发射谱线强度
仪器分析_原子吸收习题和参考答案
原子吸收习题及参考答案 一、填空题1、电子从基态跃迁到激发态时所产生的吸收谱线称为电子从基态跃迁到激发态时所产生的吸收谱线称为 . . .在从激发态跃迁回基态时在从激发态跃迁回基态时在从激发态跃迁回基态时..则发射出一定频率的光则发射出一定频率的光..这种谱线称为这种谱线称为 . . .二者均称为二者均称为二者均称为 。
各种元素都有其特有的有的 . . .称为称为称为 。
2、原子吸收光谱仪和紫外可见分光光度计的不同处在于原子吸收光谱仪和紫外可见分光光度计的不同处在于 . . .前者是前者是前者是 . . .后者后者是 。
3、空心阴极灯是原子吸收光谱仪的、空心阴极灯是原子吸收光谱仪的 。
其主要部分是。
其主要部分是。
其主要部分是 . . .它是由它是由它是由 或或 制成。
灯内充以制成。
灯内充以制成。
灯内充以 成为一种特殊形式的成为一种特殊形式的成为一种特殊形式的 。
4、原子发射光谱和原子吸收光谱法的区别在于：原子发射光谱分析是通过测量电子能级跃迁时迁时 和和 对元素进行定性、定量分析的对元素进行定性、定量分析的对元素进行定性、定量分析的..而原子吸收光谱法师测量电子能级 跃迁时跃迁时 的强度对元素进行的强度对元素进行的强度对元素进行 分析的方法。
分析的方法。
5、原子吸收光谱仪中的火焰原子化器是由、原子吸收光谱仪中的火焰原子化器是由 、、 及及 三部分组成。
三部分组成。
6、分子吸收光谱和原子吸收光谱的相同点是：都是、分子吸收光谱和原子吸收光谱的相同点是：都是 . . .都有核外层电子跃迁产生的都有核外层电子跃迁产生的都有核外层电子跃迁产生的 . .波长范围波长范围波长范围 。
二者的区别是前者的吸光物质是二者的区别是前者的吸光物质是 . . .后者是后者是后者是 。
7、在单色器的线色散率为、在单色器的线色散率为0.5mm/nm 0.5mm/nm 的条件下用原子吸收分析法测定铁时的条件下用原子吸收分析法测定铁时..要求通带宽度为0.1nm.0.1nm.狭缝宽度要调到狭缝宽度要调到狭缝宽度要调到 。
原子发射光谱分析概述、基本原理和定性定量分析方法
物镜
准直镜
反射镜 入射狭缝
光栅 转台
AES仪器略图
光源
一 、AES光源 1. 光源种类及特点
光源
经典光源 现代光源
火焰 电弧 火花
直流电弧 交流电弧
电感耦合等离子体，ICP 激光光源
直流电弧：接触引燃，二次电子发射放电
L
E 220~380V V
5~30A
G
R
d) 谱线的自吸(self-absorption)及自蚀(self-reversal)； e)e) 激发温度 T； f)f) 基态原子数 N0 或浓度 c； g) 前三项由待测物原子自身的性质决定，如核电荷数 、外层电子、轨道状态等。 h) 影响谱线强度及其稳定性最重要的的因素是温度T！
5.3 AES仪器 AES仪器由光源、单色系统、检测系统三部分组成。此
上述振荡电压 10kV(变压器B2) C2击穿 高压高频振荡 引燃分析 间隙（L2-C2-G2）;
G 被击穿瞬间，低压电流使 G2 放电（通过R1和电流表） 电弧； 不断引燃 电弧不灭。
5由于原子或离子的能级很多并且不同元素的结构是不同的因此对特定元素的原子或离子可产生一系不同波长的特征光谱通过识别待测元素的特征谱线存在与否进行定性分析定性原理
原子发射光谱分析 概述、基本原理和 定性定量分析方法
5.1 概述 5.2 基本原理 5.3 AES 仪器 5.4 定性定量分析方法
1）分析对象为大多数金属原子； 2）物质原子的外层电子受激发射产生特征谱线（线光谱）； 3）谱线波长——定性分析；谱线强度——定量分析。
E = E2-E1 = h =hc/
高能态E2）
2. 几个概念 激发电位(Excited potential)：由低能态--高能态所需要的
在原子发射光谱中谱线的强度
在原子发射光谱中谱线的强度嘿，朋友们！今天咱来聊聊原子发射光谱中谱线的强度这档子事儿。
你说这谱线的强度啊，就好像一场热闹的演出。
原子们就像是舞台上的演员，它们在特定条件下尽情地“表演”，发出各自独特的光芒。
而这些光芒的强弱，也就是谱线的强度，那可太重要啦！想想看，要是所有演员都一样亮，那这场演出还有啥看头？就像我们看烟花，有的烟花特别亮，一下子就吸引了我们的眼球，这就是强度高呀！而有些就比较暗淡，可能我们都不太容易注意到。
谱线强度也是这么个道理。
强度高的谱线，就像是舞台上的主角，特别显眼，让我们能一下子就关注到它。
这对于我们分析物质可太关键了！通过这些突出的谱线，我们就能了解物质的成分和含量。
这就好比我们通过一个人的穿着打扮和行为举止，就能大致判断出他是个什么样的人。
那谱线强度到底和啥有关系呢？这可就多了去啦！原子本身的性质，就像人的性格一样，那是天生的，对谱线强度有很大影响呢。
还有激发的条件，就如同环境对人的塑造。
不同的激发条件下，谱线强度可能会有很大差别哦！这就好像一个人在不同的场合会有不同的表现。
我们在研究谱线强度的时候，可不能马马虎虎。
得像个细心的侦探一样，不放过任何一个细节。
要是不小心忽略了一些因素，那得出的结果可能就不准确啦，那不就白忙活啦？而且哦，这谱线强度可不是一成不变的。
它会随着各种因素的变化而变化。
就像天气一样，今天阳光明媚，明天可能就下起雨来了。
我们得时刻关注着它的变化，才能更好地理解和利用它。
比如说，在实际应用中，我们想检测某种金属元素的含量。
那我们就得先搞清楚这种元素的谱线强度特征。
然后通过对实际样品的分析，观察谱线强度的变化，就能推断出金属元素的含量啦！这多神奇呀！总之呢，原子发射光谱中谱线的强度可真是个有趣又重要的玩意儿。
我们得好好琢磨它，利用它，让它为我们的科学研究和实际应用发挥更大的作用。
别小瞧了这看似不起眼的谱线强度，它里面蕴含的奥秘可多着呢，值得我们去深入探索和发现呀！这就是我对谱线强度的看法，你们觉得呢？。
原子发射光谱 谱线相对强度 峰值高度而不是峰面积
原子发射光谱是物理学和化学领域中研究原子和分子结构的重要手段之一。
通过观察原子在特定能级之间跃迁时发出的光谱线，可以获得有关原子内部结构和能级分布的重要信息。
在实际的光谱实验中，研究者往往对光谱线的相对强度、峰值高度等参数进行测量，以帮助理解原子的性质和行为。
在这篇文章中，我们将探讨原子发射光谱中谱线相对强度、峰值高度的意义和测量方法。
一、原子发射光谱中谱线相对强度的意义1. 谱线相对强度是指不同光谱线的发射强度之间的比较关系。
在光谱实验中，研究者可以通过测量光谱线的相对强度来了解不同能级跃迁的概率和发生频率，从而揭示原子内部的能级分布和结构特征。
2. 谱线相对强度的大小反映了原子内部跃迁的概率，可以帮助科研人员理解原子的激发和退激发机制。
通过研究谱线相对强度，可以得到有关原子能级布居的重要信息，对于理论模型的建立和修正具有重要意义。
二、峰值高度在原子发射光谱中的意义1. 峰值高度是指光谱线峰值的强度，通常用来表示光谱线的发射强度的大小。
在实际的光谱实验中，研究者经常以峰值高度来进行数据分析和比较，从而获得有关原子能级的重要信息。
2. 峰值高度与谱线相对强度存在一定的关系，但并非完全相同。
在一些特定的实验条件下，峰值高度可能受到一些因素的影响，如仪器的灵敏度、采集数据的时间等，因此在进行数据分析时需要注意对这些因素进行修正。
三、谱线相对强度和峰值高度的测量方法1. 在光谱实验中，研究者通常会使用光谱仪等仪器对原子发射光谱进行测量。
为了获得准确的谱线相对强度和峰值高度，需要进行仪器的校准和调试，以确保数据的准确性和可靠性。
2. 在测量谱线相对强度时，研究者可以通过调节光谱仪的入射光强度和收集光谱线的数据来获得不同光谱线之间的相对强度比较。
而在测量峰值高度时，则需要注意仪器的灵敏度调节和数据的采集速度，以确保峰值高度的准确度。
四、结语在原子发射光谱实验中，谱线相对强度和峰值高度是重要的参数，它们能够帮助科研人员深入了解原子内部结构和行为。
原子发射光谱分析 (2)
火焰 电弧 火花
直流电弧 交流电弧
电感耦合等离子体，ICP 激光光源
（1）、直流电弧：接触引燃，二次电子发射放电
L
E 220~380V V
5~30A
G
R
A
直流电作为激发能源，电压150 ～380V，电流5～ 30A；
两支石墨电极，试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内；
阴极释放的电子不断撞击阳极，产生高温阳极斑（4000 K）；
等离子体是一种电离度大于0.1%的电离气体，由电子、 离子、原子和分子所组成，其中电子数目和离子数目基本相等， 整体呈现中性。
通常产生等离子体的气体为氩气。 最常用的等离子体光源是直流等离子焰（DCP）、电感耦 合高频等离子炬（ICP）、容耦微波等离子炬（CMP）和微波诱 导等离子体（MIP）等。
电感耦合等离子体
ms 光谱的多重性(M)：
M=2S+1
内量子数(J)：光谱支项 J = L+S、•••、 L-S J = S+L、•••、 S-L
(LS )
(S >L)
（二）.原子的能级与能级图
1．光谱项：原子发射光谱是由原子或离子的核外电子在高低级间跃迁 而产生的，原子或离子的能级通常用光谱项符号来表示：
n2S+1LJ or n M LJ
第八章 原子发射光谱分析法
•原子光谱法（Atomic spectroscopy methods）是基于激 发（热能、电能或光能）下的气态原子的外层电子的能级 间跃迁过程中吸收或发射的特征谱线而建立的光学分析法。 •研究与光谱线有关的特征物理量：波长和强度 波长—定性 强度—定量 •原子光谱类型 原子发射光谱：发射（吸收热能、激发以后回到基态时） 原子荧光光谱：发射（吸收光辐射、激发以后回到基态时） 原子吸收光谱：吸收（吸收光辐射、基态到激发态时） •分析对象：元素分析（Elemental analysis）
光谱线强度的影响因素
光谱线强度的影响因素
光谱线强度是指在光谱中某个特定波长的强度或亮度。
以下是影响光谱线强度的几个主要因素：
1. 发射源的温度：光谱线强度与发射源的温度有关。
一般来说，较高的温度会导致更高的光谱线强度。
2. 发射物质的浓度：光谱线强度与发射物质的浓度成正比。
高浓度的发射物质会产生更强的光谱线。
3. 发射物质的性质：不同的物质具有不同的发射光谱。
一些物质会产生比较强的谱线，而其他物质可能只产生相对较弱的谱线。
4. 发射物质的激发方式：不同的激发方式会产生不同的谱线强度。
例如，热激发和电子束激发可以产生较强的谱线，而电弧激发则会产生较弱的谱线。
5. 探测器性能：光谱线强度还取决于所使用的探测器的灵敏度和效率。
一个高效的探测器可以测量到更强的光谱线。
总之，光谱线强度受到多种因素的影响，包括发射源的温度、发射物质的浓度和性质、发射物质的激发方式以及探测器的性能。
原子发射光谱线强度影响因素
原子发射光谱线强度影响因素
原子发射光谱线强度是分析化学和元素分析中的关键参数之一。
该参数受多种因素的影响，包括原子激发条件、原子浓度、样品制备方法、仪器参数等。
其中，原子激发条件是影响原子发射光谱线强度的最主要因素。
原子激发条件包括电流、电压、气体流速等。
此外，原子发射光谱线强度还受到原子浓度的影响。
当原子浓度较低时，光谱线强度将显著下降。
样品制备方法也会影响原子发射光谱线强度，如样品中的杂质含量、样品的物理状态等都会对光谱线强度产生影响。
同时，仪器参数也会影响原子发射光谱线强度的测量结果，如光谱仪的分辨率、波长范围等参数。
综上所述，了解原子发射光谱线强度影响因素是进行元素分析的重要前提。
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原子发射光谱谱线强度
原子发射光谱谱线强度
原子发射光谱谱线强度是指在原子发射光谱中，每条光谱线的亮度或强度。
在原子发射光谱谱线中，每条光谱线都对应着一个能量级别的跃迁，不同跃迁之间的能量差异导致了不同光谱线的出现。
原子发射光谱谱线强度的大小受到许多因素的影响，包括激发能量、原子数浓度、温度、波长等。
在实际应用中，可以通过对光谱线强度的测量和分析，获取有关原子能级结构和原子物理性质的信息，以及用于元素分析的定量数据。
由于原子发射光谱谱线强度与原子的物理性质有关，因此在不同的实验条件下，光谱线强度的变化可以反映出原子的激发、离化、扩散等过程。
因此，研究原子发射光谱谱线强度有助于深入了解原子的基本物理性质，为物理、化学、生物等领域的研究提供了重要的手段和方法。
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自吸：中心发射的辐射被边缘的同种基态原子吸收，使
辐射强度降低的现象。 元素浓度低时，不出现自吸。随 浓度增加，自吸越严重，当达到一定 值时，谱线中心完全吸收，如同出现 两条线，这种现象称为自蚀。
谱线表，r：自吸；R：自蚀；
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的频率。将Ni代入上式，得：
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谱线强度
gi I ij Aij h ij N 0 e g0
影响谱线强度的因素：
（2）温度升高，谱线强度增大，但
易电离。
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三、谱线的自吸与自蚀
等离子体：以气态形式存在的包含分子、离子、电子等 粒子的整体电中性集合体（电离度 α 大于 0.1%）。等离子体 内温度和原子浓度的分布不均匀，中间的温度、激发态原子 浓度高，边缘反之。
E
特征辐射
激发态M*
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Na 能级图
由各
种高能级
跃迁到同 一低能级 时发射的 一系列光
谱线；
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K 元 素 的 能 级 图
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Mg 元素的能级图
2018/8/18
原子的共振线与离子的电离线
第一共振线: 原子由第一激发态到基态的跃迁。
最易发生，能量最小；
离子线:离子由第一激发态到基态的跃迁
(离子发射的谱线) 其与电离能大小无关，离子的特征共振线。 原子谱线表：I 表示原子发射的谱线；
II 表示一次电离离子发射的谱线；
III表示二次电离离子发射的谱线； Mg I 285.213nm ；II 279.553 nm；Ⅲ182.897
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二、谱线强度
第六章
原子发射光谱法 第二节 原子发射光谱 法的基本原理
一、原子发射光谱的产生 二、谱线强度 三、谱线自吸与自蚀
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一、原子发射光谱的产生
在正常状态下，元素处于基态，元素在受到热（火焰）
或电（电火花）激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态
时，发射出特征光谱（线状光谱）； 热能、电能 基态元素M
原子由某一激发态 i 向低能级 j 跃迁，所发射的谱线强度 与激发态原子数成正比。 在热力学平衡时，单位体积的基态原子数 N0与激发态原 子数Ni的之间的分布遵守玻耳兹曼分布定律：
i gi Ni N 0 e kT g0 E
gi 、g0为激发态与基态的统计权重； Ei ：为激发能；k为 玻耳兹曼常数；T为激发温度； 发射谱线强度： Iij = Ni Aijhij h为Plank常数；Aij两个能级间的跃迁几率； ij发射谱线