NANOPLUS纳米粒度与Zeta电位分析仪
麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司（Micromeritics Instrument (Shanghai) Ltd.)
美国麦克仪器公司是将自动表面积分析仪、压汞仪以及沉降式粒度分析仪投放市场
的公司。自1962年成立以来，美国麦克仪器公司在比表面积与孔隙度分析、压汞分析
技术、沉降式粒度表征、各种密度测试，化学吸附分析与微型催化反应研究众多领域进
行技术研究。
美国麦克仪器产品在1979年进入中国市场，成为中美建交后最早进入中国市场的
分析仪器。在为中国用户服务30多年后，于2011年3月在上海成立了麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司，专业为中国市场提供美国麦克仪器公司的产品。公司总部设在
上海，并在北京、广州、西安分别设有办公室，并设有应用实验室提供各类仪器的演
示与操作培训并提供对外做样服务，为广大用户提供实验室解决方案与疑难样品的分
析。
公司在各地配备了服务工程师队伍，为广大用户提供安装与维护支持。所有仪器均
享受12个月的保修。美国麦克仪器总部与麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司提供的
操作培训与各类短期理论课程是用户理解仪器操作细节与获得实验结果必不可少的。在
培训课程以外，公司的科学家与应用技术人员随时与广大用户讨论研究中与仪器使用
过程中遇到的各类问题。公司并经常发表应用文章、简讯、与介绍业内的最新进展。
动态光散射纳米粒度仪Vasco系列
产品简介
VASCO纳米粒度仪的测量方法能实现高浓度，深色悬浮液中纳米级到微米级颗粒的分析。VASCO提供在线实时分析功能。用户无需对正在分析的高浓度样品做停留，便可随时对管路或反应器中的颗粒尺寸做即时分析。
VASCO纳米粒度分析仪的测试分析原理是背散射光的动态光散射（DLS）技术。
VASCO配备CORDOUAN技术光学部件，具有背散射光检测器和样品厚度控制的双重功能。
技术特点
·分析范围1nm 至6μm
·样品浓度可达40％
·样品装载量 < 50 μL
·专利创新技术
·无耗材耗件
·方便清洗
·符合ISO 13321与21CFR part 11的Rean?软件分析粒度分布可选在线监测·聚合动力学
·便携式设计 < 12 kg
产品应用
食品工业--牛奶、巧克力、咖啡、啤酒、乳剂
医药--悬浮液、粉末、糖浆、注射液、微胶囊
化学品--聚合物、分散剂、杀虫剂
环境--自来水、废水、絮凝物、膜过滤
化妆品--香水、乳霜、乳液
石油化工--燃料、原油、沥青添加剂
颜料--墨水、调色剂、涂料、油漆
NANOPLUS纳米粒度与Zeta电位分析仪
NanoPlus是一款多用途分析仪，它采用光子相关光谱法、电泳光散射以及最新的FST技术来分析纳米粒度和zeta电位，并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位。该仪器可同时满足低浓度和高浓度样品纳米粒度与zeta电位分析的要求，浓度范围由0.001%到40%，可检测粒径从0.6nm到10μm，浓度从0.00001%到40%的样品的粒径。
该款仪器具有以下技术特点：
o可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位
o可测定固体zeta电位
o宽粒径范围(0.6nm~10μm)，宽浓度范围(粒径测试：0.00001%~40%
o可精确测量各种浓度的悬浮液
o用户友好的软件
o多种样品池选择
o可选择一次性样品池
o结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征
o可选择自动滴定装置控制悬浮液pH值
产品应用：
半导体
研究半导体晶体表面残留杂质与磨蚀剂、添加剂和晶片表面之间的相互影响的净化机制。
医药和食品行业
乳剂的分散和凝聚的模拟控制研究（如食品、香水、药品和化妆品），蛋白质功能研究，核糖体分散和凝聚控制研究，表面活性剂功能研究（微囊）。
陶瓷和颜料工业
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化铝、二氧化钛等）和无机溶胶的研究，颜料的分散和凝聚的控制研究，浮矿收集器的吸附研究。
聚合物和化工领域
乳剂(涂料和粘合剂)的分散和凝聚控制研究，乳胶表面重整控制（药品和工业用途）。电解聚合物（聚苯乙烯磺酸钠、多羧酸等）功能研究，控制造纸和生产纸浆过程研究，纸浆添加剂研究。
纳米材料粒度分析(可编辑修改word版)
纳米材料粒度分析 一、实验原理 纳米颗粒材料（粒径<100nm）是纳米材料中最重要的一种，可广泛用于纳米复合材料 制备中的填料、光催化颗粒、电池电极材料、功能性分散液等。粒径(或粒度)是纳米颗粒材 料的一个非常重要的指标。测试颗粒粒径的方法有许多种，其中，电子显微镜法和激光光散射 法均可用纳米材料粒度的测试，电子显微镜法表征纳米材料比较直观，可观察到纳米颗粒的形态，但需要通过统计计数（一般需统计1000 个以上颗粒的粒径）方法来得到颗粒粒径，比较烦 琐费时，尤其是在纳米颗粒的粒径分布较宽时，统计得到的粒径及粒径分布误差将增大。激光 光散射法得到的纳米颗粒粒径具有较好的统计意义，制样简单，测试速度快，但激光光散射法 无法观察到颗粒形态，在测试非球形颗粒时测试误差也较大。因此，上述两种纳米材料的测试方 法各有优缺点。本实验选用激光光散射法测试纳米材料的粒径及粒径分布。所用仪器为Beckman-coulter N4 Plus 型激光粒度分析仪。 图1 为N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量单元组成图，主要由HeNe 激光光源、聚焦透镜、 样品池、步进马达、光电倍增管(PMT)、脉冲放大器和鉴别器(PAD)、数字自相关器、6802 微处理器和计算机组成。 图1 N4 Plus 型激光粒度测试仪的测量单元组成图 N4 Plus 型激光粒度分析仪的测量原理主要基于颗粒的布朗(Brownian)运动和光子相关光 谱(Photon Correlation Spectroscopy, PCS)现象。在溶液中，粒子由热导致与溶剂分子发生随机碰 撞所产生的运动称为布朗运动，由于布朗运动，粒子在溶液中可发生扩散移动。在恒定温度及某 一浓度下，粒子的平移扩散系数与颗粒的粒径成反比，即符合Stokes-Einstein 方程： D =k B T 3πηd （1） 式中k B为玻尔兹曼常数(1.38×10-16erg/?K)，T 为温度(?K)，η为分散介质(或稀释剂)粘度(poise)，d 为颗粒粒径(cm)。当激光束照射到溶液中的悬浮颗粒上时，由于颗粒的随机布朗运动，颗
纳米材料表面结构分析
1纳米材料的粒度分析 不仅可以进行纳米颗粒大小的分析, 也可以对颗粒大小的分布进行分析, 粒度的分析方法基本上可归纳为以下几种方法。 传统的颗粒测量方法有筛分法、显微镜法、沉降法等。 近年来发展的方法有激光衍射法、激光散射法、光子 相干光谱法、电子显微镜图像分析法、基于布朗运动 的粒度测量法和质谱法等 2纳米材料的形貌分析 形貌分析主要内容是, 分析材料的几何形貌、材料的颗粒度、颗 ~ 粒的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方 纳米材料常用的形貌分析方法主要有扫描电子 显微镜(SEM )、透射电子显微镜(TEM )、扫描隧道显 微镜(STM )、原子力显微镜(A FM ) 法 3成分分析 确定纳米材料的元素组成, 测定纳米材料中杂质的种类和浓度, 纳米材料的体相元素组成及其杂质成分的分析 方法包括原子吸收、原子发射、ICP 质谱以及X 射线 ） 荧光与衍射分析方法 4纳米材料的结构分析 包括高分辨透射电镜(HRTEM )、扫描探针显微镜(SPM )、扫描隧 道显微镜(STM )、原子力显微镜(A FM )、场离子显微 镜(F IM )、X 射线衍射仪(XRD)、扩展X 射线吸收精 细结构测定仪(EXA FS)、穆斯堡尔谱仪(M S)、拉曼 散射仪(RS) 等等。 5纳米材料表面与界面分析 有: X 射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(A ES)、静态二次离子质谱(S IM S) 和离子散射谱( ISS) ` 5. 1XPS 的分析方法 (1) 表面元素定性分析 ( 2) 表面元素的半定量分析 ( 3) 表面元素的化学价态分析 俄歇电子能谱仪还具有很强的化学价
态分析能力, 不仅可以进行元素化学成分分析, 还可以进行元素化学价态分析
纳米材料的粒度分析
纳米材料的粒度分析 1．1前言 1．粒度分析的概念 大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此，对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义。一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来描述。但由于颗粒形状的复杂性，一般很难直接用一个尺度来描述一个颗粒大小，因此，在粒度大小的描述过程中广泛采用等效粒度的概念。 对于不同原理的粒度分析仪器，所依据的测量原理不同，其颗粒特性也不相同，只能进行等效对比，不能进行横向直接对比。如沉降式粒度仪是依据颗粒的沉降速度进行等效对比，所测的立径为等效沉速径，即用与被测颗粒具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表实际颗粒的大小。激光粒度仪则是利用颗粒对激光的衍射和散射特性作等效对比，所测出的等效粒径为等效散射粒径，即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球形颗粒的直径来代表这个颗粒的实际大小。当被测颗粒为球形时，其等效粒径就是它的实际直径。但由于粉体材料颗粒的形状不可能都是均匀球形的，有各种各样的结构，因此，在大多数情况下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径，和实际的颗粒大小分布会有一定的差异，因此只具有相对比较的意义。等效粒径（D）和颗粒体积（V）的关系可以用表达式D=1.24V1/3表示。此外，各种不同粒度分析方法获得的粒径大小和分布数据也可能不能相互印证，不能进行绝对的横向比较。 由于粉体材料的颗粒大小分布较广，可以从纳米级到毫米级，因此在描述材料粒度大小时，可以把颗粒按大小分为纳米颗粒、超微颗粒、微粒、细粒、粗粒等种类。依据这些颗粒的种类可以采用相应的粒度分析方法和仪器。近年来，随着纳米科学和技术的迅速发展，纳米材料的颗粒分布以及颗粒大小已经成为纳米材料表征的重要指标之一，在普通的材料粒度分析中，其研究的颗粒大小一般在100nm~1ｕm尺寸范围。面对纳米材料研究，其最关注的尺度范围。 在纳米材料分析和研究中，经常遇到的纳米颗粒通常是指颗粒尺寸为纳米量级（1~100nm）的超细微粒。由于该类材料的颗粒尺寸为纳米量级，本身具有小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应和宏观量子隧道效应，因此具有许多常规材料所不具备的特性，在催化、非线性光学、磁性材料、医药及新材料等方面具有广阔的应用前景。因此纳米材料的粒度大小、分布、在介质中的分散性能以及二次粒子的聚集形态等纳米材料的性能具有重要影响，所以，纳米材料的粒度分析是纳米材料研究的一个重要方面。同样由于纳米材料的特性和重要性，促进了粒度分析和表征的方法和技术的发展，纳米材料的粒度分析已经发展成为现代粒度分析的一个重要领域。 目前，对纳米材料进行粒度分析的方法和仪器种类很多，但由于各种分析方法和仪器的设计对被分析体系有一定的针对性，采用的分析原理和方法各异，因此，选择合适的分析方法和分析仪器十分重要。又因为各种粒度分析方法的物理基础不同，同一样品用不同的测量方法得到的粒径的物理意义甚至粒径大小也不同。此外，不同的粒度分析方法的使用范围也不同。若对分析仪器及被测体系没有准确的了解与把握，分子所得到的结果往往于实际结果有较大差异，不具有科学性和代表性。因此，根据被测对象、测量准确度和测量精度等选择的测量方法是十分重要和必要的。