角度测量的光学方法

角度测量的光学方法
角度测量的光学方法

第28卷第2期2002年3月

光学技术OPTICAL TECHN IQU E Vol.28No.2

March 2002

文章编号:100221582(2002)022*******

角度测量的光学方法

Ξ

浦昭邦,陶卫,张琢

(哈尔滨工业大学305信箱,黑龙江哈尔滨 150001)

摘 要:光学测角法是高精度动态角度测量的一种有效的解决途径。对目前发展较快的几种角度测量的光学方法———圆光栅测角法、光学内反射小角度测量法、激光干涉测角法和环形激光测角法进行了详细的介绍,并且分别给出了每种方法的测量原理和发展现状,比较了各种方法的优缺点,给出了每种方法的应用场合和发展前景。

关键词:角度测量;光学方法;转角;整周中图分类号:TH741.2 文献标识码:A

Angle measurement with optical methods

PU Zhao 2bang ,T AO Wei ,ZH ANG Zhuo

(Harbin institute of Technology ,Harbin 150001,China )

Abstract :Optical methods are one of the most effective way of dynamic angle measurement with high accuracy.Several well developed optical methods of angle measurement ,such as angle measurement with radical gratings ,angle measurement based on internal 2reflection effect ,laser interference angle measurement system and ring laser goniomcters ,are described in de 2tail.The principle ,present status and application situation of each method is dis played.The superiority and defects of these methods are lined out.The development future of each method is given at last.

K ey w ords :angle measurement ;optical methods ;rotation angle ;whole round

1 引 言

角度测量是几何量计量技术的重要组成部分,发展较为完备,各种测量手段的综合运用使测量准确度达到了很高的水平。角度测量技术可以分为静态测量和动态测量两种。对于静态测量技术来说,目前的主要任务集中在如何提高测量精度和测量分辨力上[1~3]。随着工业的发展,对回转量的测量要求也越来越多,因此人们在静态测角的基础上,对旋转物体的转角测量问题进行了大量的研究,产生了许多新的测角方法。

测角技术中研究最早的是机械式和电磁式测角技术,如多齿分度台和圆磁栅等,这些方法的主要缺点大多为手工测量,不容易实现自动化,测量精度受到限制[4,5]。光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视,尤

其是稳定的激光光源的发展使工业现场测量成为可能,因此使光学测角法的应用越来越广泛,各种新的光学测角方法也应运而生。目前,光学测角方法除众所周知的光学分度头法和多面棱体法外,常用的还有光电编码器法[6]、衍射法[7,8]、自准直法[9,10]、光纤法[11]、声光调制法[12,13]、圆光栅法[14~17]、光学内反射法[18~23]、激光干涉法[24~28]、平行干涉图法[29,30]以及环形激光法[31~33]等。这些方法中的很多方法在小角度的精密测量中已经得到了成功地应用,并得到了较高的测量精度和测量灵敏度,通过适当的改进还可对360°整周角度进行测量。对于众所周知的光学分度盘、轴角编码器、光电光楔测角法等来说,由于应用较多,技术比较成熟,本文不作具体介绍。下面主要介绍几种近几年来发展起米的小角度测量方法和可用于整周角度测

量的方法。

2 圆光栅测角法

圆光栅是角度测量中最常用的器件之一。作为角度测量基准的光栅可以用平均读数原理来减小由分度误差和安装偏心误差引起的读数误差,因此其准确度高、稳定可靠。但在动态测量时,在10r/s 的转速下,要想达到1′的分辨力都非常困难。目前我国的国家线角度基准采用64800线/周的圆光栅系统,分辨力为01001″,总的测量不确定度为0105″。该测量方法主要是在静态下的相对角度测量。英国国家物理实验室(NPL )的E W 图1 NPL 测角仪原理图Palmer 介绍了一台作为角度基准的径向光栅测角仪,如图1所示,既可用于测角,又

可用于标定。其原理是利用两块32400线的径向光栅安装在015r/s 的同一个轴

套上,两个读数头一个固定,一个装在转台上连续旋转,信号间的相位差变化与转角成正比。仪器中用一个自准直仪作为基准指示器,可以测得绝对角度,利用光栅细分原理可测360°范围内的任意角度,附加零伺服机构可以对转台进行实时调整,限制零漂。用干涉仪作为读数头,可进行高精度测量。按95%置信度

水平确定其系统误差的不确定度为0105″[15]

德国联邦物理研究院(PTB )的Anglica T ubner 等人用衍射

8

61Ξ收稿日期:2001205224;收到修改稿日期:2001206218

基金项目:国家自然科学基金资助项目(59875017)

作者简介:浦昭邦(19402),男,哈尔滨工业大学教授,博士生导师,主要从事光学测量、图像处理方面的研究。

图2 衍射光栅干涉法

测角光路原理图光栅干涉仪测量转动物体,能够检测角加速度、角速度、转角。检测原理光路图如图2所示。单频He 2Ne 激光器发出的光经过柯斯特分束棱镜后在出射方向上分为两束平行光,这样由于气流和温度变化引起

的两条光路的变化相等。经过变形透镜后直射或斜射到随被测件一起转动的反射型衍射光栅上,该光栅

是PTB 特制的2400线/mm 正弦相位光栅。干涉信号由光电探测器接

收,该系统检测正弦信号时测量灵敏度不确定度为013%,测旋转物体时相位差不确定度为012%,该系统的主要问题是灵敏度非常复杂[16]。在此基础上作了相应的改进,并进行了标定[17]。

3 光学内反射小角度测量法

光从光密介质传到光疏介质时,当入射角大于临界角时发

生全反射现象。内反射法小角度测量就是利用在全反射条件下入射角变化时反射光强度的变化关系,通过反射光强的变化来测量入射角的变化的。由于入射角在临界角附近线性较好,随着入射角的微小变化,反射光的强度发生急剧变化,因此测量时通常定义一个临界角附近的初始角θ0,被测角为相对于该初始

角的角位移Δ

θ,这样就可以充分利用临界角附近灵敏度较高的特点,进行小角度的高精度测量。该测量方法存在的一个问题是入射角和反射光强之间的关系是非线性的,灵敏度因此受到限制。为了减小函数非线性对测量结果的影响,采用差分式测图3 光学内反射差分式测量原理

量,其原理如图3所示。首

先分别测出θ0+Δθ和θ0-Δθ的反射光强的变化,然后

用线性化公式进行处理,以

得到相应的角度值。内反射法是由P S Huang 等人提出来的[18],用该方法制成的测角仪体积可以做得很小,因此特别适用于尺寸受限制的空间小角度的在线测量,而

且结构简单,成本低。测量图4 多次反射形临界角

角度传感器原理

1—激光二极管;2—准直透镜;3—通光孔;4—平面反射镜;

5—λ/4波片;6—偏振分光镜;7—分光镜;8,9—临界角棱镜;

10,11—光电接收器。的灵敏度取决于初始入射角和全反射的反射次数,增加反射次数可以提高灵敏度,提高分辨力,但测量范围就相应变小。因此P S Huang 等人又在此基础上制成多次反射型临界角角度传感器,用加长的临界角棱镜代替图3的直角棱镜以增加反射次数,如图4所示。该仪器可用于表面形貌、

直线度、振动等方面的测量。在测量角度方面,在3弧分范围内的分辨力为0.02弧秒。在接下来的工作中,P S Huang 等人又将其测角范围扩大到30弧分,输出

信号峰2峰值的漂移小丁0104孤秒[19,20]。该仪器的缺点是成

本高,加长的临界角棱镜加工困难。台湾的National Chiao Tung

Unlversity 的Ming 2Hong Chin 等人在此原理的基础上,提出了全内反射外差干涉测角方法。用外差干涉仪测量S 偏振光和P 偏振光之间的相位差,将传感器的测角范围扩大到10°,分辨力

随入射角的大小变化,最佳分辨力可达8×10-5度[2]

。Hong K ong University of Science and Technology 的Wei Dong Zhou 等人采用差动共光路结构,大大提高了系统的线性,并获得了013角秒的最佳分辨力[22]。天津大学和日本东北大学在这方面也进行了一些研究[23]。

4 激光干涉测角法

角度可以表示为长度之比,长度的变化可以用激光干涉条纹数的变化来表示,因此长度测量中准确度最高的激光干涉法在角度测量中得到了广泛的应用。干涉测角法不仅可以测量小角度,而且也可以测量整周角度。4.1 激光干涉小角度测量

干涉小角度测量的基本原理可以表示成图5的形式。采用迈克尔逊干涉原理,用两路光光程差的变化来表示角度的变化,图5 激光干涉测角的基本原理图

1—激光器;2—扩束镜;3—分光镜;

4,5—平面镜;6—角锥棱镜;7—转台;8—成像调节器;

9—光电接收器;

10—可逆计数器。经角锥棱镜反射的一路光的光程随着转角的变化而变化,因此干涉条纹也发生相应的移动,测得条纹的移动量,就可测得转台的转角[24]。在此原理基础之上发展起来的角度测量系统

都致力于光路结构的改进和消除各种误差因素的影

响。经过改进后可以测量

大约90°的角度,但各种误差因素随着所测角度的增

大而急剧增加,因此该系统的测量范围限制在几度内,在此范围内具有极高的测量准确度。这种技术已经发展得非常成熟,美国、日本、德国、俄罗斯等国家早已将激光干涉小角度测量技术图6 新型迈克尔逊测角装置作为小角度测量的国家基准[25]。为了消除转盘径向移动对角度测量的影响,采用如图6所示的测量光路,用两个角锥棱镜

形成差动测量,大大提高了系统的线性和灵敏度。为了增强干涉仪抗环境干扰的能力,可以采用双频激光外差干涉测量法,用

双频激光代替普通光源。用这种方法测量平面角,灵敏度可达

01002″[26]

 412 激光干涉任意角测量方法

上面介绍的干涉法小角度测量系统,测量范围大约在几度以内,而大范围的角度测量要求越来越多,为了解决整周角度的测量问题,对上述方法进行了相应的改进,提出了几种新的激光干涉任意角度测量方法。

4.2.1 用双平面反射镜实现任意角度测量

该系统的构成如图7所示。系统的核心部分由旋转镜

RM 、旋转镜悬架SU 以及防倾斜装置TP 构成。防倾斜装置TP

9

61第2期

浦昭邦,等: 角度测量的光学方法

图7 用双平面镜实现任意

角度测量的系统原理图

TP —防倾斜装置;SU —旋转镜悬架;BS —分光镜;RM —双平面反射镜;

M 1,M 2—

平面镜。能够保证在一周的旋转范围内,由旋转镜RM 的两镜面构成的直角的角平分线始终与入射的激光束平行。当旋转镜悬架SU 转动θ角时,旋转

镜RM 在光线入射方向移动相应的距离,光电元件接收的干涉条纹数发生相应的变化[25]。该方法存在的主要问题是平

面镜的表面形貌和两平面镜的直角误差都会对测量结果产生影响,另外

机械导杆的运动平稳度

也会使结果产生偏差,需要用算法进行修正。

4.2.2 定值角型任意角干涉测量技术图8 双定值角型任意角干涉测量原理光路图

1—激光器;2—扩束镜组;3—针孔滤波器;4—CCD 元件;

5—准直镜;6—限束光阑;

7—平面镜;8—分光镜;9—长平面镜;10—平面镜;

11—平面镜;12—被检多面棱体。

两块平面镜以一定的夹角排列而构成的光学组件即为定值角,用标准定值角取代迈克尔逊干涉仪中的测量反射镜就构成定值角干涉仪。天津大学根据该原理设计的一个双定值角型测角系统光路如图8所示。由激光器1出射的光束经扩大镜组2、针孔滤波器3、准直透镜5、限束光阑6、平面

反射镜7、分光镜8后分成两束,分别进入由

长平面镜9和被检多面

棱体12构成的双定值

角,经反射后在分光镜8上产生干涉,干涉信号由CCD 元件4接收。这一路光称为多面棱体检定光路,与其对称的右半部分称为双定值角测量2跟踪干涉仪,工作原理与其完全相同。该系统能在0°~360°范围内实现任意角度的高准确度测量,测量不

确定度优于013″[27]。该方法的主要问题是标准定值角的加工及安装精度比较难保证,而且测量过程中需要一套双定值跟踪系统,结构比较复杂。

4.2.3 双频激光楔形平板干涉法测量任意转角

利用双光线经过楔形平板时光程差变化与平板转角的关系,测得光程差的变化,从而得出相应的转角变化。系统基本原理如图9所示。由双频激光器发出的激光束经分光镜分成两束,反射光经检偏器1后由光电接收器1接收,形成参考信号。透射的一束光是测量光路,经过偏振分光镜将偏振方向相互垂直的两路光分开,频率分别为f 1和f 2,两路光分别经过λ/4波片和楔形平板后,由角锥棱镜反射回到偏振分光镜产生干涉信号,经检偏器后由光电接受器2接收,将光电接收器1和2的信号送入信号处理电路,可得到多普勒频差,该频差值随光程差而变,即随平板转动而变化,因此可以得到楔形平极转角的信息。系统中光线4次通过楔形平板,采用了差动结构,可以消除楔形

平板的平移和摆动误差产生的影响。该系统可以自动判别转台的转动方向,可测量360°范围内的转角,动态响应范围为4r/s 。但是,系统灵敏度在整个测量范围内不是常数,为了克服这一缺点,使用在空间相互垂直的两套测量光路,以消除90°和270°两个死点,这样就使系统的体积非常庞大,结构复杂。另外,由于使用了多个角锥反射镜,使光路装调比较困难,很难在实际中应用。

图9 双频激光楔形平板

干涉测量转角原理图

为了解决以上问题,本文作者在此原理的基础上提出了一种基丁光栅楔形平板的双频激光干涉角度测量的新方法,可以简化测量装置,相应的提高系统灵敏度和测量精度。

由以上所述可以看出,激光干涉测角法的最大优点是准确度高、信号均匀性好、信噪比高,有希望达到

通常方法达不到的准确度,

因此在高精度角度测量中

得到了大量地应用。其缺点是结构复杂,较难在现场使用。随着激光干涉测量仪器的改进及新型激光光源的诞生和改进,可望得到进一步发展。

5 环形激光测角法

环形激光器已发展成为在360°整周角度范围内的高测量精度和高测量分辨力的角度和角速度传感器,在惯性导航和角度定位方面有重要的用途。环形激光是转速测量准确度最高的方法,转速测量相对准确度可达到10-6。研究环形激光器最多的国家是德国和俄罗斯。用该技术测角有以下优点:

(1)易实现自校,可以在测量过程中确定环形激光器的比例因子,从而大大减小了测量误差。

(2)可以实现高速转角测量,动态响应范围宽。

(3)可以在转速测量的同时实现转角测量,还可以测量瞬态转速。

缺点是加工工艺难以保证,成本高,对环境要求严格,这是环形激光器没有得到大量应用的最主要原因。主要误差来源是“频锁”、“零漂”、“频率牵引”和地球自转的影响。图10 环形激光器任意角度

干涉测量原理图

环形激光测角的基本原理如图10所示。当被检量具和环形激光器相对于静止的光电自准直仪同步转动时,在瞄准轴与量具

棱面法线相重合

的瞬间,被测角

度转换成由光电自准直仪产生的光电流触发和停止脉冲所需的时间间隔,接口装置在此间隔内对环形激光脉冲读数[31]。圣彼德堡电子大学和PTB 合作研制的精密环形激光测角计可用于光学多面体和光学编码器的校准、旋转物体的外部角度测量和测角仪本身的内部旋转角测量。该装置的原理和上面介绍的基

71光 学 技 术 第28卷

本相同。为了消除环形激光器比例系数绝对值长时间波动引起的测量误差,与测量过程同时进行激光器校准,即用2π角度(整转)内的周期数相加的方法确定环形激光器差频周期的角值。与标准角度测量方法相比,该装置在1r/s的转速范围内,测量准确度达到0.5μrad(0.1″)[32]。他们还将环形激光用于衍射光谱仪衍射角的测量,在0°~360°范围内测量误差大约为0105弧秒[33]。

6 结 论

通过对目前常用的几种光学测角方法的介绍可以看出,光学测角法在角度测量中已经得到了广泛的应用,并且达到了很高的测量精度。圆光栅在角度测量中的应用非常广泛,在整周任意角度的测量中也达到了极高的准确度。其缺点是对光栅与转台的对心准确度要求较高,高准确度光栅的制作加工困难。光学内反射法小角度测量的主要优点是体积小,可以做成袖珍式测角仪,但其测量范围也很小,因此只能用于小角度测量。激光干涉测角技术的最大优点是测量精度高,小角度测量已经达到了极高的准确度,各种不同的测量仪器在静态和动态测量的条件下也具有结构简单、稳定性好、仪器智能化等许多优点。作适当的改进,消除误差因素可进行整周角度测量。但目前的效果不很理想,测量精度不是很高,而且体积庞大,不适合在现场使用,因此还需要作进一步研究。在整周角度测量中,环形激光器被认为优于目前任何其它技术。该方法的缺点是只能实现动态测量,对测量条件要求很高,但该方法在动态整周角度测量方面是一个非常有前途的发展方向。

参考文献:

[1]Aira Toyama.Present state of precision angle measurement technique in

Japan[J].Bulletin of the Japan,1981,15(1):1—6.

[2]陆德基.中国角度计量50年的进展[J].计量与测试技术,1999,6:

4—5.

[3]孙方金.角度计量[J].宇航计测技术,1999,19(2):22—24.

[4]孙方金.精密测角转台[J].计量学报,1986,17(4):291—295.

[5]胡明,等.InSb精密角位移传感器的研究[J].仪表技术及传感器,

1998,2:1—3.

[6]T Masuda,Mkajitani.An automatic calibration system for angular en2

coders[J].Precision Engineering,1989,11(2):95—100.

[7]Jing F S.Angular measurement by means of rotation of linear grating

[J].CIRP Ann,1992,41(1):585—587.

[8]Zhang G X,Wang C H,Li Z.Improving the accuracy of angle mea2

surement system with optical grating[J].CIRP Annals,1994,43(1): 457—460.

[9]I A Machtovo.High2precision real2time measurement of large angular

displacements of structures[J].Sov J Opt Technol,1993,60(1):73—

74.

[10]蒋本和,等.用激光准直及CCD检测的小角度测量系统[J].激光

与红外,1998,28(4):233—234.

[11]Ilev Ilko,Kumagai Hiroshi,Toyoda K oichi.Simple wide2range

method for angle measurement with a point fiber2optic output[J].Ap2 plied Optics,1997,36(1)376.

[12]Lijiang Zeng,Hirokazu Matsumoto,K eiji kawachi.Scanning beam

collimation method for measuring dynamic angle variations using an a2 cousto2optic deflector[J].Optic Engineering,1996,35(6):1662—1667.

[13]李向,等.声光外差干涉精密动态角度测量系统[J].中国仪器仪

表,1995,6:11—15.

[14]Torroba R,Tagliaferri A A.Precision small angle measurements with

a digital Moire technique[J].Optics Communications,1998,149(1):

213—216.

[15]E W Palmer.G oniometer with continuously rotating gratings for use as

angle standard[J].Precision Engineering,1988,10(3):147—152. [16]Angelica Tàubner,Hans2Jürgen von Martens.Diffraction grating in2

terferometer for the accurate measurement of rotational quantities[J].

Measurement,1995,16:71—80.

[17]Angelica Tàubner,Hans2Jürgen von Martens.Measurement of angu2

lar accelerations,angular velocities and rotation accelerations,angular velocities and rotation angles by grating interferometry[J].Measure2 ment,1998,24:21—

[18]P S Huang,S K iyono,K amada.Angle measurement based on the in2

ternal2reflection effect:a new method[J].Applied Optics,1992,31

(28):6047—6055.

[19]P S Huang,J Ni.Angle measurement based on the internal2reflection

effect and the use of right2angle prism[J].Applied Optics,1995,34

(22):4976—4980.

[20]P S Huang,J Ni.Angle measurement based on the interanl2reflection

effect using elongated critical2angle prism[J].Applied Optics,1996,35

(13):2239—2241.

[21]Ming2Hong Chiu,Der2Chin Su.Angle measurement using total2inter2

nal2reflection heterodyne interferometry[J].Optic Engineering,1997, 36(6):1750—1753.

[22]Weidong Zhou,Lilong Cai.Interferometer for small2angle measure2

ment based on total internal reflection[J].Applied Optics,1998,37

(25):5957—5963.

[23]刘庆纲,叶声华,清野慧.光学内反射型精密角度传感器[J].仪器

仪表学报,1998,19(2):124—128.

[24]Ikram Masroor,Hussain Ghazanfar.Michelson interferometer for pre2

cision angle measurement[J].Applied Optics,1999,38(1):113—120.

[25]Richard Jabconaki.Angle interference measurement[A].Processing

of the International Synposium on Metrology for Quality Control in Pro2 duction Tokyo[C].1984.184—189.

[26]Pan Shi,E Stijins.Improving the linearity of the michelson interfero2

metric angular mearsurement by a parameter compensation method[J].

Applied Optics,1993,32(1):44—51.

[27]G Zhang,C Wang,Xu Hu,F Jing.A laser interferometric system for

measuring arbritrary angles[J].Annals of the CIRP,1987,36(1): 395—398.

[28]张琢,等.双频激光楔形反干涉法测量转角[J].计量技术,1994,

(8):3—5.

[29]X Dai,O Sasaki,J E Greivenkamp,T Suzuki.Measurement of small

rotation angles by using a parallel interference pattern[J].Appl Opt, 1995,34:6380—6388.

[30]Xiaoli Dai,Osami Sasaki,John E Greivenkamp,Takamasa Suzuki.

High accuracy,wide range,rotation angle measurement by the use of two parallel interference patterns[J].Applied Optics,1997,36(25): 6190—6195.

[31]徐毅,等.环形激光精密测角[J].计量学报,1981,2(3):163—

168.

[32]Filatov Yu V,Loukianov D P,Probse R.Dynamic angle measurement

by means of a ring laser[J].Metrologia,1997,34(4):343—351. [33]M N Bournachev,Yu V Filatov,K E K irianov,D P Loukianov,A F

Mezentsev,P A Pavlov.Precision angle measurement in a diffractional spectrometer by means of a ring laser[J].Measurement Science& Technology,1998,9(7):1067—1071.

(上接第167页)

自制小功率CO2激光驱动电源;使用吉林大学研制的12 3W CO2激光管进行了强度与束斑调整实验。束斑观测采用的是南京第55研究所的TGS热释电热像仪。实验结果表明能够满足系统要求。

6 采用相干技术提高精度

在红外系统中应用的激光源满足相干长度远大于所用光学系统中的光程,反射光很容易干涉,这正是应用激光作为光源的另一独特之处。对干涉条纹进行判读,可以获得λ/20~λ/50的分辨力。所以使用CO2激光源即可获得0.5~0.2μm的尺寸分辨力。这种分辨力在利用可见光进行旋转反射法测量中心偏时是达不到的。对指标的自准反射像采用干涉技术判读,可以较大地提高测量精度[4]。为实现相干测量,首先激光源模式稳定性要高,其次整体上包括光路及机械系统要求调整平滑和防震。

参考文献:

[1]王肇勋.整组物镜各面偏心差的测量[J].光学工程,1980,(1):1—

11.

[2]高志荣.高精度中心偏测量仪的设计和使用[J].光学工程,1983,

(3):40—48.

[3]Grammatin A P,Filonov A S.Summing of second2order astigmatism in

decentered optical systems[J].Sov J Opt Technol,1985,52(6):337—340.

[4]Chen Jinbang,Chen Lei,Huang Shenwang.Infrared phase2shifiting

digital interferometer[J].SPIE,2899:532—538.

[5]Gubel N N.Aberrations of Decentred Optical Systems[M].Leningrad:

Mashinostroenie Press,1975.

[6]关于Zeiss方式的镜头偏心测定装置的实验研究[J].JOERA技术资

料,1973,10(5).

171

第2期浦昭邦,等: 角度测量的光学方法

速度测量方法概述

速度测量方法概述 一、速度测量方法 M法是测量单位时间内的脉数换算成频率,因存在测量时间内首尾的半个脉冲问题,可能会有2个脉的误差。速度较低时,因测量时间内的脉冲数变少,误差所占的比例会变大,所以M法宜测量高速。如要降低测量的速度下限,可以提高编码器线数或加大测量的单位时间,使用一次采集的脉冲数尽可能多。 T法是测量两个脉冲之间的时间换算成周期,从而得到频率。因存在半个时间单位的问题,可能会有1个时间单位的误差。速度较高时,测得的周期较小,误差所占的比例变大,所以T法宜测量低速。如要增加速度测量的上限,可以减小编码器的脉冲数,或使用更小更精确的计时单位,使一次测量的时间值尽可能大。 M法、T法各且优劣和适应范围,编码器线数不能无限增加、测量时间也不能太长(得考虑实时性)、计时单位也不能无限小,所以往往候M法、T法都无法胜任全速度范围内的测量。因此产生了M法、T法结合的M/T 测速法:低速时测周期、高速时测频率。 二、光电编码器 1、工作原理 光电编码器,是一种通过光电转换将输出轴上的机械几何位移量转换成脉冲或数字量的传感器。这是目前应用最多的传感器,光电编码器是由光栅盘和光电检测装置组成。光栅盘是在一定直径的圆板上等分地开通若干个长方形孔。由于光电码盘与电动机同轴,电动机旋转时,光栅盘与电动机同速旋转,经发光二极管等电子元件组成的检测装置检测输出若干脉冲信号,通过计算每秒光电编码器输出脉冲的个数就能反映当前电动机的转速。此外,为判断旋转方向,码盘还可提供相位相差90º;的两路脉冲信号。

2、倍频电路 倍频电路一般是指电机反馈变频器的倍频,一般4倍频居多。举个例子,如果电机装了一个1000线编码器,如果在没有倍频的情况下,电机每转一圈可输出1000个脉冲;如果经过4倍频电路处理,则可以得到一圈4000个脉冲的输出,电机一圈为360°,所以每个脉冲代表的位置为360°/4000,相比360°/1000, 分辨率为4倍。 3、频压转换 在测量转速(频率)时,目前多采用数字电路,但有些场合则需要转速(频率)的变化与模拟信号输出相对应,这样便可在自动控制系统实验中用频/压转换器件代替测速发电机,从而使实验设备简化。

小尺寸物体光学测量方法

小尺寸物体光学测量方法 李闯闯 (华东师范大学,物理与材料学院,上海市,邮编:200000) 摘要:测量微小长度的方法很多,除了游标卡尺,螺旋测微器,读书显微镜等简单的长度测量方法外,利用激光强度高,干涉性好,方向性好的特点,设计出的光学测量方法也有很多,本文将先对实验中的线阵CCD测量物体尺寸进行简单介绍,然后再介绍两种其他的小尺寸物体光学测量方法:利用光学多道仪测量,照相法测量。 1.线阵CCD测量物体尺寸 随着科学技术的发展和工业自动化检测程度的提高,传统的人工接触式的测量由于测量精度和效率的限制已经无法满足大规模生产的需求。高精度,高速度的在线非接触测量已经成为检测行业的发展趋势。产于上世纪70年代的电荷耦合器件(CCD)是现代最重要的图像传感器的一种。 CCD是由一种高感光度的半导体材料制成的模拟集成电路芯片,借助光学系统和驱动电路,图像经光敏区后可以实现光电信号的转换、存储和传输,从而将空间域的光学图像转换为时间域的离散电压信号。 线阵CCD具有灵敏度高、光谱响应宽、集成度高、结构简单、成本低廉等诸多优点,因此在检测方面应用越来越广。 (1)线阵CCD测量原理 装置由远心照明光源系统,待测物体,线阵成像系统,线阵CCD图像采集系统和计算机数据处理系统构成。 远心照明光源发出平行光术均匀投射到待测物体,经成像物体成像在线阵CCD的光敏阵列上。由于待测物体的成像面上光照度不同,线阵CCD光敏阵列上的照度分布也就不同,因此,输出信号中将包含待测物体的尺寸信息,如下图所示。再通过线阵CCD及其驱动器将其转换为图二右侧所示的时序电压信号(N1,N2是待测物体的边缘信号) 为了提取图二所示的边缘信息,通常要对线阵CCD输出的信号进行二值化处理。其方法有固定阈值法,浮动阈值法和微分阈值法。实验中我们采用的是浮动阈值法。软件采集到一行周期U0输出的数据之后,根据背景光信号的强度信号

光学测量复习题

1.光学测量:对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。 2.直接测量:无需对被测的量与其他的实测的量进行函数关系的辅助计算,而直接得到被测值的测量。 3.间接测量:直接测量的量与被测的量之间有已知的函数关系,从而得到该被测量的测量。 4.测量误差原因:(测量装置误差)(环境误差)(方法误差)(人员误差)。 5.测量误差按其特点和性质,可分为(系统误差)、(偶然误差)和(粗大误差)。 6.精度:反应测量结果与真实值接近程度的量。 7.精度分为:①正确度:由系统误差引起的测量值与真值的偏离程度②由偶然误差引起......③由系统误差和偶然误差引起的...... 8.偶然误差的评价:(标准偏差)(极限误差)。 9.正态分布特征:(单峰性)(对称性)(有界性)(抵偿性)。 10.确定权的大小的方法:(根据测量次数确定)(由标准偏差确定)。 11.对准(横向对准)是指在垂直于瞄准轴方向上,使目标和比较标记重合或置中的过程,又称横向对准。 12.调焦(纵向对准)指目标和比较标记瞄准轴方向重合或置中的过程。 13..对准误差:对准残留的误差。 14.调焦误差:调焦残留的误差。 15.常用调焦方式:(清晰度法)、(消视差法)。 16.清晰度法:以目标象和比较标志同样清晰为准,其调焦误差由几何景深和物理景深决定。 17.消视差法:以眼睛垂直于瞄准轴摆动时看不出目标象和比较标志有相对错动为准,调焦误差受对准误差影响。 18.平行光管:是光学测量中最常用的部件,发出平行光,用来模拟无限远目标,主要由(望远物镜)和(安置在物镜焦平面上的分划板)构成。 19.调校平行光管的目的:是使分划板的分划面位于物镜焦平面上。调校方法:(远物法)、(可调前置镜法)、(自准直法)、(五棱镜法)和(三管法)。 20.自准直仪:(自准直望远镜)(自准直显微镜)。 21.自准直目镜是一种带分划板和分划板照明装置的目镜。一般不能单独使用,应与望远镜物镜配合构成自准直望远镜;与显微镜物镜配合构成自准直显微镜。它们统称自准直仪。 22.常用自准直目镜:(高斯目镜)、(阿贝目镜)、(双分划板式自准直目镜)。 23.剪切干涉法常见的平板式横向剪切干涉仪,它是以干涉条纹成无限宽,即干涉场中呈均匀一片作为判别光束准直性基准的。 24.双楔板剪切干涉法的原理? 解:假设楔板的棱边平行于x轴(棱边呈水平状态),并倾斜至于光路中。一离焦板的光波Kd(x2+y2)经楔板前,后面反射,则反射波沿x方向被横波向剪切。干涉条纹是一组与x轴倾斜的直线簇,在重叠区域形成的条纹可表示为(nkβ)y+(KDs)x=mπ 25.V棱镜法的检测原理:当单色平行光垂直的入射到V棱镜的ED面时,若被检玻璃折射率n与V棱镜折射率n0完全相同,则出射光不发生任何偏折的射出;若n与n0不等,则出射光相对入射光有一偏折角θ,若测出θ,就可计算出折射率。 26.V棱镜折光仪:主要用于平行光管、对准望远系统、读数显微镜系统和标准V块组成。 27.V棱镜折光仪的使用方法:平行光管分划板的刻线是在水平透光宽缝中间刻一细长线。由平行光管射出的单色平行光束经V棱镜和待检试样后,产生偏折角θ,转动望远镜对准平行光管的刻线象。当望远镜对准时,带动度盘转动。有读数显微镜读得角θ,其整数部分由度盘读出,小数部分由测微目镜读出。 28.最小偏向角法的测量原理:单色平行光沿MP方向射出,入射光与出射光的夹角δ为偏

落点实时光学测量系统的设计与实现

落点实时光学测量系统的设计与实现 飞行器落点的测量是某部队一项重要的任务,落点测量是否及时准确将对飞行试验结果的判别、后续残骸的搜索等产生很大的影响。但受飞行试验落点区域条件限制和机动性要求,超声波、雷达或无线电等定位设备在本文中并不适合,简易的光学测量系统最适合本文的应用。 传统的落点光学测量主要依靠某型望远镜捕获目标,利用人工读数的方式获得角度值信息,再通过数传电台将各观测点的信息传输至计算中心,中心操作手再手工将角度信息录入计算软件,得出交会结果,最后进行结果复核计算。这种传统的方式存在时效低、人为误差大等缺点,需要构建更加自动化、精确度更高的落点实时光学测量系统。 本论文正式针对上述实际问题,将比较成熟的光电编码技术与易于操作的望远镜进行组合,增加微处理器控制电路及收发数据、交会处理的软件,使操作手确认捕获到目标后,能自动完成角度信息采集、传输、交会计算和向上级指挥所发送结果的全过程,提高了测量速度、效率和精度。本文的主要内容为:1.落点实时光学测量系统的关键技术研究。 介绍了该系统中的关键技术,两点前向交会方法、高斯投影、光电编码技术等,并通过推导计算得出一种基于最小二乘法的交会算法的优化方法。2.落点实时光学测量系统的需求分析。 基于落点测量的实际情况,对落点测量的环境、条件及主要流程进行了全面分析。对需要开发的落点实时光学测量系统的需求进行分析。 3.落点实时光学测量系统的设计。在需求分析的基础上,完成系统设计,主要包括体系架构、功能结构、网络拓扑等。

4.落点实时光学测量系统的实现。搭建系统环境,采购并接入光电编码器、数传电台等硬件,完成了数据通信、数据处理、交会计算和辅助决策等功能的实现。 在此基础上,通过模拟计算对优化算法进行了验证。5.落点实时光学测量系统的测试。 为确保系统有较高的可靠性,对系统进行相关测试,发现并解决系统中存在的问题。目前,该系统已实际应用,机动性强、受环境干扰小、性能稳定,实现了提高落点测量速度,减小人为差错的目标。

四等水准测量步骤简述

四等水准测量步骤简述 一、目的和要求 (1)进一步熟练水准仪的操作,掌握用双面水准尺进行四等水准测量的观测、记录与计算方法。 (2)熟悉四等水准测量的主要技术指标,掌握测站及线路的检核方法。 视线高度:三丝能读数;视线长度≤80m;前后视距差≤3m;前后视距累积差≤10m;红黑面读数差≤3mm ;红黑面高差之差≤5mm;观测次数:与已知点联测是往返各一次,闭合路线是往一次;附和或闭合路线闭合差往返较差:±20√L 二、水准测量原理 水准测量是利用水准仪提供的一条水平视线,对竖立的两观测点上的水准尺进行读数,来测定地面两点之间的高差,再由已知点推算出未知点的高程。如下图,欲测定A、B两点上的高差h,可在A、B两点上分别竖立水准尺,并在A、B两点之间安置一台水准仪。根据仪器的水平视线,在A尺上读数,设为a,在B尺上读数,设为b,则A、B两点之间的高差为 h=a-b 三、仪器和工具 水准仪1台,双面水准尺2支,尺垫2个 DS 3

四、方法与步骤 1、了解四等水准测量的方法 双面尺法四等水准测量是在小地区布设高程控制网的常用方法,是在每个测站上安置一次水准仪,但分别在水准尺的黑、红两面刻划上读数,可以测得两次高差,进行测站检核。除此以外,还有其他一系列的检核。 2、四等水准测量的实验 (1)从某一水准点出发,选定一条闭合水准路线。路线长度200~400米,设置4~6站,视线长度50m以内 (2)安置水准仪的测站至前、后视立尺点的距离,应该用步测使其相等。在每一测站,按下列顺序进行观测: 后视水准尺黑色面,读上、下丝读数,精平,读中丝读数; 前视水准尺黑色面,读上、下丝读数,精平,读中丝读数; 前视水准尺红色面,精平,读中丝读数; 后视水准尺红色面,精平,读中丝读数 (3)记录者在“四等水准测量记录”表中按表头表明次序⑴~⑻记录各个读数,⑼~ ⒃为计算结果: 后视距离⑼=100×{ ⑴-⑵ } 前视距离⑽=100×{ ⑷-⑸ } 视距之差⑾=⑼-⑽ 前、后视距累积差⑿=上站⑿+本站⑾ 前视尺黑红面读数差(13)=K前+(6)-(7) 后视尺黑红面读数差(14)=K后+(3)-(8) 红黑面差⒀=⑹+K-⑺,(K=4.687或4.787) ⒁=⑶+K-⑻ 黑面高差⒂=⑶-⑹ 红面高差⒃=⑻-⑺ 高差之差⒄=⒂-⒃=⒁-⒀±0.1 平均高差⒅=1/2{ ⒂+⒃ }

铸件质量检测方法有哪些

铸件质量检测方法有哪些 内容摘要:铸件的检测主要包括尺寸检查、外观和表面的目视检查、化学成分分析和力学性能试验,对于要求比较重要或铸造工艺上容易产生问题的铸件,还需要进行无损检测工作,可用于球墨铸铁件质量检测的无损检测技术包括液体渗透检测、磁粉检测、涡流检测、射线检测、超声检测及振动检测等。 铸造网讯:铸件的检测主要包括尺寸检查、外观和表面的目视检查、化学成分分析和力学性能试验,对于要求比较重要或铸造工艺上容易产生问题的铸件,还需要进行无损检测工作,可用于球墨铸铁件质量检测的无损检测技术包括液体渗透检测、磁粉检测、涡流检测、射线检测、超声检测及振动检测等。 1 铸件表面及近表面缺陷的检测 1.1 液体渗透检测 液体渗透检测用来检查铸件表面上的各种开口缺陷,如表面裂纹、表面针孔等肉眼难以发现的缺陷。常用的渗透检测是着色检测,它是将具有高渗透能力的有色(一般为红色)液体(渗透剂)浸湿或喷洒在铸件表面上,渗透剂渗入到开口缺陷里面,快速擦去表面渗透液层,再将易干的显示剂(也叫显像剂)喷洒到铸件表面上,待将残留在开口缺陷中的渗透剂吸出来后,显示剂就被染色,从而可以反映出缺陷的形状、大小和分布情况。需要指出的是,渗透检测的精确度随被检材料表面粗糙度增加而降低,即表面越光检测效果越好,磨床磨光的表面检测精确度最高,甚至可以检测出晶间裂纹。除着色检测外,荧光渗透检测也是常用的液体渗透检测方法,它需要配置紫外光灯进行照射观察,检测灵敏度比着色检测高。 1.2 涡流检测 涡流检测适用于检查表面以下一般不大于6~7MM深的缺陷。涡流检测分放置式线圈法和穿过式线圈法2种。当试件被放在通有交变电流的线圈附近时,进入试件的交变磁场可在试件中感生出方向与激励磁场相垂直的、呈涡流状流动的电流(涡流),涡流会产生一与激励磁场方向相反的磁场,使线圈中的原磁场有部分减少,从而引起线圈阻抗的变化。如果铸件表面存在缺陷,则涡流的电特征会发生畸变,从而检测出缺陷的存在,涡流检测的主要缺点是不能直观显示探测出的缺陷大小和形状,一般只能确定出缺陷所在表面位置和深度,另外它对工件表面上小的开口缺陷的检出灵敏度不如渗透检测。

光学测量技术详解

光学测量技术详解(图文) 光学测量是生产制造过程中质量控制环节上重要的一步。它包括通过操作者的观察进行的快速、主观性的检测,也包括通过测量仪器进行的自动定量检测。光学测量既可以在线下进行,即将工件从生产线上取下送到检测台进行测量;还可以在线进行,即工件无须离开产线;此外,工件还可以在生产线旁接受检测,完成后可以迅速返回生产线。 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。当物体靠近眼球时,物体的尺寸感觉上会增加,这是因为图像在视网膜上覆盖的“光感器”数量增加了。在某一个位置,图像达到最大,此时再将物体移近时,图像就会失焦而变得模糊。这个距离通常为10英寸(250毫米)。在这个位置上,图像分辨率大约为0.004英寸(100微米)。举例来说,当你看两根头发时,只有靠得很近时才能发现它们之间是有空隙的。如果想进一步分辨更加清楚的细节的话,则需要进行额外的放大处理。 本部分设定了隐藏,您已回复过了,以下是隐藏的内容 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。本图显示了人眼成 像的原理图。 人眼之外的测量系统 光学测量是对肉眼直接观察获得的简单视觉检测的强化处理,因为通过光学透镜来改进或放大物体的图像,可以对物体的某些特征或属性做出准确的评估。大多数的光学测量都是定性的,也就是说操作者对放大的图像做出主观性的判断。光学测量也可以是定量的,这时图像通过成像仪器生成,所获取的图像数据再用于分析。在这种情况下,光学检测其实是一种测量技术,因为它提供了量化的图像测量方式。 无任何仪器辅助的肉眼测量通常称为视觉检测。当采用光学镜头或镜头系统时,视觉检测就变成了光学测量。光学测量系统和技术有许多不同的种类,但是基本原理和结构大致相同。

角度测量的光学方法

第28卷第2期2002年3月 光学技术OPTICAL TECHN IQU E Vol.28No.2 March 2002 文章编号:100221582(2002)022******* 角度测量的光学方法 Ξ 浦昭邦,陶卫,张琢 (哈尔滨工业大学305信箱,黑龙江哈尔滨 150001) 摘 要:光学测角法是高精度动态角度测量的一种有效的解决途径。对目前发展较快的几种角度测量的光学方法———圆光栅测角法、光学内反射小角度测量法、激光干涉测角法和环形激光测角法进行了详细的介绍,并且分别给出了每种方法的测量原理和发展现状,比较了各种方法的优缺点,给出了每种方法的应用场合和发展前景。 关键词:角度测量;光学方法;转角;整周中图分类号:TH741.2 文献标识码:A Angle measurement with optical methods PU Zhao 2bang ,T AO Wei ,ZH ANG Zhuo (Harbin institute of Technology ,Harbin 150001,China ) Abstract :Optical methods are one of the most effective way of dynamic angle measurement with high accuracy.Several well developed optical methods of angle measurement ,such as angle measurement with radical gratings ,angle measurement based on internal 2reflection effect ,laser interference angle measurement system and ring laser goniomcters ,are described in de 2tail.The principle ,present status and application situation of each method is dis played.The superiority and defects of these methods are lined out.The development future of each method is given at last. K ey w ords :angle measurement ;optical methods ;rotation angle ;whole round 1 引 言 角度测量是几何量计量技术的重要组成部分,发展较为完备,各种测量手段的综合运用使测量准确度达到了很高的水平。角度测量技术可以分为静态测量和动态测量两种。对于静态测量技术来说,目前的主要任务集中在如何提高测量精度和测量分辨力上[1~3]。随着工业的发展,对回转量的测量要求也越来越多,因此人们在静态测角的基础上,对旋转物体的转角测量问题进行了大量的研究,产生了许多新的测角方法。 测角技术中研究最早的是机械式和电磁式测角技术,如多齿分度台和圆磁栅等,这些方法的主要缺点大多为手工测量,不容易实现自动化,测量精度受到限制[4,5]。光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视,尤 其是稳定的激光光源的发展使工业现场测量成为可能,因此使光学测角法的应用越来越广泛,各种新的光学测角方法也应运而生。目前,光学测角方法除众所周知的光学分度头法和多面棱体法外,常用的还有光电编码器法[6]、衍射法[7,8]、自准直法[9,10]、光纤法[11]、声光调制法[12,13]、圆光栅法[14~17]、光学内反射法[18~23]、激光干涉法[24~28]、平行干涉图法[29,30]以及环形激光法[31~33]等。这些方法中的很多方法在小角度的精密测量中已经得到了成功地应用,并得到了较高的测量精度和测量灵敏度,通过适当的改进还可对360°整周角度进行测量。对于众所周知的光学分度盘、轴角编码器、光电光楔测角法等来说,由于应用较多,技术比较成熟,本文不作具体介绍。下面主要介绍几种近几年来发展起米的小角度测量方法和可用于整周角度测 量的方法。 2 圆光栅测角法 圆光栅是角度测量中最常用的器件之一。作为角度测量基准的光栅可以用平均读数原理来减小由分度误差和安装偏心误差引起的读数误差,因此其准确度高、稳定可靠。但在动态测量时,在10r/s 的转速下,要想达到1′的分辨力都非常困难。目前我国的国家线角度基准采用64800线/周的圆光栅系统,分辨力为01001″,总的测量不确定度为0105″。该测量方法主要是在静态下的相对角度测量。英国国家物理实验室(NPL )的E W 图1 NPL 测角仪原理图Palmer 介绍了一台作为角度基准的径向光栅测角仪,如图1所示,既可用于测角,又 可用于标定。其原理是利用两块32400线的径向光栅安装在015r/s 的同一个轴 套上,两个读数头一个固定,一个装在转台上连续旋转,信号间的相位差变化与转角成正比。仪器中用一个自准直仪作为基准指示器,可以测得绝对角度,利用光栅细分原理可测360°范围内的任意角度,附加零伺服机构可以对转台进行实时调整,限制零漂。用干涉仪作为读数头,可进行高精度测量。按95%置信度 水平确定其系统误差的不确定度为0105″[15] 。 德国联邦物理研究院(PTB )的Anglica T ubner 等人用衍射 8 61Ξ收稿日期:2001205224;收到修改稿日期:2001206218 基金项目:国家自然科学基金资助项目(59875017) 作者简介:浦昭邦(19402),男,哈尔滨工业大学教授,博士生导师,主要从事光学测量、图像处理方面的研究。

光学投影层析三维成像测量实验系统的设计概述

光学投影层析三维成像测量实验系统的设计

摘要 光学投影式三维轮廓测量在机器/机器人视觉、CAD/CAM以及医疗诊断等领域有重要的应用,这种测量方法具有非接触性、无破坏、数据获取速度快等优点,其测量系统是宏观光学轮廓仪中最有发展前途的一种。 本课题拟采用激光光源(或普通卤素灯作为光源),应用光学系统、计算机控制,进行图像采集、图像处理,设计成像系统的断层图像重建及三维图像显示实验系统,并对其成像理论、成像质量及成像误差进行理论分析。该项目完成的光学投影层析三维成像测量实验系统适用于光学教学演示,其理论分析有利于学生积极的汲取现代光学发展的科研成果、思路和方法,从而潜移默化的培养学生的科学素养和创新能力。 关键词:光学投影层析,三维成像,CT技术

目录 1.引言 (1) 2.CT原理及重建算法 (2) 整个实验用到的理论相关联名称 2.1 CT技术原理 (3) 2.2 OPT原理简介 (4) 3.1 滤波反投影算法的快速实现 3. 光学投影层析三维成像测量实验系统 (5) 3.1实验系统的设计 (6) 3.2 光学投影层析三维成像测量实验系统 3.3 影响图像重建质量的因素分析 (7) 4. 结论 (11) 5. 参考文献 (13)

图表清单

1.引言 2002年4月英国科学家Sharpe在《Science》上首次报道了光学投影层析技术(optical projection tomography,OPT),这是一种新的三维显微成像技术,是显微技术和CT技术的结合。光学投影层析巧妙的利用了光学成像中“景深”的概念,实现了光学CT,和其它光学三维成像技术相比,结构简单、成本较低、成像速度快,在对成像分辨率要求不高的情况下,容易建立起光学投影层析三维成像测量系统。 光学三维成像代表着光学领域的前沿技术,这些技术涉及光学、计算机和图像处理等相关领域的知识,通过本项目--光学投影层析三维成像测量实验系统的设计,将是基础光学通向现代光学科技的不可多得的窗口之一,不仅显示基础知识的生命力,也反映基础知识的时代性,而且本项目实现所需成本较低、物理思想清晰,适用于物理实验教学,并适合作为大学生的综合设计性物理实验项目进行开发研究,同时对于激发大学生的学习兴趣、开阔大学生的视野和思路、培养综合科研素养均有很大的帮助。 2 CT技术原理及重建算法 2.1 CT技术原理 CT(计算机断层成像,mography ComputerTo的缩写)技术的研究自20世纪50至70年代在美国和英国发起,美国科学家A.M. Cormark和英国科学家G. N. Hounsfield在研究核物理、核医学等学科时发明的,他们因此共同获得1979年的诺贝尔医学奖。第一代供临床应用的CT设备自1971年问世以来,随着电子技术的不断发展,CT技术不断改进,诸如螺旋式CT机、电子束扫描机等新型设备逐渐被医疗机构普遍采用。除此之外,CT技术还在工业无损探测、资源勘探、生态监测等领域也得到了广泛的应用。 与传统的X射线成像不同,CT有自己独特的成像特点。下面以一个一般的图示来说明。 如图1所示,假设有一个半透明状物体,如琼脂等,在其内部嵌入5个不同透明度的球,如果按照图1中(a)所示那样单方向地观察,因为其中有2个球被前面的1个球挡住,我们会误解为只有3个球,尽管重叠球的透明度比较低,但我们仍无法确定球的数目,更不可能知道每个球的透明度。而如果按照图1(b)

高电压测量方法概述

高电压测量方法概述 球隙法测量高电压是试验室比较常用的方法之一。空气在一定电场强度下,才能发生碰撞游离。均匀电场下空气间隙的放电电压与间隙距离具有一定的关系。可以利用间隙放电来测量电压,但绝对的均匀电场是不易做到的,只能做到接近于均匀电场。测量球隙是由一对相同直径的金属球所构成。加压时,球隙间形成稍不均匀电场。当其余条件相同时,球间隙在大气中的击穿电压决定于球间隙的距离。对一定球径,间隙中的电场随距离的增长而越来越不均匀。被测电压越高、间隙距离越大。要求球径也越大。这样才能保持稍不均匀电场。球隙法测量接线如图1所示。 测量球隙作为一种高电压测量方法的优缺点进行比较。其优点是:可以测量稳态高电压和冲击电压的幅值,是直接测量超高压的重要设备。结构简单,容易自制或购买,不易损坏。有一定的准确度,测量交流及冲击电压时准确度在3%以内。球隙法测量的缺点是:测量时必须放电放电时将破坏稳定状态可能引起过电压。气体放电有统计性。数据分散,必须取多次放电数据的平均值,为防止游离气体的影响,每次放电间隔不得过小。且升压过程中的升压速度应较缓慢,使低压表计在球隙放电瞬间能准确读数,测量较费时间。实际使用中,测量稳态电压要作校订曲线,测量冲击电压要用50%放电电压法。手续都较麻烦。被测电压越高,球径越大,目前已有用到直径为±3m的铜球,不仅本身越来越笨重,而且影响建筑尺寸。 静电压表法测量原理是加电压于两电极,由于两电极上分别充上异性电荷,电极就会受到静电机械力的作用,测量此静电力的大小或是由静电力产生的某一极板的偏移(或是偏转)就能够反映所加电荷的大小。 静电电压表有两种类型,一种是绝对静电电压表,另一种是非绝对的静电电压表,由于绝对静电电压表结构和应用都非常复杂。在工程上应用较多的还是构造相对简单的非绝对静电电压表,其测量不确定度为1%~3%。量程可达1000kV。此种测量表测量时可动电极有位移。可动电极移动时,张丝所产生的扭矩或是弹簧的弹力产生了反力矩,当反力矩和静电场的力矩相平衡时,可动电极的位移达到一个稳定值。与可动电极相连接在一起的指针或反射光线的小镜子就指出了被测电压的数值。静电电压表从电路中吸取的功率相当小,当测量交流电压时,表计通过的电容电流的多少决定于被测电压频率的高低以及仪器本身电容的大小,由于仪表的电容一般仅有几皮法到几十皮法,所以吸取的功率十分的微小,因此静电电压表的内阻抗极大。通常还可以把它接到分压器上来扩大其电压量程,目前国内已生产有250~500kV的静电电压表。

光学测量应用举例

1、激光三角法测距。 利用激光良好的方向性,以及几何光学成像的比例特性,将一束激光照射到物体上,在与激光光束成一定角度的位置用光学成像系统检测照射到物体的光斑,这样镜头-光斑、镜头平面到激光光束的连线、光斑到镜头平面与激光光束交点构成一三角形,而镜头-光斑的像、镜头平面以及过光斑的像的激光光束平行线与镜头平面的交点成一个与前面所描述的三角形相似的三角形。用光电传感器阵列检测到光斑的像的位置,则可以根据三角形性质计算出光斑位置。这种测量方法适合距离较短的情况。 目前的激光三坐标测量机(抄数机)一般都采用激光三角法测距。 2、光速法测距。 利用光速不变原理,检测激光发射与反射光反射回来的时间差,从而计算出距离。为了提高精度,可以将激光调制上一个低频信号,利用测量反射光的相位差来测得反射时间差。这种方法一般用于远距离测量。 目前各种激光测距仪一般用这种方法测量。 3、激光干涉法测距。 这是一种相对测量,它无法测得一个物体离仪器的绝对距离,但可以测得两被测物体的相对距离。它的原理是一台迈克尔逊干涉仪,利用反射镜距离变化时干涉条纹的变化来测量,反射镜从物体A运动到物体B,干涉条纹变化的数量反映了其距离。这种测量要求条件较高,但是可以精确测量,它也是目前所有测量手段中最精确的一种。 4、光学图象识别技术测量位移。 其所用原理与三角法相似,但是可以不用激光,而是直接对移动物体拍照,利用前后两幅图片中物体在图片中的位移来计算物体真实的位移。、 这种技术在光电鼠标中大量使用。 5、光栅测量位移。 利用光栅形成的莫尔条纹,计算莫尔条纹变化量即可计算出位移量。 这是目前应用最多的技术,光栅尺大量应用于工业上的行程测量。 6、激光衍射法测量细丝、小孔直径和狭缝宽度。 测量衍射斑的大小就可以计算出孔或缝的尺寸。

角度测量的原理及其方法

角度测量的原理及其方法 角度测量原理 一、水平角测量原理 地面上两条直线之间的夹角在水平面上的投影称为水平角。如图 3-1所示,A、B、O为地面上的任意点,通OA和OB直线各作一垂 直面,并把OA和OB分别投影到水平投影面上,其投影线Oa和Ob 的夹角∠aOb,就是∠AOB的水平角β。 如果在角顶O上安置一个带有水平刻度盘的测角仪器,其度盘 中心O′在通过测站O点的铅垂线上,设OA和OB两条方向线在水 平刻度盘上的投影读数为a1和b1,则水平角β为: β= b1 - a1(3-1) 二、竖直角测量原理 在同一竖直面内视线和水平线之间的夹角称为竖直角或称垂直 角。如图3-2所示,视线在水平线之上称为仰角,符号为正;视线在 水平线之下称为俯角,符号为负。

图3-1 水平角测量原理图图3-2 竖直角测 量原理图 如果在测站点O上安置一个带有竖直刻度盘的测角仪器,其竖盘中心通过水平视线,设照准目标点A时视线的读数为n,水平视线的读数为m,则竖直角α为: α= n - m (3-2) 光学经纬仪 一、DJ6级光学经纬仪的构造 它主要由照准部(包括望远镜、竖直度盘、水准器、读数设备)、水平度盘、基座三部分组成。现将各组成部分分别介绍如下:1.望远镜 望远镜的构造和水准仪望远镜构造基本相同,是用来照准远方目标。它和横轴固连在一起放在支架上,并要求望远镜视准轴垂直于横轴,当横轴水平时,望远镜绕横轴旋转的视准面是一个铅垂面。为了控制望远镜的俯仰程度,在照准部外壳上还设置有一套望远镜制动和

微动螺旋。在照准部外壳上还设置有一套水平制动和微动螺旋,以控制水平方向的转动。当拧紧望远镜或照准部的制动螺旋后,转动微动螺旋,望远镜或照准部才能作微小的转动。 2.水平度盘 水平度盘是用光学玻璃制成圆盘,在盘上按顺时针方向从0°到360°刻有等角度的分划线。相邻两刻划线的格值有1°或30′两种。度盘固定在轴套上,轴套套在轴座上。水平度盘和照准部两者之间的转动关系,由离合器扳手或度盘变换手轮控制。 3.读数设备 我国制造的DJ6型光学经纬仪采用分微尺读数设备,它把度盘和分微尺的影像,通过一系列透镜的放大和棱镜的折射,反映到读数显微镜内进行读数。在读数显微镜内就能看到水平度盘和分微尺影像,如图3-4所示。度盘上两分划线所对的圆心角,称为度盘分划值。 在读数显微镜内所见到的长刻划线和大号数字是度盘分划线及其注记,短刻划线和小号数字是分微尺的分划线及其注记。分微尺的长度等于度盘1°的分划长度,分微尺分成6大格,每大格又分成10,每小格格值为1′,可估读到0.1′。分微尺的0°分划线是其指标线,它所指度盘上的位置与度盘分划线所截的分微尺长度就是分微尺读数值。为了直接读出小数值,使分微尺注数增大方向与度盘注数方向相反。读数时,以在分微尺上的度盘分划线为准读取度数,而后读取该度盘分划线与分微尺指标线之间的分微尺读数的分数,并估读

光学测量原理与技术

第一章、对准、调焦 ?对准、调焦的定义、目的; 1.对准又称横向对准,是指一个对准目标与比较标志在垂直瞄准轴方向像的重合或置 中。目的:瞄准目标(打靶);精确定位、测量某些物理量(长度、角度度量)。 2、调焦又称纵向对准,是指一个目标像与比较标志在瞄准轴方向的重合。 目的: --使目标与基准标志位于垂直于瞄准轴方向的同一个面上,也就是使二者位于同一空间深度; --使物体(目标)成像清晰; --确定物面或其共轭像面的位置——定焦。 人眼调焦的方法及其误差构成; 清晰度法:以目标和标志同样清晰为准则; 消视差法:眼睛在垂直视轴方向上左右摆动,以看不出目标和标志有相对横移为准则。可将纵向调焦转变为横向对准。 清晰度法误差源:几何焦深、物理焦深; 消视差法误差源:人眼对准误差; 几何焦深:人眼观察目标时,目标像不一定能准确落在视网膜上。但只要目标上一点在视网膜上生成的弥散斑直径小于眼睛的分辨极限,人眼仍会把该弥散斑认为是一个点,即认为成像清晰。由此所带来的调焦误差,称为几何焦深。 物理焦深:光波因眼瞳发生衍射,即使假定为理想成像,视网膜上的像点也不再是一个几何点,而是一个艾里斑。若物点沿轴向移动Δl后,眼瞳面上产生的波像差小于λ/K(常取K=6),此时人眼仍分辨不出视网膜上的衍射图像有什么变化。 (清晰度)人眼调焦扩展不确定度: (消视差法)人眼调焦扩展不确定度: 人眼摆动距离为b ?对准误差、调焦误差的表示方法; 对准:人眼、望远系统用张角表示;显微系统用物方垂轴偏离量表示; 调焦:人眼、望远系统用视度表示;显微系统用目标与标志轴向间距表示 ?常用的对准方式; 22 22 122 8 e e e D KD αλ φφφ ???? ''' =+=+ ? ? ???? 121 11e e l l D α φ'=-= 22 21 118 e l l KD λ φ'=-= e b δ φ'=

眼镜质量检测方法

情境一学习 眼镜质量检测 任务一、用顶焦度计测量眼镜的顶焦度和轴位任务二、光学中心水平距离和垂直互差的测量 任务三、渐进多焦点眼镜的质量检测 任务四、眼镜片质量检测 任务五、配装眼镜棱镜度和棱镜底向的检测任务六、太阳镜的质量标准及测试方法 任务七、眼镜装配质量的要求和检查 任务八、配装眼镜的外观质量和整形要求 任务九、配装眼镜的检测 任务十、眼镜架检测 任务十一、无框眼镜外观质量检查 任务十二、瞳距尺、瞳距仪的使用 任务十三、镀膜镜片的膜层质量要求

任务一、用顶焦度计测量眼镜的顶焦度和轴位 一、学习目标 了解顶焦度计的工作原理,掌握顶焦度计测量眼镜镜片顶焦度和轴位的操作步骤 二、学习内容 (一)顶焦度计结构和工作原理 目前普遍使用的顶焦度计大致有三种:直视式顶焦度计、投影式顶焦度计及电脑焦度计。下面以直视式顶焦度计JDY-1型为例进行介绍。 图1-1-1为顶焦度计的光学系统图。 1,光源;2,滤色片;3,移动分划板;4,准直物镜;5,置片座;6,被测镜片;7,物镜;8,固定分划板;9,目镜

顶焦度计由准直系统和望远系统组成,如图1-1-1所示。光源1通过滤色镜2照明准直分划板3,准直分划板3可以前后移动,故又称移动分划板。望远系统分划板8是固定的。 在未放置被测眼镜情况下,移动分划板3位于准直系统物镜4的焦平面上,此时,通过望远系统目镜9,可以看到移动分划板清晰成像在固定分划板8上。这一位置即为顶焦度计的零位。 当在准直物镜前放置被测眼镜后,通过目镜9看到移动分划板像变得模糊,转动顶焦度测量手轮,使移动分划板前后移动,直到移动分划板能清晰成像在固定分划板上为止,移动分划板的移动量,即对应被测眼镜的顶焦度。 (二)测量前的准备 1.接通电源,灯泡亮。 2.调整望远系统目镜视度:转动目镜视度圈,能清晰看到望远系统固定分划板为止。 3.核对零位:转动顶焦度测量手轮,通过目镜观察到移动分划板清晰成像在固定分划板上,此时,顶焦度测量手轮的读数应为零。 如图1-1-2所示。

各种间隙测量方法论述

间隙测量方法概述 1、探针法 探针法是目前发动机叶尖间隙测量的常用方法,采用叶尖放电方式,即依靠电机使外加直流电压的探针沿径向移动,当探针移向叶尖至发生放电为止,探针的行程与初始安装间隙(静态时探针到机匣内表面的距离)之差即叶尖间隙。它主要由探针、执行机构及控制器组成。其间隙测量系统在探针上施加高压,在执行机构的驱动下,以连续的步进逐渐伸向被测物体,当探针距离被测物体只有微米量级时,发生电弧放电,控制器感受到放电后,在探针与叶尖物理接触之前,停止探针步进,将其缩回到安全位置,同时显示叶尖间隙测量结果。它只适用于温度6000C以下、转速在6000r/min以上,而且探针容易受到异物及油渍的污染造成阻塞。由于它是接触式测量,一旦发动机紧急停车,探针缩回不到安全位置,就容易发生故障探针法的特点:原理比较简单,只要叶片是导电材料,无论叶尖端面形状如何都可以用探针法测量叶尖间隙,且在高温高压环境下测量稳定、可靠,但是该方法只能测量转子的最小叶尖间隙,此外,外加电压的波动,壳体内气体的温度和压力变化,探针和叶尖端面的污损,都会改变放电的起始距离,因而产生测量误差。探针法不适于作为固定设备装载定型的发动机上,适用于试验研究,可以测量各稳态状态下最长叶片与机匣的间隙值,也可用作校准其他测量方法的基准。由于一些微型发动机的叶片不是导电材料,所以无法使用探针法进行测量。 2、电容法 电容法是利用绝缘电极(电容极板)与待测金属端而形成的电容进行测量的,间隙的变化导致测量电容的变化,再将电容变化量通过检测电路和调理电路转换成易于检测和分析的电压或电流信号。电容法广泛应用于位移、振动、角度、加速度等机械量的精密测量,具有结构简

光学薄膜现代分析测试方法

一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性:用于金相显微分析,可直观检测金属材料的微观组织,如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成,从而判断材质优劣。须进行样品制备工作,最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性:1、用于观察材料的表面低倍形貌,初步判断材质缺陷; 2、观察断口的宏观断裂形貌,初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200,JOEL JSM820,JEOL JSM6335) 主要特性: 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析,如解理断裂、疲劳断裂(疲劳辉纹)、晶间断裂(氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等)、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱,用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析,测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率:10X—300,000X;样品尺寸:0.1mm—10cm;分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜(菲利蒲 CM-20,CM-200) 主要特性: 1、需进行试样制备为金属薄膜,试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析,带能谱,可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性: 1、专用于测定粉末样品的晶体结构(如密排六方,体心立方,面心立方等),晶型,点阵类型,晶面指数,衍射角,布拉格位移矢量,已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温(加热)使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性: 1、分辨率衍射仪,主要用于材料科学的研究工作,如半导体材料等,其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析(定性、定量、物相晶粒度测定;点阵参数测定),残余应力及织构的测定;薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定;非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料(包括金属、陶瓷、半导体材料)的化学成分组成及元素含量。如:Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等,精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌,进行显微选区成分分析。

切削温度测量方法概述..

热工测量仪表作业 切削温度测量方法概述Summary of Cutting Temperature Measurement Methods 作者姓名:王韬 专业:冶金工程 学号:20101360 指导老师:张华 东北大学 Northeastern university 2013年6月

切削温度测量方法概述 王韬 东北大学 摘要:高速切削加工现已成为当代先进制造技术的重要组成部分,切削热与切削温度是高速切削技术研究的重要内容。本文根据国内外高速切削温度测量方法的研究现状,对目前常用的切削温度测量方法进行了分类和比较,主要包括接触式测温、非接触式测温和其他测量方法三种,详细介绍了热电偶法、光辐射法、热辐射法、金相结构法等几种常用切削测温方法的基本原理、优缺点、适用范围及发展状况;介绍了几种新型高速切削温度测量方法。最后对各种测量方法作了比较,探讨了切削温度实验测量方法研究的发展方向。 关键词: 切削温度,测量方法,发展状况 Summary of Cutting Temperature Measurement Methods Wang Tao Northeastern university Abstract: High-speed machining has become an important part of the contemporary advanced manufacturing technology. Cutting heat and cutting temperature is the important content of high speed cutting technology research. This paper gives the background to the measurement of metal cutting temperatures and a review of the practicality of the various methods of measuring cutting temperature while machining metals. Classify the cutting temperature measurement methods, mainly including non-contact temperature measurement, non-contact temperature test of other three kinds of measurement methods; Introduced the thermocouple method, radiation method, radiation method and metallographic structure of the basic principle of several kinds of commonly used cutting temperature measurement method, the advantages and disadvantages, applicable scope and the status of the development; Several new high-speed cutting temperature measurement methods are introduced. Finally discusses the development direction of cutting temperature experiment measurement method research for a variety of measurement methods. Keywords:metal cutting, cutting temperature, measurement method

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