ω.cm3 N型硅:掺入V族元素--磷P、砷As、锑Sb P型硅:掺入III族元素—镓Ga、硼B PN结: 半导体元件制造过程可分为 前段(FrontEnd)制程 晶圆处理制程(WaferFabrication;简称WaferFab)、 晶圆针测制程(WaferProbe); 后段(BackEnd) 构装(Packaging)、 测试制程(InitialTestandFinalTest) 晶圆边缘检测系统 一、晶圆处理制程 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件,为各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,有时可达数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-Room),虽然详细的处理程序是随着产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之后,接着进行氧化(Oxidation)及沉积,最后进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作。 晶圆与晶片的区别 制造半导体前,必须将硅转换为晶圆片。这要从硅锭的生长开始。单晶硅是原子以三维空间模式周期形成的固体,这种模式贯穿整个材料。多晶硅是很多具有不同晶向的小单晶体单独形成的,不能用来做半导体电路。多晶硅必须融化成单晶体,才能加工成半导体应用中使用的晶圆片。晶片由晶圆切割成,直径和晶圆相同,厚度为300μm 由于硅很硬,要用金刚石锯来准确切割晶圆片,以得到比要求尺寸要厚一些的晶片。激光锯也有助于减少对晶圆片的损伤、厚度不均、弯曲以及翘曲缺陷。      切割晶圆片后,开始进入研磨工艺。研磨晶圆片以减少正面和背面的锯痕和表面损伤。同时打薄晶圆片并帮助释放切割过程中积累的硬力。研磨后,进入刻蚀和清洗工艺,使用氢氧化钠、乙酸和硝酸的混合物以减轻磨片过程中产生的损伤和裂纹。关键的倒角工艺是要将晶圆片的边缘磨圆,彻底消除将来电路制作过程中破损的可能性。倒角后,要按照最终用户的要求,经常需要对边缘进行抛光,提高整体清洁度以进一步减少破损。

半导体工艺流程

这可能最简单的半导体工艺流程(一文看懂芯片制作流程) 本文来源于公众号“半导体产业园” 上一期我们聊了CMOS的工作原理,我相信你即使从来没有学过物理,从来没学过数学也能看懂,但是有点太简单了,适合入门,如果你想了解更多的CMOS 内容,就要看这一期的内容了,因为只有了解完工艺流程(也就是二极管的制作流程)之后,才可以继续了解后面的内容。那我们这一期就了解一下这个CMOS 在foundry公司是怎么生产的(以非先进制程作为例子,先进制程的CMOS无论在结构上还是制作原理上都不一样)。 首先要知道foundry从供应商(硅片供应商)那里拿到的晶圆(也叫wafer,我们后面简称wafer)是一片一片的,半径为100mm(8寸厂)或者是150mm(12寸厂)的晶圆。如下图,其实就是类似于一个大饼,我们把它称作衬底。 但是呢,我们这么看不太方便,我们从下往上看,看截面图,也就是变成了下图这个样子。

下面我们就看看怎么出现我们上一期提到的CMOS模型,由于实际的process需要几千个步骤,我在这里就拿最简单的8寸晶圆的主要步骤来聊。 制作Well和反型层: 也就是通常说的阱,well是通过离子植入(Ion Implantation,后面简称imp)的方式进入到衬底上的,如果要制作NMOS,需要植入P型well,如果制作PMOS,需要植入N型well,为了方便大家了解,我们拿NMOS来做例子。离子植入的机器通过将需要植入的P型元素打入到衬底中的特定深度,然后再在炉管中高温加热,让这些离子活化并且向周围扩散。这样就完成了well的制作。制作完成后是这个样子的。 在制作well之后,后面还有其他离子植入的步骤,目的就是控制沟道电流和阀值电压的大小,大家可以统一叫做反型层。如果是要做NMOS,反型层植入的是P型离子,如果是要做PMOS,反型层植入的是N型离子。植入之后是下面这个模型。

半导体的生产工艺流程

半导体的生产工艺流程 微机电制作技术,尤其是最大宗以硅半导体为基础的微细加工技术(silicon- based micromachining,原本就肇源于半导体组件的制程技术,所以必须先介绍清楚这类制程,以免沦于夏虫语冰的窘态。 一、洁净室 一般的机械加工是不需要洁净室(clean room的,因为加工分辨率在数十微米以上,远比日常环境的微尘颗粒为大。但进入半导体组件或微细加工的世界,空间单位都是以微米计算,因此微尘颗粒沾附在制作半导体组件的晶圆上,便有可能影响到其上精密导线布局的样式,造成电性短路或断路的严重后果。 为此,所有半导体制程设备,都必须安置在隔绝粉尘进入的密闭空间中,这就是洁净室的来由。洁净室的洁净等级,有一公认的标准,以class 10为例,意谓在单位立方英呎的洁净室空间内,平均只有粒径0.5微米以上的粉尘10粒。所以class后头数字越小,洁净度越佳,当然其造价也越昂贵(参见图2-1。 为营造洁净室的环境,有专业的建造厂家,及其相关的技术与使用管理办法如下: 1、内部要保持大于一大气压的环境,以确保粉尘只出不进。所以需要大型鼓风机,将经滤网的空气源源不绝地打入洁净室中。 2、为保持温度与湿度的恒定,大型空调设备须搭配于前述之鼓风加压系统中。换言之,鼓风机加压多久,冷气空调也开多久。 3、所有气流方向均由上往下为主,尽量减少突兀之室内空间设计或机台摆放调配,使粉尘在洁净室内回旋停滞的机会与时间减至最低程度。 4、所有建材均以不易产生静电吸附的材质为主。 5、所有人事物进出,都必须经过空气吹浴 (air shower 的程序,将表面粉尘先行去除。

6、人体及衣物的毛屑是一项主要粉尘来源,为此务必严格要求进出使用人员穿戴无尘衣,除了眼睛部位外,均需与外界隔绝接触 (在次微米制程技术的工厂内,工作人员几乎穿戴得像航天员一样。当然,化妆是在禁绝之内,铅笔等也禁止使用。 7、除了空气外,水的使用也只能限用去离子水 (DI water, de-ionized water。一则防止水中粉粒污染晶圆,二则防止水中重金属离子,如钾、钠离子污染金氧半(MOS 晶体管结构之带电载子信道 (carrier channel,影响半导体组件的工作特性。去离子水以电阻 率 (resistivity 来定义好坏,一般要求至17.5MΩ-cm以上才算合格;为此需动用多重离子交换树脂、RO逆渗透、与UV紫外线杀菌等重重关卡,才能放行使用。由于去离子水是最佳的溶剂与清洁剂,其在半导体工业之使用量极为惊人! 8、洁净室所有用得到的气源,包括吹干晶圆及机台空压所需要的,都得使用氮气(98%,吹干晶圆的氮气甚至要求99.8%以上的高纯氮!以上八点说明是最基本的要求,另还有污水处理、废气排放的环保问题,再再需要大笔大笔的建造与维护费用! 二、晶圆制作 硅晶圆 (silicon wafer 是一切集成电路芯片的制作母材。既然说到晶体,显然是经过纯炼与结晶的程序。目前晶体化的制程,大多是采「柴可拉斯基」(Czycrasky 拉晶法 (CZ法。拉晶时,将特定晶向 (orientation 的晶种 (seed,浸入过饱和的纯硅熔汤 (Melt 中,并同时旋转拉出,硅原子便依照晶种晶向,乖乖地一层层成长上去,而得出所谓的晶棒 (ingot。晶棒的阻值如果太低,代表其中导电杂质 (impurity dopant 太多,还需经过FZ 法 (floating-zone 的再结晶 (re-crystallization,将杂质逐出,提高纯度与阻值。 辅拉出的晶棒,外缘像椰子树干般,外径不甚一致,需予以机械加工修边,然后以X 光绕射法,定出主切面 (primary flat 的所在,磨出该平面;再以内刃环锯,削下一片片的硅晶圆。最后经过粗磨 (lapping、化学蚀平 (chemical etching 与拋光 (polishing 等程序,得出具表面粗糙度在0.3微米以下拋光面之晶圆。(至于晶圆厚度,与其外径有

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