铁基合金锡_锌镀层厚度的X射线荧光光谱快速测定

合集下载

xrf膜厚测试标准

XRF膜厚测试标准XRF膜厚测试标准一、测试原理XRF（X-ray fluorescence）膜厚测试是一种无损检测技术，通过测量材料表面涂层中的元素含量来推算膜厚。

其基本原理是利用X射线激发待测样品，测量产生的荧光X射线的能量和强度，从而确定样品中的元素种类和含量。

二、测试样品准备1.样品表面应清洁、干燥，无油污、尘埃等杂质。

2.样品应具有代表性，测试区域应覆盖整个待测表面。

3.对于不规则样品，需选择至少三个测试点进行测量，并取平均值。

4.对于大型样品，需分区域测试，并确保每个区域至少包含一个测试点。

三、测试环境与设备1.测试环境应保持清洁、干燥，无尘、无风。

2.设备包括XRF测试仪、样品台、电源等。

3.设备应定期进行校准和维护，确保测试结果的准确性。

四、测试步骤1.将待测样品放置在样品台上，确保样品与测试仪的测试窗口对准。

2.打开测试仪电源，启动测试程序。

3.根据测试仪说明书设置相关参数，如测试元素、扫描速度等。

4.开始测试，观察测试过程中荧光X射线的能量和强度变化。

5.记录测试数据，包括各元素的含量及其标准偏差。

6.对测试数据进行处理和分析。

7.编写测试报告，整理测试数据和结果分析。

8.安全防护措施：操作人员需经过专业培训，佩戴防护眼镜、手套等保护用品。

在测试过程中严禁触碰测试区域内的样品和设备。

测试结束后，需关闭设备电源，并做好设备清洁和维护工作。

9.测试结果评估与改进：根据测试结果，对涂层的质量和厚度进行评估。

针对存在的问题提出改进措施，如调整工艺参数、优化涂层结构等。

同时，对不合格的样品进行返工或报废处理。

锡的化学分析方法

锡的化学分析方法
1. X射线荧光光谱分析法：使用X射线激发样品表面，测量样品放出的荧光光谱，从而确定样品中锡的含量和化学状态。

2. 原子吸收光谱分析法：利用锡原子在特定波长下吸收光的特性，通过测量样品吸收光的强度来确定样品中锡的含量。

3. 火焰原子吸收光谱分析法：将样品溶解在适当的溶剂中，通过火焰原子吸收光谱分析仪器测量样品中锡的含量。

4. 感应耦合等离子体发射光谱分析法：使用高温等离子体激发样品中的元素，测量样品放出的发射光谱，从而确定样品中锡的含量。

5. 比色法：利用锡的还原性，在酸性环境下与碘化钾生成碘，再用碘化铁和锡反应生成紫色碘化锡，测量其吸光度来确定锡的含量。

这些方法可以单独使用，也可以结合使用以提高分析的准确性和精确度。

镀锌铁皮锌镀层厚度的测定PPT下载1

Zn ＋ 2HCl ＝ ZnCl2＋ H2↑ Fe ＋ 2HCl ＝ FeCl2＋ H2↑
ZnCl2＋4NaOH ＝ Na2ZnO2＋2NaCl ＋2H2O FeCl2＋2NaOH ＝ Fe(OH)2 ↓+ 2NaCl
4Fe(OH)2+ O2 + 2H2O = 4Fe(OH)3 2Fe(OH)3 = Fe2O3 + 3H2O
❖
3.在施工全过程中，严格按照经招标人及监理工程师批准的“施工组织设计” 进行工程的质量管理。在分包单位 “自检 ”和总承包专检的基础上，接受监理工程师的验收和检查，并按照监理工程师的要求，予以整改。
❖
、4.贯彻总包单位已建立的质量控制、检查、管理制度，并据此对各分包施工单位予以检控，确保产品达到优良。总承包对整个工程产品质量负有最终责任，任何分包单位工作的失职、失误造成的严重后果，招标人只认总承包方，因而总承包方必须杜绝现场施工分包单位不服从总承包方和监理工程师监理的不正常现象。
3、将镀锌铁皮A放入烧杯中，加入约40mL 6mol·L-1盐酸。反应时用玻璃棒小心翻动镀锌铁皮，使铁皮两边锌镀层都充分反应.锌在酸中完全溶解后，产生氢气的速率显著变慢，准确判断锌完全反应是本实验最重要的一环。若判断过早则会使锌不完全溶解；若过迟会使铁部分溶解，都会增加实验误差。
4、反应后从酸液中取出的铁皮应先用蒸馏水冲洗，再用滤纸吸干，然后加热烘干(将铁片放在石棉网上，用酒精灯小火烘干 )，冷却后用电子天平称量。 5、分别用B、C重复进行实验步骤3、4。
析氢腐蚀吸氧腐蚀
如何测定镀锌层厚度和镀锌量？

X-RAY测量厚度的原理

X-RAY荧光测厚法原理X-RAY是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，可分为连续X-RAY和特征X-RAY两种，常用波段为0.1-20埃（A0）。

X-RAY分析法按照产生的机理可以划分为X-RAY荧光法（X-RAY fluorescence analysis）和X-RAY吸收光谱法（X-RAY absorption spectroscopy）和X-RAY衍射分析法（X-RAY diffraction analysis）等。

在PCB行业，对于金属层厚度一般采用X-RAY荧光法（X-RAY fluorescence analysis）。

X-RAY荧光测厚法原理是利用X-RAY射击到待测量的物体表面上，而反射出荧光，利用皮膜反射的荧光与基材反射荧光的不同性质，与基材反射回来的荧光量的多少，得以计算出皮膜厚度。

当一种物料受到X-RAY的撞击（Bombardment）时，原子中的某些电子在获得足够的能量而脱离（Spin Off）各原子正常轨道的制约后，在原来脱离的价层（Shell）中便产生一个“空洞”（Void）。

当另外有其他的电子从高价层中落下来填补该空洞的时候，其多余的能量便以X-RAY能量的光子释放出来，此X-RAY又在射击到其他物质上，并再度产生第二次的X-RAY荧光（X-RAY fluorescence），参见图2。

各种荧光X-RAY的发射能阶（Limitted Energy Lenel，也就是波长）与其再原子序（Atomic Number）成正比，而且和该物质的特性有关系，其谱线的数量（Quantity，也就是强度）是与该物质的厚度有关。

通过这样的机理，可以对物质进行定性和定量分析。

也就是如果能够采用适当的仪器（Instrumentaition），通过计算机便可以很快利用X-RAY去测量该材料的厚度。

X-RAY测量仪器的基本结构包括X-RAY光管/光源（X-RAY Tude）、准直器（Collimator，或叫瞄准仪）及一个比例记数器（Propertional Counter），参见图3。

镀层测厚仪的检测方法

镀层测厚仪的检测方法简介镀层测厚仪是用于表面涂层厚度测量的仪器，在工程和制造业领域广泛应用。

常用于对金属、陶瓷、塑料等材料中的薄膜、涂层、覆盖层以及表面处理层的测量检测。

本文将介绍镀层测厚仪的检测方法。

测量原理镀层测厚仪是通过测量表面涂层和底材之间的差距，计算并显示涂层厚度的仪器。

涂层测量仪的测量原理随着涂层性质的不同而不同，常见的测试原理有：磁涂层测厚仪磁涂层测厚仪应用磁学原理来测量镀在金属表面的涂层厚度。

其原理是在被检测物表面施加一个磁场，形成不均匀磁场梯度，因此与磁场垂直的涂层表面在磁场中会形成一个感生电动势。

测量仪器利用感应电势大小的变化来推算涂层的厚度。

比重涂层测厚仪比重涂层测厚仪的测量原理是在测量器的尖端放置一个离心轮，离心轮内填充有已知密度的材料。

将测量仪的尖端放置在被测层上，然后快速旋转仪器并停止。

由于离心力作用于密度不均匀的涂层和底材之间，涂层的密度可以被确定并用来计算其厚度。

X射线涂层测厚仪X射线涂层测厚仪测量原理是通过向涂层表面发射一束X射线，测量X射线经过涂层后被吸收的能量，从而推算涂层厚度。

X射线表面分析仪通常用于对非金属表面和复合材料表面涂层的测量。

测量步骤准备工作首先，将需要检测涂层的表面处理清洁干燥。

并确保测量仪器已被正确校准和校准日期未过期。

开始测量1.编制测量计划并选择合适的检测仪器。

2.将测量仪器放置在待测面上，确保仪器与表面无间隙。

3.如有必要，根据涂层特性和厚度测量的类型，仔细地调整测量仪器。

4.启动测量仪器，记录或显示当前读数。

5.如有必要，在涂层破损区域进行多次比较测量以获取准确数据。

6.完成测量后，评估测试结果并记录数据。

测量结果的影响因素影响测量结果的因素有很多，例如：•材料特性：注重厚度和颗粒大小、化学构造、压力和温度等物理性质。

•测量仪器：磁涂层测厚仪、比重涂层测厚仪、X射线表面分析仪等不同类型的测量仪器。

•校准和维护：选择时效性良好的校准标准和合适的维护程序并规定清洁校准方法，尽早及时排除问题。

x射线镀层测厚仪操作方法

X射线镀层测厚仪操作方法
X射线镀层测厚仪操作方法如下：
1.接通电源，按下X射线测厚仪的开关按钮、照明灯开关，同时打
开电脑，进入测厚软件，进行连线。

2.确定联机后进入“光谱”子程序进行至少30分钟的不间断测量（预
热测量为空打）。

3.预热完毕后，对需要使用的程式进行基准测量。

选择菜单“产品
程式—测量调校标准片”进入调校标准。

4.放入“Ag片”对仪器进行初始化，初始化完成后，取出样品，完
成测试。

5.在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，准确对准测试位置。

6.点击SART测试。

7.测试过程中X射线指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。

8.测试时间10秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度。

9.X射线指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出。

10.取出样品，完成测试。

以上步骤仅供参考，具体操作可能因仪器型号和设置而有所不同。

覆层厚度的测量方法

覆层厚度的测量方法概述在制造和加工过程中，外表面的覆层厚度是一个重要参数，它决定了被涂覆物的性质和使用寿命。

因此，对于各种不同的表面，需要使用适当的测量方法来测量它们的覆层厚度，以确保产品的质量和安全性。

常用的测量方法以下是常用的测量方法，它们可以根据被测试表面的材质和形状而选择合适的测量工具和技术。

1. 磁感应法磁感应法是通过在测量的物体表面施加一个磁场来测量其覆盖的涂层厚度的一种方法。

该方法适用于钢、铁和镍合金等金属表面的涂层厚度测量。

测量仪器包括磁感应涂层测厚仪和磁弹簧涂层测厚仪，它们可以识别出磁性材料表面和涂层之间的差异。

2. 比较法比较法是通过比较已知标准和实际测量值来确定被涂覆物的涂层厚度。

这种方法需要使用标准的涂层厚度卡作为参考，从而将被测试表面的涂层厚度与标准卡进行比较。

3. X射线法X射线法是通过向被测试物体表面辐射X射线来测量其涂层厚度的一种方法。

该方法适用于各种材料的涂层厚度测量，包括金属、陶瓷、塑料、橡胶和非金属等。

使用该方法测量涂层厚度需要使用X射线涂层测厚仪，它可以通过发射和接收X射线的方式来检测被测试表面的涂层厚度。

4. 感应法感应法是通过在测量表面上施加一个高频电磁场来测量其涂层厚度的一种方法。

该方法适用于构成涂层的材料具有电导率的金属和非金属材料。

使用感应式涂层测厚仪，可以在不接触待测表面的情况下，精确地检测涂层的厚度。

结论以上方法各有优缺点，需要根据被测表面的材料和形状来选择合适的测量方法。

在进行涂层厚度测量的时候，需要严格掌握技术规范和操作流程，以保证测量结果的准确性和可靠性。

涂层厚度检测涂层厚度测定原理及方法-科标

涂层厚度检测涂层厚度测定原理及方法表面处理层（涂层、镀层）厚度的检验方法分为非破坏性检验和破坏性检验两种。

非破坏性检验有磁性法、涡流法、X射线荧光测量法、β射线反向散射法、光切显微镜法、能谱法等。

破坏性检验有点滴法、液流法、化学溶解法、电量法（库仑法）、金相显微镜法、轮廓法、干涉显微镜法等。

磁性法是目前无损测量厚度应用最广泛的一种方法。

磁性法又分为类型，一种是测量永久磁铁和基体之间由于处理层存在而改变的磁吸力；另一种是测量通过处理层和基体金属磁通路的磁阻。

参考标准有ISO2178《磁性基体的非磁性覆盖层镀层厚度的测量》、ISO2361《磁性非磁性基体的镍电镀层镀层厚度的测量磁性法》、ASTM A499《磁性材料上非磁性镀层用磁性测定厚度》、ASTM A530《磁性法测定磁性和非磁性基体上电沉积镀镍层厚度》、GB4956《磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法》。

涡流法是利用交流电磁场在被测导电物体中感应产生的涡流效应。

其工作原理是将内有高频电流线圈的探头置于表面处理层上，在被测表面处理层内产生高频磁场，由此引起金属内部涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头内线圈，令其阻抗变化。

随处理层的厚度变化，阻抗发生相应改变。

一、磁性基体上非磁性涂镀层的厚度检测。

基体为钢铁等，涂层为油漆、塑料、搪瓷、铬、锌。

便携式检测仪器采用磁性法原理。

常见的有：a)美国迪孚高Posi Tector6000系列涂镀层测厚仪使用美国迪孚高Posi Tector6000系列涂镀层测厚仪，使用配带的F型探头。

b)德国尼克斯QuaNix1200涂层测厚仪德国尼克斯QuaNix1200涂层测厚仪／膜厚仪/镀层测厚仪可用来测量钢、铁等铁磁性（Fe）金属基体上的非磁性涂镀层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等。

可测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性（NFe）基体上的所有非导电层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、氧化层等。

锌铁合金钢板镀层中铁含量的检测方法探讨

锌铁合金钢板镀层中铁含量的检测方法探讨范　纯，王晶晶，华　（宝山钢铁股份有限公司制造管理部，上海　２０１９００）摘要：采用标准化学法和两种Ｘ射线荧光法对锌铁合金钢板镀层中的铁含量进行了测定研究。

试验结果表明，对于锌铁合金样板镀层中铁含量的测定，标准化学法是准确性最佳的方法，但是该方法检测效率低，不适用于生产质控检测。

Ｘ射线荧光法中的基本参数法和经验系数法均可用于锌铁合金钢板镀层中铁含量的生产质控检测，检测重复性分别可达０．２％和０．４％，均优于原子吸收法的０．６％。

但是，这两种Ｘ射线荧光法均有各自的使用限制，对于不同机组生产的锌铁合金钢板的检测准确性较标准化学法差，需谨慎限制使用。

关键词：锌铁合金；铁含量；Ｘ射线荧光法中图分类号：Ｏ６５７．３１　文献标志码：Ｂ　文章编号：１００８－０７１６（２０２１）０１－００４７－０４ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００８－０７１６．２０２１．０１．００９ＳｔｕｄｙｏｎｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｍｅｔｈｏｄｏｆｉｒｏｎｃｏｎｔｅｎｔｉｎｇａｌｖａｎｉｚｅｄｃｏａｔｉｎｇｏｆｚｉｎｃｉｒｏｎａｌｌｏｙＦＡＮＣｈｕｎ，ＷＡＮＧＪｉｎｇｊｉｎｇａｎｄＨＵＡＢｅｎ（Ｐｒｏｄｕｃｔｓ＆ＴｅｃｈｎｉｑｕｅＭａｎａｇｅｍｅｎｔＤｅｐａｒｔｍｅｎｔ，ＢａｏｓｈａｎＩｒｏｎ＆ＳｔｅｅｌＣｏ．，Ｌｔｄ．，Ｓｈａｎｇｈａｉ２０１９００，Ｃｈｉｎａ）Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＴｈｅｉｒｏｎｃｏｎｔｅｎｔｉｎｇａｌｖａｎｉｚｅｄｃｏａｔｉｎｇｏｆｚｉｎｃｉｒｏｎａｌｌｏｙｗａｓｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄｂｙａｔｏｍｉｃａｂｓｏｒｐｔｉｏｎｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙａｎｄｔｗｏｋｉｎｄｓｏｆＸｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｍｅｔｈｏｄｓ．Ｔｈｅｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗｔｈａｔｔｈｅｃｈｅｍｉｃａｌｍｅｔｈｏｄｉｓｔｈｅｍｏｓｔａｃｃｕｒａｔｅｍｅｔｈｏｄ．Ｔｈｅｄｅｔｅｃｔｉｏｎｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙｏｆｃｈｅｍｉｃａｌｍｅｔｈｏｄｉｓｌｏｗ，ｓｏｉｔｉｓｎｏｔｓｕｉｔａｂｌｅｆｏｒｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎｑｕａｌｉｔｙｃｏｎｔｒｏｌ．ＢｏｔｈｔｈｅＦＰｍｅｔｈｏｄａｎｄｅｍｐｉｒｉｃａｌｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔｍｅｔｈｏｄｉｎＸＲＦｃａｎｂｅｕｓｅｄｆｏｒｑｕａｌｉｔｙｃｏｎｔｒｏｌｏｆｉｒｏｎｃｏｎｔｅｎｔｉｎｇａｌｖａｎｉｚｅｄｃｏａｔｉｎｇｏｆｚｉｎｃｉｒｏｎａｌｌｏｙ．Ｔｈｅｒｅｐｅａｔａｂｉｌｉｔｙｏｆｄｅｔｅｃｔｉｏｎｉｓ０．２％ａｎｄ０．４％ｒｅｓｐｅｃｔｉｖｅｌｙ，ｗｈｉｃｈｉｓｂｅｔｔｅｒｔｈａｎ０．６％ｏｆｃｈｅｍｉｃａｌｍｅｔｈｏｄ．ＨｏｗｅｖｅｒｔｈｅｔｗｏＸＲＦｍｅｔｈｏｄｓｈａｖｅｔｈｅｉｒｏｗｎｌｉｍｉｔａｔｉｏｎｓ．Ｔｈｅｍｅｔｈｏｄｓａｃｃｕｒａｃｙｏｆｄｉｆｆｅｒｅｎｔｕｎｉｔｓｍａｙｂｅｗｏｒｓｅｔｈａｎｔｈａｔｏｆｃｈｅｍｉｃａｌｍｅｔｈｏｄ，ｓｏｔｈｅｕｓｅｏｆｔｈｅｓｅｔｗｏｍｅｔｈｏｄｓｓｈｏｕｌｄｂｅｃａｒｅｆｕｌｌｙｒｅｓｔｒｉｃｔｅｄ．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｚｉｎｃｉｒｏｎａｌｌｏｙ；ｉｒｏｎｃｏｎｔｅｎｔ；Ｘｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｍｅｔｈｏｄ范　纯　高级工程师　１９７５年生　２００２年毕业于上海大学现从事钢铁及其涂镀产品的检测技术研究电话　２６６４６５０９　Ｅｍａｉｌ　ｆａｎｃｈｕｎ＠ｂａｏｓｔｅｅｌ．ｃｏｍ锌铁合金钢板是在热镀纯锌钢板的基础上发展起来的一类主要用于汽车板行业的产品，由于其具有良好的耐腐蚀性、耐热性、涂装性、焊接性和涂漆后防锈能力，较好的抗刮擦性能［１］，因此得到比较广泛的应用。

1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。

认,。,。尹。,梦,‘,梦一

铁基合金锡、锌镀层厚度的射线

荧光光谱快速测定

王松青①应晓浒

宁波进出口商品检验局浙江省宁波市柳汀街号

摘要铁基合金锡锌镀层的厚度通常采用湿法化学法分析本文根据在临界厚度以内射线荧光

强

度与样品厚度有关的原理用波长色散射线荧光光谱仪测定镀锡板俗称马口铁镀锌板中的。,

。

伪等特征谱线的强度然后用线性回归和非线性拟合等方法获得谱线强度和镀

层厚度之间的数学关系本法测量锡锌镀层厚度准确快速简便所得结果可与湿法化学分析结

果相

比

关健词镀层厚度射线荧光镀锡薄板镀锌板

前言马口铁的镀锡量测定一般采用化学重量法该法在脱锡的同时脱落了锡铁合金层中及

边缘上的部分铁因而影响了分析结果的准确性另外测量过程中产生的三氢化锑是非常有毒的气体对人体有一定的伤害碘酸钾容量法和显微镜测厚法是镀锡量测定的仲

裁方法该法操作复杂分析时间长对于两面镀锡厚度不一的差厚马口铁过程更加复杂

不

适宜日常快速分析最近广东商检局〔〔提出了用直读光谱仪测定马口铁单位面积镀锡量的方

法该法操作简单分析速度快是镀层厚度测量的一大进步镀锌板的镀锌量测定的标准方法有化学重量法们阳极溶解库仑法川磁性法显微镜

测量法图常用方法为化学重量法在测量过程中也遇到了与马口铁同样的问题射线荧光分析作为一种表面分析技术除用于均匀样品的定性定量分析外还能用于表面层状态或镀层厚度的测定本文提出将射线荧光分析技术用于马口铁和镀锌板的锡锌镀层厚度测量发挥仪器分析快速简便的优点实验证明本法测量锡锌镀层厚度准确快速简便所得结果可与湿法化学分析结果相比原理镀层厚度的射线荧光分析方法有两种见图基于试样镀层荧光发射的发射方

法基于基底荧光衰减的吸收方法

光谱实脸室第卷

发射方法对于镀层厚度薄于临界厚度的试样镀层元素的射线荧光强度。与镀层厚度几成指数关系

了‘了二沐〔一一万

〕

其中—镀层厚度厚于临界厚度的试样的荧光强

度

—动群—镀层密度

群—镀层的质量吸收系数

当值充分小时根据泰勒展开一一、于是

‘产

对于给定的材料和恒定的等效波长激发拜,可以认为是个常数这时镀层元素的荧光强度与镀层厚度成正比一般当小于时认为公式成立所以镀层元素的荧光强度和镀层厚度之间的关系可分为三个区见图

薄镀层镀层厚度与荧光强度成正比称为线性区

中厚镀层区镀层厚度与荧光强度成指数关系称为指数

区

无限厚区荧光强度不随镀层厚度变化而变化称为无限

厚区

吸收

方法

对于马口铁和镀锌板基底元素为铁镀层元素为锡或锌测量基底元素铁的荧光强度时入射的原级谱线和铁的特征谱线受到镀层元素的部分吸收铁的荧光强度与镀层厚度存在如下关系了了一

户

拜

一产了几

其中几—无镀层的纯铁试样的铁的荧光强度对于给定的材料和恒定的等效波长激发群几可以认为是常数这样镀层厚度与

基

底元素铁的荧光强度的对数成线性关系公式就转化为。为常数

发射方法

吸收方法

。、临界厚

度

二,

、

锡锌撬毒

,性竺,

顺

指数区

如茄叔

胡线性区

一一

第期王松青等铁基合金拐锌被层厚度的射线荧光光讲快速侧定

实验仪器及方法仪器及样品样品的射线荧光强度测量采用德国西门子公司制造的型顺序式射线荧光

光谱仪锗靶光管功率初级射线与样品的夹角砂为射线荧光的取出角如为样品为直接从马口铁或镀锌板上截取的直径约的圆片若表面有沾污用酒精棉花轻轻擦去

测条件表射线荧光光讼仪的测条件

谱线晶体峰位角准直器狭缝业过撼器电压

电流

人计数器

仇东

内马口

铁

甸铰锌板

卜十

实验结果及分析马口铁

测量按所定的测量条件测定个镀层厚度已知的校准样品的场的谱线强

度

分析根据锗靶原级谱线与锡的特征谱线的关系价线由原级谱的连续谱激发计算灿拼值

严产入射幼护产‘,护

代入参数参数取自文献

匡

产,

通常马口铁的镀锡量一’即一组林‘一小于即镀锡层的厚度为薄镀层测得的的荧光强度应与镀层厚度成正比将荧光强度和镀层厚度

线性

回归见图

用吸收的方法根据公式刁将镀层厚度与,线强度的对数进行线性回归见图表分别为用发射方法和吸收方法求得的校准样品的分析值与样品推荐值的比较

表校准样品推荐位与分析值的比较单位样品名标准偏差

校准样品推荐值

射线荧光

分

析值

发射方法

第卷

刁日之侧迹迎娜

峨,日

代侧处噢娜

伪谱线强度

图马口铁的发射方法的校准曲线谱线强度的自然对数图弓马口铁的吸收方法的校准曲线

东镀碎板

测量按所定的测量条件测定个镀层厚度已知的校准样品的的谱线强度分析

镀锌板的伪和主要由锗靶原级谱的和声激发计

算

砂拜值

、入拢叻,、、气九

代入参数参数取自文献阂矿通常镀锌板的单面镀锌量为一即组一即一根据前面的分析这时价的荧光强度与镀层厚度成指数关系根据公式由线的强度计算

镀锌层厚度须已知。拜而要通过测量镀锌层厚度大于临界厚度的样品的线的强度得到产只能计算近似求得而且不同的仪器计算出来的产值也不同在实际工作

中有一定困难所以本文对镀层厚度和测得的线的强度按公式用高斯牛顿法进行非线性拟合见图用吸收的方法根据公式将镀层厚度与线强度的对数进行回归见图表

为用发射方法和吸收方法求得的校准样品的分析值与样品推荐值的比较

表校准样品推荐位与分析值的比较单位,

样品名一一一一一一一一一一一一一一校准样品推荐值射线发射方法荧光分析吸收方法

样品名一一一一一一一一一一标准偏差