集成电路制造工艺流程
集成电路制造工艺流程
集成电路制造工艺流程
《集成电路制造工艺流程》
集成电路制造是一项复杂而精密的工艺，涉及到多个环节和工序。
下面将简要介绍集成电路制造的工艺流程。
第一步是晶圆制备。
晶圆是集成电路的基础材料，通常由硅单晶材料制成。
制备晶圆需要经过多道工序，包括原料准备、晶体生长、切割和研磨等。
第二步是光刻。
光刻是将图形投射到已涂覆光刻胶的晶圆表面，然后用化学蚀刻的工艺技术将光刻胶图形转移到晶圆表面的技术。
这个步骤是制造电路芯片的关键环节，能决定芯片的最小线宽和密度。
第三步是蚀刻。
蚀刻是将已经暴光的光刻胶图形转移到晶圆表面以形成集成电路的图案，利用酸或者碱溶液来去除光刻胶所没有覆盖的物质。
这个步骤可以根据需要多次重复，以形成多层电路结构。
第四步是离子注入。
离子注入是用高能离子轰击晶圆表面，改变晶格结构和材料的电学性质，从而形成电子器件的掺杂区域。
第五步是金属化。
金属化是在晶圆表面喷镀或者蒸发一层金属薄膜，并通过光刻和蚀刻形成电极和连接线。
第六步是封装测试。
将单个芯片切割成独立的芯片，然后进行
封装和测试。
封装是把芯片封装在塑料或者陶瓷封装体内，并连接外部引脚。
测试是验证芯片性能和功能是否符合规格要求。
以上就是集成电路制造的主要工艺流程，这些工艺流程中每一个步骤都非常关键，需要高度的精密度和稳定性。
只有严格控制每一个环节，才能生产出高质量的集成电路产品。
集成电路典型工艺流程
集成电路典型工艺流程（1）晶圆晶圆（Wafer）的生产由二氧化硅开始，经电弧炉提炼还原成冶炼级的硅，再经盐酸氯化，产生三氯化硅，经蒸馏纯化后，通过慢速分解过程，制成棒状或粒状的“多晶硅”。
一般晶圆制造厂，将多晶硅熔化后，再利用“籽晶”慢慢拉出单晶硅棒。
经研磨、拋光、切片后，即成为集成电路芯片生产的原料—晶圆片。
（2）光刻光刻是在光刻胶上经过曝光和显影的工序，把掩模版上的图形转换到光刻胶下面的薄膜层或硅晶上。
光刻主要包含了匀胶、烘烤、光罩对准、曝光和显影等工序。
由于光学上的需要，这段工序的照明采用偏黄色的可见光，因此俗称此区域为黄光区。
（3）干法刻蚀在半导体工艺中，刻蚀被用来将某种材质自晶圆表面上除去。
干法刻蚀是目前最常用的刻蚀方式，以气体作为主要的刻蚀媒介，并凭借等离子体能量来驱动反应。
（4）化学气相淀积（Chemical Vapor Deposition，CVD）化学气相淀积是制造微电子器件时用来淀积出某种薄膜（film）的技术，所淀积出的薄膜可能是介电材料（绝缘体，dielectrics）、导体或半导体。
（5）物理气相淀积（Physical Vapor Deposition，PVD）物理气相淀积主要包括蒸发和溅射。
如其名称所示，物理气相淀积主要是一种物理变化的工艺而非化学工艺。
这种技术一般使用氩气等惰性气体，凭借在高真空中將氩离子加速以撞击靶材后，可将靶材原子一个个溅射出来，并使被溅射出来的材质（通常为铝、钛或其合金）淀积在晶圆表面。
反应室內部的高温与高真空环境，可使这些金属原子结成晶粒，再通过光刻与刻蚀，来得到所要的导电电路。
（6）氧化利用热氧化法生长一层二氧化硅薄膜，目的是为了降低后续淀积氮化硅薄膜时产生的应力（stress），氮化硅具有很强的应力，会影响晶圆表面的结构，因此在这一层氮化硅及硅晶圆之间，生长一层二氧化硅薄膜来减缓氮化硅与规晶圆间的应力。
（7）离子注入离子注入工艺可将掺杂物质以离子形式注入半导体元件的特定区域上，以获得精确的电特性。
集成电路的制造工艺流程
集成电路的制造工艺流程集成电路制造工艺流程是指将电子器件的元件和电路按照一定的规则和方法集成在半导体晶片上的过程。
制造工艺流程涉及到多个环节，如晶圆加工、电路图形绘制、光刻、腐蚀、沉积、复合、切割等。
下面将详细介绍集成电路的制造工艺流程。
首先，制造集成电路的第一步是选择合适的基片材料。
常用的基片材料有硅、蓝宝石和石英等。
其中，硅基片是最常用的基片材料，因为硅具有良好的热导性能和机械性能，同时也便于进行光刻和腐蚀等工艺步骤。
接下来，对基片进行晶圆加工。
晶圆加工是指将基片切割成薄片，并对其进行去杂质处理。
这一步骤非常关键，因为只有获得高质量的基片才能保证电路的性能和可靠性。
然后，根据电路设计图纸，使用光刻技术将电路图形绘制在基片上。
光刻技术是一种重要的制造工艺，主要利用分光光源、透镜和光刻胶等材料来实现。
通过光刻，可以将电路的结构图案转移到基片表面，形成精确的电路结构。
接着，进行腐蚀处理。
腐蚀是将未被光刻阻挡住的区域去除，使得电路结果清晰可见。
常用的腐蚀液有氟化氢、硝酸等。
腐蚀过程中需要严格控制时间和温度，以防止过腐蚀或不足腐蚀。
接下来，进行沉积工艺。
沉积是指利用化学反应或物理过程将金属、氧化物等材料沉积在基片表面。
沉积技术包括物理气相沉积（PVD）和化学气相沉积（CVD）等。
沉积工艺可以形成导体、绝缘体和介质等层，以实现电路的功能。
在进行复合工艺之前，还需要对电路进行电性能测试。
通过测试，可以检测电路是否存在故障和缺陷，并对其进行修复或更换。
最后一步是切割。
切割是将晶片切割成小片，以供后续封装和测试使用。
常用的切割工艺有晶圆锯切和激光切割等。
综上所述，集成电路的制造工艺流程包括基片材料选择、晶圆加工、电路图形绘制、光刻、腐蚀、沉积、复合和切割等环节。
每个环节都非常关键，需要严格控制各项参数和步骤，以保证最终产品的质量和性能。
集成电路制造工艺流程
集成电路制造工艺流程集成电路制造工艺流程是指将芯片设计图纸转化为实际芯片的过程，它是整个集成电路生产的核心环节。
在这个过程中，需要经历多道工艺步骤，包括晶圆制备、光刻、薄膜沉积、离子注入、蚀刻、金属化等多个工艺步骤。
本文将从晶圆制备开始，逐步介绍集成电路制造工艺流程的各个环节。
首先是晶圆制备。
晶圆制备是集成电路制造的第一步，也是最基础的一步。
它的主要目的是在硅片上生长出高纯度的单晶硅层，以便后续的工艺步骤。
晶圆制备包括晶片生长、切割、抛光等工艺步骤。
其中，晶片生长是最为关键的一步，它决定了晶圆的质量和性能。
接下来是光刻工艺。
光刻工艺是将芯片设计图案转移到硅片表面的关键步骤。
在这一步骤中，首先需要将光刻胶涂覆在硅片表面，然后使用光刻机将设计图案投射到光刻胶上，最后进行显影和固化，形成光刻图案。
光刻工艺的精度和稳定性对芯片的性能有着直接的影响。
紧接着是薄膜沉积和离子注入。
薄膜沉积是指在硅片表面沉积一层薄膜，以实现对芯片特定区域的控制。
而离子注入则是将特定的离子注入到硅片中，改变硅片的导电性能。
这两个工艺步骤在集成电路制造中起着至关重要的作用，它们直接影响着芯片的性能和功能。
然后是蚀刻工艺。
蚀刻工艺是将不需要的材料从硅片上去除的过程，通过化学或物理方法将多余的材料蚀刻掉，从而形成芯片上的线路和结构。
蚀刻工艺的精度和稳定性对芯片的性能有着重要的影响，同时也是整个制造工艺中比较复杂的一步。
最后是金属化。
金属化是将金属沉积在硅片表面，形成芯片上的导线和连接器，以实现芯片内部和外部的连接。
金属化工艺的质量和稳定性对芯片的可靠性和稳定性有着直接的影响，它是集成电路制造中不可或缺的一步。
综上所述，集成电路制造工艺流程是一个复杂而精密的过程，它需要经历多道工艺步骤，每一步都对芯片的性能和功能有着直接的影响。
只有严格控制每一个工艺步骤，才能生产出高质量、高性能的集成电路产品。
希望本文能够对集成电路制造工艺流程有所了解，并对相关领域的从业人员有所帮助。
3.集成电路芯片制造的基本工艺流程
3.集成电路芯片制造的基本工艺流程
1.制作晶圆。
使用晶圆切片机将硅晶棒切割出所需厚度的晶圆。
2.晶圆涂膜。
在晶圆表面涂上光阻薄膜，该薄膜能提升晶圆的抗氧化以及耐温能力。
3.晶圆光刻显影、蚀刻。
使用紫外光通过光罩和凸透镜后照射到晶圆涂膜上，使其软化，然后使用溶剂将其溶解冲走，使薄膜下的硅暴露出来。
4.离子注入。
使用刻蚀机在裸露出的硅上刻蚀出N阱和P阱，并注入离子，形成PN结（逻辑闸门）；然后通过化学和物理气象沉淀做出上层金属连接电路。
5.晶圆测试。
经过上面的几道工艺之后，晶圆上会形成一个个格状的晶粒。
通过针测的方式对每个晶粒进行电气特性检测。
6.封装。
将制造完成的晶圆固定，绑定引脚，然后根据用户的应用习惯、应用环境、市场形式等外在因素采用各种不同的封装形式；同种芯片内核可以有不同的封装形式。
集成电路制造工艺流程
P N+ N-P+
23
1.1.1 工艺流程（续5） 蒸镀金属 反刻金属
P P+ N+ N- P+
P-Sub
2021/1/7 韩良
P N+ N-P+
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1.1.1 工艺流程（续6） 钝化 光刻钝化窗口后工序
P P+ N+ N- P+
P-Sub
2021/1/7 韩良
P N+ N-P+
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1.1.2 光刻掩膜版汇总
N–-epi
钝化层
SiO2
P+
P-Sub 2021/1/7 韩良
N+埋层 27
EB C
N+ P
N+
N–-epi
P+
1.1.4 埋层的作用
1.减小串联电阻（集成电路中的各个电极均从 上表面引出，外延层电阻率较大且路径较长。 2.减小寄生pnp晶体管的影响（第二章介绍）
光P+刻胶
SiO2
EB C
N+ P
计公司。
2021/1/7
2
韩良
引言
2. 代客户加工（代工）方式
➢ 芯片设计单位和工艺制造单位的分离，即芯片设计单位可以不拥有生产线而存在和发 展，而芯片制造单位致力于工艺实现，即代客户加工（简称代工）方式。
➢ 代工方式已成为集成电路技术发展的一个重要特征。
2021/1/7
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韩良
引言
3. PDK文件
2021/1/7
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韩良
引言
5. 掩模与流片
➢ 代工单位根据设计单位提供的GDS-Ⅱ格式的版图 数据，首先制作掩模（Mask），将版图数据定义 的图形固化到铬板等材料的一套掩模上。
集成电路制造工艺流程
集成电路制造工艺流程概述集成电路（Integrated Circuit, IC）是由几千个甚至是数十亿个离散电子元件，如晶体管、电容、电阻等构成的电路，在特定的芯片上进行集成制造。
IC制造工艺流程主要包括晶圆制备、晶圆加工、芯片制造、封装测试等几个环节，是一个非常严谨、复杂的过程。
晶圆制备晶圆制备是IC制造的第一步。
晶圆是用硅单晶或其他半导体材料制成的薄片，作为IC芯片的基础材料。
以下是晶圆制备的流程：1.单晶生长：使用气态物质的沉积和结晶方法，使单晶硅的原料在加热、冷却的过程中逐渐成为一整块的单晶硅材料。
2.切片：将生长好的单晶硅棒利用切割机械进行切片，制成形状规整的圆片，称为晶圆。
3.抛光：将晶圆表面进行机械研磨和高温氧化处理，使表面达到极高的光滑度。
4.清洗：用去离子水等高纯度溶剂进行清洗，清除晶圆表面的污染物，确保晶圆的纯度和光洁度。
晶圆加工晶圆加工是IC制造的关键环节之一，也是最为复杂的过程。
在晶圆加工过程中，需要通过一系列的步骤将原始的晶圆加工为完成的IC芯片。
以下为晶圆加工的流程：1.光刻：通过光刻机将芯片图案转移到光刻胶上，然后使用酸洗、去除光刻胶，暴露出芯片的表面。
2.蚀刻：利用化学蚀刻技术，在IC芯片表面形成电路图案。
3.离子注入：向芯片进行掺杂，改变材料的电学性质。
4.热处理：对芯片进行高温、低温处理，使其达到设计要求的电学性能。
5.金属沉积：在芯片表面沉积一层金属，用于连接芯片各个元件。
芯片制造芯片制造是最为核心的IC制造环节，主要将晶圆加工后的芯片进行裁剪、测试、绑定等操作，使其具备实际的电学性能。
以下是IC芯片制造的流程：1.芯片测试：对芯片的性能进行测试，找出不合格的芯片并予以淘汰。
2.芯片切割：将晶圆上的芯片根据需求进行切割。
3.接线：在芯片表面安装金线，用于连接各个器件。
4.包装：将芯片放入封装盒中，并与引线焊接，形成成品IC芯片。
封装测试封装测试是IC制造的最后一步。
集成电路制造工艺流程介绍
集成电路制造工艺流程介绍1. 晶圆生长：制造过程的第一步是晶圆生长。
晶圆通常是由硅材料制成，通过化学气相沉积（CVD）或单晶硅引入熔融法来生长。
2. 晶圆清洗：晶圆表面需要进行清洗，以去除可能存在的污染物和杂质，以确保后续工艺步骤的成功进行。
3. 光刻：光刻是制造过程中非常关键的一步。
在光刻过程中，先将一层光刻胶涂覆在晶圆表面，然后使用光刻机将芯片的设计图案投影在晶圆上。
接着，进行光刻胶显影，将未受光的部分去除，留下所需的图案。
4. 沉积：接下来是沉积步骤，通过CVD或物理气相沉积（PVD）将金属、氧化物或多晶硅等材料沉积在晶圆表面上，以形成导线、电极或其他部件。
5. 刻蚀：对沉积的材料进行刻蚀，将不需要的部分去除，只留下所需的图案。
6. 接触孔开孔：在晶圆上钻孔，形成电极和导线之间的接触孔，以便进行电连接。
7. 清洗和检验：最后，对晶圆进行再次清洗，以去除可能残留的污染物。
同时进行严格的检验和测试，确保芯片质量符合要求。
以上是一个典型的集成电路制造工艺流程的简要介绍，实际的制造过程可能还包括许多其他细节和步骤，但总的来说，集成电路制造是一个综合了多种工艺和技术的高精度制造过程。
集成电路（Integrated Circuit，IC）制造是一项非常复杂的工艺，涉及到材料科学、化学、物理、工程学和电子学等多个领域的知识。
在这个过程中，每一个步骤都至关重要，任何一个环节出错都可能导致整个芯片的质量不达标甚至无法正常工作。
以下将深入介绍集成电路的制造工艺流程及相关的技术细节。
8. 电镀：在一些特定的工艺步骤中，需要使用电镀技术来给芯片的表面涂覆一层导电材料，如金、铜或锡等。
这些导电层对于芯片的整体性能和稳定性非常重要。
9. 封装：制造芯片后，需要封装芯片，以保护芯片不受外部环境的影响。
封装通常包括把芯片封装在塑料、陶瓷或金属外壳内，并且接上金线用以连接外部电路。
10. 测试：芯片制造完成后，需要进行严格的测试。
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集成电路制造工艺流程
1.晶圆制造( 晶体生长-切片-边缘研磨-抛光-包裹-运输 )
晶体生长(Crystal Growth)
晶体生长需要高精度的自动化拉晶系统。
将石英矿石经由电弧炉提炼，盐酸氯化，并经蒸馏后，制成了高纯度的多晶硅，其纯度高达0.。
采用精炼石英矿而获得的多晶硅，加入少量的电活性“掺杂剂”，如砷、硼、磷或锑，一同放入位于高温炉中融解。
多晶硅块及掺杂剂融化以后，用一根长晶线缆作为籽晶，插入到融化的多晶硅中直至底部。
然后，旋转线缆并慢慢拉出，最后，再将其冷却结晶，就形成圆柱状的单晶硅晶棒，即硅棒。
此过程称为“长晶”。
硅棒一般长3英尺，直径有6英寸、8英寸、12英寸等不同尺寸。
硅晶棒再经过研磨、抛光和切片后，即成为制造集成电路的基本原料——晶圆。
切片(Slicing) /边缘研磨(Edge Grinding)/抛光(Surface Polishing)
切片是利用特殊的内圆刀片，将硅棒切成具有精确几何尺寸的薄晶圆。
然后，对晶圆表面和边缘进行抛光、研磨并清洗，将刚切割的晶圆的锐利边缘整成圆弧形，去除粗糙的划痕和杂质，就获得近乎完美的硅晶圆。
包裹(Wrapping)/运输(Shipping)
晶圆制造完成以后，还需要专业的设备对这些近乎完美的硅晶圆进行包裹和运输。
晶圆输送载体可为半导体制造商提供快速一致和可靠的晶圆取放，并提高生产力。
2.沉积
外延沉积 Epitaxial Deposition
在晶圆使用过程中，外延层是在半导体晶圆上沉积的第一层。
现代大多数外延生长沉积是在硅底层上利用低压化学气相沉积(LPCVD)方法生长硅薄膜。
外延层由超纯硅形成，是作为缓冲层阻止有害杂质进入硅衬底的。
过去一般是双极工艺需要使用外延层，CMOS技术不使用。
由于外延层可能会使有少量缺陷的晶圆能够被使用，所以今后可能会在300mm晶圆上更多
采用。
9.晶圆检查Wafer Inspection (Particles)
在晶圆制造过程中很多步骤需要进行晶圆的污染微粒检查。
如裸晶圆检查、设备监控（利用工艺设备控制沉积到晶圆上的微粒尺寸），以及在CMP、CVD及离子注入之后的检查，通常这样的检查是在晶圆应用之前，或在一个涂光刻胶的层曝光之前，称之为无图形检查。
2.沉积
化学气相沉积 Chemical Vapor Deposition
化学气相沉积 (CVD) 是在晶圆表面通过分解气体分子沉积混合物的技术。
CVD会产生很多非等离子热中间物，一个共性的方面是这些中间物或先驱物都是气体。
有很多种CVD技术，如热CVD、等离子CVD、非等离子CVD、大气CVD、LPCVD、HDPCVD、LDPCVD、PECVD等，应用于半导体制造的不同方面。
3.光刻(Photolithography)
光刻是在晶圆上印制芯片电路图形的工艺，是集成电路制造的最关键步骤，在整个芯片的制造过程中约占据了整体制造成本的35%。
光刻也是决定了集成电路按照摩尔定律发展的一个重要原因，如果没有光刻技术的进步，集成电路就不可能从微米进入深亚微米再进入纳米时代。
光刻工艺将掩膜图形转移到晶片表面的光刻胶上，首先光刻胶处理设备把光刻胶旋涂到晶圆表面，再经过分步重复曝光和显影处理之后，在晶圆上形成需要的图形。
通常以一个制程所需要经过掩膜数量来表示这个制程的难易。
根据曝光方式不同，光刻可分为接触式、接近式和投影式；
根据光刻面数的不同，有单面对准光刻和双面对准光刻；
根据光刻胶类型不同，有薄胶光刻和厚胶光刻。
一般的光刻流程包括前处理、匀胶、前烘、对准曝光、显影、后烘，
可以根据实际情况调整流程中的操作。
4.刻蚀(Etching)
在集成电路制造过程中，经过掩模套准、曝光和显影，在抗蚀剂膜上复印出所需的图形，或者用电子束直接描绘在抗蚀剂膜上产生图形，
然后把此图形精确地转移到抗蚀剂下面的介质薄膜（如氧化硅、氮化硅、多晶硅）或金属薄膜上去，制造出所需的薄层图案。
刻蚀就是用化学的、物理的或同时使用化学和物理的方法，有选择地把没有被抗蚀剂掩蔽的那一部分薄膜层除去，从而在薄膜上得到和抗蚀剂膜上完全一致的图形。
等离子刻蚀(plasma etch)是在特定的条件下将反应气体电离形成等离子体，等离子体选择性地从晶圆上除去物质，剩下的物质在晶圆上形成芯片图形。
5.离子注入 Ion Implantation
晶圆衬底是纯硅材料，不导电或导电性极弱。
为了在芯片内具有导电性，必须在晶圆里掺入微量的不纯物质，通常是砷、硼、磷。
掺杂可以在扩散炉中进行，也可以采用离子注入实现。
一些先进的应用都是采用离子注入掺杂的。
离子注入有中电流离子注入、大电流/低能量离子注入、高能量离子注入三种，适于不同的应用需求。
6.热处理Thermal Processing
利用热能将物体内产生内应力的一些缺陷加以消除。
所施加的能量将增加晶格原子及缺陷在物体内的振动及扩散，使得原子的排列得以重整。
热处理是沉积制造工序后的一个工序，用来改变沉积薄膜的机械性能。
目前，热处理技术主要有两项应用：
一个使用超低k绝缘体来提升多孔薄膜的硬度，
另一个使用高强度氮化物来增加沉积薄膜的韧性抗张力，以提升器件性能。
在紫外热处理反应器里，等离子增强化学气相沉积薄膜经过光和热的联合作用改变了膜的性能。
高强度氮化薄膜中紫外热处理工艺使连接重排，空间接触更好，产生出了提高器件性能所需的高强度水平。
2.沉积（蒸发、溅射）
物理气相沉积Physical Vapor Deposition
晶圆上最常见的金属互连材料是Al，通常应用物理气相沉积(PVD)法制备金属材料薄膜。
在PVD系统中用离子轰击Al靶，使靶材表面Al原子以一定能量逸出，然后在晶圆表面沉积。
PVD方法也用于沉积阻挡层和籽晶层，以及用于双嵌式互连的铜薄膜。
7.化学机械研磨 CMP
推动芯片技术向前发展的关键之一是每个芯片的层数在增加，一个芯片上堆叠的层数越来越多，而各层的平坦不均会增加光刻精细电路图像的困难。
CMP 系统是使用抛光垫和化学研磨剂选择性抛光沉积层使其平坦化。
CMP包括多晶硅金属介质(PMD) 平坦化、层间绝缘膜(ILD) 平坦化和钨平坦化。
CMP是铜镶嵌互连工艺中的关键技术。
8.晶圆检测 Wafer Metrology
在芯片制造过程中，为了保证晶圆按照预定的设计要求被加工必须进行大量的检测和量测，包括芯片上线宽度的测量、各层厚度的测量、各层表面形貌测量，以及各个层的一些电子性能的测量。
随着半导体工艺和制造技术的不断发展，这些检测已经成为提高量产和良率的不可缺少的部分。
在铜互连工艺中，由于采用更精细的线宽技术和低k介电材料，需要开发更精密的测试设备和新的测试方法。
检测主要包括三类：光学检测、薄膜检测、关键尺寸扫描电子检测(CD-SEM)。
晶圆检测的一个重要发展趋势是将多种测量方法融合于一个工艺设备中。
9.晶圆检查Wafer Inspection (Particles)
在晶圆制造过程中很多步骤需要进行晶圆的污染微粒检查。
如裸晶圆检查、设备监控（利用工艺设备控制沉积到晶圆上的微粒尺寸），以及在CMP、CVD及离子注入之后的检查，通常这样的检查是在晶圆应用之前，或在一个涂光刻胶的层曝光之前，称之为无图形检查。
10.晶圆探针测试（Wafer Probe Test）
晶圆探针测试是对制造完成的晶圆上的每个芯片（Die）进行针测，测试时，晶圆被固定在真空吸力的卡盘上，并与很薄的探针电测器对准，细如毛发的探针与芯片的每一个焊接点相接触。
在测试过程中，每一个芯片的电性能和电路机能都被检测到，不合格的晶粒会被标上记号，而后当芯片切割成独立的芯片颗粒时，标有记号的不合格芯片颗粒会被淘汰。
探针检测的相关数据，现在已经可以用来对晶圆制造中的良率提升提供帮助。
14.封装（Assembly & Packaging）
封装技术这几年发展非常快，这主要是因为(a)芯片的复杂程度越来越高：芯片中所含晶体管数量急剧增多，管脚也越来越多。
需要新的封装技术满足这些需求。
(b)电子产品小型化：现在的电子产品要求体积小，功能强大，功耗低，这也意味着对于丝焊要求更高，封装形式要适应这些变化。
晶圆上的芯片在这里被切割成单个芯片，然后进行封装，这样才能使芯片最终安放在PCB 板上。
这里需要用的设备包括晶圆切割机，粘片机（将芯片封装到引线框架中）、线焊机（负责将芯片和引线框架的连接，如金丝焊和铜丝焊）等。
在引线键合工艺中使用不同类型的引线：金(Au)、铝(Al)、铜(Cu)，每一种材料都有其优点和缺点，通过不同的方法来键合。
随着多层封装乃至3D封装的应用的出现，超薄晶圆的需求也在不断增强。
15.成品检测（Final Test）
因为最终的芯片良率不可能达到100%，芯片的检测就变得尤为重要。
如何检测出性能高的芯片，如何快速进行检测，考虑到每片芯片都要进行检测，晶圆厂就必须全盘平衡成本，这催生了检测功能更为强大、成本更为低廉、检测速度更快的新一代检测设备。
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