印刷机CPK值之计算公式介绍
CPK作业指导
CPK作业指导CPK（Capability Process Index）是一种统计指标，用于衡量一个过程的稳定性和能力。
它可以帮助我们判断一个过程是否能够满足特定的要求，并提供了一种比较不同过程能力的方法。
本文将为您提供一份CPK作业指导，以帮助您正确进行CPK分析。
1. 了解CPK的基本概念CPK是通过计算过程的长期能力指数来评估过程的稳定性和能力。
它考虑了过程的平均值、标准差和规格限制，可以帮助我们确定过程是否能够满足特定的要求。
CPK的计算公式为：CPK = min((USL-μ)/(3σ), (μ-LSL)/(3σ))其中，USL为上规格限，LSL为下规格限，μ为过程的平均值，σ为过程的标准差。
2. 收集数据在进行CPK分析之前，我们需要收集足够的数据来评估过程的能力。
数据可以通过抽样、实验或者生产过程中的实际观察来获得。
通常情况下，我们建议收集至少30个样本数据，以确保结果的可靠性。
3. 计算过程的平均值和标准差在进行CPK分析之前，我们需要计算过程的平均值和标准差。
平均值可以通过将所有样本数据相加并除以样本数量来计算。
标准差可以通过计算样本数据的方差并取平方根来获得。
4. 确定规格限规格限是指过程必须满足的上下限要求。
规格限可以根据产品设计要求、客户需求或者行业标准来确定。
确保规格限的准确性非常重要，因为它们将直接影响到CPK的计算结果。
5. 计算CPK指数根据上述的CPK计算公式，我们可以计算出过程的CPK指数。
CPK指数的范围通常为0到1，其中1表示过程能力非常好，能够满足所有的规格限要求；而0表示过程能力非常差，无法满足规格限要求。
6. 解读CPK指数根据计算出的CPK指数，我们可以对过程的能力进行解读。
通常情况下，CPK指数大于1.33表示过程能力良好，能够满足大部分的规格限要求；而CPK指数小于1表示过程能力较差，需要进一步改进。
7. 分析CPK指数的结果如果CPK指数不满足要求，我们需要进一步分析其原因，并采取相应的改进措施。
CPK的介绍以及计算公式
是呈鐘形的常態分配。
99.73％
95.45％
68.26％
-∞
+∞
-3σ -2σ -1σ U +1σ +2σ +3σ
品技部
7
平均數與標準差
1.從理論上觀點:平均數是代表一群數值的一個數值，標準差則表示該 數值間差異大小的數值。
2.平均數與標準差的用途:當有兩類燈泡單價一樣，如果A 牌燈泡平均 壽命800小時， B牌燈泡平均壽命700小時，可能會購 買A牌燈泡，但是如果A牌燈泡壽命有長達1200小時， 有短至200小時；B牌燈泡壽命最長為900小時，最短 為600小時，這時候就不一定要買A牌燈泡，因為A牌 燈泡的品質差異太大了。因此表示品質的好壞，常須 同時考慮平均數的大小與變異的大小。
4.善用機器設備: 估計機器能力，可妥善安排適當機器生產適當零件。
5.改善的評估: 製程能力可作為改善前後比較之簡單指標，作為製程檢討 的共同語言。
品技部
6
常態分配
常態分配是所有統計分配中最重要的分配，這是因為: 1. 很多社會現象，自然界以及日常生活上之資料均可用常態分配來解
釋，如成年人的身高、體重，味全236cc盒裝鮮奶的容量等。 2. 很多分配以常態分配為漸進分配，在樣本數夠大的情況下都趨近於
Cp,Cpk,PPM對照表
精密度指標
綜合能力指標
Cp
PPM
Cpk
PPM
0.17
617100
-0.33
864100
0.33
317310
-0.17
697670
0.50
133614
0.00
CPK的介绍以及计算公式
CPK的介绍以及计算公式CPK是一种流行的质量管理工具，用于衡量一个过程的稳定性和性能能力。
它是一个统计指标，用于确定一个制程是否能够生产出符合规格要求的产品。
CPK值范围从0到1，数值越高，说明质量表现越好。
本文将介绍CPK的背景和应用，并详细说明CPK的计算公式。
CPK最早由美国质量管理专家Dr. William H. Mauldin于1968年提出。
它是六西格玛质量管理方法的重要组成部分，帮助企业评估和改善其制程能力。
CPK常用于制造业，特别适用于需要维持严格偏差控制的行业，如汽车制造、电子产品制造和医药行业等。
通过CPK，企业可以在制程中及时发现问题并采取措施，以保证生产出高质量的产品。
CPK的计算基于统计原理，需要收集一系列的数据来进行分析。
下面是CPK计算的步骤和公式：1.收集数据：首先，需要收集制程的数据，这些数据可以来自于制造过程中的检测和测量。
通常，数据应该包含至少30个样本点，以便能够准确评估制程的能力。
2.计算制程分布的标准差：通过计算制程的标准差，可以判断该制程的稳定性。
标准差的计算公式如下：其中，n为样本点数，Xi为第i个样本点，X̄为所有样本点的平均值。
3.计算制程上下公差：公差是产品允许的最大和最小偏差范围，CPK通过制程的上下公差来应用。
公差由用户需求和产品规格来确定。
4. 计算过程能力指数(Cpk)：Cpk用来衡量制程能力，它表示制程分布与上下公差的关系。
Cpk的计算公式如下：其中，USL为上公差，LSL为下公差，σ为制程标准差。
5. 判断Cpk的意义：Cpk值可以提供与制程能力有关的重要信息。
一般来说，Cpk值大于1.33可以被认为是一个能够产生高质量产品的制程。
低于1的Cpk值则表示制程的稳定性和能力有待改善。
使用CPK的好处在于可以帮助制造商确定其制程是否稳定并能够生产出达到要求的产品。
通过CPK值的计算，制造商可以及早发现制程中可能存在的问题，并采取措施进行纠正。
CPK作业指导书
CPK作业指导书一、背景介绍CPK（Capability Process Index）是一种统计学方法，用于评估过程的稳定性和一致性。
它是衡量过程能力的指标，通过计算过程的偏差和过程能力指数，帮助我们判断过程是否稳定，并确定是否需要进行改进。
二、CPK的计算方法CPK的计算需要以下数据：1. 过程的上限规格限（USL）和下限规格限（LSL）：这是产品或过程所允许的最大和最小值。
2. 过程的平均值（Mean）和标准差（Standard Deviation）：这是过程数据的统计指标。
CPK的计算公式如下：CPK = min((USL - Mean) / (3 * Standard Deviation), (Mean - LSL) / (3 * Standard Deviation))三、CPK的解释和评估1. CPK值的范围：- CPK > 1：过程能力良好，能够满足规格要求。
- 0.67 < CPK < 1：过程能力一般，可能会出现一些不合格品。
- CPK < 0.67：过程能力差，需要进行改进。
2. CPK值的解释：- CPK = 1：过程的规格限与平均值之间的差异为3倍标准差的范围，过程能力较好。
- CPK > 1：过程的规格限与平均值之间的差异小于3倍标准差的范围，过程能力更好。
- CPK < 1：过程的规格限与平均值之间的差异大于3倍标准差的范围，过程能力较差。
3. CPK的评估：- CPK值越大，过程的能力越好，能够生产出更多符合规格要求的产品。
- CPK值越小，过程的能力越差，可能会产生较多的不合格品。
四、CPK的应用场景CPK常用于制造业和质量管理领域，用于评估和改进生产过程的稳定性和一致性。
它可以帮助企业发现生产过程中的问题，并采取相应的改进措施，以提高产品质量和生产效率。
五、CPK的改进方法1. 收集更多的数据：通过收集更多的过程数据，可以更准确地计算CPK值，从而评估过程能力。
CPK值计算方式
在评估SMT设备或在选型的时候，常听到“印刷机、贴片机或再流焊设备的Cp和Cpk值是多少？Cp、Cpk是什么意思呢？CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写，汉语译作工序能力指数，也有译作工艺能力指数过程能力指数。
工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。
对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。
若工序能力越高，则产品质量特性值的分散就会越小；若工序能力越低，则产品质量特性值的分散就会越大。
那么，应当用一个什么样的量，来描述生产过程所造成的总分散呢?通常，都用6σ(即μ＋3σ)来表示工序能力：工序能力＝6σ若用符号P来表示工序能力，则：P＝6σ 式中：σ是处于稳定状态下的工序的标准偏差工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。
但是这个参数能否满足产品的技术要求，仅从它本身还难以看出。
因此，还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。
这个参数就叫做工序能力指数。
它是技术要求和工序能力的比值，即工序能力指数=技术要求／工序能力当分布中心与公差中心重合时，工序能力指数记为Cp。
当分布中心与公差中心有偏离时，工序能力指数记为Cpk。
运用工序能力指数，可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。
工序能力指数的判断工序的质量水平按Cp值可划分为五个等级。
按其等级的高低，在管理上可以作出相应的判断和处置(见表1)。
该表中的分级、判断和处置对于Cpk也同样适用。
表1 工序能力指数的分级判断和处置参考表Cp值级别判断双侧公差范(T) 处置Cp>1.67 特级能力过高T＞106 (1)可将公差缩小到约土46的范围(2)允许较大的外来波动，以提高效率(3)改用精度差些的设备，以降低成本(4)简略检验 1.67≥Cp1.33 一级能力充分T＝86—106 (1)若加工件不是关键零件，允许一定程度的外来波动(2)简化检验(3)用控制图进行控制1.33≥Cp>1.0 二级能力尚可T＝66—86 (1)用控制图控制，防止外来波动(2)对产品抽样检验，注意抽样方式和间隔(3)Cp—1．0时，应检查设备等方面的情示器1.0≥Cp>0.67 三级能力不足T＝46—66 (1)分析极差R过大的原因，并采取措施(2)若不影响产品最终质量和装配工作，可考虑放大公差范围(3)对产品全数检查，或进行分级筛选0.67>Cp 四级能力严重不足T＜46 (1)必须追查各方面原因，对工艺进行改革(2)对产品进行全数检查过程控制中的意义CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。
cpk计算公式详细
cpk计算公式详细
CPK，即Cp、Cpk和Cpm，是能够描述过程能力的重要指标。
其中，Cp为<有效性指标，
Cpk为“程度比较指标”，而Cpm为“变异比较指标”。
Cp指标是基于正态分布状态，即认为过程输出跟正态分布有关，它反映了生产过程能劦程度。
假定正态分布状态，考虑生产过程的变异，当生产过程不确定时，采用正态分布状态，使用Cp进行数据解释，把样本视为随机变量，并采用工业统计学技术，可以检验该过程
的有效性。
Cp=（USL-LSL）/（6σ）
其中USL为上控制限，LSL为特定时期的下控制限，σ为求出的总体标准差。
指标Cpk可直接使用先前提及的Cp正态分布表来计算，它能反映生产过程偏离中心位置
的程度，有助于判断是否存在偏差，以及偏差的程度。
Cpk=（（USL-μ）/（3σ）+（μ-LSL）/（3σ））
其中μ，又称中心位置，为预期的过程均值。
指标Cpm指的是单次变异比较指标，而Cpk可看做是求到批内变异比较指标，受理论认识
和客观规律，他们对事件信息的价值差不太多。
Cpm=（USL-LSL）/（6x）
其中x为变异数据各个样本，可以是极差、组内极差或误差等指标。
总之，CpK和CPM是用来评估过程质量有效性和可控性的重要检验工具，它们通过计算Cp、Cpk和Cpm来比较过程的质量，为改进过程的质量，提供客观的指导。
同时，Cp/Cpk/Cpm
指标可以提前发现潜在的质量问题，帮助企业更好地优化生产管理，提高产品质量，降低
成本，改善企业的经营效率。
cpk计算公式及详细解释
cpk计算公式及详细解释cpk（简称：Cp）是一个统计指标，它可以衡量特定程序的质量水平。
Cp评估是指对过程的控制状况（特别是在稳定的工艺过程中）的评估。
利用该指标，可以清楚地了解过程的控制水平，从而快速、有效地发现未控制的过程，从而可以采取措施进行优化，从而改善产品质量。
Cpk由以下公式组成：Cpk = min ( (T1 me) / (3σ) , (T2 me) / (3σ) ) 其中，T1和T2分别是规定的控制限，me是样本的平均值，σ是样本的标准差。
Cpk的计算方法及其解释：1、先确定规定控制限：既然要评估控制能力，那就要首先确定规定的控制限，即T1和T2，T1和T2分别是工艺上最高接受限度和最低接受限度，均为小于或等于0；2、计算样本的平均值：随后，利用样本测量结果计算出样本的平均值me，统一按照标准计算；3、计算样本的标准差：接下来，用测量结果计算样本的标准差σ，取其绝对值；4、计算Cpk：最后，使用以上参数计算Cpk，公式如上所示；5、解释Cpk：Cpk的值反映了过程的控制水平，Cpk的取值范围一般是0到10，若Cpk的取值在0-1之间，表明过程的控制水平低，需要重新检查并找出数据中的异常值；若Cpk的取值在1-2之间，表明过程的控制水平一般，需要多做努力，提高控制水平；若Cpk的取值在2-3之间，表明过程的控制水平良好，但仍可能存在较小改进空间；若Cpk的取值在3-4之间，表明过程的控制水平非常良好，此时可以进行改善，以进一步提高控制水平；若Cpk的取值大于4，表明过程的控制水平非常出色，可以放心使用。
Cpk具有以下优点：1、能够综合评估过程的控制水平：Cpk指标能够准确反映工艺过程中变量的控制水平；2、能够快速发现未控制的过程：Cpk指标可以很快地将未控制的过程从其他控制的过程中区分出来，因此可以确保良好的质量控制；3、能够及时对工艺过程进行优化：Cpk指标可以帮助发现问题，以及对工艺过程进行优化，从而改善产品的质量。
CPK计算步骤范文
CPK计算步骤范文1.收集数据：首先，收集一批过程的样本数据。
这些数据可以是产品的尺寸、重量、时间等可测量的特征。
2.计算过程均值和标准差：使用收集到的数据，计算过程的均值（X）和标准差（σ）。
过程均值表示数据的中心趋势，标准差表示数据的离散程度。
3.确定上下规格限：根据产品的规格要求，确定上下规格限。
规格限是一对值，表示产品允许的最小和最大值。
4.计算过程能力指数：根据上述步骤，计算过程能力指数。
过程能力指数可以通过以下公式计算：Cp=(USL-LSL)/(6σ)其中，Cp表示过程能力指数，USL表示规格上限，LSL表示规格下限，σ表示过程标准差。
如果Cp大于1，表示过程的能力超过了产品的规格要求，说明过程是可控制的。
5.计算过程符合率：过程符合率是指过程生产的产品在规格范围内的概率。
过程符合率可以通过计算标准正态分布曲线下面积来得到。
首先，根据过程的均值和标准差，计算出过程的上下三倍标准差的极限值。
然后，根据规格上下限，计算出过程上下限与极限值之间的距离。
最后，使用标准正态分布表或统计软件，计算出标准正态分布曲线下面积。
过程符合率可以通过以下公式计算：Pp=(USL-LSL)/(6σ)其中，Pp表示过程符合率，USL表示规格上限，LSL表示规格下限，σ表示过程标准差。
如果Pp大于1，表示过程的符合率达到了100%，说明过程是可控制的。
6. 计算过程能力指数（Cpk）：过程能力指数（Cpk）是用来衡量过程中上限和下限之间偏离规格范围的程度。
Cpk可以通过以下公式计算：Cpk = min((USL - X) / (3σ), (X - LSL) / (3σ))其中，Cpk表示过程能力指数，USL表示规格上限，LSL表示规格下限，X表示过程均值，σ表示过程标准差。
如果Cpk大于1，表示过程的能力超过了产品的规格要求，说明过程是可控制的。
7.解释结果：根据计算出的CPK指数和过程符合率，解释结果。
如果CPK指数大于1且过程符合率达到100%，说明过程是可控制的。
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DEK印刷機CPK值之計算公式介紹
＊經由測量同一點的重覆50 次cycle之後,得到如下樣本數:
＊取樣數代表50個與測量點的誤差值- 圖例如下↓
Process Capability
Sample (取樣數) : X1,X2,~~~X50 共50個
Mean (平均值) : X1+X2+~~+x50 / 50 =X
Standard Deviation ( 標準差= Sigma ) 計算如下:
(X1-X )²+(X2-X )²+ ~ ~ +(X50-X )²/ 50= A Standard Deviation = A開根號CPK計算方式如下:
Upper CPK = ( USL –X ) / 3Sigma Lower CPK = ( X– LSL) / 3Sigma
CPK = min ( Upper CPK& Lower CPK ) ←取數值最小者
USL(Upper Specification Limit)=規格值上限(+0.025mm)
LSL(Lower Specification Limit)=規格值下限(-0.025mm)
P.S : 以上是MPM-UP3000的規格值±o.oo1 inch, 僅供舉例說明
說明: 1.當X愈接近USL/LSL中心值(一般為0)時愈好(意謂~取樣點均勻分佈於中心值+/- 兩側)
2. X1,X2,~~~,X50等樣本分布愈靠近中心線(X)愈好
*因為Sigma的值愈小→所得出CPK值愈大*
3.客戶可隨時在DEK機台求取CPK值, 而MPM無此功能。