原子荧光光谱
原子荧光光谱和原子吸收光谱的区别
原子荧光光谱和原子吸收光谱的区别
原子荧光光谱和原子吸收光谱是两种常见的光谱分析方法，它们的区别主要在于测量原理和应用领域。
原子荧光光谱是通过激发原子内部能级，使得原子中的电子跃迁到较高的能级，然后再回到基态时放出光子，从而形成光谱。
这种光谱具有独特的谱线，每个谱线对应着原子中某个特定的能级跃迁所释放出的能量。
原子荧光光谱常用于分析金属、非金属元素和稀土元素等化学元素的含量和化学结构。
原子吸收光谱则是通过测量样品中的元素吸收特定波长的光线，来推断该元素的含量。
原子吸收光谱要求样品经过化学处理，使得其中的元素以单质或者化合物的形式存在，并且必须具有一定的浓度。
在测量过程中，光源会发射特定波长的光线，这些光线会穿过样品，被吸收掉一部分，未被吸收的光线会被检测器测量。
吸收光线的强度与样品中元素的含量成正比，因此可以通过测量吸收光线的强度来推断样品中元素的含量。
原子吸收光谱常用于分析金属、非金属元素以及汞、铅等有毒元素的含量。
总之，原子荧光光谱和原子吸收光谱各有优缺点，应根据具体需要选择合适的方法进行分析。
- 1 -。
原子荧光光谱法
Fluorescence analysis
4.1 原子荧光光谱概述
❖ 原子荧光光谱分析(atomic fluorescence spectrometry, AFS)法是通过测定待测原子蒸气在辐射能激发下发 射的荧光强度来进行定量分析的方法。
❖ 从原理来看该方法属原子发射光谱范畴，发光机制 属光致发光，但所用仪器与原子吸收仪相近。
❖ 原子荧光分析中，样品先被转变为原子蒸气，原子 蒸气吸收一定波长的辐射而被激发，然后回到较低 激发态或基态时便发射出一定波长的辐射--原子荧 光。
❖ 把氢化物发生和原子荧光光谱法结合起来，我国科 学工作者研创了实用的氢化物--原子荧光光谱仪商 品仪器。此后，原子荧光分析迅速普及并发展成为
原子发射和吸收光谱法的有力补充。
4.2.4待测原子的浓度与荧光强度
原子荧光光谱强度由原子吸收与原子发射过程共同决定。当 光源强度稳定、辐射光平行及自吸可忽略时，发射荧光的强 度If正比于基态原子对特定频率光的吸收强度Ia。
在理想情况下：
If Ia
I f I0 A K0 L N
在实际工作中，仪器参数和实验测试条件保持不变，即
原子荧光光谱优点和局限性
❖ 原子荧光光谱分析法具有谱线简单、检出限低、可 同时进行多元素分析、可以用连续光源、校准曲线 的线性范围宽等优点。
❖ 原子荧光也存在一定的局限性：在较高浓度时会产 生自吸，导致非线性的校正曲线；在火焰样品池中 的反应和原子吸收的相似，也能引起化学干扰；存 在荧光猝灭效应及散射光的干扰等问题。
➢ 原子荧光是光致发光，属二次发光。当激发光源停 止辐射后，跃迁停止，荧光立即消失，不同元素的 荧光波长不同。
4.2.2 原子荧光光谱的类型
原子荧光光谱法的优缺点
原子荧光光谱法的优缺点
原子荧光光谱法的优点主要包括：
1.检测限低、灵敏度高：该方法可以检测到较低浓度的元素，因
为荧光信号与元素浓度成正比。
2.谱线简单、干扰小：原子荧光光谱法产生的光谱线较为简单，
干扰较小，因此能够准确地进行定量分析。
3.分析速度快：该方法可以同时对多个元素进行检测，并且分析
速度较快，适用于大量样品的快速分析。
4.准确度高：原子荧光光谱法具有较高的准确度，其相对误差一
般在1%以下。
然而，原子荧光光谱法也存在一些缺点：
1.受激发光源限制：该方法需要使用高强度光源，因此可能会受
到光源的限制。
2.散射光干扰：原子荧光光谱法容易受到散射光的干扰，可能会
影响分析结果的准确性。
3.仪器昂贵、维护困难：原子荧光光谱仪较为昂贵，并且需要定
期进行维护和校准，增加了使用成本。
4.无法进行定性分析：原子荧光光谱法只能进行定量分析，无法
进行定性分析，限制了该方法的应用范围。
总体来说，原子荧光光谱法具有灵敏度高、干扰小、分析速度快等优点，但也存在一些缺点，如需要高强度光源、容易受到散射光干扰等。
在实际应用中，可以根据具体情况选择是否采用该方法进行元素检测。
原子荧光光谱的三种类型
原子荧光光谱的三种类型
原子荧光光谱的三种类型是离散光谱、连续光谱和带状光谱。
1. 离散光谱：在原子能级跃迁时，由于能级之间的能量差是固定的，所以产生的光谱线是离散的。
每一条光谱线对应着一个特定的能级跃迁，具有独特的波长或频率。
离散光谱常用于原子的定性分析。
2. 连续光谱：当原子处于高温或高压条件下，原子发生碰撞激发时，会发生多种能级的跃迁，产生连续的光谱，其中包含了各种波长和频率的光。
连续光谱包含了广泛的波长范围，常用于研究高温等物理现象。
3. 带状光谱：带状光谱是离散光谱和连续光谱的结合体。
当较高能级上的电子回到基态时，由于能级弥散，产生了一系列频率与波长递增或递减的光谱线，形成了连续的带状光谱。
带状光谱用于原子的定量分析，可以通过测量某些光谱线的强度来确定物质中某种元素的含量。
原子荧光光谱法
原子荧光光谱法原子荧光谱（AFS）是介于原子发射光谱（AES）和原子吸收光谱（AAS）之间的光谱分析技术，它的基本原理就是：基态原子（一般蒸气状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。
一、原子荧光光谱法原理1．1原子荧光的类型以及荧光猝灭（1）共振荧光当原子受到波长为入A的光能照射时，处于基态E0（或处于E0邻近的亚稳态E1）的电子跃迁到激发态E2,被激发的原子由E2回到基态E0（或亚稳态E1）时，它就放出波长入F的荧光。
这一类荧光称为共振荧光。
（2）直跃线荧光荧光辐射一般发生在二个激发态之间，处于基态E0的电子被激发到E2能级，当电子回到E1能级时，放出直跃荧光。
（3）阶跃线荧光当处于激发态E2的电子在放出荧光之前，由于受激碰撞损失部分能量而至E1回到基态时，放出阶跃线荧光。
（4）热助阶跃线荧光原子通过吸收光辐射由基态E0激发至E2能级，由于受到热能的进一步激发，电子可能跃迁至E2相近的较高能级E3,当其E3跃迁至较低的能级E1（不是基态E0）时所发射的荧光称为热助阶跃荧光。
小于光源波长称为反stoke效应。
（5）热助反stokes荧光（略）某一元素的荧光光谱可包括具有不同波长的数条谱线。
一般来说，共振线是最灵敏的谱线。
处于激发态的原子寿命是十分短暂的。
当它从高能级阶跃到低能级时原子将发出荧光。
M*TM+hr除上述以外，处于激发态的原子也可能在原子化器中与其他分子、原子或电子发生非弹性碰撞而丧失其能量。
在这种情况下，荧光将减弱或完全不产生，这种现象称为荧光的猝灭。
荧光猝灭有下列几类型：1）与自由原子碰撞M*+X=M+XM*T激发原子X、MT中性原子2）与分子碰撞M*+AB=M+AB这是形成荧光猝灭的主要原因。
AB可能是火焰的燃烧产物；3）与电子碰撞M*+e-=M+E-此反应主要发生在离子焰中4）与自由原子碰撞后，形成不同激发态M*+A=M x+AM*、M x为原子M的不同激发态5）与分子碰撞后，形成不同的激发态M*+AB=M x+AB6）化学猝灭反应M*+AB=M+A+BA、B为火焰中存在的分子或稳定的游离基2．荧光强度与分析物浓度间关系原子荧光强度I f与试样浓度C以及激发态光源的辐射强度I0存在以下函数关系I f二①I根据比尔一朗伯定律厅叫口•e-KLN]式中：①-原子荧光量子效率I-被吸收的光强I0-光源辐射强度K一峰值吸收系数L一吸收光程N一单位长度内基态原子数按泰勒级数展开，当N很小，则原子荧光强度I f表达式可简化为：I f二①I0KIN当所有实验条件固定时，原子荧光强度与能吸收辐射线的原子密度成正比，当原子化效率固定时，I f与试样浓度C成正比，即I=aC f上式线性关系，只在浓度低时成立。
原子荧光光谱法原理
原子荧光光谱法原理
原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。
原子荧光光谱法（AFS）是介于原子发射光谱（AES）和原子吸收光谱（AAS）之间的光谱分析技术。
原子荧光光谱法原理：基态原子（一般蒸汽状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。
测量待测元素的原子蒸气在一定波长的辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的方法。
原子荧光的波长在紫外、可见光区。
气态自由原子吸收特征波长的辐射后，原子的外层电子从基态或低能态跃迁到高能态，约经10-8秒，又跃迁至基态或低能态，同时发射出荧光。
若原子荧光的波长与吸收线波长相同，称为共振荧光；若不同，则称为非共振荧光。
共振荧光强度大，分析中应用最多。
在一定条件下，共振荧光强度与样品中某元素浓度成正比。
该法的优点是灵敏度高，目前已有20多种元素的检出限优于原子吸收光谱法和原子发射光谱法；谱线简单；在低浓度时校准曲线的线性范围宽达3~5个数量级，特别是用激光做激发光源时更佳。
主要用于金属元素的测定，在环境科学、高纯物质、矿物、水质监控、生物制品和医学分析等方面有广泛的应用。
原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度，校正曲线的线性范围宽，能进行多元素同时测定。
这些优点使得它在冶金、地质、石油、农业、生物医学、地球化学、材料科学、环境科学等各个领域内获得了相当广泛的应用。
原子荧光光谱和原子发射光谱的区别
原子荧光光谱（Atomic Fluorescence Spectroscopy，AFS）和原子发射光谱（Atomic Emission Spectroscopy，AES）是两种用于分析元素的光谱技术，它们之间有一些区别：
原理：
原子荧光光谱（AFS）：AFS利用样品中的原子在外部激发下发生荧光发射的现象。
在激发过程中，原子中的电子被激发到高能级，然后返回基态时发射出荧光。
检测荧光辐射可以用来分析样品中的元素。
原子发射光谱（AES）：AES则是通过加热样品使其原子激发并发射出特定波长的光。
在加热的过程中，原子中的电子跃迁到高能级，然后回到基态时，发射出特定波长的光。
检测这些发射的光谱可以用来分析样品中的元素。
检测方法：
原子荧光光谱（AFS）：AFS主要通过测量样品中发射的荧光光谱来分析元素，通常使用单色器或荧光光谱仪进行检测。
原子发射光谱（AES）：AES则通过测量样品中发射的特定波长的光谱来分析元素，通常使用光谱仪或光电二极管（Photomultiplier Tube，PMT）进行检测。
应用：
原子荧光光谱（AFS）：AFS常用于分析低浓度的金属元素，尤其在环境和生物样品中检测微量金属离子具有较高的灵敏度和准确性。
原子发射光谱（AES）：AES广泛用于分析金属元素的含量，特别是在冶金、地质和环境样品中。
总体而言，AFS和AES是两种基于原子激发和发射光谱的分析技术，适用于不同类型的样品和元素分析。
选择使用哪种技术取决于分析需求、样品类型以及所关注的元素浓度范围。
原子荧光光谱分析法
阶跃线荧光：
光照激发，非辐射方式释放部分能量后，再发射荧光返回基态；荧光波长小于激发线波长（荧光能量间隔大于激发线能量间隔）；非辐射方式释放能量：碰撞，放热； 光照激发，再热激发，返至高于基态的能级，发射荧光，图(c)B、D ；
Cr原子：吸收线359.35nm；再热激发，荧光发射线357.87nm，图(c)B、D
01
If = Ia 在理想情况下：
02
I0 原子化火焰单位面积接受到的光源强度；A为受光照射在检测器中观察到的有效面积；K0为峰值吸收系数；l 为吸收光程；N为单位体积内的基态原子数；
03
*
三、原子荧光光度计
1．仪器类型
单通道：每次分析一个元素； 多通道：每次可分析多个元素； 色散型：带分光系统； 非色散型：采用滤光器分离分析线和邻近线；
a b c d
*
anti-Stokes荧光：
a b c ห้องสมุดไป่ตู้ d
荧光波长小于激发线波长；先热激发再光照激发(或反之)，再发射荧光直接返回基态；图(d) ； 铟原子：先热激发，再吸收光跃迁451.13nm；发射荧光410.18nm， 图(d)A、C ；
*
直跃线荧光（Stokes荧光）
Pb原子：吸收线283.13 nm；荧光线407.78nm； 同时存在两种形式：
铊原子：吸收线337.6 nm；共振荧光线337.6nm； 直跃线荧光535.0nm；
a b c d
特点：
光源与检测器成一定角度；
*
多道原子荧光仪
多个空心阴极灯同时照射，可同时分析多个元素
*
2．主要部件
光源：高强度空心阴极灯、无极放电灯、可调频激光器； 可调频激光器：高光强、窄谱线； 原子化装置：与原子吸收法相同； 色散系统：光栅、滤光器； 检测系统：
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
第4章原子荧光光谱分析4.1 原子荧光光谱的产生和特性4.2 原子荧光光谱分析的定量关系4.3 原子荧光光谱仪器4.4 蒸气发生样品导入技术4.5 蒸气发生-原子荧光光谱分析技术4.6 蒸气发生-原子荧光光谱分析的干扰4.7 蒸气发生-原子荧光测量要点4.8 非蒸气发生原子荧光光谱分析技术4.1 原子荧光光谱的产生和特性原子荧光光谱分析法是上世纪60年代中期发展起来的一种新的痕量分析方法。
原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度，校正曲线的线性范围宽，能进行多元素同时测定。
在冶金、地质、石油、农业、生物医学、地球化学、材料科学、环境科学等各个领域内获得了相当广泛的应用。
气态自由原子处于基态，当吸收激发光源发出的一定频率的辐射能量后，原子由基态跃迁至高能态，即处于激发状态。
处于激发态的原子很不稳定，在极短的时间(≈10-8s)内即会自发地释放能量返回到基态。
若以辐射的形式释放能量，则所发射的特征光即为原子荧光。
原子荧光是光致发光，所以当激发光源停止照射之后，再发射过程立即停止。
4.1.2.1 共振荧光共振荧光是指激发波长与发射波长相同的荧光。
由于原子的激发态和基态之间共振跃迁的概率一般比其他跃迁的概率大得多，所以共振跃迁产生的谱线是最有用的分析谱线。
当原子处于由热激发产生的较低的亚稳能级，则共振荧光也可从亚稳能级上产生：称为热助共振荧光。
4.1.2.2 非共振荧光非共振荧光是指激发波长与发射波长不同的荧光。
（1）斯托克斯荧光当发射荧光波长比激发光波长长时，即为斯托克斯荧光。
①直跃线荧光直跃线荧光是指激发谱线和荧光谱线的高能级相同的荧光。
原子受到光辐射激发，从基态跃迁到较高的激发态，然后直接跃迁到能量高于基态的亚稳态能级，发射出波长比激发光波长要长的原子荧光。
类似的，当原子处于由热激发产生的较低亚稳能级，再通过吸收非共振线而激发的直跃线荧光称为热助直跃线荧光。
②阶跃线荧光阶跃线荧光是指当激发谱线和发射谱线的高能级不同时所产生的荧光，也分为正常阶跃线荧光和热助阶跃线荧光两类。
（2）反斯托克斯荧光反斯托克斯荧光是指荧光谱线波长比激发谱线波长短的荧光。
自由原子吸收热能跃迁到比基态稍高的能级上，再吸收光辐射激发到较高的能级，最后辐射跃迁至基态时；或处于基态的原子激发到较高的能级，再吸收热能跃迁到更高的能态，最后以辐射跃迁至基态时，就产生反斯托克斯荧光。
4.1.2.3 敏化荧光敏化荧光是指被照射激发的原子或分子(给予体)通过碰撞退激发的同时将自身能量转移给分析原子(接受体)而使之激发，之后激发态受体原子通过辐射去激发而发射出的荧光。
A为给予体；M为接受体。
给予体通过碰撞去激发，仅在给予体达到很高浓度时，才能观察到敏化荧光。
4.1.2.4 多光子荧光多光子荧光是指原子吸收两个(或两个以上)相同光子的能量跃迁到激发态，随后以辐射跃迁形式退激发所产生的荧光。
因此，对双光子荧光来说，其荧光波长为激发波长的l/2。
4.1.3 各类原子荧光的应用共振荧光强度最高，是最重要的测量信号，应用也最普遍；当采用高强度的激发光源(如激光)时，所有的非共振荧光也是很有用的；此时荧光波长与激发光波长不同，可通过色散系统与激发谱线分离，达到消除严重的散射光干扰的目的。
敏化荧光和多光子荧光由于强度很低，在分析中很少应用。
4.2 原子荧光光谱分析的定量关系4.2.1 荧光强度与被测物浓度之间的关系当原子吸收某一频率的光能，被激发至特定的能级后发出荧光，且在荧光池中不被重新吸收，整个荧光池处于检测器可观测到的立体角之内，则发射频率为υ的原子荧光强度I f υ与原子荧光量子效率φ之间有：考虑到I a υ与入射光谱强度I 0υ之间符合吸收定律：K υ为频率υ的峰值吸收系数；L 为吸收光程；N 0为单位长度内基态原子数。
按泰勒级数展开：当N 0很小时由原子荧光定量分析的基本关系式可知，I f υ与N 0成正比仅适用于低含量测定。
测定灵敏度与峰值吸收系数K υ、吸收光程L 、量子效率φ和激发光强度I 0υ有关。
当仪器条件和测定条件固定时，N 0与分析元素浓度c 成正比。
4.2.2 荧光猝灭与荧光量子效率4.2.2.1 荧光猝灭激发态原子寿命十分短暂，当它以光辐射的方式去激时将发出原子荧光。
若与其他分子、原子或电子发生非弹性碰撞而丧失能量，产生非辐射去激过程，则会使原子荧光减弱或完全不发生，这种现象称为荧光猝灭现象。
4.2.3 原子荧光的饱和效应原子荧光强度与激发光源强度成正比，只在一定的激发光源强度范围内适用。
例如：脉冲染料激光器作光源时，可提供104~107W/cm 2的辐照度，在这么强的光源辐照之下，有可能显著改变分析物原子的能态分布，多数基态或低能态原子被激发到高能态，此时，对光源的吸收达到饱和进而出现荧光饱和状态。
原子荧光强度不再随光源辐射强度的增加而增加。
企图通过无限制增加光源辐射强度来增加荧光强度是不可能的。
4.2.2.2 荧光量子效率为了衡量荧光猝灭程度，提出了荧光量子效率的概念：φf 为单位时间发射的荧光能量；φa为单位时间吸收的光能量。
4.3 原子荧光光谱仪器原子荧光仪器包含样品导入、原子化、光源和检测器四个部分。
4.3.1 原子荧光光谱仪器中的专用部件4.3.1.1 氩氢扩散火焰原子化器原子荧光仪器主要用于检测较易原子化的氢化物或汞，所以大多使用了温度较低的氩氢扩散火焰原子化器。
该类原子化器不额外导入助燃气体，而是依靠空气扩散进入原子化器顶部，与Ar载带的过量氢气形成火焰。
当被测元素的自由原子非常容易被氧化时，屏蔽式原子化器有一定的优势。
特点：①温度较低，大约700℃，操作安全；②火焰中含有大量H·，有利于氢化物的快速原子化；③结构简单，死体积小，所以分析物的传输效率也较高；④紫外区背景辐射较低，物理和化学干扰小，重现性好。
4.3.1.2原子荧光专用高性能空心阴极灯及其供电方式为提高灵敏度，原子荧光采用大电流低占空比脉冲供电的方式点亮空心阴极灯；进行测量时，空心阴极不进行测量时，空心阴极灯仅维持一个很小的电流i灯会以较低占空比脉冲点亮，但单次点亮的电流i很高，这样既能得到较高的1光强，又可以使得空心阴极灯在较低的平均电流下工作，延长其寿命。
无色散检测光路4.3.1.3原子荧光谱线简单，光谱干扰极小，所以当前的原子荧光仪器大多采用无色散检测光路。
双道光路由于采用了45度检测方式，杂散光的影响相对较大，所以用45度斜向上的反射光窗减少杂散光，而单道光路是垂直检测，杂散光很小。
日盲光电倍增管检测器4.3.1.4光电倍增管由光电阴极、若干倍增极和阳极三部分组成，其中光电阴极是由半导体光电材料制成，有光入射就会在光电阴极上打出光电子；倍增极数目在4~14个不等，在各倍增电极上加上电压可使光电子得到倍增；阳极收集电子，外电路形成电流输出，其输出电流与入射光强成正比。
原子荧光仪器所用的光电倍增管常为日盲光电倍增管(光谱波长小于310nm，AFS通常使用190~310nm) 。
4.3.2 典型原子荧光光谱仪器结构当前原子荧光仪器以氢化物/冷蒸气发生方式实现样品的导入，氩氢扩散火焰原子化器实现被测元素的原子化，自由原子被空心阴极灯激发后发射的原子荧光，以无色散光路被光电倍增管接收，获得原子荧光信号。
4.4 蒸气发生样品导入技术4.4.1 蒸气发生概述氢化物发生(HG)/冷蒸气发生(CVG)-无色散原子荧光光谱(AFS)分析法：①采用HG/CVG进样系统将分析元素导入；②分析元素激发态原子发射的荧光不经分光直接检测。
4.4.1.1 方法的优点①分析元素能够与大量可能引起干扰的基体分离，几乎可以完全消除基体干扰；②进样效率接近100％，远高于喷雾样品导入方式(喷雾进样效率一般10~15％)；③具有形态、价态选择性，可以通过调控反应条件实现形态、价态分析；④光程短，因而光损失少，所以灵敏度较高；⑤测量的是一个区带中所有谱线的强度和，与测量单一谱线强度相比灵敏度高；4.4.1.2 方法的使用范围①分析元素必须能够生成氢化物或挥发性化合物，且生成物的稳定时间必须足以将其送入原子化器；②可测元素必须有落在日盲区(190～310nm)内的较强原子荧光谱线。
ⅣA、VA、ⅥA族较重元素(As、Sb、Bi、Se、Ge、Pb、Sn、Te)和ⅡB族Zn可以生成挥发性的共价氢化物；且这些氢化物的生成热为正值，稳定性较差，火焰原子化；最后这些元素都有落在日盲区的原子荧光非常适宜用低温Ar-H2谱线，所以这些元素非常适于采用HG-AFS进行定量光谱测量。
ⅡB族Cd、Hg能直接生成气态原子，即所谓的冷蒸气发生(CVG)，且其原子荧光主谱线也落在日盲区范围内，与HG-AFS检测方式相似。
4.4.2 蒸气发生方法4.4.2.1 金属-酸还原体系缺点：①能发生氢化物的元素较少；②包括预还原在内的时间过长；③干扰较为严重；4.4.2.2 硼氢化物-酸还原体系优点：①反应可在室温条件下迅速进行，为自动化提供了可能；②硼氢化物-酸体系适用的元素数目更多、干扰程度更轻。
硼氢化钠的应用是氢化物反应进样方式发展中的重要阶段。
4.4.2.3 电化学还原体系（1）电极材料的选择氢过电位较大的电极材料(如Hg、Zn、Pb等)，可提供较大的氢过电位，从而增大了氢化物形成时的动力学速率，提高氢化物发生效率。
（2）电化学氢化物发生体系的干扰过渡金属离子的干扰远轻于硼氢化物体系，但在硼氢化物体系中被认为不造成干扰的元素如Ca和Fe，在As、Sb、Se、Sn的电化学氢化物发生中却造成较大正干扰(Ca)和负干扰(Fe)，同时氢化物发生元素之间的相互干扰也比硼氢化4.4.2.4 紫外光化学蒸气发生紫外光化学蒸气发生是近年来出现的一种氢化物发生方法。
原理是利用小分子量有机物(如甲酸、乙酸、丙酸、丙二酸和乙醇等)在紫外光的作用下产生自由基，这些自由基再与相应元素反应生成挥发性物质。
不同的元素、不同的有机酸，甚至不同的有机酸浓度都会对发生产物造成影响。
特点：①不使用传统的还原剂，仅需使用少量有机酸，降低了成本，减少了污染；②紫外光蒸气发生体系中过渡金属，特别是Co、Ni等由于不与有机酸发生反应，其引起的干扰大大降低；③由于反应中涉及自由基反应，所以易于消耗自由基的物质，如NO3-、H2O2、I-、Br-和一些有机物等会造成不同程度的干扰；④此种发生方式产氢量较低，使用除甲酸以外的有机酸时几乎不产生氢，在应4.4.2.5 氢化物(冷蒸气)发生的酸性模式及碱性模式在“酸性模式”下，分析元素存在于酸性溶液中，与碱性还原剂发生反应；在“碱性模式”下，分析元素溶解于碱性还原剂中，与酸性溶液发生反应。
由于样品前处理大多在酸性条件下完成，所以采用“酸性模式”发生氢化物更为方便和常见，但这种模式下，Ⅷ族和ⅠB族的元素会对氢化物发生反应造成较为明显的干扰；在“碱性模式”下，干扰元素往往会生成沉淀与两性的氢化物发生元素相分离，所以此种方式可以显著地减小干扰，特别对于一些复杂基体的样品更为有利。