数字电子技术实验指导书 新
《数字电子技术》实验指导
『数字电路实验指导书』实验一 基本门电路实验一、 目的1、掌握门电路逻辑功能；2、熟悉集成电路芯片；二、实验原理门电路的逻辑功能。
三、实验设备与器件设备1、数电实验箱 一台器件1、74LS00 一片（四2输入与非门）2、74LS32 一片（四二输入或门）3、 74LS86 一片（四二输入异或门）4、74LS04 一片（六非门）四、实验内容和步骤1、或门：B A Y +=按下图所示的电路连接，输入引脚分别接实验台上的数据开关，输出引脚接试验台上的显示灯，改变拨动开关，观察输出的状态，并将结果填入下表中。
如没有74LS32芯片，自行设计用74LS00和74LS04来实现。
2、异或门：B A Y ⊕=按下图所示的电路连线，实验步骤同或门。
3、逻辑函数的“与非”门的实现。
将逻辑函数B A B A F +=用与非门实现，画出电路图，将实验结果填入真值表。
五、预习要求1、阅读实验指导书，了解实验箱的结构；2、了解所有器件（74LS00，74LS04，74LS32、74LS86）的引脚结构；实验二用小规模芯片设计组合电路一、实验目的1、学习并掌握小规模芯片（SSI）实现各种组合逻辑电路的方法；2、学习用仪器检测故障，排除故障。
二、实验原理用门电路设计组合逻辑电路的方法。
三、实验内容及要求1、用所给集成电路组件设计一个多输出逻辑电路。
该电路的输入是一个8421BCD码，当电路检测到输入的代码大于或等于（3）10时，电路的输出F1=1,其它情况F1=0；当输入的代码小于（7）10时，电路的另一个输出F2=1，其它情况F2=02、用与非门实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”，测试其功能。
要求如下：人类由四种基本血型— A、B、AB、O型。
输血者与受血者的血型必须符合下述原则；O 型血可以输给任意血型的人，但O型血的人只能接受O型血；AB型血只能输给AB型血的人，但AB血型的人能够接受所有血型的血；A型血能给A型与AB型血的人；而A型血的人能够接受A型与O型血；B型血能给B型与AB型血的人，而B型血的人能够接受B型与O型血。
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实验一：测量集成门电路的传输延迟时间( 2学时) (1)实验二：组合逻辑电路设计—译码显示电路设计（2学时） (3)实验三：触发器及键盘消抖电路设计（2学时） (5)实验四: 现代数字电路设计——熟悉开发环境和基本语法训练（2学时） (8)实验五: 基于Verilog HDL及FPGA的组合逻辑电路设计——显示译码（2学时） (15)实验六：基于Verilog HDL及FPGA的时序逻辑电路设计——十进制计数器设计（4学时） (20)实验七: 基于Verilog HDL及FPGA的时序逻辑电路设计——移位寄存器设计（4学时） 29实验一：测量集成门电路的传输延迟时间( 2学时)一、实验目的了解集成门电路的传输延时的基本概念，掌握示波器的使用，学会使用示波器测量电路参数的基本方法。
二、实验仪器设备面包板、芯片（74LS00）、导线、示波器、直流电源、信号源三、实验要求1．熟悉数字示波器的使用2．熟悉面包板的使用3．熟悉集成门电路器件手册的查找及使用方法4．测量74LS00芯片的四级集成门传输延时5．根据测量得到的延迟计算一级门传输延迟时间6．多测量几次计算平均延迟时间7．实验前写出预习报告，画出实验必须的原理图和连线图。
四、实验原理TTL门电路的主要参数涉及电路的工作速度、功耗、抗干扰能力和驱动能力等。
这些参数对我们合理、安全地应用器件是很重要的。
本次实验基本要求是集成门电路传输延迟时间的测量。
传输延时t pd是指与非门输出波形相对于输入波形的延时，见下图。
可以看出：对应输入，输出波形不仅反了一个相，而且还发生了延时。
我们把输入波形上升沿的50%起至输出波形反相至下降沿的50%止的这段时间叫导通延时，用t pHL表示；把输入波形下降沿的50%起至输出波形反相至上升沿的50%止的这段时间叫关闭延时，用t pLH表示。
导通延时和关闭延时的平均值叫做平均传输延时，简称传输延时，用t pd表示t pd =（t pHL+t pLH）/2影响传输延时的主要因素是晶体管的开关特性、电路结构和电路中各电阻的阻值，tpd 的大小反映了电路的工作速度。
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数字电子技术实验指导书数字实验部分实验一 TTL、CMOS门电路逻辑功能测试一、实验目的1、熟悉TTL、CMOS门电路的外型和管脚排列。
2、了解TTL、CMOS门电路的原理、性能和使用方法。
3、学习逻辑门电路功能测试方法，并测“与非”、“或非”、“与或非”门及传输门电路的逻辑功能，验证门电路逻辑功能。
4、初步学会DLB-6型数字逻辑实验箱的结构和使用方法。
二、实验内容说明组成数字逻辑电路的基本单元有两大部分，一部分是门电路，另一部分是触发器。
门电路实际上是一种条件开关电路，只有在输入信号满足一定的逻辑条件时，开关电路才允许信号通过，否则信号就不能通过，即门电路的输出信号与输入信号之间存在着一定的逻辑关系，故又称之为逻辑门电路。
最基本的逻辑门路有“与”门、“或”门及“非”门电路，但常用的则是“与非”门、“或非”门、“与或非”门以及“异或”门等具有复合逻辑功能的门电路。
以前逻辑电路都是用分立元件组成，现在大量使用的则是集成门电路，若按电路中晶体管导电类型分，集成门电路可分为双极型和单极型两大类。
双极型中应用最多的是晶体管——晶体管逻辑门电路，即TTL门电路。
单极型的有金属——氧化物——半导体互补对称逻辑门电路，即CMOS门电路。
图图1-1 图1-21、TTL“与非”门电路。
图1-1a所示为TTL集成“与非”门的典型电路，图b为其逻辑符号。
电路中V1称为多发射极晶体管，其等效电路如图1-2所示，相当于一个“与门”电路；V2起放大及电平转移作用；V5起反相作用，用于实现逻辑“非”运算；V3和V4组成两级射极输出器，用以改善门电路的输出特性。
其逻辑表达为：F=C·A·B2、TTL“或非”门电路。
图1-3所示为其典型电路及逻辑符号。
电路中V3和V4采用并接方式，只要其中有一只管子饱和导通，都将使饱和导通，V5和VD截止。
其逻辑表达为：F=BA+图1-3 图1-43、TTL“与或非”门电路。
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实验一 晶体管开关特性、限幅器与钳位器一、实验目的1、观察晶体二极管、三极管的开关特性，了解外电路参数变化对晶体管开关特性的影响。
2、掌握限幅器和钳位器的基本工作原理。
二、实验原理1、晶体二极管的开关特性由于晶体二极管具有单向导电性，故其开关特性表现在正向导通与反向截止两种不同状态的转换过程。
如图1－1电路，输入端施加一方波激励信号v i ，由于二极管结电容的存在，因而有充电、放电和存贮电荷的建立与消散的过程。
因此当加在二极管上的电压突然由正向偏置(+V 1)变为反向偏置(-V 2)时，二极管并不立即截止，而是出现一个较大的反向电流RV 2，并维持一段时间t s （称为存贮时间）后，电流才开始减小，再经t f （称为下降时间）后，反向电流才等于静态特性上的反向电流I 0，将t rr ＝t s ＋t f 叫做反向恢复时间，t rr 与二极管的结构有关，PN 结面积小，结电容小，存贮电荷就少，t s 就短，同时也与正向导通电流和反向电流有关。
当管子选定后，减小正向导通电流和增大反向驱动电流，可加速电路的转换过程。
2、晶体三极管的开关特性晶体三极管的开关特性是指它从截止到饱和导通，或从饱和导通到截止的转换过程，而且这种转换都需要一定的时间才能完成。
如图1－2电路的输入端，施加一个足够幅度（在－V 2和+V 1之间变化）的矩形脉冲电压v i 激励信号，就能使晶体管从截止状态进入饱和导通，再从饱和进入截止。
可见晶体管T 的集电极电流 i c 和输出电压v o 的波形已不是一个理想的矩形波，其起始部分和平顶部分都延迟了一段时间，其上升沿和下降沿都变得缓慢了，如图1－2 波形所示，从v i 开始跃升到i C 上升到0.1I CS ，所需时间定义为延迟时间t d ，而i C 从0.1I C S 增长到0.9I C S 的时间为上升时间t r ，从v i 开始跃降到i C 下降到0.9I C S 的时间为存贮时间 t S ,而i C 从0.9I C S 下降到0.1I CS 的时间为下降时间t f ，通常称t on ＝t d ＋t r 为三极管开关的“接通时间”，t of f ＝t S ＋t f 称为“断开时间”，形成上述开关特性的主要原因乃是晶体管结电容之故。
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数字电子技术根底实验指导书实验一、认识实验一、实验目的：1、熟悉面包板的结构2、进一步掌握与非门、或非门、异或门的功能3、初步尝试在面包板上连接逻辑电路二、实验用仪器：面包板一块74LS00一块74LS20一块74LS02〔四二输入或非门〕一块、74LS86〔四二输入异或门〕一块万用表一块导线假设干稳压电源一台三、面包板和4LS00、74LS20、74LS02、74LS86的介绍：1面包板上的小孔每5个为一组，其内部有导线相连。
横排小孔是4、3、4〔3、4、3〕的结构，即每5*4〔5*3〕、5*3〔5*4〕、5*4〔5*3〕组横排小孔内部有导线相连。
用到的双列直插式集成块跨接在凹槽两边，管脚插入小孔。
通常用面包板的上横排小孔接电源，用下横排小孔接地。
2、74LS00的内部结构示意图：74LS00的管脚排列如上图所示，为双列直插式14管脚集成块，是四集成二输入与非门。
74LS20是二四输入与非门。
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 1A 1B NC 1C 1D 1Y GND74LS00 74LS201Y 1A 1B 2Y 2A 2B GND 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND四、实验内容与步骤：1、测试面包板的内部结构情况：用两根导线插入小孔，用万用表的电阻挡分别测试小孔组与组之间的导通情况，并记录下来。
2、验证与非门的逻辑功能：1〕将4LS00插入面包板，并接通电源和地。
2〕选择其中的一个与非门，进行功能验证。
3〕、将验证结果填入表1： 表1其中，A 、B 1”时，输入端接电源；Y 是输出端，用万用表〔或发光二极管〕测得在不同输入取值组合情况下的输出，并将结果填入表中。
5〕分析测得的结果是否符合“与非〞的关系。
*3、以同样的方法验证四输入“与非门〞、“或非〞门、“异或〞门的功能。
4、用TTL 与非门实现“或〞逻辑Y=A+B 1〕将Y=A+B 变成与非表达式2〕利用“与非〞门实现逻辑电路，并验证逻辑功能是否正确，将验证结果填入表2。
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实验一 门电路本实验为验证性实验 一、实验目的熟悉门电路的逻辑功能。
二、实验原理TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门。
使用时，必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能的好坏。
与非门逻辑功能测试的基本方法是按真值表逐项进行。
但有时按真值表测试显得有些多余。
根椐与非门的逻辑功能可知,当输入端全为高电平时，输出是低电平；当有一个或几个输入端为低电平时，输出为高电平。
可以化简逻辑函数或进行逻辑变换。
三、实验内容及步骤首先检查5V 电源是否正常，随后选择好实验用集成块，查清集成块的引脚及功能．然后根据自己的实验图接线， 特别注意Vcc 及地的接线不能接错(不能接反且不能短接)，待仔细检查后方可通电进行实验，以后所有实验均依此办理。
(一)、测与非门的逻辑功能1、选择双4输入正与非门74LS20，按图3_1_1接线；2、输入端、输出端接LG 电平开关、LG 电平显示元件盒上；集成块及逻辑电平开关、逻辑电平显示元件盒接上同一路5V 电源。
3、拨动电平开关，按表3_1_1中情况分别测出输出电平.(二)、测试与或非门的逻辑功能 l 、选两路四输入与或非门电路1个74LS55，按图3_1_2接线： ２、输入端接电平的输出插口，拨动开关当输入端为下表情614 Vcc图3_1_1图3_1_2况时分别测试输出端(8)的电位，将结果填入表3_1_2中： 表3_1_2(三)、测逻辑电路的逻辑关系用74LS00电路组成下列逻辑电路，按图3_1_3、图3_1_4接线，写出下列图的逻辑表达表并化简，将各种输入电压情况下的输出电压分别填入表3_1_3、表3_1_4中，验证化简的表达式。
表输 入 AB表3_1_4图3_1_4A BZ(四)、观察与非门对脉冲的控制作用选一块与非门74LS20按下面两组图3_1_5(a)、(b)接线，将一个输入端接连续脉冲用示波器观察两种电路的输出波形。
在做以上各个实验时,请特别注意集成块的插入位置与接线是否正确，每次必须在接线后经复核确定无误后方可通电实验，并要养成习惯。
学生数字电子技术—实验指导书-新实验箱.
数字电子技术实验指导书天津农学院机电工程系目录实验一门电路逻辑功能的测试 (1)实验二组合逻辑电路实验 (4)实验三组合逻辑电路的设计 (6)实验四译码器功能的测试 (8)实验五计数器测试与设计 (11)实验六四位双向移位寄存器的功能测试 (13)实验七555定时器及其应用 (15)常用TTL集成电路引出端功能图 (18)实验一门电路逻辑功能的测试1．实验的目的和要求1) 了解与熟悉基本门电路逻辑功能；2) 掌握门电路逻辑功能的测试方法，验证与加深对门电路逻辑功能的认识；3) 熟悉门电路的外形和管脚排列，以及其使用方法。
2．实验仪器、设备、元器件1）数字逻辑电路实验仪1台2）四2输入与门74LS08芯片1片3) 反向器74LS04芯片1片4) 四2输入与非门74LS00芯片1片5) 四2输入或非门74LS02芯片1片6) 四2输入异或门74LS86芯片1片7) 示波器或万用表8) 导线若干3．实验内容与步骤实验前按实验仪使用说明检查实验仪是否正常。
然后选择实验用的IC，按设计的实验接线图接好线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后仔细检查无误后方可通电实验。
实验中需要改动接线时，必须先断开电源，接好后再通电实验。
1）测试非门的逻辑功能(1)任意选择其中一个非门进行实验。
用逻辑开关给门输入端输入信号，当开关拨向二进制“1”时，输入高电平，即“H”；当开关拨向二进制“0”时，输入低电平，即“L”。
(2)用发光二极管(即LED)显示门的输出状态。
当LED亮时，门输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示；当LED暗时，门输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。
门的输出状态也可用电压表或逻辑笔测试。
(3) 按图1-1所示要求连接电路，输入端接逻辑开关A，输出端接指示器。
改变输入状态的高低电平，将A输入端依次接成0，1状态，进行电路仿真，观察输出端电平指示器的显示状态（亮为“1”，灭为“0”），并填写实验结果。
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数字电子技术实验指导书电气与电子工程学院实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1. 熟悉门电路逻辑功能2. 熟悉数字电路实验仪及示波器使用方法二、实验仪器及材料1. 双踪示波器2. 器件74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1 片三、实验内容1.测试门电路逻辑功能（1）.选用双四输入与非门74LS20一只，插入14P锁& 紧插座上按图1.1接线、输入端接K1-K16（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1-L16任意一个）（2）.将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。
表 1.1输出输出1 2 4 5 Y 电压（V）H H H HL H H HL L H HL L L HL L L L2．异或门逻辑功能测试（1）.选二输入四异或门电路74LS86，按图1.2接线，输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）.将电平开关按表1.2置位拨动，将输出结果填入表中。
表 1.2输入输出A B Y Y电压L L L LH L L LH H L LH H H LH H H HL H L H3、逻辑电路的逻辑关系（1）.用74LS00、按图1.3，1.4接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.3、表1.4中，表1.3输入输出A B YL LL HH LH H表1.4输入输出A B Y ZL LL HH LH H（2）.写出上面两个电路逻辑表达式。
五、实验报告1.按各步骤要求填表并画逻辑图。
2.回答问题：（1）怎样判断门电路逻辑功能是否正常？（2）与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？（3）异或门又称可控反相门，为什么？实验二组合逻辑电路（半加器、全加器）一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.学会二进制数的运算规律。
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数字电子技术基础实验指导书（适用于数字逻辑、数字电子技术基础、数字电子技术等课程）北京印刷学院1北京印刷学院信息与机电工程学院信息工程系《数字电子技术基础实验》指导书（适用于数字逻辑、数字电子技术基础、数字电子技术等课程）电路教研室编23实验一 示波器的实验研究一、实验目的与要求1．掌握COS5020型或V —212E 型双踪示波器的使用方法 2．掌握用示波器测量脉冲波形主要参数的方法 3．熟悉TPE —D6数字电路学习机的使用 二、实验设备与器材1．双踪示波器 2．数字电路学习机 三、实验内容与步骤1．双线显示示波器内的CAL 信号通过检验该信号的周期与幅度，熟悉示波器各旋钮的作用，并测量该信号的周期与幅度。
=CAL V =C A L T2．示波器测量用示波器测量数字电路学习机中CP 脉冲的周期（开关放在可调连续脉冲Ⅰ、Ⅱ位置，电位器顺逆时针旋转到底位置），以及该脉冲的逻辑高电平。
=I ax m V =I min T = ax m V = min T3．观察与测量RC 网络对矩形波信号的响应本实验所用的电路形式如图1-1所示。
图1-1 RC 实验电路v I 为输入方波信号，其周期为T =0.1ms 。
（1）RC 微分电路 实验电路中的Z 1和Z 2分别是电容C 和电阻R ，元件参数按表1-1选取，观察与测量输出信号v O 的波形，并测量其脉冲宽度。
（2）RC 积分电路 实验电路中的Z 1和Z 2分别是电阻R 和电容C ，元件参数按表1-2选取，观察与测量输出信号v O 的波形，并测量其脉冲上升时间。
四、预习要求预习RC微分电路和RC积分电路的原理五、实验报告要求记录实验中所观察到的波形及其参数，把输入、输出波形按时间的对应关系画在坐标纸上。
定量和定性分析图1-1电路，输出与输入波形的关系。
表1-1RC微分电路测试纪录表1-2 RC积分电路测试纪录45实验二 晶体管开关特性的研究一、实验目的与要求1．了解晶体管的开关特性2．了解电路参数对晶体管开关时间的影响 二、实验设备与器材1．双踪示波器 2．数字电路学习机 3．数字万用表 三、实验内容与要求1.晶体二极管开关特性的观察与测试 （1）连接电路连接电路如图2-1（a ）所示，输入ƒ = 100kHz 、V =3~5V 的方波信号，用双踪示波器直流档（DC ）观察并画下V i 与V o 的对应时间关系波形于图2-1（b ），标明各点电压值。
（2）测试与比较 将R C 改为1kΩ，画输出波形于图2-1（b ）。
将R C 改为10kΩ，画输出波形于图2-1（b ）。
R C 为不同值时的输出波形进行比较。
iV图2-1 二极管开关特性测量Dv ivv vo R C =1kΩ R C =5.1kΩ R C =10kΩ2.晶体三极管开关特性研究（1）连接电路如图2-2所示，图中T 采用开关管3DK ，输入ƒ = 20kHz 、V =3~5V 的方波，用双踪示波器直流档（DC ）观察并画下V i 与V o 的波形，标明电压值。
V o+5V图2-2 三极管开关特性测量V iV V f =20kHz f =100kHz（b ） 三极管为开关管时的波形图6改变输入频率为ƒ = 100kHz 、V =3~5V 的方波，用双踪示波器直流档（DC ）观察并画下V i 与V o 的波形，标明电平值。
（2）将图中T 改用低频管3BX ，输入ƒ = 20kHz 、V =3~5V 的方波时，记录输出波形。
改变输入频率ƒ = 100kHz 、V =3~5V 的方波，记录输出波形，如图2-3。
图2-3 三极管为低频管时的输出波形V iV V tttf =20kHz f =100kHz（3）加速电容作用观察在图2-2电路基极电阻R 两端并接加速电容C （100pF 或200 pF ），改变电容值观察输出波形V O 的变化，与未接加速电容时进行比较。
并记录当三极管为低频管（3BX ）时的波形于图2-4。
图2-4 三极管为低频管时并接加速电容时的输出波形V iV V t ttf =20kHz f =100kHz（4）对于图2-2电路，若图中T 改用PNP 管的开关管（3CK ）和低频管（3AX ），输入、输出波形如何？四、预习要求预习二极管、三极管的开关特性 五、实验报告要求1．总结二极管、三极管的开关特性 2．加速电容对输出波形的影响7实验三 集成与非门电路的测试一、实验目的与要求1．熟悉与非门主要技术指标的实际测量方法 2．认识与非门的逻辑功能3．进一步熟悉电路学习机的使用方法 二、实验设备与器材 1．双踪示波器 2．数字电路学习机 3．数字万用表 三、实验内容和步骤 1．认识元件及管脚 认识与非门74LS10芯片的逻辑符号，如图3-1。
2．主要指标的测量（1）空载导通电源电流I E1及空载导通功耗P ON ，电路如图3-2。
P ON = V CC •I E1 < 120 mw （典型值50 mw ）即I E1< 14 mA 实测I E1 = （ mA ）（2）空载截止电源电流I E2及空载截止功耗P OFF ，电路如图3-3。
P OFF = V CC •I E2 < P ON 实测I E2 = （ mA ） （3）输入短路电流I I S将“与非门”任一输入端经mA 表接地，其余悬空测出的I I S 应小于2 mA ，电路如图3-4。
实测I IS = （ mA ）图3-2 P ON 的测量1 2 4Z 图3-1 “与非门”逻辑符号 （a ） 3输入正与非门 74LS101A 1B 2A 2B 2C 2Y GND图3-1（b ）图3-3 P OFF 的测量48（4）开门电平V OH 及输出低电平V OL 的测量按图3-5接线，用数字万用表直流电压2.5V 量程档测量V I ,先V I = 0然后逐渐增加。
用数字万用表的电压档测量V O （用直流20V 量程），当V O 达到低电平（0.35V ）时的输入电平即为V ON （应<1.8V ）。
V I 的获取如图3-6。
实测V ON =（ V ）将V I 调到1.8V 测量，然后逐渐减小，此时的输出电压即为V OL （应小于0.35V ）。
实测V OL =（ V ）（5）关门电平V OFF 及输出高电平V OH 的测量电路如图3-5，先通过调节V I 使V O 为低电平，然后逐渐减小V I ，当输出端刚刚达到高电平2.7V 时的输入电平即为V OFF （应大于0.8V ）。
实测V OFF =（ V ）将V I 调到0.8V ，然后逐渐增大V I ，测量此时的输出电压即应为V OH （应大于3.2V ） 实测V OH =（ V ）3．验证与非门输入端负载特性 （1）与非门三输入端接一可调电阻R ，调整R=200Ω，测量输出电压V O =（ V ）；调整R=10kΩ，测量输出电压V O =（ V ）。
电路如图3-7所示。
（2）与非门输入端全部悬空，测量输出电压 V O =（ V ）（3）与非门输入端全部为高电平（V I =5V ），测量输出电压V O =（ V ）四、预习要求1．预习TTL 与非门工作原理，主要指标的定义 2．认真阅读实验指导书 五、实验报告要求1．根据所测的主要指标说明其含义，并说明是否符合要求 2．与非门不用的输入端应如何处理才好图3-4 I I S 的测量2 I S图3-5 V ON 和V OL 的测量Ω OE I1kΩ图3-6 获取电压V图3-7 输入端负载特性测试O R实验四逻辑门电路的研究一、实验目的与要求1．掌握常用集成逻辑门的逻辑功能，熟悉其外形和外引线排列2．了解控制门的控制作用3．学习查阅手册二、使用仪器和器件1．双踪示波器2．数字电路学习机3．数字万用表三、实验内容和步骤1．TTL集成门电路逻辑功能的测试（1）“与非门”逻辑功能的测试在学习机上任选一个三输入端“与非门”（TTL：74LS10或CMOS：CD4012）。
按表4-1完成逻辑功能的测试（输入接逻辑电平开关）。
表4-1 “与非门”逻辑功能的测试（2）用“与或非”门实现C=的逻辑功能Z+AB在学习机上任选一个“与或非”门（TTL：74LS64或CMOS：CD4085），按C=ABZ+的逻辑功能接线，并完成表4-2的功能测试和记录。
“与或非门”逻辑符号如图4-1所示。
表4-2 “与或非”逻辑功能注：测试前应将“与或非”门不用的与门组及多余的输入端，作适当处理。
910图 4-1 “与或非门”逻辑符号Z图4-2 “与非门”控制功能测试电路2．“门”控制功能的测试 （1）“与非”门控制功能的静态测试设A 为信号输入端，B 为控制端。
A 端输入单脉冲，B 端接逻辑电平“0”或“1”。
输出端Z 接发光二极管（LED ）进行状态显示，或称“0-1”显示，高电平亮。
按表4-3进行测试，总结“封门”、“开门”的规律。
接线如图4-2所示。
表4-3 “与非门”门控功能（2）与非门控制门动态测试 A 端输入CP 脉冲T =0.2ms ，B 端输入“1”、“0”信号，观察记录输入输出波形。
（3）用“与非门”组成下列电路，并测试它们功能。
“或”门 B A Z += “与”门 B A Z ⋅= “或非”门 B A Z += “异或”门 CD AB Z ⊕=要求画出电路图和测试记录表格，并完成逻辑功能的测试，总结控制功能的规律。
四、预习要求要求认真阅读实验指导书，并完成要求自拟的实验电路和测试记录表格，本实验属于一般验证性实验，学生应对所有测试表的结果预先填好，实验时只做验证，要做到胸中有数，防止盲目性，增加自觉性。
五、实验报告要求 总结“与非”、“与”、“或非”、“或”门的控制功能实验五 三态输出（TS ）门和集电极开路（OC ）门一、实验目的与要求1．掌握TTL TS 门、OC 门的功能测试方法 2．了解三态门（TS ）的用途3．了解集电极开路（OC ）门的特性 二、使用仪器和器件1．双踪示波器2．数字电路学习机 3．数字万用表三、实验内容与步骤1． TTL TS 门的功能（1）三态输出缓冲器74LS125的逻辑符号如图5-1所示。
图中EN 端为缓冲器的控制端。
令EN 为高电平（3.6V ），V I 分别取0V ，3.6V ，用数字万用表的直流电压档测出相应的V O 值。
再令EN 为低电平（0V ），V I 分别取0V ，3.6V ，测出V O 端相应的值。
其中，3.6V 电压由图5-2电路分压取得。
将实验的结果填入下表5-1中。
表5-1（2）若将TS 门和与非门连接使用，如图5-3所示电路。
EN 取不同的逻辑电平，改变V I 和B 端的输入电平值，测出TS 门的输出电压V O 的值，将结果填入下表5-2中。