测量系统分析管理程序
测量系统分析管理办法
1. 0 适用范围测量系统分析的目的是为了确保数据的质量，提供准确的数据。
本办法适用于公司所有测量系统的分析。
2．0 定义2.1 测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。
2.2 重复性：是指由同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。
2.3 再现性：是由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。
2.4 稳定性：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。
2.5 偏倚：测量结果的观测平均值与基准值的差值。
2.6 线性：线性是在量具预期的工作量程内，偏倚值的差值。
2.7 零件变差：测量过程中各零件测量平均值的变差。
3．0 职责3.1 质量部负责实施测量系统的分析和报告。
3.2 制造部、工艺部负责参与测量系统分析工作。
4. 0 工作程序4.1 编制测量系统分析计划4.1.1确定测量系统分析的时机和频率，一般选择分析的时机在新的测量系统使用前，分析的频率可一年或两年进行一次。
4.1.2 确定测量系统分析项目。
4.1.3 确定评价人，从正常操作该检测设备的人员中选择。
4.1.4 确定被测特性，当一个检测设备适用于多个产品测量特性时，应选择被测产品特性要求最严格的特性进行测量系统分析。
4.1.5 确定分析方法，根据测量系统实际使用要求，选择适宜的研究方法。
4.1.6 确定满足分析方法所需的辅助设备及工具。
4.2测量系统的研究工作4.2.1 选择基准样件，基准样件的选择对适当的分析是很关键的，对计量性检测设备，被测量件的选择尽可能覆盖整个预期的过程变差。
4.2.2 根据《测量系统分析计划》中规定的日期，评价人，分析方法等，组织测量系统使用部门实施测量系统分析，当实际情况偏离年度计划时，根据实际情况适当调整。
4.2.3 计量型检测设备的宽度误差分析方法，主要是采用平均值和级差法研究测量系统的重复性和再现性。
测量系统分析程序文件
1、目的/Purpose：保证公司有效展开测量系统分析（MSA）工作，保证测量设备、仪器测量的可靠性，提高数据的测量质量，并为改进提供机会。
2、使用范围适用于本公司新购的和受控在用的运行于稳定条件下的测量设备和仪器。
3、定义/Terms：3.1重复性：由同一评价人（操作员）采用一种测量仪器，多次测量同一个产品的同一性能时，获得的测量结果的变差3.2再现性：由不同评价人（操作员）采用相同的测量仪器，测量同一个产品的同一性能时，测量平均值的变差。
3.3 GRR：即重复性和再现性的综合值。
3.4偏倚：是测量结果对平均值与基准值的差值。
基准值是指用更高精度测量的结果或公认的结果。
3.5线性：是在量具的工作量程内，偏倚的差值。
3.6稳定性：又叫漂移，是测量系统在某持续时间内测量同一基准或者零件的单一特性时获得的测量值总变差。
4、职责/Responsibility:4.1 品质部是测量系统分析控制的归口管理部门，负责根据《特殊特性清单》、《控制计划》编制《测量系统分析计划》及测量系统分析的实施，有限分析关键和重要产品特性涉及到的测量系统。
4.2 测量系统使用部门负责进行相应的测试与数据收集，并对收集数据的真实性负责。
4.3 测量系统使用部门、技术部、品质部负责不合格测量系统的改善。
5、工作程序/Work Procedure:5.2 测量系统分析的时机5.2.1产品设计开发阶段，APQP小组应提供产品《特殊特性清单》，品质部根据《特殊特性清单》中的产品CC/SC特性编制《测量系统分析计划》并按计划执行。
5.2.2 量产阶段，品质部根据《控制计划》和日常生产中的实际情况，对产品CC/SC特性所涉及的测量系统编制《测量系统分析计划》并按计划执行。
5.2.3重大质量事故时，品质部根据实际需求对涉及到的关键检测设备实施MSA分析。
5.2.4测量系统分析的周期一般为一年。
5.3 分析方法根据实际需求，从下面的分析方法中选择一种或几种进行；经客户允许和内部需要也可以采用其他分析方法。
MSA使用详解
5.1.3.5将全距平均值之平均值算出即为 ；
5.1.3.6将各平均值之平均值算出全距值即为X DIFF；
5.1.3.7将全距平均值之平均值乘以系数D4即得管制上限UCLR；
5.1.3.8将全距平均值之平均值乘以系数D3即得管制下限LCLR；
5.1.4依「量具再现性及再生性报告」(JQDA-4-0039)之公式分别求出EV、AV、R&R、PV、TV、%EV、%AV、%R&R、%PV作为分析数据.
8 .0作业流程:
无
n：测零件之样品数；
r：每位作业者量测之次数；
PV：零件变异；
Rp：零件最大差异；
K3：零件变异之系数；
R&R：再现性与再生性.
5.2计数值分析方法：
5.2.1属性量规系用来比较一个零件与某一规定限组合，如满足于该极限则该零件可予接受，否则即剔退，绝大多数此种量规系用来接受和剔退一组主零件。与变异量规不同的是，属性量规不能指示一零件是多么好或多么坏，它只能表示该零件是可采受或剔退.
5.5.5.3线性﹪＞10﹪时不接受.
5.6结论处理完成量测系统分析(MSA)后,把EV、AV、R&R、PV、TV、%EV、%AV、%R&R、%PV,偏差,线性,稳定性的结论填入「量测系统MSA报告」(JQAD-4-0040)
5.7执行量测系统分析根据以下情况来确定:
1)投入新量测设备或测量设备维修后
5.2.2简便法系选取20个零件而研究。以两个检验人员(评估者)分别不各零件作二次检验以防止检验人员的偏执，当选取20个零件时,最好能取其中的某些个稍偏上限及偏下限。如果量测判定结果一致(每个零件检验4次)则该量规要接受;如果量测结果不一致，则该量规必须改善或重新评估。该量规如不经进改善不予接受，而且必须寻求另一可接受之替代量测系统。
MSA测量系统管理程序
所有控制点都在控制界限内就表示稳定性良好。
品保部
偏倚和线性的评价方法
实施步骤:
决定特性的规格:使用样本,参考下表(特性Y,公差y)见附件：备注：M为平均值。
选择5个样本,由于过程变差,这些零件的测量值要覆盖量具工作范围:
用全尺寸检验设备测量了每个零件,以便确定其基准值和确认包含了被检量具的工作范围
《量具GRR报告》
品保部
判定
量具的重复生性和再现性的判定基准如下:
1、数值＜10% 表示该量具系统可接受。
2、10%＜数值 ＜30% 表示该量具系统可接受或不接受，决定于该量具系统之重要性，修理所需之费用等因素。
3、数值＞30% 表示该量具系统不能接受须予以改进
品保部
计数型ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ器
1、确定分析的条件零件：50 pcs评价人：3 人。
12．UCLR、LCLR是单个R的极限，超过极限的值要作圆圈符号，查明原因并纠正，同一评价人采用最初的仪器重复这些读数或剔除这些值，再计算R、Xdiff及RP。
13．将R、Xdiff、RP记入于“量值重复性和再现性报告”（量具重复性和再现性分析数据表）各栏内，代入公式，如5.2.1.3节,计算出结果。
MSA测量系统管理程序
制定部门
生效日期
1．目的
介绍测量系统质量评定的方法，确定测量系统的适用性、经济性，以确保本公司测量系统的满足规定要求和有效性，为产品放行和过程控制提供依据。
2．适用范围
公司产品检验和试验中依据控制计划表中策划，所使用的量具、仪器。
3．名词定义
3.1 R&R:即量具“重复性和再现性”的缩写。
相关部门
记录
参照《质量记录管理程序》
MSA测量系统分析控制程序
MSA测量系统分析控制程序1 目的明确测量系统的评价方法，从而确定测量系统变差，并利用研究结果采取措施，减少测量系统的变差,确保测量系统始终处于可接受状态。
2 适用范围适用于対产品控制计划所渋及到的测量系统的分析、评定的管理。
3 基本职责3.1品管部门负责测量系统稳定性、偏倚、线性、重复性、再现性数据的采集、分析、评定。
4 工作程序4.1测量系统分析対象范围4.1.1在如下情况下须进行测量系统分析：新产品的试生产阶段、采用了新的量具的分析。
4.2 测量系统必须具备以下统计特性a)测量系统必须处于统计控制中，変差只能由普通原因产生而不是特殊原因产生;b)测量系统的変异小于制造过程的変异，并小于制品公差带（设定界限値）;c)测量系统精度是过程変差和公差带两者中精度较高者的十分之一;d)测量系统的最大変差是小于过程変差和公差带两者中的较小者。
4.3 测量系统分析方法的要求4.3.1能正确反映测量系统的统计特性：偏倚、稳定性、线性、重复性和再现性。
4.3.2评定并确认测量系统是否在测量正确的変量。
4.4 测量系统分析方法4.4.1偏倚：4.4.1.1 在精密测量设备上获得被测样件或标准器件的基准値。
4.4.1.2 使用被研究的测量系统测量该样件或标准器件，次数应≧10，求出观测平均値。
4.4.1.3 计算公式： 偏倚＝观测平均値－基准値偏倚占过程変差百分比＝ ×100% 4.4.1.4 如果偏倚相对比较大，应分析其可能原因并作相应措施，可参考以下几方面：a) 标准或基准值误差，应检讨校准程序；b) 仪器磨损，应制定维护或重新修理计划；c) 制造的仪器尺寸不対时，应更换仪器；d) 测量了错误的特性时，应变更测量对象；e) 仪器校准不正确时，应复查校准方法；f) 评价人操作不当时，应复查检验说明书；g) 仪器修正计算不正确时，应重新计算。
4.4.1.5 偏倚分析结果记入《量具的偏倚分析》（FM-6-1102-06）。
MSA分析管理规定
MSA分析管理规定MSA 分析管理规定 1．目的本程序的目的是评价测量系统的适用性，保证满足产品特性的测量需求。
2．范围本程序适用于公司控制方案中要求的和/或顾客要求的所有测量设备的测量系统分析。
3．引用文件《质量记录控制程序》 4．术语和定义 MSA ：指Measurement Systems Analysis（测量系统分析）的英文简称。
测量系统：指用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。
）偏移（准确度）：指测量结果的观测平均值与基准值的差值。
一个基准值可通过采用更高级别的测量设备（如：全尺寸检验设备）进行屡次测量，取其平均值来确定。
重复性：指由一个评价人，采用一种测量仪器，屡次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。
再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。
稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一性时获得的测量值总变差。
线性：指在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。
盲测：指测量系统分析人员将评价的零件予以编号，然后要求评价人以随机抽样方式进行测量，且评价人之间的测量结果不能相互看到或知道。
5．职责 5．1 测量系统分析方案制定：质量部。
5．2 测量系统分析所需涉及到的产品测量工作和数据的收集：使用单位。
5．3 数据收集后之测量设备的测量系统分析工作：质量部。
5．4 测量设备的测量系统分析之结果评价和审查：新产品工程组。
6.工作内容 6.1 在控制方案中选择和配备的量具分辨率应到达公差的十分之一或过程变差的十分之一的要求。
6.2 试生产阶段，凡控制方案中规定的或顾客要求的测量设备均需进行测量系统分析。
同时包括：6.2.1 新购和更新的检验、测量和试验设备用于控制方案中的量具。
6.2.2 用于控制方案中的检验、测量和试验设备的位置移动，并经重新校准。
6.2.3 用于控制方案中的检验、测量和试验设备经周期检定不合格，通过修理并经重新校准合格的量具。
MSA管理办法
文件会签/审批记录文件修订记录1.目的本程序文件针对测量系统进行分析与管理，使测量系统处于受控状态，确保过程输出所测得的数据有效。
2.适用范围适用于本公司的产品在生产过程中所有在用计量器具和测试设备，亦适用于其它客户及本公司内部要求。
3.定义3.1测量过程：是指给具体实体或系统赋值的过程。
3.2测量系统：是指操作、零件、评价人、测量工具、设备的集合（整个获取测量结果的过程）。
3.3 MSA :全称为Measurement System Analysis （测量系统分析），是指对测量体系进行分析的过程。
3.4分辨率：是为测量仪器能够读取的最小测量单位，又称最小刻度读数。
3.5测量系统的术语与评价参数3.5.1偏倚：是指测量结果的观测平均值与基准值的差值；3.5.2线性：是指测量设备在正常工作量程内偏倚的变化量；3.5.3稳定性：是指经过一段长期时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差。
3.5.4重复性（设备EV）:是指由一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。
3.5.5再现性（评价人AV）：由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。
3.5.6GR&R （测量设备的重复性和再现性）：是指测量系统的可重复性与可再现性的联合估计值，英文全称为 Gauge Repeatability and Reproducibility 。
3.5.7分级数（ndc）:是指覆盖预期的产品变差所用不重复的97%的置信区间的数量，其值等于零件变差除以GR&R再乘以一个系数（1.41），用于判断测量体系分辨力是否可接受。
3.6零件间变差（PV）：由同一或不同的评价人，采用同一个的测量仪器，测量不同零件的同一特性时零件测量平均值的变差。
3.7评价人变差（AV）：评价人方法间差异导致的变差。
3.8总变差（TV）:是指过程中单个零件平均值的变差。
TS16949程序文件：MSA控制程序完整版
TS16949程序文件：MSA控制程序完整版1、目的本程序的目的在于规范测量系统分析（MSA）的方法和流程，确保测量数据的准确性和可靠性，以满足产品质量控制和持续改进的要求。
2、适用范围本程序适用于公司内所有用于产品质量控制和过程监控的测量系统，包括但不限于量具、测量设备、测试仪器等。
3、职责31 质量部门负责制定和维护 MSA 计划，并组织实施测量系统分析工作。
32 各使用部门负责提供测量系统的相关信息和协助质量部门进行MSA 工作。
33 计量部门负责测量设备的校准和维护，确保其处于良好的工作状态。
4、术语和定义41 测量系统：是指对测量单元进行量化或对被测的特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合。
42 重复性：是指由同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。
43 再现性：是指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。
44 稳定性：是指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。
45 线性：是指在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。
5、测量系统分析的时机51 新购入的测量设备在投入使用前。
52 测量设备经过维修、校准后。
53 产品的测量特性发生变更时。
54 顾客有特殊要求时。
6、测量系统分析的准备工作61 确定需要进行分析的测量系统和测量特性。
62 选择适当的测量方法和样本数量。
63 准备所需的测量设备和样本零件，并确保其处于良好的状态。
7、测量系统分析的方法71 计量型测量系统分析重复性和再现性分析（GR&R）稳定性分析线性分析72 计数型测量系统分析小样法大样法8、重复性和再现性分析（GR&R）81 选取 10 个代表过程变异的样本零件。
82 选择 3 名测量人员，每名测量人员对每个零件测量 3 次。
83 将测量数据记录在数据表格中。
84 计算重复性和再现性的变差。
08 测量系统分析控制程序(MSA)
1．目的分析测量系统变差，使测量系统处于受控状态，以确保过程输出所测得的数据有效可靠。
2．适用范围本公司生产过程中所有在用计量器具和测试设备。
3. 职责4. 定义（略）5. 工作流程（附图）6 相关文件:6·1 《测量系统分析》(MSA)6·2《监视和测量装置控制程序》 6·3《培训管理控制程序》7.相关表格附件：测量系统分析1. 测量系统的重复性和再现性分析方法（简称%R＆R或%GR＆R）1.1 确定研究主要变差形态的对象/量具（如：游标卡尺、电子秤、硬度计、千分尺等）工序量具、产品和质量特性；1.2 选择使用极差法，均值和极差法中的其中一种方法对检验、测量和试验设备进行分析。
1.3 从代表整个工作范围的过程中随机抽取样品进行。
1.4 %R＆R测量系统分析的工作人员在进行检验、测量和试验设备测量系统的重复性和再现性分析时，必须先对被分析的检验、测量和试验设备进行零件评价人平均值和重复性极差分析，同时所分析的零件评价人平均值和重复性极差之结果必须均受控方可进行被检验、测量和试验设备测量系统的重复性和再现性分析工作；否则该检验、测量和试验设备的测量系统不能检查出零件间的变差且不能将其用于过程控制中。
1.5 零件评价人平均值和重复性极差分析：1.5.1 选择2-3个操作员（至少2人）在全然不知情的状况下利用校准合格的量具对随机抽取的5-10个样品进行盲测，每个操作员对同一样品的同一特性在盲测的情况下重复测量2-3次。
A）被测量的产品由进行%R＆R测量系统分析的工作人员将其进行编号，但这些编号不能让进行测量工作的操作员知道和看到。
B）、让操作员A以随机盲测的顺序测量5-10个样品，等操作员A把5-10个样品第一次测量完后由进行%R ＆R测量系统分析的工作人员将其重新混合，再让操作员A以随机盲测的顺序进行第二次测量5-10个样品，第三次随机盲测则以此类推；在操作员A把5-10个样品共2-3次全部测量完后由进行%R＆R测量系统分析的工作人员将其重新混合，然后让操作员B和/或C在不互相看对方的数据下测量这5-10个样品，操作员B和/或C 的2-3次随机盲测同操作员A的随机盲测方法。
测量系统分析控制程序
4.3.1.6.3 4.3.1.6.4
XDIFF 和 UCLR 计算: XDIFF[Max (X)ABC] - [Min (X)ABC];UCLR=R *D4 当单个 R 值超出 UCLR 时,必须圈出,查明原因;并由原来的评价人采用最初的仪器重复测 量这些超项读数或者剔除这些超项值,由剩余观测值再次平均并计算 R bar。
4.3.1.6 4.3.1.6.1
计算 把每个评价人三次测量的结果的平均值填写在第 4、9 和 14 行，三次测量结果中的最 大值减去最小值填写在第 5、10 和 15 行相应的位置。
4.3.1.6.2
X 和 R 的计算:把第 4、9 和 14 行中的数据取平均值后分别得到 XA、XB 和 XC;同理，分 别计算出 RA、RB 和 RB，将 RA、RB 和 RC 相加的和除以 3 得到 R。
4.3.1.6.5 4.3.1.6.6
将所算出来的 X bar、R、XDIFF 和 UCLR 结果填写到《量具重复性和再现性报告》中。 根据《量具重复性和再现性报告》所提供的公式分别计算仪器/设备变差(EV) 、评价人 变差(AV);系统的重复性和再现性(R&R)和零件变差(PV)。
4.0 4.1 4.1.1 4.1.2
工作程序 分析频率 原则上每一年作一次测量系统分析。 当产品的性能发生变化需要时，或客户有特殊的要求时，由品保部根据情况决定是否需 要增加分析的频率。
4.2
分析内容
4.2.1 4.2.2
测量系统分析的目的是为了了解变差的来源，这些来源可以影响系统产生的结果。 用来描述测量系统变差的分布的特性有： 位置：稳定性、偏倚、线性 宽度或范围：重复性、再现性
4.2.3
我公司的测量系统分析可根据需分析的量具的具体情况和标准的要求选择适当的特性进 行分析。
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三级文件测量系统分析管理程序文件编号：G-YF10-A/0编制：张永审核：批准：生效日期：年月日修订日期：年月日文件更改页文件编号：CX01-JL07注：更改方式分类：换行、换页、换版。
测量系统分析管理程序1.目的1.1了解测量器具量测的性能，是否能满足测量要求。
1.2对新进或维修后的量测设备，能提供一个客观正确的变异分析及评价量测质量。
1.3应用统计方法来分析测量系统的再现性及重复性，作为下列各项事项的参考：1.3.1试验设备是否需要校验；1.3.2是否可供使用；1.3.3是否有人为因素造成其失准；1.3.4 是否需要修正校验的周期及频率。
2.范围适用于公司测量系统的分析。
除客户特别要求，测量系统分析（MSA）只作重复性和再现性的分析。
3.职责3.1主管副总经理或总经理：负责对制定的MSA管理程序进行审核和批准生效，并监督各部门的执行效果，随时检验，对该项目产生的有关技术成果进行评审。
3.2质量管理部门负责公司MSA工作的推进与归档管理工作，负责公司计量仪器的定时校验。
3.3技术研发部门在设备进行更换或购买新计量仪器时，提出该计量仪器的具体技术要求。
4.工作程序4.1测量系统分析的基本概念与原理4.1.1 测量系统分析是指以统计学的方法来了解测量系统中的各个波动源，以及它们对测量结果的影响，并给出本测量系统是否合乎使用要求的判断。
测量系统波动常用的评估项目为：稳定性，偏倚，线性，分辨力，重复性和再现性。
稳定性是指测量系统的各个计量特性（主要是指偏倚和精度）在时间范围内保持恒定的能力。
偏倚是指多次测量理论上的平均值μ与其参考值之间的差异。
线性是指在测量系统预期的量程范围内，各点处的偏倚与参考值呈线性关系。
分辨力是指测量仪器能够读取的最小测量单位。
重复性是指由同一测量人员用同一测量仪器重复测量同一测量对象时所存在的差异。
再现性是指由几个不同的测量人员用同一测量仪器对同一被测对象进行测量时存在的差异。
其中重复性和再现性一同构成了测量系统精确度分析的内容，是测量系统分析的重点。
4.2测量系统分析计划的制订；4.2.1 确定要采用的研究方法；4.2.2 在考虑如下因素基础上确定测量者的数量、样件数量和重复测量次数。
4.2.2.1 特性重要性—如研究测量关键特性的测量系统需要采用更多的样件或增加对每个样件的重复测量次数，以保证分析结果的臵信水平。
4.2.2.2 被测对象的结果特点—对难以取样的零件采用较少数量的样件，增加对每个样件的重复测量次数来保证分析结果的臵信水平。
4.2.3 选择日常使用过程的测量系统人员参加研究。
4.2.4 在过程中选择能够代表过程的整个工作范围的样件。
4.2.5 量具最小刻度应该不超过预期的过程变差的十分之一。
4.2.6 规定测量所应遵循的程序，确定要测量的特性。
4.2.7 设计测量系统分析的研究方式。
4.2.7.1 确保各次读数的统计独立性；4.2.7.2 测量读数应该顾及到可能获得的最接近数值；4.2.7.3 规定专人对测量系统分析的过程进行监督；4.2.7.4 每个测量者都应以同样的方法和步骤获取读数；计量仪器分析频次标准：（1）每年需对计量仪器进行分析，并要有相应的标示。
（2）当使用仪器的操作出现变更时，需对该仪器进行分析。
（3）当使用仪器出现变更时，如出现维修或购买新的仪器，需对该仪器进行分析。
4.3重复性和再现性4.4.1.术语4.4.1.1 重复性—又称设备变差（符号EV），是指在固定和规定的测量条件下由同一测量者使用一种测量仪器，连续（短期）多次测量同一试样的同一特性时获得的测量变差。
它是系统内变差。
4.4.1.2 再现性—又称评价人变差（符号A V），是指由不同的评价人使用相同的测量仪器，测量同一试样的同一特性时测量平均值的变差。
它是系统间变差。
4.4.1.3 GRR—又称量具重复性和再现性，它是对测量系统重复性和再现性合成变差的估计。
4.4.1.4 零件变差—符号PV，指零件与零件之间的变差。
4.4.1.5 分级数—符号ndc，指覆盖预期的产品变差所用不重叠的97%臵信区间的数量。
4.4.1.6 计算公式EV 为设备变差，EV= R *k 1，其中R =（R a +R b +…+R n ）/n ，R n 为第n 个人测量全部样品的极差平均值，n 为评价人数量，k 1为系数，k 1=5.15/d2，d 2为系数，查附表取得。
A V 为评价人变差，A V=其中diff X =MAX （a X ，b X …，n X ）-MIN （a X ，b X …，n X ），k 2为系数，k 2=5.15/d 2，d 2为系数，查附表取得。
n=样本数，r=每个样本的测量次数。
R ＆R 为测量系统误差，R ＆R 2为测量系统方差2MSσ，而2MS σ = 22EV AV +。
PV 为部品误差，PV=Rp*k 3， Rp 为所有观测者对同一样品测量平均值行的极差，k 3为系数，k 3=5.15/d 2，d 2为系数，查表取得，PV 2为过程方差2P σ。
TV 为总误差，TV 2为过程总方差2T σ，2Tσ=2P σ+2MS σ。
Gage R ＆R 为测量系统波动占过程整体波动的百分比，Gage R ＆R=R R TV &=MSTσσ，P/T 为测量系统精度占公差的百分比，P/T= 6MSUSL LSL σ-。
ndc 为分级数，ndc=1.41p MSσσ。
4.4.2.研究前的准备4.4.2.1 样本的选取选择同一型号规格的10个试样，这10个试样必须能代表实际的过程变差范围，即这批试样应包含这个规格的从最大到最小的不同值。
（试样个数由分析人员根据臵信概率和试样的可获得性来确定，一般不得少于5个） 4.4.2.2 人员选择选择一名工艺员负责数据的记录、采集，三名专门从事此试样测量的人员（操作工）进行实际测量。
（实际测量人数由分析人员根据臵信概率要求和选择的试样个数来确定，但不得少于2人） 4.4.2.3 测量器具测量器具选用平时所用的器具或相同型号、精度、分辨率的器具并确保此测量器具准确可靠。
测量设备的分辨力应允许至少直接读取特性的预期过程变差的十分之一。
4.4.3.数据采集步骤4.4.4.数值的计算4.4.5结果分析4.4.5.3 报告表中的数据分析4.4.5.3.1 均值图通过极差均值确定的全部均值和控制限可形成均值图，此图结果提供了测量系统的“可用性”指示。
控制限内部区域表示的是测量灵敏度“噪声”。
因为研究中使用的试样子组数代表过程变差，大约一半或更多的均值应落在控制限以外，这样的测量系统应该能够充分探测试样-试样之间的变差并且测量系统能提供对过程分析和过程控制有用的信息。
如果少于一半的均值落在控制限外，则测量系统缺乏足够的分辨率或样本不能代表期望的过程变差。
4.4.5.3.2 极差图极差控制图用于确定过程是否受控，这也是我们要在测量研究完成前识别并去除特殊点的原因。
若所有的极差都受控，则所有测量者的工作状态是相同的；若一个测量者不受控，说明他的方法与其他人不同；若所有测量者都不受控，则测量系统对测量者的技术很敏感，需要改善以获得有用的数据。
通过极差图可以帮我们确定与重复性有关的统计控制及测量过程中测量者之间对每个试样的一致性。
4.4.5.3.3 报告表中的数据分析报告表左侧测量单元分析中计算的是变差的每个分量的标准偏差。
报告表右侧计算“总变差%”。
该分析可以估计变差和整个测量系统占过程变差的百分比以及其重复性、再现性和零件与零件间的变差的构成，这些信息需要与作图分析的结果相比较，并作为作图法补充。
4.4. 6. 接受准则4.4.6.1 误差低于10%—通常认为测量系统是可接受的。
4.4.6.2 误差在10%到30%之间—基于应用的重要性、测量装臵的成本、维修的成本等方面的考虑，可能是可接受的。
4.4.6.3 超过30%—认为是不可接受的，应该作出各种努力来改进测量系统。
4.4.6.4 过程能被测量系统区分开的分级数（ndc）应该大于或等于5。
4.5. Mintab制作GageR＆R过程示例鉴于我们的产品试验都是破坏性的，此处举出一个破坏性的例子：例：某军工单位生产新型射孔弹，需要进行射孔试验。
考虑到产品无法重复使用，从15批产品中个抽取2个射孔弹，安排3名操作员，每人对15批射孔弹各测取2次射孔深度的数据（假设同一个人在同一批次内的2次测量是重复测量）。
已知公差要求为16，试分析该测量系统。
先在Mintab表中生成数据，从“统计>质量工具>量具研究>创建量具R＆R研究工作表”如下图所示：2.指定“部件数”为“5”，“操作员数”为“3”，“操作员名称”分别为“甲”“乙”“丙”，指定“仿行数”为“2”。
3.打开“选项”，选择“不随机化”。
4.运行命令后生成一个标准序和运行序，在表中输入数据，得到如下图所示的工作表：5.记录人员按照运行序对试样进行测量，并把测量结果填入测量值一列，得到如下图所示：6.选择“统计>质量工具>量具研究>量具R＆R研究（嵌套）”进入，7.指定“部件号或批号”为“编号”，“操作员”为“操作员”，“测量数据”为“测量值”，如下图：8.选择“选项”，在“过程公差”中的“规格上限-规格下限”中输入“16”，“标题”为“破坏性试验的测量系统分析”，如下图所示：9.运行命令后可以得到如下图所示的会话窗口输出和分析图形：上图显示主要是波动源反差分析和测量系统能力的计算结果。
容易看到重复性方差为2.5333；再现性方差为0，则重复性与再现性方差求和为2.5333（此即2MS σ）；过程方差2P σ为11.2583；两项求和得到2T σ=13.7917.再经过一些简单运算可以得到GageR ＆R=42.86>30%，%P/T=59.69>30%，可见重复性和再现性的水平都不高。
ndc=2<5，可见分辨力较弱。
在计算方差分量的估计值时有可能出现负值，这时应自动将其修改为0，这时说明此项方差分量很小。
本例中“再现性”方差分量为0，说明再现性误差很小，但重复性误差实在是太大了，无论是从GageR ＆R ，P/T ，还是从ndc ，都可以看出该测量系统不合格。
我们必须切实改进测量系统进行再次评估，然后才能使用。
这是一张六合一的图形。
其中左上图是波动源各分量大小的条形图，生动地展示了会话窗口中的计算结果。
红色条形图的百分比贡献表示个波动分量的方差与总体波动分量的方差之比，即22MSTσσ ；绿色条形的百分比研究变异表示各波动分量的标准差与总体波动分量的标准差之比，即MSTσσ；蓝色条形的百分比公差表示各波动分量的标准差的6倍与公差之比，即6MSUSL LSLσ-。