第四章射线照相检验的基本技术
2
F 2
2
г射线可以写为： 射线可以写为： 射线可以写为
A t1 1 F 1
2
=
A t2 2 F 2
2
32
在二次曝光的时候，只要二次曝光满足上面的等式 ，则可以得到相同黑度的底片对于 X射线可以记： it M= 2 F г射线可以记： At M = F2
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4.6 曝光曲线与曝光量计算 4.6.1 曝光曲线概述 曝光曲线是在一定条件下绘制的透照参数（射 线能量、焦距、曝光量）与透照厚度之间的关 系曲线。这些条件主要是 透照工件材料； 射线源； 胶片、暗室处理技术、增感； 射线照相质量要求等。
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计算焦距最小值的公式
F in m d = T 1+ Ug
式中 Fmin —— 焦距最小值； d —— 射线源焦点尺寸； T —— 物体的透照厚度； Ug —— 几何不清晰度。 焦距直接关系到射线照相的几何不清晰度，并影响其他透 照参数的确定，对射线照相得到的影像质量，也就是 对射线照相灵敏度具有重要影响。从此式可以看到， 在确定焦距时应同时考虑物体的透照厚度、射线源的 焦点尺寸、限定的几何不清晰度。
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4.5 曝光因子 曝光因子给出的是曝光量与X射线机的管电流或放 射性同位素源的活度、曝光时间、焦距的关系。它 指出，在曝光过程中，只要保持曝光因子值不变， 就可以给出相同的曝光量，因此也就可以给出相同 黑度的底片。
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导出曝光因子需要使用平方反比定律和互易律， 导出曝光因子需要使用平方反比定律和互易律，平 方反比定律给出了光线强度与距离变化的规律， 方反比定律给出了光线强度与距离变化的规律，互 易律给出了射线强度与曝光时间在感光时间的感光 易律给出了射线强度与曝光时间在感光时间的感光 作用中的相互关系。 作用中的相互关系。将平方反比定律和互易律结合 在一起， 在一起，就可以得到射线照相中的曝光因子的概念 射线可以写为： 。X射线可以写为：i1t1 = i2t2 射线可以写为
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4.1.2 射线源、工件、胶片的相对位置
射线源与胶片分别置于工件的两侧，具体考虑： 一是工件和设备的具体情况和特点。 二是可能出现的缺陷类型和特点。
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4.1.3 有效透照区
有效透照区，即一次透照的有效透照范围（因此，也 可称为“一次透照区”），是指透照区内在射线照片 上形成的影像满足下面要求的区域： 1）黑度处于规定的黑度范围； 2）射线照相灵敏度符合规定的要求。
射线检测
第四章 射线照相检验的基本技术
1
4.1 透照布置
4.1.1基本透照布置 射线照相的基本透照布置如图所示，考虑透照布 置的基本原则是使透照区的透照厚度小，从而使 射线照相能更有效地对缺陷进行检验。在具体进 行透照布置时主要应考虑的方面有： 1）射线源、工件、胶片的相对位置； 2）射线中心束的方向； 3）有效透照区（一次透照区）。
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实际进行射线照相时确定透照参数经常采用 曝光曲线，从曝光曲线给出的关系可方便地 确定某种材料、某个厚度的工件、满足规定 的质量要求应选用的射线能量、焦距、曝光 量等。
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4.6.2 曝光曲线的典型形式 对X射线照相检验，常用的曝光曲线有两种类型，第 一种类型曝光曲线以透照电压为参数，给出一定焦 距下曝光量对数与透照厚度之间的关系。第二种类 型曝光曲线以曝光量为参数，给出一定焦距下透照 电压与透照厚度之间的关系。图4-11是第一种类型 ，图4-12是第二种类型。
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2．光阑与准直器
减少散射线的另一个主要方法是尽量减少物体被检 验区以外受到射线照射的范围大小，除了采用铅屏 蔽板遮盖外，常用的方法是用光阑或准直器限制射 线束的大小，限制透照的区域。 光阑采用对射线具有强烈吸收性能的材料制做，例 如，采用铅板制做，其厚度应能有效地吸收入射的 射线。光阑的孔径和孔的形状可按照透照区的大小 和形状设计，光阑通常放在靠近射线源的位置。
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1．规定透照厚度比
透照厚度比定义为，有效透照范围内最大透照厚度 与最小透照厚度之比。按图所示，透照厚度比K可 以表示为 K＝T ' / T 式中 T —— 中心射线束的透照厚度； T ' —— 边缘射线束的透照厚度。
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2．规定射线源与工件源侧表面距离和有效透照区 大小的关系 这种规定直接规定射线源与工件源侧表面距离和 有效透照区大小的比，通过此比值的方式规定有 效透照区。常用的规定为： A 级技术：f ≥2L B 级技术：f ≥3L 在射线照相检验技术标准中，A级技术是一般灵敏 度技术，B级技术是高灵敏度技术，此外存在比B 级灵敏度更高的技术。
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图4-1 射线照相的基本透照布置 1—射线源 2—中心束 3—工件 4—胶片 5—像质计
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在图4-1中，射线源与工件源侧表面的距离一般记为f， 有效透照区一般记为L，射线源与工件胶片侧表面的 距离一般记为F，并称为焦距，中心射线束与透照区 边缘射线束的夹角一般记为 θ， 并称为照射角。T是 工件厚度，对于一个具体工件，通常所说的透照厚 度，即是指工件本身的厚度。
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所产生的散射线的多少，与射线能量相关，与射线照 射物体的材料、厚度、面积也相关。对散射比来说， 它们之间的关系可简单地概括如下： 1）随着射线能量的提高散射比将降低，应注意的是 这是对能量变化较大的一般结论； 2）随着透照厚度的增大散射比也增大； 3）在较小的面积范围内，随着面积的增大散射线比 也增大，但当面积增大到一定程度后，散射线比不再 增大。
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4.4.3 散射线防护的主要方法 减少到达胶片的散射线的主要方法是滤波、光阑、遮 蔽、屏蔽等方法，具体的布置示意图如图4-10所示。
1—X射线管 2—滤波板 3—光阑与准直器 4—工件 5—遮蔽铅板 6—前吸收铅板（箔） 7—胶片 8—后屏蔽铅板
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1．铅屏蔽
在实际射线照相检验中，采用铅屏蔽防护散射线是 经常使用的措施。 主要的防护方法是用适当厚度的铅屏蔽板遮盖工件 非透照区，用适当厚度的铅屏蔽板遮盖工件以外的 胶片，采用适当的金属增感屏吸收来自工件的散射 线，或者在工件与胶片之间放置适当厚度的铅屏蔽 板，吸收从被透照工件产生的散射线。
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3．滤波
在X射线照相中使用的连续谱X射线，其长波（低能 量）部分X射线对射线照相检验不起主要作用，但当 它们直接照射胶片或穿过薄的物体到达射线胶片时 ，可以被强烈吸收并产生散射线。为了减少射线中 的这部分成分，常采用滤波的方法。即在X射线管窗 口附近放置滤波片，射线从窗口出射之后首先要穿 过滤波片，使长波部分的X射线被大量吸收。 滤波片就是适当厚度的某种金属材料平板，它的厚 度应按射线能量选取。
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4.2.3 焦距 焦距是射线源与胶片之间的距离，通常以F记号表示 焦距是射线照相另一个基本透照参数，确定焦距时 必须考虑的是： 1）所选取的焦距必须满足射线照相对几何不清晰度 的规定； 2）所选取的焦距应给出射线强度比较均匀的适当大 小的透照区。 前者限定了焦距的最小值，后者指导如何确定实际使 用的焦距值。
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E0 k= E
4.3.2 增感屏的类型与特点
增感屏主要有三种类型：金属增感屏、荧光增感屏、复合增感屏 （金属荧光增感屏）。
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4.3.3．增感屏使用 使用时增感屏常分为前屏和后屏。前屏应置于胶片朝 向射线源一侧，后屏置于另一侧，胶片夹在两屏之间 。使用增感屏时主要应注意： 1）正确选取增感屏的类型和规格； 2）增感物质表面（金属箔、荧光物质）应朝向胶片； 3）增感物质表面与胶片表面之间应直接接触，不能放 置其他物品，如纸张； 4）在向前后屏之间装入胶片或从它们之间取出胶片时 应尽量避免摩擦，以免因摩擦产生荧光或静电，使胶 片感光； 5）使用前应检查增感屏表面是否受到污染或损坏，存 在这些问题的增感屏不能使用。
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3．规定同一张射线照片的黑度
这种规定是一种间接的规定方式。它规定，同一张 射线照片的黑度必须处于规定的黑度范围之内，超 出的区域，除非另外证明这些区域的射线照相灵敏 度达到了规定的要求，否则不能作为质量评定区。 例如，美国的一些标准常如下规定： 最大黑度应不高于：D0+0.30D0 最小黑度应不低于：D0−0.15D0 其中D0是像质计所在处的黑度。
9Hale Waihona Puke 4.1.4 中心射线束的方向
一般情况下应指向有效透照区的中心，为了使整个 有效透照区的厚度变化较小，使射线的照射角较少 ，提高检验性。
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4.2 基本透照参数
4.2.1透照参数概念 射线能量、焦距、曝光量
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4.2.2射线能量的确定 射线能量，对于X射线是以X射线管所施加的高压，即管 电压表示，一般称它为透照电压。对于γ射线是γ射线源 辐射的主要γ射线的能量或这些主要能量的等效能量。 射线能量是重要的基本透照参数，它对射线照片的影像 质量和射线照相灵敏度都具有重要影响。主要是随着射 线能量的提高，线衰减系数将减小，胶片固有不清晰度 将增大，此外还将影响散射比。推荐的选取射线能量的 原则是，在保证射线具有一定穿透能力条件下选用较低 的能量。
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图4-8 散射线产生示意图 1—射线源 2—工件 3—暗盒 4—胶片
5—地面
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对于实际的射线照相检验工作。到达胶片的散射线， 最主要的是来自被透照的工件本身，其次（当对散 射线防护不好时）是工件背面与周围的物体，特别 是原子序数比较低的物体产生的散射线。 从图中可见，对胶片来说，散射线可来自前方、后方 、侧面等各个方向，来自后方和侧面的散射线常被 称为“背散射线”，它们可从暗盒的背面入射到胶 片，产生曝光作用。
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4.2.4曝光量的确定 曝光量是射线照相检验的又一个基本参数，它直接 影响底片的黑度和影像的颗粒度，因此，也将影 响射线照片影像可记录的细节最小尺寸。 曝光量通常用符号 E表示。曝光量本应是透照时曝 光时间（透照时间）与射线强度的乘积，即 H＝It 但在实际射线照相检验中，都采用与射线强度相关 的量代替射线强度来表示曝光量。对于X射线， 采用管电流与曝光时间之积表示曝光量，即 E＝it 对于γ射线，常用γ射线源的放射性活度与曝光时间之 积表示曝光量，即 15 E＝At
射线检测的主要方法及原理PPT课件
荧光与闪烁原理
总结词
某些物质在射线作用下会发出荧光或闪烁光，可用于检测和 识别物质。
详细描述
某些物质在射线作用下会发出荧光或闪烁光，这是因为射线 能量激发了物质的电子，使其跃迁至较高能级，当电子返回 低能级时释放出光子。这种荧光或闪烁光可用于检测和识别 物质。
成像与重建原理
总结词
通过测量穿过被检测物体的射线，利用计算机技术重建物体的内部结构。
射线检测的主要方法及原理ppt课 件
目录
• 射线检测概述 • 射线检测的主要方法 • 射线检测的原理 • 射线检测的应用领域
01
射线检测概述
定义与特点
定义
射线检测是一种无损检测技术， 通过利用放射性物质发射的射线 对物体进行穿透，检测物体的内 部结构和缺陷。
特点
射线检测具有非破坏性、高精度 和高可靠性，能够检测各种材料 和复杂结构的内部缺陷和异常。
在焊接过程中，射线检测能够检测出 焊缝中的裂纹、气孔、夹杂等缺陷， 确保焊接质量。
复合材料检测
射线检测能够检测复合材料中的分层、 脱粘、孔洞等缺陷，确保复合材料的 质量和安全性。
石油和天然气管道检测
射线检测能够检测管道焊缝的内部缺 陷，确保管道的安全运行。
医学影像诊断
01
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X射线成像
利用X射线穿透人体组织， 在胶片或数字成像设备上 形成影像，用于诊断骨折、 肺部感染等。
γ射线检测
γ射线检测是利用放射性元素发出的γ 射线对物质进行穿透，通过测量穿透 后的γ射线强度来检测物质内部结构 的一种无损检测方法。
γ射线检测的优点是检测速度快、精 度高、对形状复杂的部件也能进行全 面检测。
γ射线检测具有较高的穿透能力和较 高的分辨率，能够检测出金属、陶瓷、 玻璃等材料中的气孔、裂纹、夹杂物 等缺陷。
RT讲义-第四章 射线透照工艺
第四章射线透照工艺前言（一）X射线能量的选择：选择的首要条件时应具有足够的穿透力，但过高对射线照相的灵敏度不利。
因为随管电压的升高，衰减系数μ减少对比度D∆降低，固有不清晰度Ui增大，底片颗粒度增大，其结果是射线照相灵敏度下降。
因此原则是：在保证穿透力的前提下选择能量较低的X射线。
所以，标准规定了对不同厚度允许使用的最高管电压并要求有适当的曝光量（如AB级不小于15mA.min；焦距700）（二）曝光量：E=I.t (或A. t)互易律：当采用铅箔增感屏或无增感屏时，遵守互易律，即只要两者乘积E值不变。
即射线强度和时间相应变化，底片黑度不变。
平方反比定律：辐射强度与距离平方成反比。
（三）焊缝透照方法要考虑的因素：1、必须确定的事项：射线源位置、透照方向、象质计、标记的放置、散射线的屏蔽。
2、必须确定的几何参数：焦距（L1和L2）；一次透照长度L3；环焊缝100%，透照时的最少曝光次数N。
3、同时需考虑的相关因素：几何不清晰度U g ；透照厚度比K ； 横向裂纹检出角Q ；有效评定长度Leff 。
100%透照时，相邻两片的搭接长度 L 。
一、关于U g 值的问题：U g ：几何不清晰又称半影宽度。
U g =12.L L df JB928-67标准为一固定值，U g =0.2、0.4㎜，要减小U g 值从公式中可以看出提高焦距可以减少U g 。
但要增加曝光量（t 、KV ）为了互相的制约，使用德国标准DIN54111规定：A 级dfL1≥7.5L 232B 级dfL 1≥15L 232JB4730-94标准采用此标准并增加了AB 级即：AB 级：dfL1≥10L 232A 级 L 1≥7.5df.L 232AB 级 L 1≥10df.L 232B 级 L 1≥15df.L 232如果把：df=21.L L U g 代入以上公式得：A 级：U g ≤5.71L 231 AB 级：U g ≤101L 231B 级：U g ≤151L 231从公式可以看出U g 是一个变量，它随工件透照厚度（L 2）的增加而有所增加。
第4章 射线透照工艺
Ir-192
≥20～100
≥20～90
Co-60
≥40～200
≥60～150
X 射线（1MeV～ 4MeV）
≥30～200
≥50～180
X 射线（＞ 4MeV～12MeV）
≥50
≥80
X 射线（＞ 12MeV）
≥80
≥100
300kV、350kVX 射线 Ui 值的 3.4 倍、1.8 倍、1.4 倍、1.3 倍。此 外，还有颗粒性，即噪声问题：由于 Ir192 有效能量较高，由此引 起的底片噪声也会明显增大，从而干扰射线照相底片上小缺陷，尤 其小裂纹的影像显示。因此，如果比较γ射线与 X 射线的小缺陷检 出灵敏度，则两者的差距更明显。
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④ 对厚度大于 150mm 的钢，即使用 Co-60γ射线源，透照厚 度最大只有 200mm，且曝光时间也很长，如工作批量大，或工件照 相灵敏度要求较高时，宜用兆伏级高能 X 射线。
⑤ 受现场透照条件（透照部位空间狭小）的限制、野外作业 （无水无电），宜采用γ射线探伤机，体积较大的 X 射线探伤机使 用不方便
7
变 F或 f的大小。焦距 F越大， Ug值越小，底片上的影像越清晰。 为保证射线照相的清晰度，在 JB/T4730.2-2005标准中，规定了 f
与 d和 b应满足以下关系：
射线检测技 术等级 A 级： AB 级： B 级：
第四章射线透照工艺
第四章：射线透照工艺4.1透照工艺条件的选择射线基本透照参数有射线能量、焦距、曝光量。
射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施，也指详细说明上述方法、程序、技术参数和技术措施的说明文件。
工艺条件是指工艺过程中的有关参数变量及其组合。
射线透照工艺条件包括；设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件和工艺措施条件等。
下面将主要介绍基本透照参数的选择及它们对射线照相质量的影响和工艺编制的原则。
3.2.1射线源和能量的选择1.射线源的选择射线源的选择原则首先要考滤射线源对被检工件应有足够的穿透力。
对X射线来说，穿透力取决于管电压。
管电压越高射线的线质越硬，在试件中的衰减系数越小，穿透厚度越大。
例如100KV的 X射线高灵敏度法最大穿透力为10 mm，射线低灵敏度法最大穿透力为25 mm。
对于r射线来说，穿透力取决于射源的种类，常用的r射线源适用的透照范围Ir192 20mm-90mm（高灵敏度），10-100mm（低灵敏度法），Co60 50-150mm （高灵敏度）30-200mm（低灵敏度法）。
由于放射性同位素的能量不能该变，所以不仅规定了透照厚度的上限（考虑到穿透力），同时规定了透照厚度的下限（考虑到灵敏度）。
选择射线源时必须注意到X射线和r射线照相灵敏度的差异。
由工艺基础理论得知，对比度 D，不清晰度U和颗粒度σ是左右射线影象质量的三大要素，现以Ir192为例与X射线相比较对着三大要素的影响。
我们知道对比度又正比于比衬度 Cs, Cs= /1+n，由图3-1可以看出对45mm以下的钢，用Ir192透照所得射线底片其对比度比X射线底片对比度要差的多。
以25mm 厚度钢为例前者要比后者的对比度低40%。
对比度自然会影响到像质计灵敏度。
另外Ir192的固有不清晰度Ui…值（0.17）比400KV的X射线还大，它分别是100KV、200KV、300KV X射线Ui值的3.4倍,1.8倍,1.4倍。
射线照相检验技术的理论基础和基本技术
第3章 射线照相检验技术的理论基础和基本技术3.1 射线检测的基本原理当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测器（例如，射线照相中采用胶片）检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。
如图3-1所示，设阶梯上存在一很小的厚度差，则有I ＝D I ＋S I ；I '＝DI '＋S I ' 式中 I D ，I'D —— 透射的一次射线强度；S I ，SI '—— 透射的散射射线强度； I ，I ' —— 透射射线强度。
由于有∆T 远小于T ，因此可认为S I ＝S I ' 所以有∆I ＝I '-I ＝D I '-I DI I Δ＝S D D D I I I I +-' ＝nI I +-'11/D D ）（ 按单色窄束射线衰减规律有D I ＝T I μ-e 0D I '＝）（T T I ∆+-μe 0 式中 μ —— 工件的线衰减系数；I 0 —— 入射射线强度。
因此有 T I I ΔDD e μ-=' 图3-1 射线检测基本原理58引用近似公式x x +=1e （1<x ）则有T T Δ1e Δμμ-=- n T I I +-=1ΔΔμ （3-1） 当∆T 是缺陷，其线衰减系数为μ' 时，则式（3-1）应改写为 n T I I +'--=1ΔΔ）（μμ （3-2）∆I /I 称为“物体对比度”或称其为“被检体对比度”，有时也称为“主因对比度”。
式（3-1）即是射线检测的基本原理关系式，它给出了一个小的厚度差与对应的射线检测物体对比度之间的关系。
从式（3-2）可见，射线对缺陷的检验能力，与缺陷在射线透照方向上的尺寸、其线衰减系数与物体的线衰减系数的差别、散射线的控制情况等相关。
第四章射线照相检验的基本技术
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3．规定同一张射线照片的黑度
这种规定是一种间接的规定方式。它规定，同一张 射线照片的黑度必须处于规定的黑度范围之内，超 出的区域，除非另外证明这些区域的射线照相灵敏 度达到了规定的要求，否则不能作为质量评定区。 例如，美国的一些标准常如下规定： 最大黑度应不高于：D0+0.30D0 最小黑度应不低于：D0−0.15D0 其中D0是像质计所在处的黑度。
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1．规定透照厚度比
透照厚度比定义为，有效透照范围内最大透照厚度 与最小透照厚度之比。按图所示，透照厚度比K可 以表示为 K＝T ' / T 式中 T —— 中心射线束的透照厚度； T ' —— 边缘射线束的透照厚度。
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2．规定射线源与工件源侧表面距离和有效透照区 大小的关系 这种规定直接规定射线源与工件源侧表面距离和 有效透照区大小的比，通过此比值的方式规定有 效透照区。常用的规定为： A 级技术：f ≥2L B 级技术：f ≥3L 在射线照相检验技术标准中，A级技术是一般灵敏 度技术，B级技术是高灵敏度技术，此外存在比B 级灵敏度更高的技术。
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4．背散射防护
在射线照相检验中，当胶片后方较近的地方存在物 体时，必须注意采用背铅板对背散射线进行防护。 否则，背散射线很可能会使底片无法达到规定的影 像质量要求。背铅板的厚度一般应大于1mm。 背铅板的厚度是否满足防护背散射线的要求，可以 采用下述的方法检验。在胶片暗袋背面贴附铅字 “B”。透照后观察底片，如果底片上未出现这个铅 字B的影像或出现黑度高于背景黑度的铅字B影像， 则说明防护铅板的厚度符合要求。如果出现黑度低 于背景黑度的铅字B的影像，则说明防护不足，应 加大背铅板的厚度。
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E0 k= E
4.3.2 增感屏的类型与特点
射线照相检测培训课件
射线照相检测培训课件射线照相检测培训课件射线照相检测是一种常见的无损检测方法，被广泛应用于工业领域。
它通过利用射线穿透物体并记录下相应的图像，来检测物体内部的缺陷和结构问题。
这种方法具有高效、精确和非破坏性的特点，因此在许多行业中被广泛使用。
一、射线照相检测的原理射线照相检测主要依赖于射线的穿透能力和物体内部的吸收情况。
当射线通过物体时，不同材料对射线的吸收程度不同，从而形成了不同的图像。
这些图像可以通过特定的设备和技术进行记录和分析，以便检测出物体内部的缺陷和结构问题。
二、射线照相检测的应用领域射线照相检测广泛应用于航空航天、汽车制造、电力工业、核能工业等领域。
在航空航天领域，射线照相检测可以用于检测飞机结构中的裂纹、疲劳和腐蚀问题，以确保飞行安全。
在汽车制造领域，射线照相检测可以用于检测发动机零部件、车身结构和焊接点等问题，以确保汽车的质量和安全性。
在电力工业和核能工业中，射线照相检测可以用于检测管道、容器和设备的裂纹、腐蚀和疲劳问题，以确保电力和核能设施的正常运行。
三、射线照相检测的设备和技术射线照相检测需要使用特定的设备和技术来实现。
其中，最常见的设备是射线发生器和探测器。
射线发生器可以产生射线，并将其照射到被检测物体上。
探测器可以记录射线通过物体时的吸收情况，并将其转化为图像。
此外，还需要使用特定的软件来处理和分析这些图像，以便得出准确的结论。
四、射线照相检测的优势和局限性射线照相检测具有许多优势。
首先，它非常高效，可以在较短的时间内检测出物体内部的问题。
其次，它具有较高的准确性，可以检测出微小的缺陷和结构问题。
此外，射线照相检测是一种非破坏性的检测方法，可以在不破坏物体的情况下进行检测。
然而，射线照相检测也存在一些局限性。
首先，它需要专门的设备和技术，成本较高。
其次，射线照相检测对操作人员的要求较高，需要经过专门的培训和资质认证。
五、射线照相检测的安全注意事项射线照相检测涉及到辐射物质的使用，因此在进行检测时需要注意安全问题。
射线照像检测技术-2023年学习资料
射线照像检测技术-射线检测的基本原理-I=Ip+Is>-ID,I'D:透射的一次射线强度-Is,’s:透射 散射射线强度-由于△T<<T,-故Ls=I’s-因此有：AI=I'D一D-图3-1射线检测基本原理
射线照像检测技术-射线检测的基本原理-I'p=loe--T+△T-=eT≈1-T-e'=1+x）-I'pp I'p/Ip-1-Ip+Is-1+n-当△T是缺陷时，设其线衰减系数为u',则-W-u-△T-■△I/ 称为“物体对比度”-4
射线照像检测技术-■对比度△D是影像和背景的黑度差，决定了射-线透照方向可识别的细节尺寸。-■不清晰度U是 像的扩展宽度，决定了在垂直-于射线透照方向上可识别的细节尺寸。-颗粒度σD是影像黑度的不均匀性，决定了影像 可显示的最小细节尺寸。-7
射线照像检测技术-■对比度的计算公式：-单色、窄束情况：-AD=GIgI't-1gIt=GIgI'/1=G ge=-0.434LGAT-宽束情况：-△D-0.434u-'G△T-1+n-0.434uG△T-心<山， '=0-8
射线照像检测技术-■曝光量的选择-H=It-对于X射线：-E=it-■对于伽马射线：-E=At-4e州-曝 量必须达到一定值-才能显示细节缺陷-n#-图3-12曝光量与影像的颗粒度-18
射线照像检测技术-某一点的射线强度与该点到源的距离的平-方成反比。-I_F-■-只要保证射线强度与曝光时间 乘积相等，-则得到底片的黑度相同。即：-141=12t2-射线强度和曝光时间具有同等的作用，可-以互换（互 性）-19
射线照像检测技术-500-400-300-10-5000-LEEEEE-200-焦距的选择-9-2000-3000-7--d-6-1000-80-Ug-F-T-min-=T1+-昌-ww/-6060-在实际工作 ，常用诺-模图确定最小焦距-如果，D=2mm,T=15mm-查图得：f=180mm-0.5-图3-11-确 焦距最小值的诺模图
射线检测的主要方法及原理ppt正式完整版
当相射比线 于通其过它被的检常测规物无体损时检，测物技体术中，有射缺线陷检的测部技位术（的如主气要孔特、点非是金：属夹杂等）与无缺陷部位对射线的吸收能力不同，一般情况是透过有缺陷部位的射线强度高于无缺陷部位的射线强 度（，4）因研此究可：以弹通道过、检爆测炸透、过核被技检术物、体铸后造的工射艺线等强动度态的过差程异研，究来，判考断古被研检究物，体反中馈是工否程存等在缺陷。
（c）焦（2）电离检测法
当射线通过气体时，与气体分子撞击， 产生电离。电离效应会产生电流，其大小 与射线强度有关，根据电流大小便可判断 试件的完整性。
特点：自动化程度高，成本低，但对 缺陷性质的判别较困难，只适用于形状简 单、表面平整的工件。
电离检测示意图
特点：自动化程度高，但灵敏度较低，对形状复杂的零件 检查也比较困难。
三、射线检测技术的应用
射线检测技术适用于各种材料的检验，应用领域非常广 泛，其常用范围如下： （1）探伤：铸造、焊接工艺缺陷检验，复合材料构建检验等； （2）测厚：厚度在线实时测量； （3）检查：机场、车站、海关检查，结构和尺寸测定等； （4）研究：弹道、爆炸、核技术、铸造工艺等动态过程研究， 考古研究，反馈工程等
谢谢
射线检测技术的主要特点
对被检工件无特殊要求，检测结果显示直观 检测结果可以长期保存 检测技术和检验工作质量可以自我监督 适宜于体积型缺陷
二、射线检测技术的基本原理和方法
三、射线检测技术1的应、用 X射线检测原理
航空、航天关重件检测、科学研究 （13）照荧相光法屏（直接X射观线察检法测常用方法）
气孔、非金属夹杂等）与无缺陷部位对射线的吸收能力 对（被3）检荧工光件屏无直特接殊观要察求法，检测结果显示直观
第四章射线检测3
• 胶片宽容度L大，特性曲线中正常曝光区对应的△lgE大， 允许透照的工件厚度差大。
• γ=△D/△lgE，衬度系数越大，宽容度越小。
（5）颗粒度 6.颗粒度G 暗室处理后底片上黑色的银粒的均方根称为颗 粒度。
底片不清晰度一般分为几何不清晰度、固有不清 晰度和散射不清晰度。
一、几何不清晰度Ug
射线照相中，射线源并 不是理想的点源，透照工件 时，底片上的缺陷影像边缘 就会出现半影区，即黑度过 渡区，使缺陷轮廓不清晰。 因此，由于射线源具有一定 的几何尺寸而使底片上缺陷 影像周围产生的半影区宽度 称为几何不清晰度。
• 底片灰雾度对灵敏度有一定的影响。一般要求 D0≤0.3。
• 胶片保存条件不良或保存时间过长会使D0增大。 （3）感光度S
在相同透照条件下，使胶片达到规定黑度所需曝光 量的倒数，称为胶片的感光度。衡量感光速度的快慢。
S＝1/E
(4)宽容度L
宽容度是指胶片特性曲线上黑度D与曝光量对数lgE成 正比区域的曝光量对数之差。
金属荧光增感屏并不能克服荧光增感屏的缺点， 射线照相中应用并不广泛。主要用于要求不高，厚度 较大的工件探伤。
GB3323-87：AB级和 B级采用金属增感屏或 不用增感屏，A级个别 情况采用荧光或金属荧 光增感屏。
5.增感屏的使用
1）表面检查：无油污、划伤和折痕； 2）将增感屏装进暗袋时，要注意使金属箔或荧光层
d=10(6-N)/10
型号表示，如： FE10/16
• 绝对灵敏度：dmin • 相对灵敏度：K=(dmin/TA)×100% • 透照厚度TA： ➢ 平板焊缝：