恒温晶振测试方法
晶振的检测方法
压控频率线性度的检测
晶振主要技术参数的检测
DAPU 图2中为理想的压控频率曲线，B和C为偏离A的极限曲线(平行于A线），D为实 际的压控频率曲线。
输出信号为方波的检测 a占空比测试 按图1连接，用示波器检测晶振的一个振荡周期，将波形上下半周期所占的时间
波，负载变化波形应无明显变化，测试探头接频率计，频率计读数应稳定不乱
（达到1 x 10-7），而且改变压控电压，频率计读数随压控电压的变化而均匀变
化，压控电压不变时频率也相对稳定，尤其是压控牵引频率的高端不应有跳频、
乱频现象。
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晶振主要技术参数的检测 输出信号为方波的检测： e负载能力的检测 按图1连接，图l中的负载参照图4设置，测试探头接示波器，示波器测得波形为
方波，负载变化波形应无明显变化，测试探头接频率计，频率计读数应稳定不乱 （达到1 x 10-7），而且改变压控电压，频率计读数随压控电压的变化而均匀变
DAPU 化，压控电压不变时频率也相对稳定，尤其是压控牵引频率的高端不应有跳频、
乱频现象。
图4中TTL适用于54/74系列的标准TTL和高速TTL电路，CL为15pF(应包含探头
拉力台
4
振动实验
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 204
振动试验台
5
机械冲击实验
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 213
机械冲击台
6
跌落实验
GB 2423.8 自由跌落试验方法
跌落试验机
7
稳态加速度
GJB 360A-电子及电气元件试验方法 方 法 212
离心机
关于恒温晶振
关于恒温晶振一：说明：恒温晶振采用高精密恒温槽给高稳定石英晶体进行恒温处理。
使晶体保持长期温度恒定状态从而达到频率稳定输出，其优越性为高稳定，低老化，低相位等特点因而得到广泛应用。
但其频率精度会因小量的老化变量发生变化，特别是在一些长期工作的仪器设备里，有的晶振工作多则几十年，少则几年。
这样晶振存在一定的老化变量会导致仪器设备偏离或失效，因此恒温晶振可校准也是必然和必须的。
一．频率校准方式可分如下为三大类：1.恒温晶振内部校准：恒温晶振内部电位器校准，采用BOURNS公司的电阻式精密可调电位器，常用如BOURNS公司的3223W-1-203E，阻值20K可达到11圈的可调圈数，能精确调准晶振输出频率精度，生产恒温晶振时便捷。
其优点为：客户使用时不用再选择电位器；不用再对频率进行太多校准；频率精度一致性好。
其缺点为：产品为开孔方式密封性能下降，可能导致产品内部出现杂物，引起质量事故引发质量纠纷；操作不方便；设计时对可调孔位设计受晶振位置牵控；环境适应性差，高低温下因密封性能下降会导致晶振内部受潮，产品性能下降；抗振能力下降，因可调孔为螺丝结构，加上晶振外壳很薄，受力牙纹在2~4个左右在振动时可能导致螺丝脱落；可调为易损件，在多次调整和长期高温（90~100度）下性能下降维修和更换困难；设计难度和可控度加大，体积，指标各方面难达成。
2.不可调，产品校准频率输出：其优点为：密封性好。
其缺点为：频率精度差；老化后不能校准；维护维修性差3．外部校准：客户使用时对校准方式可进行调整，合理利用外型结构灵活性高；校准精度高，因参考电压为晶振产品内部供给其稳定性和内部校准方式一样；密封性高，可达低真空，因高密封性产品高低温下气压变化不影响产品内部湿度提高产品稳定性定性，提高长期老化率；可维修，维护性好，因可外校设计者可选择合理位置，更换校准方试；抗振能力强，产品合密封，无松动器件。
外部校准分如下几种：3.1外部机械电位器校准：此种方式很常用，一般由晶振提供参考电压输出，外接电位器。
晶振的检测方法
晶振的检测方法晶振是一种用于产生稳定频率信号的元件，广泛应用于电子设备中。
在电子产品的设计和生产过程中，对晶振的质量和性能进行检测是非常重要的。
本文将介绍晶振的检测方法，帮助读者了解如何对晶振进行准确有效的检测。
首先，对晶振进行外观检查。
外观检查是最基本的检测方法之一，通过肉眼观察晶振的外观是否完整，有无损坏或破损。
同时，还需要检查晶振的引脚是否焊接牢固，外壳是否有裂纹或变形等情况。
外观检查可以初步判断晶振是否存在明显的质量问题。
其次，进行静态参数测试。
静态参数测试是对晶振的静态电性能进行测试，包括频率稳定性、频率偏差、谐波失真等参数的测试。
通过专业的测试仪器，可以对晶振的静态参数进行准确测量，从而判断晶振的质量和性能是否符合要求。
然后，进行动态参数测试。
动态参数测试是对晶振在实际工作条件下的性能进行测试，包括启动时间、启动电平、工作电流等参数的测试。
通过模拟实际工作环境，对晶振进行动态参数测试，可以更全面地了解晶振的性能表现，判断其是否稳定可靠。
最后，进行可靠性测试。
可靠性测试是对晶振的长期稳定性和耐久性进行测试，包括温度循环测试、湿热循环测试、振动测试等。
通过模拟各种极端环境条件下的测试，可以评估晶振的可靠性和耐久性，判断其在实际使用中是否能够长期稳定工作。
综上所述，晶振的检测方法包括外观检查、静态参数测试、动态参数测试和可靠性测试等多个方面。
通过综合运用这些检测方法，可以全面、准确地评估晶振的质量和性能，为电子产品的设计和生产提供可靠的保障。
希望本文能够帮助读者更好地了解晶振的检测方法，为实际工作提供参考和指导。
晶振匹配测试方法
晶振匹配测试方法
嘿，朋友们！今天咱就来聊聊晶振匹配测试方法。
你知道吗，晶振就像是电子产品的心跳啊！它稳定的节奏才能让各
种设备正常运转呢。
那怎么知道晶振是不是匹配得恰到好处呢？
首先啊，咱得有合适的测试设备。
这就好比你要去量身高得有把尺
子呀！没有工具可不行。
然后呢，把晶振接入到测试电路中，就像给
它安了个小家，让它在里面好好表现。
接着，观察它的输出信号。
这就好像看一个人跑步，是不是步伐均
匀有力呀。
如果信号乱七八糟，那肯定不行啦，这晶振就不太靠谱嘛！
再说说测试频率吧。
这就像是给晶振来个“速度测试”，看看它能不
能达到要求的频率。
要是跑慢了或者跑快了，那可就出问题咯！
还有啊，稳定性也特别重要。
就好比一个人走路，一会儿快一会儿慢，那能行嘛！晶振得稳稳当当的，不能一会儿正常一会儿又抽风呀。
咱可以多做几次测试呢，就像考试多检查几遍一样，这样才能更放
心呀。
要是一次就下结论，万一出错了咋办呢？
你想想看，要是手机里的晶振没匹配好，那信号一会儿有一会儿无的，多烦人呀！或者电脑的晶振不稳定，那电脑还不得经常死机呀！
这可不得了嘞！
所以呀，晶振匹配测试可不能马虎，得认真对待。
就像给房子打地基一样，得稳稳的，不然房子可盖不结实哟！咱得保证晶振在各种设备里好好工作，让我们的生活更加便利和顺畅呀。
总之呢，晶振匹配测试方法就是要仔细、认真、多尝试，不能随随便便就放过任何一个可能有问题的地方。
只有这样，我们才能放心地使用那些依赖晶振的电子产品呀，你们说是不是呢？。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景和目的晶振是一种常见的电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如计算机、手机、电视等。
晶振的质量和性能对设备的正常运行至关重要。
本文旨在提供一份详细的晶振检验作业指导，帮助检验员正确进行晶振的质量检验，确保产品的稳定性和可靠性。
二、检验流程1. 准备工作- 确认检验所需的晶振型号和规格。
- 准备检验所需的仪器设备，如频谱分析仪、示波器等。
- 确保检验环境符合要求，无干扰源。
2. 外观检验- 检查晶振外壳是否完整，无裂纹、划痕等损伤。
- 检查引脚是否完好，无弯曲或松动。
3. 电气参数检验- 使用频谱分析仪测量晶振的频率稳定性。
- 使用示波器测量晶振的振荡波形，确保波形稳定、幅度合适。
- 测量晶振的电流消耗，确保在正常范围内。
4. 温度特性检验- 将晶振置于恒温箱中，逐渐调节温度。
- 在不同温度下，测量晶振的频率变化情况，记录数据。
- 根据数据分析晶振的温度特性，判断其是否符合要求。
5. 环境适应性检验- 将晶振置于高温湿热环境中，持续一段时间。
- 在环境适应性测试结束后，进行电气参数检验，确保晶振的性能未受到影响。
6. 报告撰写- 将检验结果整理成报告，包括晶振的外观检验、电气参数检验、温度特性检验和环境适应性检验的数据和分析结果。
- 报告中应包括晶振的型号、规格以及检验日期等信息。
三、数据分析和判定标准1. 外观检验- 外壳完整，无损伤。
- 引脚完好，无弯曲或松动。
2. 电气参数检验- 频率稳定性：在正常工作条件下，频率变化不超过规定范围。
- 振荡波形：波形稳定，幅度合适。
- 电流消耗：在正常工作条件下，电流消耗符合规定范围。
3. 温度特性检验- 频率变化率：在不同温度下，频率变化率不超过规定范围。
4. 环境适应性检验- 经过高温湿热环境测试后，晶振的性能未受到影响。
四、注意事项1. 检验员应具备一定的电子元器件知识和实验操作经验。
2. 在检验过程中，应注意安全，避免触碰高压电源或其他危险部件。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是电子设备中常用的元器件之一，用于产生稳定的时钟信号。
在电子制造过程中，对晶振的质量进行检验是非常重要的，以确保设备的正常运行。
本文将详细介绍晶振检验的作业指导，包括检验步骤、所需工具和设备，以及常见问题和解决方法。
二、检验步骤1. 准备工作a. 确保工作环境清洁、整齐，并具备良好的静电防护措施。
b. 准备所需工具和设备，包括万用表、示波器、测试夹具等。
2. 外观检查a. 检查晶振外壳是否完整，无裂纹、划痕或变形。
b. 检查引脚是否完好，无弯曲或损坏。
3. 电性能检验a. 使用万用表测量晶振的电阻值，确保在正常范围内。
b. 使用示波器观察晶振的波形，确保波形稳定且频率准确。
4. 频率测量a. 将晶振连接到测试夹具上，并将测试夹具连接到频率计。
b. 打开频率计，记录晶振的频率值。
c. 将测得的频率值与晶振规格书上的标准值进行比较，确保在允许误差范围内。
5. 温度特性测试a. 将晶振放置在恒温箱中，并设置温度范围。
b. 在每个温度点上，测量晶振的频率，并记录下来。
c. 将测得的频率值与晶振规格书上的标准值进行比较，确保在允许误差范围内。
三、所需工具和设备1. 万用表：用于测量晶振的电阻值。
2. 示波器：用于观察晶振的波形。
3. 测试夹具：用于连接晶振并测量频率。
4. 频率计：用于测量晶振的频率。
5. 恒温箱：用于测试晶振的温度特性。
四、常见问题和解决方法1. 外观检查中发现晶振外壳有裂纹或划痕。
解决方法：更换晶振，确保外壳完好。
2. 电性能检验中测量到的电阻值异常。
解决方法：检查测量连接是否正确，如果连接正常仍有异常值，可能是晶振本身存在问题，建议更换晶振。
3. 示波器观察到的晶振波形不稳定。
解决方法：检查示波器设置是否正确，确保采样率和触发方式正确。
如果问题仍存在，可能是晶振本身存在问题，建议更换晶振。
4. 频率测量结果与标准值存在较大偏差。
解决方法：检查测试夹具和连接是否正确，确保没有松动或接触不良。
一种晶振频率测试方法
一种晶振频率测试方法引言晶振（Crystal Oscillator）是电子设备中常见的被动元件之一，用于产生稳定的频率信号。
在电子设备的设计、制造和维护过程中，经常需要对晶振的频率进行测试。
本文将介绍一种简单可行的晶振频率测试方法。
原理晶振的频率测试是通过测量晶振振荡器输出的频率来进行的。
具体原理如下：1. 将晶振振荡器输出的频率分频，得到一个合适的测量范围。
2. 使用计数器将分频后的脉冲进行计数并计时，得到一定时间内的脉冲个数。
3. 根据计数结果和测量时间，计算出晶振的频率。
实施步骤步骤一：准备测试设备1. 准备一台具有计数器功能的示波器，或者单独的计数器设备。
2. 准备一根合适的信号线和探头，用于连接晶振振荡器的输出端和测试设备的输入端。
步骤二：连接和设置测试设备1. 将信号线的一端插入晶振振荡器的输出端，并确保连接牢固。
2. 将信号线的另一端连接到测试设备的输入端。
3. 根据测试设备的操作说明书，设置测试设备的参数，如输入阻抗、参考电平等。
步骤三：进行频率测试1. 打开晶振振荡器的电源，确保晶振振荡器正常工作。
2. 启动测试设备，开始测量晶振振荡器的频率。
3. 根据测试设备的操作说明书，选择适当的测量模式，如即时测量或定时测量。
4. 进行频率测试，测量一定时间内的脉冲个数。
5. 根据测量结果和测量时间，计算出晶振的频率。
注意事项1. 在连接测试设备之前，确保晶振振荡器的输出端不与其他电路连接，以免影响测试结果。
2. 在测量频率时，应选择适当的分频比例，以保证测试结果在测试设备的测量范围内。
3. 测量时间越长，测量结果越准确，但同时也会增加测试时间。
根据需要，选择合适的测量时间。
4. 在进行频率测试过程中，应注意测试设备和线缆的稳定性，确保信号传输的可靠性和准确性。
结论通过上述步骤，我们可以利用计数器设备或计数器功能的示波器有效地测量晶振的频率。
这种晶振频率测试方法简单易行，只需要一些基本的测试设备和线缆即可完成。
晶振的检测技巧
晶振的检测技巧
晶振是电子设备中重要的元器件之一，其功用主要是提供稳定的振荡信号。
晶振在电路板的使用中，可能会遇到一些故障，因此需要进行检测。
以下是几个晶振的检测技巧。
1. 用万用表检测晶振的电阻值：将万用表转到电阻档，将晶振的两个脚分别与万用表的两个探针接触。
正常情况下，晶振的电阻值应该是无穷大，如果电阻值为0或非常小，可能是晶振损坏。
2. 用示波器检测晶振的振荡波形：将示波器的探头接到晶振的两个脚上，观察示波器显示的波形是否为正弦波，频率是否正确。
如果波形不正常，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。
3. 用震荡电路板检测晶振的工作状态：将晶振连接到震荡电路板上，观察震荡电路板上的指示灯是否闪烁。
如果指示灯不亮或者灯亮但不闪烁，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。
在检测晶振时，需要注意以下几点：
1. 检测前必须切断电源，避免电路板上的其他元器件受到电流的干扰。
2. 检测时应该使用正确的工具和设备，例如万用表、示波器、震荡电路板等。
3. 如果发现晶振损坏，应该及时更换，避免影响整个电路板的正常工作。
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VCOCXO恒温晶振测试方法
开机特性：
晶振与测试支架安装符合要求。
电源、接地、输出、压控端检测无误后。
在5分钟内记录最大电流值：开机功率P=5V×I max＜3W
加电5分钟后，电流平稳运行，测平衡电流值。
平衡功率：P=5V×I＜1.5W
=15℃～25℃之内
以上测试温度应在T
测温度稳定度：
将晶振加电，加电时间30分钟，记录频率值（定温15℃—25℃），在不断电的情况下将晶振存入T1=-30℃的恒温室内，停留30分钟，记录频率F T1值,然后升温至T2=70℃，停留30分钟记录频率值F T2
计算方法①
F max - F min
= F x ＜±0.03ppm
F o
计算方法②
F T2 - F To
= F X1
F o
（F X1与F X2相对F o≤±0.03ppm）
F T1 - F To
= F X2
F o
在这以上测试时，最好是将V C端与地端用一导线直接相连，以防外部信号干扰。
压控测量：
将V C端按2.5V电源电压。
检测晶振的频率是否位于F0±0.2ppm.。
然后变电压至0V 检测频率低于或小于0.7 ppm.。
记频率值。
将电压改变至5V，
检测频率是否高于或大0.7ppm。
如果满足，则晶振压控合格。
负载变化控测
给晶振连接标准50Ω负载，检测频率值，然后改变电阻值范围±5%。
频率变化范围应≤±0.01 ppm。
电源电压检测
方法同6，只是将电阻改变，换成供电电源改变±5%。
检查频率变化范围是否在±0.015 ppm以内。
相位噪声检测
利用噪声测试仪直接读出。
输出
用示波器或高频毫伏表直接检测输出幅度及波形值。